本實(shí)用新型專利技術(shù)涉及一種基片控溫系統(tǒng),所述基片控溫系統(tǒng)包括:真空腔室;用于放置基片的樣品臺(tái),設(shè)置在所述真空腔室內(nèi),且包括用于對(duì)所述基片進(jìn)行加熱的加熱器;與所述樣品臺(tái)連接的循環(huán)管道,包括入口和出口;惰性氣體源,通過進(jìn)氣閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;冷水機(jī)水箱,通過進(jìn)水閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;以及與所述加熱器、進(jìn)氣閥和進(jìn)水閥電連接的控制單元,當(dāng)需要對(duì)所述基片加熱時(shí),打開所述進(jìn)氣閥且保持所述進(jìn)水閥關(guān)閉;當(dāng)需要對(duì)所述基片進(jìn)行降溫時(shí),打開所述進(jìn)水閥且保持所述進(jìn)氣閥關(guān)閉。本實(shí)用新型專利技術(shù)可以對(duì)基片的溫度進(jìn)行控制。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及一種控溫裝置,更具體地說,涉及一種基片控溫系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
在切削刀具等多種工具及零部件的表面沉積硬質(zhì)薄膜可以大幅度提高它們的使用性能,因此在工具及零部件的表面沉積薄膜已經(jīng)獲得廣泛應(yīng)用。物理氣相沉積(PhysicalVaporDeposition,PVD)技術(shù)是制備硬質(zhì)薄膜的主要方法。在真空條件下采用物理方法,將材料源氣化成氣態(tài)原子、分子,或部分電離成離子,并通過低壓氣體或等離子體,在基片表面沉積薄膜。PVD的工藝開發(fā),通常是調(diào)節(jié)工藝制備出不同成分、微觀結(jié)構(gòu)的硬質(zhì)薄膜,進(jìn)而得到相應(yīng)的使用性能。在廣泛采用的PVD工藝沉積的硬質(zhì)膜中,往往存在過高的殘余應(yīng)力。為了改善膜基系統(tǒng)的使用性能,必須把這種殘余應(yīng)力控制在合理的水平。基片的溫度是決定薄膜的微觀組織的一個(gè)關(guān)鍵因素,而膜的微觀組織對(duì)其殘余應(yīng)力有根本性的影響,因此,探討基片溫度對(duì)薄膜微觀組織的影響,進(jìn)而研究它對(duì)薄膜殘余應(yīng)力的影響具有很高的應(yīng)用價(jià)值。在現(xiàn)有技術(shù)制備硬質(zhì)薄膜的過程中,通常會(huì)對(duì)基片進(jìn)行加熱,但沒有降溫措施,溫度較高的等離子體落在基片上,會(huì)導(dǎo)致基片的溫度升高至幾百度說明書,根據(jù)經(jīng)典的Thornton模型,沉積溫度對(duì)于薄膜的微觀結(jié)構(gòu)有顯著影響,進(jìn)而對(duì)調(diào)節(jié)薄膜性能十分重要。特別的,如果通過低溫沉積硬質(zhì)薄膜得到非晶結(jié)構(gòu),再進(jìn)行非晶晶化,將得到納米晶、等軸晶結(jié)構(gòu)的硬質(zhì)薄膜,性能會(huì)明顯區(qū)別于常規(guī)的柱狀晶結(jié)構(gòu)的硬質(zhì)薄膜。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)要解決的技術(shù)問題在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)制備硬質(zhì)薄膜的過程中沒有對(duì)基片的溫度進(jìn)行控制的缺陷,提供一種基片控溫系統(tǒng),可以對(duì)基片的溫度進(jìn)行控制。本技術(shù)解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:構(gòu)造一種基片控溫系統(tǒng),包括:真空腔室;用于放置基片的樣品臺(tái),設(shè)置在所述真空腔室內(nèi),且包括用于對(duì)所述基片進(jìn)行加熱的加熱器;與所述樣品臺(tái)連接的循環(huán)管道,包括入口和出口;惰性氣體源,通過進(jìn)氣閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;冷水機(jī)水箱,通過進(jìn)水閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;以及與所述加熱器、進(jìn)氣閥和進(jìn)水閥電連接的控制單元,當(dāng)需要對(duì)所述基片加熱時(shí),打開所述進(jìn)氣閥且保持所述進(jìn)水閥關(guān)閉;當(dāng)需要對(duì)所述基片進(jìn)行降溫時(shí),打開所述進(jìn)水閥且保持所述進(jìn)氣閥關(guān)閉。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述樣品臺(tái)包括用于放置所述基片的水冷基片臺(tái)、用于對(duì)所述水冷基片臺(tái)進(jìn)行加熱的所述加熱器、以及用于固定所述水冷基片臺(tái)和加熱器且用于連接到所述真空腔室內(nèi)部的安裝底座,所述加熱器設(shè)置在所述水冷基片臺(tái)和所述安裝底座之間,所述基片控溫系統(tǒng)還包括與所述水冷基片臺(tái)相對(duì)設(shè)置的電弧源。