本實用新型專利技術公開了一種多階塊規,包括:一多階量測體及一檢測裝置。該多階量測體包含:一上導電殼體、一個或一個以上絕緣單元、多個導電開關、一連接器及一下殼體。該上導電殼體具有多個容置空間及穿孔。所述絕緣單元及導電開關配置在所述容置空間,該導電開關的第一導電體及第二導電體與該第一連接器及上導電殼體電性連結。該檢測裝置包含有一與第一連接器電性連結的第二連接器。該多階量測體放置兩對象間,以其一對象壓掣或未壓掣于所述導電開關與該上導電殼體形成不導通或導通,以檢測裝置檢測每一階的不導通或導通來判斷兩對象之間的間距的面與面的平行度范圍。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種量測工具,尤其涉及一種可對兩對象之間的面與面間距量測的多階塊規。
技術介紹
以往在設備機臺架設時,為了讓所架設機臺時需要其中兩相關對象高度保持在一預定高度時,因此兩兩相關對象之間的間距的平行度都會要求在一定的范圍內(如±10um),以確保機臺能夠穩定精確運作。目前在兩機臺架設完成后,量測兩兩相關對象之間的間距的面與面的平行高度是否在預定范圍內,目前的所以用的量測工具很多,例如以激光量測儀器進行量測時,如果對象距離太小時,因此造成以激光量測儀器不易量測。若改以光標卡尺,在量測時以移動附在主尺上滑動的光標尺來對準兩機臺之間的間距,由于光標卡尺在量測時,是由架設人員以手握持,如果在一邊量測又要一邊調整兩兩相關對象之間的間距時,易造成握持游邊卡尺的手在晃動,而影響到測量的精度。若是以塊規進行量測時,由于塊規本身具有一特定的尺寸(厚度),因此在架設人員在量測兩兩相關對象之間的間距時,以選擇不同厚薄尺寸的塊規塞入于兩兩相關對象之間的間距間,即可得知兩兩相關對象之間的間距多少,但是以塊規進行量測及一邊調整的工時及工序較多,因此有造成調整上的麻煩。
技術實現思路
有鑒于此,本技術的主要目的在于解決傳統缺失,提供一種多階塊規的量測工具,直接將該多階塊規塞入于兩對象(機臺)之間,藉由每一階的開閉狀況來判斷兩對象之間的間距的面與面的平行度是否符合規定,以達到省時、省工序的快速量測。為達到上述目的,本技術的技術方案是這樣實現的:一種多階塊規,以量測兩對象之間的間距的面與面的平行度,包括:一多階量測體及一與該多階量測體電性連結的檢測裝置。該多階量測體至少包含有:一上導電殼體、一個或一個以上絕緣單元、多個導電開關、一第一連接器及一下殼體。該上導電殼體內部具有多個容置空間及具有一頂部,該頂部上具有多個對應所述容置空間的穿孔。所述絕緣單元配置于所述容置空間中。所述導電開關配置于所述絕緣單元內部,所述導電開關各具一第一導電體及一第二導電體組成。該第一連接器與該上導電殼體及該第一導電體電性連結。該檢測裝置至少包含有一第二連接器、一與該第二連接器電性連結的微處理單元,一與該微處理單元電性連結的顯示單元,以及一與該微處理單元、該顯示單元及該第二連接器電性連結的電源供應單元。以該第二連接器與該第一連接器電性連結。在量測時,以該多階量測體放置于兩對象之間,以其一對象壓掣或未壓掣到所述第二導電體,使每一階形成不導通或導通狀態,以該檢測裝置檢測每一階的導通或不導通的方式來判斷兩對象之間的間距的面與面的平行度范圍。本技術的一實施例中,該下殼體為磁性材料、導電材料或非導電材料。本技術的一實施例中,該第一導電體及該第二導電體以配置于所述絕緣單元內部,該第二導電體與該第一導電體接觸的位于該第一導體的上方,該第一導電體以本身的彈力將該第二導電體向上頂,使該第二導電體部份外露于該導電殼體的所述穿孔外部。本技術的一實施例中,該第一導電體為彈性組件,如彈簧、彈片或導電橡膠。本技術的一實施例中,該第二導電體為圓形體、半圓形體或凸字型。本技術的一實施例中,該第一連接器具有一連接頭,該連接頭一端電性連結有多條與所述第一導電體及該上殼體電性連結的導線。本技術的一實施例中,該第二連接器具有一連接頭,該連接頭的一端具有與該微處理單元電性連結或透過多條導線電性連結。附圖說明圖1為本技術之第一實施例的多階塊規的多階量測體與檢測裝置外觀立體示意圖。圖2a為圖1的多階塊規的多階量測體的側剖視示意圖。圖2b為本技術之電路方塊示意圖。圖3為本技術之第一實施例的多階塊規的多階量測體放置于兩對象間與檢測裝置連結示意圖。圖4為本技術之第一實施例的多階量測體的局部示意圖。圖5為本技術之第一實施例的多階塊規的另一種量測方式示意圖。圖6為本技術之第二實施例的多階塊規示意圖。【主要組件符號說明】多階量測體10上導電殼體1容置空間11頂部12穿孔13絕緣單元2導電開關3第一導電體31第二導電體32第一連接器4連接頭41導線42下殼體5檢測裝置20微處理單元6顯示單元7第二連接器8連接頭81導線82電源供應單元9物件30、40塊規50。