【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】相關申請的交叉引用本申請要求于2013年8月23日提交的題為“MEMORYWITHMULTIPLEWORDLINEDESIGN(具有多字線設計的存儲器)”的美國非臨時申請序列號13/975,254的優先權,其通過援引全部明確納入于此。背景領域本公開一般涉及集成電路,并且尤其涉及具有多字線設計的存儲器。背景存儲器可包括安排在行和列中的位單元。每一行可包括許多位單元。每個位單元可包括以各種配置安排的數個晶體管。單獨的讀和寫字線可以分別執行讀和寫操作。在讀操作期間,現有的設計可以使用單個讀字線。當連接到位單元的讀字線被斷言時,連接到該位單元的讀位線可以放電。當讀位線放電時,該讀位線必須隨后被重新充電以用于下一讀操作。存在并不需要讀取存儲在特定行中的每個位單元中的數據的情形。由此,可能并不總是需要將在該特定的位單元行中的每個位單元的讀位線放電。當連接到不需要被讀取的位單元的讀位線被不必要地放電時,該讀位線需要被重新充電以用于下一讀操作。執行該重新充電消耗了功率。概述公開了存儲器的一個方面。存儲器可包括被安排在行中的多個位單元、連接到該多個位單元的第一子集的第一讀字線、以及連接到該多個位單元的第二子集的第二讀字線,其中該第一和第二子集位于相同的位單元行中。公開了方法的一個方面。該方法可包括在第一讀操作期間斷言連接到安排在位單元行中的多個位單元的第一子集的第一讀字線,以及在第二讀操作期間斷言連接到 ...
【技術保護點】
一種存儲器,包括:被安排在行中的多個位單元;連接到所述多個位單元的第一子集的第一讀字線;以及連接到所述多個位單元的第二子集的第二讀字線,其中所述第一和第二子集位于相同的位單元行中。
【技術特征摘要】 【專利技術屬性】
【國外來華專利技術】2013.08.23 US 13/975,2541.一種存儲器,包括:
被安排在行中的多個位單元;
連接到所述多個位單元的第一子集的第一讀字線;以及
連接到所述多個位單元的第二子集的第二讀字線,
其中所述第一和第二子集位于相同的位單元行中。
2.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,還包括:
第一充電電路,其配置成在斷言所述第一讀字線之前預充電所述第一子集的讀位線;
以及
第二充電電路,其配置成在斷言所述第二讀字線之前預充電所述第二子集的讀位線。
3.如權利要求2所述的存儲器,其特征在于:
所述第一充電電路被進一步配置成在斷言所述第一讀字線之后重新充電所述第一子
集的讀位線;以及
所述第二充電電路被進一步配置成在斷言所述第二讀字線之后重新充電所述第二子
集的讀位線。
4.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,進一步包括一個或多個感測放大器,其配
置成:
當所述第一讀字線被斷言時感測所述第一子集的讀位線中的值;以及
當所述第二讀字線被斷言時感測所述第二子集的讀位線中的值。
5.如權利要求4所述的存儲器,其特征在于,進一步包括復用器,所述復用器被配置成:
復用感測到的所述第一子集的讀位線的值和感測到的所述第二子集的讀位線的值。
6.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,進一步包括連接到所述多個位單元的寫字
線,其中所述第一和第二讀字線的組合表面積不超過所述寫字線的表面積。
7.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,進一步包括連接到所述多個位單元的寫字
線,其中所述寫字線、所述第一讀字線以及所述第二讀字線位于至少兩個金屬層中。
8.如權利要求7所述的存儲器,其特征在于:
所述第一和第二讀字線位于所述至少兩個金屬層的第一金屬層中;以及
所述寫字線位于所述至少兩個金屬層的第二金屬層中。
9.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,所述多個位單元中的每一個都具有寫端口
和讀端口。
10.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,所述多個位單元中的每一個都具有八晶
體管配置。
11.如權利要求1所述的存儲器,其特征在于,所述多個位單元中的每一個都是靜態隨
機存取存儲器(RAM)位單元。
12.一種方法,包括:
在第一讀操作期間,斷言連接到安排在位單元行中的多個位單元的第一子集的第一讀
字線;以及
在第二讀操作期間,斷言連接到所述多個位單元的第二子集的第二讀字線,
其中所述第一和第二子集位于相同的位單元行中。
13.如權利要求12所述的方法,其特征在于,進一步包括:
在所述第一讀操作期間,在斷言所述第一讀字線之前預充電所述第一子集的讀位線;
以及
在所述第二讀操作期間,在斷言所述第二讀字線之前預充電所述第二子集的讀位線。
14.如權利要求13所述的方法,其特征在于,進一步包括:
在所述第一讀操作期間,在斷言所述第一讀字線之后重新充電所述第一子集的讀位
線;以及
在所述第二讀操作期間,在斷言所述第二讀字線之后重新充電所述第二子集的讀位
線。
15.如權利要求12所述的方法,其特征在于,進一步包括:
在所述第一讀操作期間,在所述第一讀字線被斷言時感測所述第一子集的讀位線中的
值;以及
在所述第二讀操作期間,在所述第二讀字線被斷言時感測所述第二子集的讀位線中的
技術研發人員:C·古拉蒂,R·K·辛哈,R·查巴,S·S·尹,
申請(專利權)人:高通股份有限公司,
類型:發明
國別省市:美國;US
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