用于液晶屏表面凹凸點的檢測方法及光源裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術實施例公開了一種用于液晶屏表面凹凸點的檢測方法及光源裝置。所述檢測方法包括將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上；利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域；在條形照射區域的另一側設置掃描相機，掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面臨界對稱；條形照射區域的中心線垂面與條形照射區域的長邊方向平行；光源裝置沿待檢測液晶屏長邊方向勻速移動，條形照射區域的長度遠大于待檢測液晶屏的寬度；掃描相機與光源裝置同步移動并對光源裝置照射到的條形照射區域進行圖像采集；若采集到的圖像中存在半明半暗區域，則確定待檢測液晶屏表面存在凹凸點。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及液晶顯示屏檢測設備
，具體涉及一種用于液晶屏表面凹凸點檢測的檢測方法及用于該檢測方法的光源裝置。
技術介紹
液晶屏的結構通常包括液晶玻璃片和兩片偏光片。對于平放狀態的液晶玻璃片，一片偏光片緊貼在液晶玻璃的上表面，另一片緊貼在液晶玻璃的下表面。在液晶屏的生產過程中，將偏光片貼合于液晶玻璃片的過程中，由于生產工藝或人為原因會造成偏光片的表面劃傷、或者在偏光片的表面上形成凹坑或凸點。在液晶屏的質量檢測過程中，需要將表面具有劃痕、凹坑或凸點的液晶屏進行剔揀。在現有液晶屏表面檢測中，對于液晶屏表面是否存在劃痕、凹坑和凸點的檢測方法是通過光源裝置對液晶屏的表面進行照射，同時采用圖像采集裝置對液晶屏的表面進行成像，若采集到的液晶屏圖像的表面存在半明半暗點或劃痕，則說明該液晶屏表面存在瑕疵。但現有液晶屏表面檢測過程中使用的光源裝置為小型LED按矩陣的方式緊密排列構成的光源裝置，該種光源裝置由于包括按矩陣排列的多個發光源，因此光源裝置發出光線的角度各不相同。利用上述光源裝置對液晶屏表面進行照射時，光源裝置發射出的不同方向的光線對液晶屏表面上的劃痕、凸點或凹坑可實現補償照明，導致凸點、凹坑或劃痕與液晶屏正常表面無法有效區分，在浪費較多光能的同時檢測精度較低。
技術實現思路
本專利技術的專利技術目的在于提供一種液晶屏表面凹凸點的檢測方法及適用于該檢測方法的光源裝置，該光源裝置能夠約束光源裝置發出光線的角度，避免在照射液晶屏表面時對液晶屏表面上的劃痕、凸點或凹坑進行補償照明，能夠準確的檢測出液晶屏中的凹凸點，提高液晶屏表面凹凸點檢測方法的檢測精度。根據本專利技術的實施例，提供了一種液晶屏表面檢測凹凸點的檢測方法，包括:將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上；利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在所述待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域；在所述條形照射區域的另一側設置掃描相機，所述掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于所述條形照射區域的中心線垂面臨界對稱;所述條形照射區域的中心線垂面與所述條形照射區域的長邊方向平行；所述光源裝置沿所述待檢測液晶屏長度方向勻速移動，所述條形照射區域的長度遠大于所述待檢測液晶屏的寬度；所述掃描相機與所述光源裝置同步移動并對所述光源裝置照射到的條形照射區域進行圖像采集；若采集到的圖像中存在半明半暗區域，則確定所述待檢測液晶屏表面存在凹凸點。其中，所述平行光束與所述待檢測液晶屏表面的法線夾角大于O度小于等于30度。根據本專利技術的另一方面，還提供了一種用于液晶屏表面凹凸點檢測的光源裝置，包括:包括具有第一端部和第二端部的殼體，第一端部的中軸線與第二端部的中軸線重合，第一端部設有出光口，第二端部內側安裝有點光源；第一菲涅爾透鏡，設置于第一端部和第二端部之間，所述點光源位于第一菲涅爾透鏡的焦點處，第一菲涅爾透鏡的螺紋面朝向所述出光口，第一菲涅爾透鏡的光面朝向所述點光源;經第一菲涅爾透鏡光面發出的平行光束的視場角為5°。作為另一優選方案，所述殼體的第二端部設有沿同一直線排列的多組點光源;每組點光源與所述出光口之間設置第一菲涅爾透鏡；多個第一菲涅爾透鏡相互拼接，多個第一菲涅爾透鏡的螺紋面位于同一平面，多個第一菲涅爾透鏡的光面位于同一平面；多組所述點光源之間設有遮光片，所述遮光片固定于所述殼體第二端部的內表面上。優選地，第一菲涅爾透鏡的焦距為70毫米，螺紋距為0.5毫米，厚度為2毫米。進一步地，所述光源裝置還包括:第二菲涅爾透鏡，設置于第一菲涅爾透鏡與所述出光口之間，第二菲涅爾透鏡的螺紋面朝向所述出光口，第二菲涅爾透鏡的光面朝向第一菲涅爾透鏡。進一步地，在所述殼體的第一端部設有用于調節第二菲涅爾透鏡的擋片。優選地，在所述殼體的第一端部設有防護罩，第二菲涅爾透鏡與所述防護罩沿點光源光線出射的方向依次設置。