具體實施方式下面結合附圖及本技術的實施例對本新型多階塊規作進一步詳細的說明。請參閱圖1、圖2a~圖2b為本技術的第一實施例的多階塊規的多階量測體與檢測裝置外觀立體、圖1的多階塊規的多階量測體的側剖視及電路方塊示意圖。如圖所示:本技術之多階塊規,包括:一多階量測體10及一檢測裝置20。該多階量測體10至少包含有:一上導電殼體1、一個(含)以上絕緣單元2、多個開關3、一第一連接器4及一下殼體5。該上導電殼體1其內部具有多個容置空間11,該上導電殼體1上具有一頂部12,該頂部12上各設有對應所述容置空間11的穿孔13,所述穿孔13以供該導電開關3的部份組件外露。所述絕緣單元2,以配置于所述容置空間11中,所述絕緣單元2以容置所述導電開關3。所述導電開關3,以配置于所述絕緣單元2內部,所述導電開關3各具一第一導電體31及一第二導電體32組成,該第一導電體31為彈性組件如彈簧、彈片、導電橡膠,以配置于所述絕緣單元2內部。該第二導電體32系以配置于所述絕緣單元2內部,且與第一導電體31接觸的位于該第一導體31的上方,該第一導電體31以本身的彈力將該第二導電體32向上頂,使該第二導電體32部份外露于該上導電殼體1的所述穿孔13外部。在本圖中,該第二導電體32為圓形體、半圓形體或凸字型。該第一連接器4,其上具有一連接頭41,該連接頭41具有多條的導線42(或扁平電纜),所述導線42以電性連結于該殼體1的上導電殼體1及所述第一導電體31上。該下殼體5,以配置于該上導電殼體1底部。在本圖中,該下殼體5為磁性材料、導電材料或非導電材料。該檢測裝置20,至少包含有一微處理單元6,一該微處理單元6電性連結的顯示單元7,一與該微處理單元6電性連結的第二連接器8及一與該微處理單元6電性連結的電源供應單元9,以該電源供應單元提供該件測裝置20及該多階量測體10所需的電力。每一階量測的數據,如0um、+2um、+4um、+6um、+8um、-2um、-4um、-6um及-8um(為了方便說明及了解,本技術將每一階所量測的數據0um、+2um、+4um、+6um、+8um、-2um、-4um、-6um及-8um繪制在圖1的上導電殼體1的穿孔13邊)。該第二連接器8上具有連接頭81,該連接頭81具有多條的導線82(或扁平電纜),以該第二連接器8與該第一連接器4電性連結時,以接收該多階量測體10的信號后,經過該微處理單元6處理,即可顯示于該顯示單元7上。在本圖中,該顯示單元7為液晶顯示本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種多階塊規,以量測兩對象之間的間距的面與面的平行度,其特征在于,包括:一多階量測體,至包含:一上導電殼體,其上內部具有多個容置空間,該上導電殼體具有一頂部,該頂部上具有多個對應所述容置空間穿孔;一個或一個以上的絕緣單元,以配置于所述容置空間中;多個導電開關,以配置于所述絕緣單元內部,所述導電開關各具一第一導電體及一第二導電體組成;一第一連接器,與該上導電殼體及該第一導電體電性連結;一下殼體,配置于該上導電殼體的底部;及一檢測裝置,至少包含:一第二連接器,該第二連接器與該第一連接器電性連結;一微處理單元,與第二連接器電性連結;一顯示單元,與該微處理單元電性連結;一電源供應單元,系與該微處理單元電性連結;其中,以該多階量測體放置于兩對象之間,以其一對象壓掣或未壓掣到所述第二導電體,使每一階形成不導通或導通狀態,以該檢測裝置檢測每一階的導通或不導通方式來判斷兩對象之間的間距的面與面的平行度范圍。
【技術特征摘要】
1.一種多階塊規,以量測兩對象之間的間距的面與面的平行度,其特征在于,包括:
一多階量測體,至包含:
一上導電殼體,其上內部具有多個容置空間,該上導電殼體具有一頂部,該頂部上具有多個對應所述容置空間穿孔;
一個或一個以上的絕緣單元,以配置于所述容置空間中;
多個導電開關,以配置于所述絕緣單元內部,所述導電開關各具一第一導電體及一第二導電體組成;
一第一連接器,與該上導電殼體及該第一導電體電性連結;
一下殼體,配置于該上導電殼體的底部;及
一檢測裝置,至少包含:
一第二連接器,該第二連接器與該第一連接器電性連結;
一微處理單元,與第二連接器電性連結;
一顯示單元,與該微處理單元電性連結;
一電源供應單元,系與該微處理單元電性連結;
其中,以該多階量測體放置于兩對象之間,以其一對象壓掣或未壓掣到所述第二導電體,使每一階形成不導通或導通狀態,以該檢測裝置檢測每一階的導通或不導通方式來判斷兩...
【專利技術屬性】
技術研發人員:李彭榮,
申請(專利權)人:鶴立精工股份有限公司,
類型:新型
國別省市:中國臺灣;71
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。