本實用新型專利技術(shù)公開了一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，包括裝置主體與外部的殼體，裝置主體內(nèi)設(shè)置有一隔板，隔板上側(cè)為樣品室，隔板下側(cè)為檢測室，檢測室內(nèi)設(shè)置有光管、準(zhǔn)直器、測試腔體、探測器及高壓組件；光管設(shè)置于光管支架上，光管的上方設(shè)置有準(zhǔn)直器，準(zhǔn)直器與光管垂直設(shè)置，并設(shè)置于準(zhǔn)直器座上，光管的上方還設(shè)置有準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)；測試腔體設(shè)置于光管的上方，且與探測器、光管連通，探測器設(shè)置于測試腔體的一側(cè)，高壓組件設(shè)置于光管的一端。本實用新型專利技術(shù)結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，便于組裝拆卸維修，監(jiān)測方便安全，檢出方便安全、靈活快捷、測量精度高、穩(wěn)定性及重復(fù)性好，可以用于稻米中痕量元素的分析。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及一種X射線檢測裝置，特別涉及一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，屬于X射線熒光光譜儀
技術(shù)介紹
X射線熒光光譜儀是一種在不損傷待測物體本身材質(zhì)的前提下，對其本身的物質(zhì)成分進(jìn)行檢測的探測性裝置，其利用了X射線照射多組分物質(zhì)表面所激發(fā)的能量色散作用，其工作效率高，一般情況下對于多組分物質(zhì)的分析僅僅需要1-2分鐘，所以被廣泛應(yīng)用于化工、冶金、食品安全等多個領(lǐng)域。隨著人們對糧食的營養(yǎng)及自身健康關(guān)注度日益提高，稻米痕量元素分析的儀器也漸漸得到普及，因此各式各樣的光譜儀應(yīng)運而生。但是目前市場上這些儀器普遍存在檢出限達(dá)不到、穩(wěn)定性及重復(fù)性不高等缺陷。因此，如何提供一種能夠具有檢出限較好，同時穩(wěn)定性、重復(fù)性、測量精度高的X射線檢測儀器，成為了業(yè)界研發(fā)人員致力于解決的方向。
技術(shù)實現(xiàn)思路
針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足之處，本技術(shù)的目的在于提供一種應(yīng)用于檢出稻米中痕量元素的X射線檢測裝置，其結(jié)構(gòu)簡單，便于組裝拆卸維修，檢出方便安全、靈活快捷、測量精度高、穩(wěn)定性及重復(fù)性好。為了達(dá)到上述目的，本技術(shù)采取的技術(shù)方案包括：一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，包括裝置主體與套設(shè)在裝置主體外部的殼體，所述裝置主體內(nèi)設(shè)置有一隔板，所述隔板上側(cè)為樣品室，隔板下側(cè)為檢測室，所述檢測室內(nèi)設(shè)置有一光管、一準(zhǔn)直器、一測試腔體、一探測器及高壓組件；所述光管設(shè)置于光管支架上，所述光管的上方設(shè)置有準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器與光管垂直設(shè)置，并設(shè)置于準(zhǔn)直器座上，所述光管的上方還設(shè)置有準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)；所述測試腔體設(shè)置于光管的上方，且與探測器、光管連通，所述探測器設(shè)置于測試腔體的一側(cè)，所述高壓組件設(shè)置于光管的一端。作為本技術(shù)的優(yōu)選方案之一，該X射線檢測裝置還包括與殼體連接位于殼體頂部的頂蓋、與殼體連接位于殼體底面的底座，所述底座底部設(shè)置有四個底腳，殼體的正面上設(shè)置有電源指示燈以及高壓指示燈。更優(yōu)選的，所述探測器設(shè)置于探測器支架上。作為優(yōu)選方案之一，所述樣品室內(nèi)設(shè)置有樣品杯，所述樣品杯的形狀與測試腔體內(nèi)的凹槽形狀一致。具體的，所述光管為圓柱形，光管支架上設(shè)置有與光管外形尺寸配合的凹槽形蓋，所述凹槽形蓋與光管支架螺紋連接。更具體的，所述準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)設(shè)置于準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)支架上，并與一電機(jī)連接。進(jìn)一步的，所述頂蓋采用雙側(cè)氣拉桿支撐，所述氣拉桿固定在殼體上，配合完成頂蓋的開啟、閉合等動作。