進一步地，所述殼體的第一端部的外端面設有散熱部件。其中，所述散熱部件包括側面散熱風扇、頂部散熱風扇和散熱片；進一步地，在所述點光源和第一菲涅爾透鏡之間還包括擴散板，所述擴散板與第一菲涅爾透鏡平行設置。由以上技術方案可知，本申請中在對液晶屏表面進行檢測時，采用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，并使掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面臨界對稱，在該種狀態下，只要掃描相機采集到的圖像中呈現半亮半暗的區域，則能夠給出液晶屏表面存在凹凸點的檢測結果。本申請中，用于檢測的光源裝置光源使用點狀發光顆粒，并使其發射視場角小于或等于5°的平行光束，因而在照射液晶屏表面時對液晶屏表面上的劃痕、凸點或凹坑不會進行補償照明，故能夠準確的檢測出液晶屏中的凹凸點，提高液晶屏表面凹凸點檢測方法的檢測精度。【附圖說明】為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1示出了液晶屏表面檢測凹凸點的檢測方法流程圖；圖2示出了凹凸點在掃描相機中呈現半亮半暗區域的成像圖；圖3為根據一優選實施例示出的用于液晶屏表面檢測的光源裝置結構示意圖。【具體實施方式】下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整的描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。在液晶屏表面檢測中，光照方式對檢測效果有重要影響。光源發出的光方向一致性對液晶屏表面凹凸成像有著非常重要的意義，若光源發出的光線能夠使液晶屏表面的凹凸點在圖像采集裝置中呈現出半亮半暗的特點，則能夠易于被軟件識別。傳統的光源采用LED密排方式會帶來光源角度多樣化，使不同方向光線對凹凸點補償照明，導致凹凸點與液晶屏正常表面無法有效區分。本申請的專利技術人利用幾何光學原理，發現了能夠使液晶屏表面的凹凸點在圖像采集裝置中呈現出半亮半暗的檢測方法及適用于該檢測方法的光源裝置。根據本專利技術的實施例，提供了液晶屏表面檢測凹凸點的檢測方法。圖1示出了液晶屏表面檢測凹凸點的檢測方法流程圖，如圖1所示，包括如下步驟:SlOl:將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上。S102:利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域。優選地，平行光束與待檢測液晶屏表面的法線夾角大于O度小于等于30度。S103:在條形照射區域的另一側設置掃描相機，掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面臨界對稱;條形照射區域的中心線垂面與條形照射區域的長邊方向平行。條形照射區域的長度遠大于所述待檢測液晶屏的寬度。在本步驟中，需要說明的是，掃描相機的鏡頭與光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面臨界對稱指的是掃描相機的鏡頭與光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面介于對稱與非對稱之間。只有掃描相機的鏡頭與光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面處于臨界對稱狀態，光源裝置發出的視場角為5°的平行光束才能使液晶屏表面的凹凸點在掃描相機中呈現半亮半暗的區域。圖2示出了凹凸點在掃描相機中呈本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于液晶屏表面凹凸點的檢測方法，其特征在于，包括：將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上；利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在所述待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域；在所述條形照射區域的另一側設置掃描相機，所述掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于所述條形照射區域的中心線垂面臨界對稱；所述條形照射區域的中心線垂面與所述條形照射區域的長邊方向平行；所述光源裝置沿所述待檢測液晶屏長度方向勻速移動，所述條形照射區域的長度遠大于所述待檢測液晶屏的寬度；所述掃描相機與所述光源裝置同步移動并對所述光源裝置照射到的條形照射區域進行圖像采集；若采集到的圖像中存在半明半暗區域，則確定所述待檢測液晶屏表面存在凹凸點。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：韓楠，姚毅，
申請(專利權)人：凌云光技術集團有限責任公司，
類型：發明
國別省市：北京;11