判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法技術

本發明專利技術涉及一種判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法。上述方法包括：在基板上的測量區域內求得最外圍的多個襯墊的坐標的步驟；在上述基板上的測量區域內求得最外圍的多個特征客體的坐標的步驟；針對連接上述最外圍的多個襯墊的坐標的第一多邊形的第一面積，計算出連接上述第一多邊形和上述最外圍的多個特征客體的坐標的第二多邊形的重疊的第二面積的比率的步驟；以及對上述比率和預先設定的基準值進行比較，來判斷補償矩陣的有效性的步驟。通過上述方法來判斷補償矩陣的有效性，從而能夠提高檢查基板時的檢查結果的可靠性。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法，更詳細地，涉及用于利用第一多邊形和第二多邊形的面積來補償襯墊的位置的判斷補償矩陣的有效性的方法，上述第一多邊形由測量區域(FOV)上的最外圍的多個襯墊的坐標形成，上述第二多邊形由上述測量區域上的最外圍的多個特征客體的坐標形成。
技術介紹
一般情況下，在電子裝置的內部設置有至少一個印刷電路基板(printedcircuitboard；PCB)，而在這種印刷電路基板上安裝有電路圖案、連接襯墊部以及與上述連接襯墊部電連接的驅動芯片等多種電路元件。一般情況下，為了確認如上所述的多種電路元件是否正常形成于上述印刷電路基板，使用形狀測量裝置?，F有的形狀測量裝置設定規定的測量區域，并檢查規定的電路元件是否正常形成于上述測量區域內。只有在需要進行測量的位置準確地設定測量區域，才可以正常執行對需要測量的電路元件的測量，然而印刷電路基板之類的測量對象物由于底部基板可以發生彎曲(warp)、扭曲(distortion)等歪曲，因而需要對此進行補償。為此，可以利用印刷電路基板(PCB)上的彎曲圖案或孔圖案等特征客體來生成補償矩陣，并補償襯墊的位置，而此時，補償矩陣是否有效可以成為問題。
技術實現思路
解決的技術問題為了解決上述的技術問題，本專利技術的目的在于，提供判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法，上述判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法可以為了補償測量區域上的襯墊的位置而判斷利用測量區域上的多個特征客體的坐標來生成的補償矩陣的有效性。本專利技術的目的并不局限于以上所提及的目的，本專利技術所屬
的普通技術人員能夠從以下的記載中明確地理解未提及的其他多種目的。技術方案用于解決上述問題的本專利技術一實施方式的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法包括：在基板上的測量區域內求得最外圍的多個襯墊的坐標的步驟；在上述基板上的測量區域內求得最外圍的多個特征客體的坐標的步驟；針對連接上述最外圍的多個襯墊的坐標的第一多邊形的第一面積，計算出連接上述第一多邊形和上述最外圍的多個特征客體的坐標的第二多邊形的重疊的第二面積的比率的步驟；以及基于上述比率是否為預先設定的基準值以上，為了補償上述測量區域內的襯墊的坐標而判斷利用上述測量區域內的多個特征客體的坐標值來生成的補償矩陣的有效性的步驟。上述最外圍的多個襯墊的坐標可以為上述最外圍的多個襯墊的中心坐標，上述最外圍的多個特征客體的坐標可以為上述最外圍的多個特征客體的中心坐標。上述特征客體可以為上述基板上的孔圖案、圓形圖案或彎曲圖案的角落部分中的至少一種。可以由(上述第一多邊形和上述第二多邊形的重疊的面積)/上述第一面積×100決定上述比率。上述預先設定的基準值可以為50。上述判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法還可以包括在上述比率為預先設定的基準值以上的情況下，判斷補償矩陣有效的步驟。本專利技術還可以包括在上述比率小于預先設定的基準值的情況下，判定補償矩陣并不有效的步驟。在上述測量區域內包括多個分割區域的情況下，上述判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法中的上述各步驟可以按上述多個分割區域分別執行，判斷上述有效性的步驟對利用上述分割區域內的特征客體的坐標來生成的補償矩陣判斷有效性。上述多個分割區域可以為上述測量區域所包括的多個面板或多個部件中的一種。上述基板可以為柔性印刷電路板。專利技術效果根據本專利技術實施例的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法，可以判斷利用測量區域上的多個特征客體的坐標來生成的補償矩陣的有效性，從而能夠提高檢查基板時的可靠性。本專利技術的效果并不局限于以上所提及的效果，只要是本專利技術所屬
的普通技術人員，就可以從以下的記載中明確地理解未提及的其他多種效果。附圖說明圖1為本專利技術實施例的用于判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的基板檢查裝置的結構圖。圖2為表示本專利技術實施例的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法的流程圖。圖3為用于說明本專利技術實施例的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法的測量區域的示例圖。圖4為示出在基板為柔性印刷電路板的情況下，在測量區域上排列有多個面板的狀態的圖。圖5為示出在基板為柔性印刷電路板的情況下，在測量區域上的相同的面板內安裝有多個部件的狀態的圖。具體實施方式只要參照與所附的附圖一同詳細說明的多個實施例，就能夠明確地理解本專利技術的目的、效果及用于實現上述目的、效果的技術結構。在對本發明進行說明的過程中，在判斷對公知功能或結構的具體說明會不必要地混淆本專利技術的要旨的情況下，將省略對此的詳細說明。并且，后述的多個術語作為在本專利技術中考慮結構、作用及功能等來定義的術語，這可以根據使用人員、操作人員的意圖或慣例等而有所不同。然而本專利技術并不局限于以下所公開的多個實施例，而是能夠以互不相同的多種形態體現。只不過，本實施例僅為了使本專利技術的公開變得更加完整，為了使本專利技術所屬
的普通技術人員完整地了解本專利技術的范疇而提供，本專利技術僅通過專利技術要求保護范圍所記載的保護范圍來定義。因此，其定義應以本說明書的整體內容為基礎而定。在說明書全文中，當指某個部分“包括”某種結構要素時，只要沒有特別相反的記載，這就意味著并不排除其他結構要素，而是還可以包括其他結構要素。以下，參照附圖對本專利技術的優選的實施例進行詳細說明。圖1為本專利技術實施例的用于判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的基板檢查裝置的結構圖，圖2為表示本專利技術實施例的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法的流程圖，圖3為用于說明本專利技術實施例的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法的測量區域的示例圖。如上述圖1所示，基板檢查裝置100可以包括控制部110、平臺部120、測量部130、存儲器部140、顯示部150及用戶界面部160等，上述控制部110用于控制基板檢查裝置100的工作，并對用于執行各種功能的運算進行處理，上述平臺部120移動及搭載作為檢查對象的基板，并進行固定，上述測量部130用于針對搭載于上述平臺部120的基板執行檢查，上述存儲器部140存儲用于驅動基板檢查裝置100的程序及數據，上述顯示部150用于輸出基板檢查裝置100的工作狀態及檢查結果等，上述用戶界面部160用于接收使用人員的指令。首先，為了設定檢查區域而在基板上設定測量區域。上述測本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法，其中，包括：在基板上的測量區域內求得最外圍的多個襯墊的坐標的步驟；在上述基板上的測量區域內求得最外圍的多個特征客體的坐標的步驟；針對連接上述最外圍的多個襯墊的坐標的第一多邊形的第一面積，計算出連接上述第一多邊形和上述最外圍的多個特征客體的坐標的第二多邊形的重疊的第二面積的比率的步驟；以及對上述比率和預先設定的基準值進行比較，來判斷補償矩陣的有效性的步驟。

