一種信號檢測電路制造技術

本發明專利技術提供一種信號檢測電路，其包括帶通濾波放大器、雙點比較積分器和遲滯比較器。帶通濾波放大器用于將其輸入端接收到的被檢測信號進行帶通濾波并放大；雙點比較積分器包括積分電容，其用于將其輸入端接收到的放大信號與第一電壓閾值和第二電壓閾值進行比較，以得到并輸出比較積分信號：遲滯比較器用于對其輸入端接收到的比較積分信號進行遲滯比較，且通過其輸出端輸出判定信號，在比較積分信號小于第一比較電平時，所述判定信號由第二電平信號翻轉為第一電平信號，在所述比較積分信號大于第二比較電平時，所述判定信號由第一電平信號翻轉為第二電平信號。與現有技術相比，本發明專利技術中的信號檢測電路的抗干擾能力強，檢測靈敏度高。

【技術實現步驟摘要】
【專利說明】-種信號檢測電路
本專利技術涉及電路設計領域，特別涉及一種信號檢測電路。 【
技術介紹
】 信號檢測電路是電路控制設計中經常使用到的一種功能單元，其通過對被檢測信 號的大小進行檢測后輸出判定信號，該判定信號將作為其它功能單元的控制使能信號。請 參考圖1所示，其為現有技術中的一種信號檢測電路的電路示意圖。該信號檢測電路包括 放大器110、單點比較積分器120和比較判定回路130,其具體工作過程為：被檢測信號VIN 首先進入放大器110放大，隨后進入單點比較積分器120做幅度檢測并積分，此時，所述單 點比較積分器120的輸出為一直流電平，該直流電平進入比較判定回路130后與預先設定 的直流電平進行比較并輸出比較結果，即輸出判定信號V0。 現有技術中，信號檢測電路中的放大器110多采用固定增益的放大器構架，導致 其背景噪聲抑制能力弱；單點比較積分器120采用單點比較結構，其只能檢測信號正向幅 度，因此，會導致信號判定不夠準確；比較判定回路130多采用簡單的比較判定邏輯，即當 比較判定回路130接收到的直流電平小于預先設定的直流電平時，其輸出的判定信號V0為 第一電平信號，當比較判定回路130接收到的直流電平大于預先設定的直流電平時，其輸 出的判定信號V0跳變為第二電平信號，這種簡單的比較判定邏輯使其輸出的判定信號V0 易受干擾。 因此，有必要提供一種改進的技術方案來克服上述問題。 【
技術實現思路
】 本專利技術的目的在于提供一種信號檢測電路，其抗干擾能力強，檢測靈敏度高。 為了解決上述問題，本專利技術提供一種信號檢測電路，其包括帶通濾波放大器、雙點 比較積分器和遲滯比較器。所述帶通濾波放大器用于將其輸入端接收到的被檢測信號進行 帶通濾波并放大，且通過其輸出端輸出放大信號；所述雙點比較積分器包括積分電容，其用 于將其輸入端接收到的放大信號與第一電壓閾值和第二電壓閾值進行比較，當所述放大信 號的瞬間電位高于第一電壓閾值或低于第二電壓閾值時對所述積分電容充電，否則，對所 述積分電容放電，以得到并輸出比較積分信號，其中第一電壓閾值高于第二電壓閾值：所述 遲滯比較器用于對其輸入端接收到的比較積分信號進行遲滯比較，且通過其輸出端輸出判 定信號，在所述比較積分信號小于第一比較電平時，所述判定信號由第二電平信號翻轉為 第一電平信號，在所述比較積分信號大于第二比較電平時，所述判定信號由第一電平信號 翻轉為第二電平信號，其中第一比較電平小于第二比較電平。 進一步的，所述帶通濾波放大器包括第一電容、第二電容、第一電阻、第二電阻和 運算放大器，第一電容和第二電容依次連接于所述帶通濾波放大器的輸入端和輸出端之 間；第一電阻和第二電阻依次串聯于所述帶通濾波放大器的輸出端和接地端之間；所述運 算放大器的正相輸入端與第一電阻和第二電阻之間的連接節點相連，其負相輸入端與第一 電容和第二電容之間的連接節點相連，其輸出端與所述帶通濾波放大器的輸出端相連。 進一步的，所述雙點比較積分器還包括比較控制單元、第一電流源和第二電流源， 所述第一電流源和第二電流源依次連接于電源和接地端之間；所述積分電容連接于第一電 流源和第二電流源之間的連接節點與接地端之間；所述第一電流源和第二電流源之間的 連接節點與所述雙點比較積分器的輸出端相連，所述第一電流源和第二電流源的電流方向 都流向接地端，所述比較控制單元的輸入端與所述雙點比較積分器的輸入端相連以接收放 大信號，其第一輸出端與所述第一電流源的控制端相連，其第二輸出端與所述第二電流源 的控制端相連，所述比較控制單元用于將其接收到的放大信號分別與所述第一電壓閾值和 第二電壓閾值進行比較，當放大信號的瞬間電位大于第一電壓閾值或者小于第二電壓閾值 時，所述比較控制單元控制第一電流源對第三電容充電；否則，所述比較控制單元控制第二 電流源對第三電容放電。 