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),在所述水冷基片臺(tái)上,設(shè)有絕緣套管連接孔;所述樣品臺(tái)還包括插置在所述絕緣套管連接孔內(nèi)的絕緣套管;所述絕緣套管由高導(dǎo)熱率的材料制成,在所述絕緣套管內(nèi),固定設(shè)置有溫度傳感器。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述樣品臺(tái)還包括設(shè)置在所述水冷基片臺(tái)和所述加熱器之間的絕緣擋板,在所述絕緣擋板的中心,開設(shè)有加熱輻射孔。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述樣品臺(tái)還包括設(shè)置在所述加熱器和所述安裝底座之間的熱反射器,所述熱反射器具有朝向所述加熱器的前側(cè)開口。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),在所述熱反射器的左右兩側(cè)上,設(shè)置有用于固定所述加熱器的多個(gè)凹口,所述加熱器的兩端分別支撐在所述凹口內(nèi);所述樣品臺(tái)還包括兩個(gè)呈長條狀的加熱器固定件,所述加熱器固定件分別壓在所述加熱器的兩端,且所述加熱器固定件的兩端分別連接到所述熱反射器的對(duì)應(yīng)一側(cè)上。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),在所述絕緣擋板和所述安裝底座之間,還設(shè)置有支撐間隔件,所述支撐間隔件與所述加熱器的兩端固定連接,且與所述安裝底座固定連接。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述安裝底座上設(shè)置有用于將所述樣品臺(tái)固定到所述真空腔室內(nèi)的垂直支撐腳和水平支撐腳,所述水平支撐腳包括與所述樣品臺(tái)固定連接的轉(zhuǎn)動(dòng)連接件、以及與所述轉(zhuǎn)動(dòng)連接件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的水平支撐桿。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述轉(zhuǎn)動(dòng)連接件上設(shè)置有轉(zhuǎn)動(dòng)連接孔、以及圍繞所述轉(zhuǎn)動(dòng)連接孔的弧形孔;所述水平支撐桿的端部與所述轉(zhuǎn)動(dòng)連接孔可轉(zhuǎn)動(dòng)地連接,在所述水平支撐桿上還設(shè)置有與所述弧形孔配合的小凸柱。根據(jù)本技術(shù)所述的基片控溫系統(tǒng),所述樣品臺(tái)還包括依次穿過所述水冷基片臺(tái)、所述絕緣擋板后與所述安裝底座連接的長連接件。實(shí)施本技術(shù)的基片控溫系統(tǒng),具有以下有益效果:可以對(duì)基片的溫度進(jìn)行準(zhǔn)確控制,不僅可以使得基片所在的樣品臺(tái)升溫、還可以對(duì)其進(jìn)行降溫,進(jìn)而達(dá)到對(duì)基片上沉積的薄膜的性能進(jìn)行控制的目的。附圖說明下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本技術(shù)作進(jìn)一步說明,附圖中:圖1是本技術(shù)中基片控溫系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本技術(shù)中樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3是本技術(shù)中樣品臺(tái)的分解示意圖;圖4是本技術(shù)中樣品臺(tái)的另一分解示意圖;圖5是本技術(shù)中基片控溫系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的框圖;圖6是本技術(shù)中基片控溫系統(tǒng)的另一個(gè)實(shí)施例的框圖。具體實(shí)施方式為了使本技術(shù)的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本技術(shù)進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本技術(shù),并不用于限定本技術(shù)。圖1是本技術(shù)中基片控溫系統(tǒng)100的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,本實(shí)用新型的基片控溫系統(tǒng)100包括:真空腔室101、設(shè)置在真空腔室101內(nèi)且包括加熱器108的樣品臺(tái)102、與樣品臺(tái)102連接的循環(huán)管道103、通過進(jìn)氣閥104連接在循環(huán)管道103的入口103a處的惰性氣體源105、通過進(jìn)水閥106連接在循環(huán)管道103的入口103a處的冷水機(jī)水箱107、以及與加熱器108、進(jìn)氣閥104、進(jìn)水閥106電連接以便進(jìn)行控制的控制單元109。