【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及電路板測試
，尤其涉及一種帶有折彎針體的測試針。
技術(shù)介紹
現(xiàn)有技術(shù)下，在對一些傾斜設(shè)置的焊點位置進行測試時，采用一般的直形測試針很難測試，且由于焊點較為光禿，因此必須對測試針套管及測試頭形狀進行改進，使得能夠充分與焊點接觸。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本技術(shù)提供了一種便于安裝，定位穩(wěn)定可靠，且不會造成異物殘留的測試針。為達此目的，本技術(shù)采用以下技術(shù)方案：一種帶有折彎針體的測試針，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測試頭，所述測試頭的測試桿與所述針體的套管滑動配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測試頭的測試端圓周均布有偶數(shù)個測試部，相鄰測試部之間形成V字形開槽，所述V字形開槽相互貫通。其中，相鄰所述V字形開槽的一相鄰面之間設(shè)置有交線，所述交線形成所述測試部的內(nèi)側(cè)棱。其中，所述測試部設(shè)置為4個且兩兩相對設(shè)置。其中，相對設(shè)置的測試部的內(nèi)側(cè)棱之間相互垂直。本技術(shù)的有益效果：本技術(shù)包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測試頭，所述測試頭的測試桿與所述針體的套管滑動配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測試頭的測試端圓周均布有偶數(shù)個測試部，相鄰測試部之間形成V字形開槽，所述V字形開槽相互貫通。此結(jié)構(gòu)設(shè)計的測試針，利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于測試體上，能夠確保測試針穩(wěn)定地接觸于電路板上的測試點與零件腳，不易滑開，此外折彎設(shè)置的套管，使得測試頭與測試針固定...
【技術(shù)保護點】
一種帶有折彎針體的測試針，其特征在于，包括針體及彈性設(shè)置于所述針體一端的測試頭，所述測試頭的測試桿與所述針體的套管滑動配合，所述針體的套管呈折彎設(shè)置，所述測試頭的測試端圓周均布有偶數(shù)個測試部，相鄰測試部之間形成V字形開槽，所述V字形開槽相互貫通。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種帶有折彎針體的測試針，其特征在于，包括針體及彈性設(shè)置于所述
針體一端的測試頭，所述測試頭的測試桿與所述針體的套管滑動配合，所述針
體的套管呈折彎設(shè)置，所述測試頭的測試端圓周均布有偶數(shù)個測試部，相鄰測
試部之間形成V字形開槽，所述V字形開槽相互貫通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有折彎針體的測試針，其特...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：鐘興彬，
申請(專利權(quán))人：深圳市新富城電子有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44
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