進一步的，第二電壓閾值 < 放大信號的直流電平 < 第一電壓閾值。 進一步的，所述第一電壓閾值和第二電壓閾值的平均值為中點電壓，該中點電壓 等于放大信號的直流電平，所述帶通濾波放大器的輸入電位和輸出電位設置為1/2倍的電 源電壓。 進一步的，所述雙點比較積分器還包括電壓閾值產生電路，所述電壓閾值產生電 路用于產生并輸出所述第一電壓閾值和第二電壓閾值。 進一步的，所述電壓閾值產生電路包括依次串聯于內部基準電壓和接地端之間的 第三電阻、第四電阻、第五電阻和第六電阻，第三電阻和第四電阻之間的連接節點輸出的電 壓為所述第一電壓閾值，第五電阻和第六電阻之間的連接節點輸出的電壓為所述第二電壓 閾值，第四電阻和第五電阻之間的連接節點的電壓為中點電壓。 進一步的，所述比較控制單元包括第一比較器、第二比較器、或門和第一反相器， 第一比較器的正相輸入端和第二比較器的負相輸入端都與所述雙點比較積分器的輸入端 相連，第一比較器的負相輸入端與第一電壓閾值相連，第二比較器的正相輸入端與第二電 壓閾值相連，第一比較器的輸出端和第二比較器的輸出端分別與或門的兩個輸入端相連， 或門的輸出端與所述比較控制單元的第一輸出端相連，第一反相器的輸入端與或門的輸出 端相連，第一反相器的輸出端與所述比較控制單元的第二輸出端相連。 進一步的，所述遲滯比較器包括第三比較器和第二反相器，所述第三比較器的負 相輸入端與所述遲滯比較器的輸入端相連以接收所述比較積分信號，其正相輸入端擇一連 接所述第一比較電平和第二比較電平，其輸出端與所述第二反相器的輸入端相連，第二反 相器的輸出端與所述遲滯比較器的輸出端相連。 進一步的，初始時，所述第三比較器的正相輸入端與第二比較電平相連，當比較積 分信號低于第二比較電平時，第二反相器輸出的判定信號為低電平；當比較積分信號上升 并大于第二比較電平時，第二反相器輸出的判定信號為高電平，且第三比較器的正相輸入 端切換至與所述第一比較電平相連，當第三比較器的正相輸入端切換至與所述第一比較電 平相連時，若第一比較電平〈比較積分信號〈第二比較電平時，第二反相器輸出的判定信號 仍然維持高電平；僅當比較積分信號低于第一比較電平時，第二反相器輸出的判定信號輸 出低電平，且第三比較器的正相輸入端與第二比較電平相連。 與現有技術相比，本專利技術中的信號檢測電路設置有帶通濾波放大器、雙點比較積 分器和遲滯比較器，由于其對各個電路模塊的設置進行了優化，因此，提高了信號檢測電路 的抗干擾能力和檢測靈敏度。 【【附圖說明】】 為了更清楚地說明本專利技術實施例的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用 的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述當前第1頁1 2 3 4 本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種信號檢測電路，其特征在于，其包括帶通濾波放大器、雙點比較積分器和遲滯比較器，所述帶通濾波放大器用于將其輸入端接收到的被檢測信號進行帶通濾波并放大，且通過其輸出端輸出放大信號；所述雙點比較積分器包括積分電容，其用于將其輸入端接收到的放大信號與第一電壓閾值和第二電壓閾值進行比較，當所述放大信號的瞬間電位高于第一電壓閾值或低于第二電壓閾值時對所述積分電容充電，否則，對所述積分電容放電，以得到并輸出比較積分信號，其中第一電壓閾值高于第二電壓閾值：所述遲滯比較器用于對其輸入端接收到的比較積分信號進行遲滯比較，且通過其輸出端輸出判定信號，在所述比較積分信號小于第一比較電平時，所述判定信號由第二電平信號翻轉為第一電平信號，在所述比較積分信號大于第二比較電平時，所述判定信號由第一電平信號翻轉為第二電平信號，其中第一比較電平小于第二比較電平。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：曹晶，程學農，陳繼輝，盧晞，
申請(專利權)人：無錫華潤矽科微電子有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32