所述頂蓋上還設(shè)置有一拉手，更便于頂蓋的開啟閉合動作。具體的，所述殼體與頂蓋、底座均通過螺紋連接。優(yōu)選的，所述光管的另一端設(shè)置有電源。更優(yōu)選的，所述底座上還設(shè)置有USB支架與電源插座支架。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)的有益效果在于：本技術(shù)結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，便于組裝拆卸維修，監(jiān)測方便安全，檢出方便安全、靈活快捷、測量精度高、穩(wěn)定性及重復(fù)性好，可以用于稻米中痕量元素的分析。附圖說明為說明本技術(shù)的結(jié)構(gòu)，下面結(jié)合附圖，對本技術(shù)的具體實施方式作進(jìn)一步詳細(xì)地說明。圖1為本技術(shù)所公開的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置的主視圖；圖2為本技術(shù)所公開的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置的左視圖；圖3為本技術(shù)所公開的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置的俯視圖；圖4為本技術(shù)所公開的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本技術(shù)所公開的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置的光路系統(tǒng)的光路示意圖。附圖標(biāo)記說明：1-殼體，11-頂蓋，12-底座，12a-底腳，13-電源指示燈，14-高壓指示燈，2-光管，20-光管支架，3-準(zhǔn)直器，30-準(zhǔn)直器座，31-準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)，32-準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)支架，33-電機(jī)，4-測試腔體，40-樣品杯，5-探測器，50-探測器支架，6-高壓組件，7-電源，8-電源插座支架，9-USB支架。具體實施方式下面將結(jié)合本實施例中的附圖，對實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。請參閱圖1至圖4所示，為本實施例的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，它包括裝置主體與套設(shè)在裝置主體外部的殼體1，所述裝置主體內(nèi)設(shè)置有一隔板，所述隔板上側(cè)為樣品室，隔板下側(cè)為檢測室，所述檢測室內(nèi)設(shè)置有一光管2、一準(zhǔn)直器3、一測試腔體4、一探測器5及高壓組件6。所述殼體1采用整體式的殼體，方便于安裝拆卸，且能夠很好的防止輻射對人體的影響。該X射線檢測裝置還包括與殼體連接位于殼體頂部的頂蓋11、與殼體連接位于殼體底面的底座12，所述底座底部設(shè)置有用于支撐主體的四個底腳12a，使主體放置平臺上更加平穩(wěn)。殼體1的正前面上設(shè)置有電源指示燈13以及高壓指示燈14兩個信號裝置。殼體頂部的頂蓋11采用雙側(cè)氣拉桿支撐，氣拉桿固定在殼體上，配合完成頂蓋的開啟、閉合等動作。所述頂蓋上還設(shè)置有一個隱形拉手，更便于頂蓋的開啟閉合動作。所述殼體、頂蓋、底座等均通過螺紋連接，便于拆卸及維修，更可以根據(jù)實際需求快速增加功能元件，以使用于不同需求。所述光管2設(shè)置于光管支架20上，光管支架20設(shè)計為與光管2外形尺寸配合的凹槽形狀，由于光管2為圓柱形狀容易轉(zhuǎn)動，為了防止光管在Y軸方向轉(zhuǎn)動光管支架還設(shè)計了一個凹槽行蓋并用螺紋與光管支架連接，以保證光管在工作當(dāng)中的穩(wěn)定性。所述光管2的上方設(shè)置有準(zhǔn)直器3，所述準(zhǔn)直器3與光管2垂直設(shè)置，并設(shè)置于準(zhǔn)直器座30上，所述光管的上方還設(shè)置有準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)31，準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)31安裝在準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)支架32上。準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)31能夠準(zhǔn)確的告知電機(jī)33準(zhǔn)直器3目前所在的位置以便于電機(jī)的準(zhǔn)確移動。