當(dāng)需要對(duì)基片110加熱時(shí),打開進(jìn)氣閥104且保持進(jìn)水閥106關(guān)閉;當(dāng)需要對(duì)基片110進(jìn)行降溫時(shí),打開進(jìn)水閥106且保持進(jìn)氣閥104關(guān)閉。具體而言,樣品臺(tái)102設(shè)置在真空腔室101內(nèi),而基片110設(shè)置在樣品臺(tái)102上,在真空腔室101上設(shè)置有與樣品臺(tái)102相對(duì)的電弧源111。電弧源111用于濺射等離子體至基片110上,從而在基片110表面上沉積薄膜。循環(huán)管道103從真空腔室101外部延伸至真空腔室101內(nèi)部,通過樣品臺(tái)102后再延伸至真空腔室101外部,以便對(duì)樣品臺(tái)102進(jìn)行冷卻。循環(huán)管道103包括入本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種基片控溫系統(tǒng),其特征在于,包括:真空腔室;用于放置基片的樣品臺(tái),設(shè)置在所述真空腔室內(nèi),且包括用于對(duì)所述基片進(jìn)行加熱的加熱器;與所述樣品臺(tái)連接的循環(huán)管道,包括入口和出口;惰性氣體源,通過進(jìn)氣閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;冷水機(jī)水箱,通過進(jìn)水閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;以及與所述加熱器、進(jìn)氣閥和進(jìn)水閥電連接的控制單元,當(dāng)需要對(duì)所述基片加熱時(shí),打開所述進(jìn)氣閥且保持所述進(jìn)水閥關(guān)閉;當(dāng)需要對(duì)所述基片進(jìn)行降溫時(shí),打開所述進(jìn)水閥且保持所述進(jìn)氣閥關(guān)閉。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種基片控溫系統(tǒng),其特征在于,包括:
真空腔室;
用于放置基片的樣品臺(tái),設(shè)置在所述真空腔室內(nèi),且包括用于對(duì)所述基片
進(jìn)行加熱的加熱器;
與所述樣品臺(tái)連接的循環(huán)管道,包括入口和出口;
惰性氣體源,通過進(jìn)氣閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;
冷水機(jī)水箱,通過進(jìn)水閥連接在所述循環(huán)管道的入口處;以及
與所述加熱器、進(jìn)氣閥和進(jìn)水閥電連接的控制單元,當(dāng)需要對(duì)所述基片加
熱時(shí),打開所述進(jìn)氣閥且保持所述進(jìn)水閥關(guān)閉;當(dāng)需要對(duì)所述基片進(jìn)行降溫時(shí),
打開所述進(jìn)水閥且保持所述進(jìn)氣閥關(guān)閉。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片控溫系統(tǒng),其特征在于,所述樣品臺(tái)包括
用于放置所述基片的水冷基片臺(tái)、用于對(duì)所述水冷基片臺(tái)進(jìn)行加熱的所述加熱
器、以及用于固定所述水冷基片臺(tái)和加熱器且用于連接到所述真空腔室內(nèi)部的
安裝底座,所述加熱器設(shè)置在所述水冷基片臺(tái)和所述安裝底座之間,所述基片
控溫系統(tǒng)還包括與所述水冷基片臺(tái)相對(duì)設(shè)置的電弧源。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基片控溫系統(tǒng),其特征在于,在所述水冷基片
臺(tái)上,設(shè)有絕緣套管連接孔;所述樣品臺(tái)還包括插置在所述絕緣套管連接孔內(nèi)
的絕緣套管;所述絕緣套管由高導(dǎo)熱率的材料制成,在所述絕緣套管內(nèi),固定
設(shè)置有溫度傳感器。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基片控溫系統(tǒng),其特征在于,所述樣品臺(tái)還包
括設(shè)置在所述水冷基片臺(tái)和所述加熱器之間的絕緣擋板,在所述絕緣擋板的中
心,開設(shè)有加熱輻射孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基片控溫系統(tǒng),...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:趙升升,高素萍,潘展程,彭楚堯,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:深圳職業(yè)技術(shù)學(xué)院,上海超導(dǎo)科技股份有限公司,
類型:新型
國別省市:廣東;44
還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。