一種性能檢測方法及裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種性能檢測方法，包括：在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)；將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。本發(fā)明專利技術(shù)實施例還公開了一種性能檢測裝置。采用本發(fā)明專利技術(shù)實施例，可以減少確認性能拐點的次數(shù)，縮短性能檢測的時間。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及電子
，尤其涉及一種性能檢測方法及裝置。
技術(shù)介紹
目前，很多軟件可以對服務(wù)端接口進行性能壓測和評估，如：LoadRunner、ApacheBench、JMeter等主流軟件。這些軟件一般是在壓測端通過啟動多個進程或者線程的方法，模擬發(fā)送一定數(shù)量的并發(fā)請求，然后通過分析服務(wù)端接口的響應(yīng)信息來統(tǒng)計和分析在當前壓測場景下接口的平均響應(yīng)時間、服務(wù)端接口吞吐量等性能數(shù)據(jù)。在現(xiàn)有技術(shù)方案中，在每一輪壓測結(jié)束后，得到在當前壓測場景下的服務(wù)端接口的性能數(shù)據(jù)。但是在很多業(yè)務(wù)場景下，需要測試出在滿足特定條件下某些性能指標的拐點和出現(xiàn)拐點時的測試數(shù)據(jù)。例如，在滿足響應(yīng)平均耗時不大于響應(yīng)時間閾值且中央處理器CPU占用率不大于占用率閾值的情況下，需要測試出服務(wù)端接口的最大吞吐量和此時的并發(fā)請求數(shù)。如果利用目前已有的測試工具和測試方法進行測試，開發(fā)人員需要進行多輪測試，而且在每輪測試時需要開發(fā)人員對之前的測試結(jié)果進行分析，并在保證相關(guān)測試環(huán)境不發(fā)生變化的情況下調(diào)整并發(fā)請求數(shù)進而通過多輪測試才能找到最終的性能拐點，導(dǎo)致性能檢測的效率低，測試過程耗時多。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)實施例提供一種性能檢測方法及裝置。可以解決性能檢測的效率低，測試過程耗時多的問題。本專利技術(shù)第一方面提供了一種性能檢測方法，包括：在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第二并發(fā)請求處理量；將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。相應(yīng)地，本專利技術(shù)第二方面提供了一種性能檢測裝置，包括：數(shù)據(jù)獲取模塊，用于在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第二并發(fā)請求處理量；數(shù)據(jù)計算模塊，用于將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；區(qū)間確定模塊，用于根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；數(shù)據(jù)確定模塊，用于根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。相應(yīng)地，本專利技術(shù)第三方面提供了一種性能檢測裝置，裝置包括網(wǎng)絡(luò)接口、存儲器以及處理器，其中，存儲器中存儲一組程序代碼，且處理器用于調(diào)用存儲器中存儲的程序代碼，用于執(zhí)行以下操作：在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第二并發(fā)請求處理量；將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。實施本專利技術(shù)實施例，首先獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)；然后將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的請求處理量以及性能指標參數(shù)；其次根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；最后根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量，從而減少確認性能拐點的次數(shù)，縮短性能檢測的時間。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術(shù)實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本專利技術(shù)的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本專利技術(shù)提出的一種性能檢測方法的第一實施例的流程圖；圖2是本專利技術(shù)實施例提供的一種性能指標變化曲線示意圖；圖3是本專利技術(shù)實施例提供的另一種性能指標變化曲線示意圖；圖4是本專利技術(shù)提出的一種性能檢測方法的另一實施例的流程圖；圖5是本專利技術(shù)實施例提出的一種確定并發(fā)量請求區(qū)間的方法的流程圖；圖6是本專利技術(shù)實施例提出的另一種確定并發(fā)量請求區(qū)間的方法的流程圖；圖7是本專利技術(shù)實施例提出的一種性能檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是本專利技術(shù)實施例提供的裝置中數(shù)據(jù)確定模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9是本專利技術(shù)實施例提出的另一種性能檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實施方式下面將結(jié)合本專利技術(shù)實施例中的附圖，對本專利技術(shù)實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術(shù)一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術(shù)中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術(shù)保護的范圍。請參考圖1，圖1是本專利技術(shù)提出的一種性能檢測方法的第一實施例的流程圖。如圖所示，本專利技術(shù)實施例中的方法包括：S101，在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第二并發(fā)請求處理量。具體實現(xiàn)中，可以設(shè)置初始并發(fā)請求量，并在啟本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種性能檢測方法，其特征在于，所述方法包括：在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第二并發(fā)請求處理量；將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種性能檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參數(shù)，所述第一采樣點