該X射線檢測裝置還設(shè)置探測器5及探測器支架50，探測器支架50用以讓探測器5準(zhǔn)確的定位及固定。所述測試腔體4設(shè)置于光管2的上方，且與探測器5、光管2連通，所述探測器5設(shè)置于測試腔體4的一側(cè)。所述樣品室內(nèi)設(shè)置有樣品杯40，測試腔體設(shè)計為與樣品杯外形尺寸配合的長方體腔體，以保證樣品杯放入測試腔體的穩(wěn)定性。更具體的，所述樣品杯的形狀與測試腔體4內(nèi)設(shè)置的凹槽形狀一致，凹槽與待檢測的樣品杯緊密配合，以達(dá)到承載待測樣品更穩(wěn)定之目的。所述高壓組件6設(shè)置于光管2的一端，光管的另一端設(shè)置有電源7。所述底座上還設(shè)置有USB支架9與電源插座支架8。如圖5所示，本技術(shù)的工作原理為：本技術(shù)的光路系統(tǒng)是通過光管2發(fā)射X射線，此X射線通過準(zhǔn)直器3后將此X射線進(jìn)行聚光以免照射到其它物質(zhì)影響測試結(jié)果，經(jīng)過準(zhǔn)直器后的X射線將照射到樣品杯40中的樣品，從而與樣品的原子進(jìn)行相互作用，在其能量大于某一軌道電子的結(jié)合能時，就可以從中逐出一個軌道電子而出現(xiàn)一個空穴。然而原子要恢復(fù)到原來穩(wěn)定的狀態(tài)，這時處于較高能級的電子將依據(jù)一定規(guī)則躍遷而填補(bǔ)該空穴，所逐出的電子稱為光電子，從而被探測器5所檢知轉(zhuǎn)換為電脈沖。本技術(shù)在實際工作中的具體操作為：在對稻米中痕量元素分析測量時本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點】
一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，其特征在于，該X射線檢測裝置包括裝置主體與套設(shè)在裝置主體外部的殼體，所述裝置主體內(nèi)設(shè)置有一隔板，所述隔板上側(cè)為樣品室，隔板下側(cè)為檢測室，所述檢測室內(nèi)設(shè)置有一光管、一準(zhǔn)直器、一測試腔體、一探測器及高壓組件；所述光管設(shè)置于光管支架上，所述光管的上方設(shè)置有準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器與光管垂直設(shè)置，并設(shè)置于準(zhǔn)直器座上，所述光管的上方還設(shè)置有準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)；所述測試腔體設(shè)置于光管的上方，且與探測器、光管連通，所述探測器設(shè)置于測試腔體的一側(cè)，所述高壓組件設(shè)置于光管的一端。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，其特征在于，該X射線檢測裝置包括裝置主體與套設(shè)在裝置主體外部的殼體，所述裝置主體內(nèi)設(shè)置有一隔板，所述隔板上側(cè)為樣品室，隔板下側(cè)為檢測室，所述檢測室內(nèi)設(shè)置有一光管、一準(zhǔn)直器、一測試腔體、一探測器及高壓組件；
所述光管設(shè)置于光管支架上，所述光管的上方設(shè)置有準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器與光管垂直設(shè)置，并設(shè)置于準(zhǔn)直器座上，所述光管的上方還設(shè)置有準(zhǔn)直器復(fù)位開關(guān)；所述測試腔體設(shè)置于光管的上方，且與探測器、光管連通，所述探測器設(shè)置于測試腔體的一側(cè)，所述高壓組件設(shè)置于光管的一端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，其特征在于，該X射線檢測裝置還包括與殼體連接位于殼體頂部的頂蓋、與殼體連接位于殼體底面的底座，所述底座底部設(shè)置有四個底腳，殼體的正面上設(shè)置有電源指示燈以及高壓指示燈。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，其特征在于，所述探測器設(shè)置于探測器支架上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種應(yīng)用于稻米中痕量元素分析的X射線檢測裝置，其特征在于...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：楊振，楊劍，
申請(專利權(quán))人：蘇州三值精密儀器有限公司，
類型：新型
國別省市：江蘇;32
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