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2013.09.12 KR 10-2013-01099061.一種判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方法，其中，包括：
在基板上的測量區域內求得最外圍的多個襯墊的坐標的步驟；
在上述基板上的測量區域內求得最外圍的多個特征客體的坐標的步
驟；
針對連接上述最外圍的多個襯墊的坐標的第一多邊形的第一面積，計
算出連接上述第一多邊形和上述最外圍的多個特征客體的坐標的第二多
邊形的重疊的第二面積的比率的步驟；以及
對上述比率和預先設定的基準值進行比較，來判斷補償矩陣的有效性
的步驟。
2.根據權利要求1所述的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方
法，其中，上述最外圍的多個襯墊的坐標為上述最外圍的多個襯墊的中心
坐標，上述最外圍的多個特征客體的坐標為上述最外圍的多個特征客體的
中心坐標。
3.根據權利要求1所述的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方
法，其中，上述特征客體為上述基板上的孔圖案、圓形圖案或彎曲圖案的
角落部分中的至少一種。
4.根據權利要求1所述的判斷檢查基板時的補償矩陣的有效性的方
法，其中，由(上述第一多邊形和上述第二多邊形的重疊的面積)/上述第
一面積×100決定上述比率。
5.根據權利要求1所述的判斷檢...

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭升源，崔鐘鎮，柳希昱，
申請(專利權)人：株式會社高永科技，
類型：發明
國別省市：韓國;KR