的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所述第一調(diào)整參數(shù)為根
據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的數(shù)據(jù)與所述第一采樣
點的數(shù)據(jù)計算得到的數(shù)值，所述第二采樣點的數(shù)據(jù)包括第二并發(fā)請求量以及第
二并發(fā)請求處理量；
將所述第一并發(fā)請求量乘以所述第一調(diào)整參數(shù)，計算得到第三采樣點的數(shù)
據(jù)中的第三并發(fā)請求量，并根據(jù)所述第三并發(fā)請求量確定所述第三采樣點的數(shù)
據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量以及性能指標參數(shù)；
根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能指標參
數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間；
根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請
求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能指標參數(shù)包括CPU
占用率和/或響應(yīng)平均耗時；
所述根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能參
數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間包括：
根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)以及所述第三采樣點的數(shù)據(jù)，計算第二調(diào)整參
數(shù)；
若所述第二調(diào)整參數(shù)不小于1且所述性能參數(shù)大于預(yù)設(shè)閾值，則分別將所
述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量作為所述并發(fā)請求量區(qū)間上的最大值
以及所述第二并發(fā)請求量作為所述并發(fā)請求量區(qū)間上的最小值。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能指標參數(shù)包括CPU
占用率和/或響應(yīng)平均耗時；
所述根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)、所述第三采樣點的數(shù)據(jù)以及所述性能參
數(shù)，確定并發(fā)請求量區(qū)間包括：
根據(jù)所述第一采樣點的數(shù)據(jù)以及所述第三采樣點的數(shù)據(jù)，計算第二調(diào)整參
數(shù)；
若所述第二調(diào)整參數(shù)小于1且所述性能參數(shù)不大于預(yù)設(shè)閾值，則分別將所
述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量作為所述并發(fā)請求量區(qū)間上的最大值
以及所述第二并發(fā)請求量作為所述并發(fā)請求量區(qū)間上的最小值。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述并發(fā)請求量區(qū)間，
確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請求量包
括：
在所述并發(fā)請求量區(qū)間內(nèi)獲取第四采樣點的數(shù)據(jù)中的第四并發(fā)請求量；
將所述第四并發(fā)請求量加上預(yù)設(shè)并發(fā)請求量，計算得到所述第五采樣點的
數(shù)據(jù)中的第五并發(fā)請求量，進而在所述并發(fā)請求量區(qū)間內(nèi)計算得到多個并發(fā)請
求量；
根據(jù)所述多個并發(fā)請求量、所述第一并發(fā)請求量、所述第二并發(fā)請求量以
及所述第三并發(fā)請求量，確定所述最大并發(fā)請求處理量。
5.如權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一采樣點
的數(shù)據(jù)以及所述第三采樣點的數(shù)據(jù)，計算第二調(diào)整參數(shù)包括：
將所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求量減去所述第一采樣點的數(shù)據(jù)
中的第一并發(fā)請求量的差值除以所述第一并發(fā)請求量，計算得到第一比例值；
將所述第三采樣點的數(shù)據(jù)中的第三并發(fā)請求處理量減去所述第一采樣點的
數(shù)據(jù)中的第一并發(fā)請求處理量的差值除以所述第一并發(fā)請求處理量，計算得到
第二比例值；
將所述第二比例值除以所述第一比例值的商加1計算得到所述第二調(diào)整參
數(shù)。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述多個并發(fā)請求量、
所述第一并發(fā)請求量、所述第二并發(fā)請求量以及所述第三并發(fā)請求量，確定所
述最大并發(fā)請求處理量包括：
對所述多個并發(fā)請求量中每個并發(fā)請求量對應(yīng)的并發(fā)請求處理量、所述第

\t一并發(fā)請求量對應(yīng)的第一并發(fā)請求處理量、所述第二并發(fā)請求量對應(yīng)的第二并
發(fā)請求處理量以及所述第三并發(fā)請求量對應(yīng)的第三并發(fā)請求處理量進行比較以
獲取所述最大并發(fā)請求處理量。
7.如權(quán)利要求1-6任意一項所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述并發(fā)
請求量區(qū)間，確定最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并
發(fā)請求量之后，還包括：
根據(jù)所述最大并發(fā)請求處理量以及所述最大并發(fā)請求處理量對應(yīng)的并發(fā)請
求量，對系統(tǒng)運行的頻率參數(shù)進行最優(yōu)配置。
8.一種性能檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：
數(shù)據(jù)獲取模塊，用于在第一時間點獲取第一采樣點的數(shù)據(jù)以及第一調(diào)整參
數(shù)，所述第一采樣點的數(shù)據(jù)包括第一并發(fā)請求量以及第一并發(fā)請求處理量，所
述第一調(diào)整參數(shù)為根據(jù)在第一時間點之前的第二時間點獲取到的第二采樣點的
數(shù)據(jù)與所述第...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周生佩，吳建國，王寸濤，
申請(專利權(quán))人：騰訊科技深圳有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：廣東;44