本發明專利技術公開了一種用于觸摸面板中的用戶接地校正的觸摸面板電極結構。該電極結構可包括用于感測面板處的觸摸的電極陣列，以及用于將各組電極選擇性地耦接在一起以形成彼此交叉的電極行和電極列的多個跳線。在一些實例中，該陣列可具有線性構型并能夠通過使用之字形圖案中的跳線耦接成對角相鄰的電極來形成行和列，或者該陣列可具有菱形構型并能夠通過使用線性圖案中的跳線耦接線性相鄰的電極來形成行和列。在各個實例中，每個電極可具有帶有正方形形狀的實心結構、帶有外部電極和物理分開的中心電極的減小的面積、中空中心、或帶有六邊形形狀的實心結構。
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術整體涉及電容觸摸面板，并且更具體地涉及能夠測量互電容和自電容兩者 的觸摸面板以及能夠校正用戶接地的觸摸面板電極結構。
技術介紹
許多類型的輸入設備目前可用于在計算系統中執行操作，該計算系統諸如按鈕或 按鍵、鼠標、軌跡球、操縱桿、觸摸面板、觸摸屏等等。具體地，觸敏設備和觸摸屏因其在操作 方面的簡便性和靈活性以及其買得起的價格而變得相當普及。觸敏設備可包括觸摸面板和 顯示設備諸如液晶顯示器(LCD)，該觸摸面板可以是具有觸敏表面的透明面板，該顯示設備 可部分或完全定位在面板的后面，使得觸敏表面可覆蓋顯示設備的可視區域的至少一部 分。觸敏設備可允許用戶通過使用手指、觸筆或其他對象在由顯示設備所顯示的用戶界面 (UI)常常指示的位置處觸摸觸摸面板或懸停在觸摸面板上方來執行各種功能。一般來講， 觸敏設備可識別觸摸事件或懸停事件和事件在觸摸面板上的位置，并且計算系統然后可根 據事件發生時出現的顯示內容來解釋該事件，并且之后可基于事件來執行一個或多個動 作。 在一些情況下，可能難以在觸摸事件和懸停事件之間或在真實事件和虛假事件之 間進行區分。在觸摸面板處有不利狀況諸如觸摸對象或懸停對象不良接地、觸摸面板上有 水滴或在觸摸面板中引入噪聲等時，這種困難可能會加劇。例如，在觸摸面板上方觸摸或懸 停的對象不良接地時，用于指示觸摸事件或懸停事件的輸出值可能是錯誤的或由于其他原 因而失真。當在觸摸面板處發生兩個或更多同時事件時，此類錯誤或失真值的可能性可能 進一步增大。在錯誤或失真值影響到面板在觸摸對象和懸停對象之間進行區分的能力時， 它們可能尤其會導致問題。
技術實現思路
本專利技術涉及在觸摸面板中同時測量互電容和自電容兩者。一種方法可包括在觸摸 面板的各種電極圖案處測量自電容和互電容，并基于自電容測量、互電容測量或兩者來計 算用于指示觸摸面板上方的對象觸摸或懸停的觸摸信號。在一些實例中，觸摸面板可以是 行-列電極圖案。在一些實例中，觸摸面板可具有像素化電極圖案。在一些實例中，可使用自 電容測量、互電容測量或兩者來確定用于指示觸摸面板處的不利狀況的校正因子和用于校 正觸摸信號的不利狀況的校正因子。通過測量互電容和自電容兩者，觸摸面板可有利地提 供更精確和更快的觸摸信號檢測以及功率節省，并且針對各種不利狀況更穩定地加以調 整。 本專利技術還涉及用于觸摸面板中的用戶接地校正的觸摸面板電極結構。該電極結構 可包括用于感測面板處的觸摸的電極陣列，以及用于將多組電極選擇性地耦接在一起以形 成彼此交叉的電極行和電極列的多個跳線。在一些實例中，該陣列可具有線性構型并可使 用之字形圖案的跳線耦接成對角相鄰的電極而形成行和列。在另選的實例中，該陣列可具 有菱形構型，并可通過使用直線圖案的跳線耦接線性相鄰的電極來形成行和列。該電極結 構可有利地校正面板中的不良用戶接地狀況并減輕噪聲例如AC適配器噪聲，由此提供更精 確和更快的觸摸信號檢測以及功率節省，并針對用戶的各種接地狀況更穩定地加以調整。 電極結構還可減輕面板中的噪聲。【附圖說明】 圖1示出了根據各種實例的用于使用互電容觸摸測量和自電容觸摸測量來校正觸 摸信號中的用戶接地的示例性方法。 圖2示出了根據各種實例的具有行-列電極構型的觸摸面板中的示例性用戶接地 狀況。 圖3示出了根據各種實例的用于使用來自多個行-列電極圖案的互電容觸摸測量 和自電容觸摸測量來校正觸摸信號中的用戶接地的示例性方法。 圖4至圖7示出了根據各種實例的用于測量互電容觸摸測量和自電容觸摸測量以 校正觸摸信號中的用戶接地的示例性行-列電極圖案。圖8A示出了根據各種實例的用于使用來自多個行-列電極圖案的互電容觸摸測量 和自電容觸摸測量來校正觸摸信號中的用戶接地的另一種示例性方法。圖8B示出了根據各種實例的用于使用來自多個行-列電極圖案的互電容觸摸測量 和自電容觸摸測量來校正觸摸信號中的用戶接地的又一種示例性方法。 圖9示出了根據各種實例的在其上測量互電容和自電容以校正觸摸信號中的用戶 接地的示例性行-列電極結構。 圖10示出了根據各種實例的具有像素化電極構型的觸摸面板中的示例性用戶接 地狀況。 圖11示出了根據各種實例的用于使用來自多個像素化電極圖案的互電容觸摸測 量和自電容觸摸測量來校正觸摸信號中的用戶接地的示例性方法。圖12至圖18B示出了根據各種實例的用于測量互電容觸摸測量和自電容觸摸測量 以校正觸摸信號中的用戶接地的示例性像素化電極圖案。圖19示出了根據各種實例的用于使用來自多個像素化電極圖案的互電容觸摸測 量和自電容觸摸測量來校正觸摸信號中的用戶接地的另一種示例性方法。圖20A和20B示出了根據各種實例的用于測量互電容觸摸測量和自電容觸摸測量 以校正觸摸信號中的用戶接地的其他示例性像素化電極圖案。 圖21示出了根據各種實例的用于使用來自多個像素化電極圖案的自電容觸摸測 量來校正觸摸信號中的用戶接地的示例性方法。 圖22至圖25示出了根據各種實例的用于測量自電容觸摸測量以校正觸摸信號中 的用戶接地的示例性像素化電極圖案。圖26示出了根據各種實例的在其上測量互電容和自電容以對觸摸信號中的用戶 接地進行校正的示例性像素化電極結構。圖27示出了根據各種實例的用于使用互電容觸摸測量和自電容觸摸測量來校正 觸摸信號中的用戶接地的示例性系統。圖28至圖30示出了根據各種實例的可使用互電容觸摸測量和自電容觸摸測量來 對觸摸信號中的用戶接地進行校正的示例性個人設備。圖31示出了根據各種實例的可影響觸摸信號的觸摸面板上的示例性觸摸和水的 情形。圖32至圖37示出了根據各種實例的在其上測量互電容和自電容以校正觸摸信號 中的用戶接地的附加示例性行-列電極結構。【具體實施方式】 在以下對本公開和實例的描述中將引用附圖，在附圖中以例示方式示出了可實施 的具體實例。應當理解，在不脫離本公開的范圍的情況下，可實施其他實例并且可進行結構 性變更。 本專利技術涉及在觸摸面板中測量互電容和自電容兩者。一種方法可包括在觸摸面板 的各種電極圖案處測量自電容和互電容，并基于自電容測量、互電容測量或兩者來計算用 于指示觸摸面板上方的對象觸摸或懸停的觸摸信號。在一些實例中，觸摸面板可以是行-列 電極圖案。在一些實例中，觸摸面板可具有像素化電極圖案。在一些實例中，可使用自電容 測量、互電容測量或兩者來確定用于指示觸摸面板處的不利狀況的校正因子和用于校正觸 摸信號的不利狀況的校正因子。通過測量互電容和自電容兩者，觸摸面板可有利地提供更 精確和更快的觸摸信號檢測以及功率節省，并且針對各種不利狀況更穩定地加以調整。 本專利技術還涉及用于觸摸面板中的用戶接地校正的觸摸面板電極結構。該電極結構 可包括用于感測面板處的觸摸的電極陣列，以及用于將多組電極選擇性地耦接在一起以形 成彼此交叉的電極行和電極列的多個跳線。在一些實例中，該陣列可具有線性構型并能夠 通過使用之字形圖案的跳線耦接成對角相鄰的電極來形成行和列。在另選的實例中，該陣 列可具有菱形構型并能夠通過使用直線圖案的跳線耦接線性相鄰的電極來形成行和列。該 電極結構可有利地對面板中的不良用戶接地狀況進行校正并減輕噪聲例如AC適配器噪聲， 由此提供更精確和更快的觸摸信號檢測以及功率節省，并針對用戶的各種接地本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種用于在觸摸面板處測量互電容和自電容的方法，包括：在所述觸摸面板中的多個觸摸節點圖案處測量互電容和自電容；以及基于所述測量來計算觸摸信號，所述觸摸信號指示鄰近所述觸摸面板的對象。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...
【專利技術屬性】
技術研發人員：M·尤斯弗波，S·沙帕尼阿，
申請(專利權)人：蘋果公司，
類型：發明
國別省市：美國;US
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