【技術實現步驟摘要】
一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器
本專利技術涉及質譜儀的檢測器，具體的說是一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器。本專利技術適用于在真空條件下，利用靜電透鏡調節離子束散射的程度，對不同豐度離子可方便調節衰減倍數，降低采集系統飽和而引起濃度測量的誤差，擴大了分析物濃度可檢測的范圍。
技術介紹
飛行時間質譜的檢測器通常由兩片到三片微通道板串聯構成，將高能離子流轉換放大為電子流，并以一塊法拉第盤作為電子接收電極。高速的數據采集卡可以將法拉第盤接收到的電流信號采集記錄下來，最終形成質譜圖。當分析物濃度濃度較低時，為保證足夠靈敏度，探測器一般工作在較高的放大倍率條件下，使得絕大多數離子的信號響應都能被采集到。然而，如果分析對象中不僅有低濃度分子，而且也存在高濃度分子時，此時高濃度分子的強信號在采集卡上會出現信號飽和的現象，從而導致較大的測量誤差。因此可以通過設計一種新型的檢測器來滿足高動態范圍測量的需求。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器。本專利技術適用于在真空條件下，利用靜電透鏡將不同豐度的離子在進入探測器之前進行散射，散射的程度由靜電透鏡的施加的電壓所決定。本專利技術所涉及的質譜檢測器，對不同豐度離子調節衰減倍數，降低采集系統飽和而引起濃度測量的誤差，擴大了分析物濃度可檢測的范圍。為實現上述目的，本專利技術采用的技術方案為：一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器，其特征在于：包括前屏蔽電極、后屏蔽電極、會聚電極、孔電極、小孔、離子探測器；會聚電極、前屏蔽電極和后屏蔽電極分別為圓環狀電極或圓筒狀電極，前屏蔽電極、會聚電...
【技術保護點】
一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器，其特征在于：包括前屏蔽電極(1)、后屏蔽電極(3)、會聚電極(2)、孔電極(4)、小孔(6)、離子探測器(5)；會聚電極(2)、前屏蔽電極(1)和后屏蔽電極(3)分別為圓環狀電極或圓筒狀電極，前屏蔽電極(1)、會聚電極(2)和后屏蔽電極(3)從左至右依次同軸設置，于遠離會聚電極(2)的后屏蔽電極(3)右側從左至右依次設有孔電極(4)和離子探測器(5)，后屏蔽電極(3)和孔電極(4)同軸設置，入射離子束依次經前屏蔽電極(1)、會聚電極(2)和后屏蔽電極(3)、孔電極(4)撞擊到離子探測器(5)后產生電流信號。
【技術特征摘要】
1.一種高動態測量范圍的飛行時間質譜檢測器，包括前屏蔽電極（1）、后屏蔽電極（3）、會聚電極（2）、孔電極（4）、小孔（6）、離子探測器（5）；會聚電極（2）、前屏蔽電極（1）和后屏蔽電極（3）分別為圓環狀電極或圓筒狀電極，前屏蔽電極（1）、會聚電極（2）和后屏蔽電極（3）從左至右依次同軸設置，于遠離會聚電極（2）的后屏蔽電極（3）右側從左至右依次設有孔電極（4）和離子探測器（5），后屏蔽電極（3）和孔電極（4）同軸設置；離子束從質量分析器的焦平面（8）沿焦平面（8）的法線方向入射進入前屏蔽電極（1），沿軸線方向入射離子束（7）依次經前屏蔽電極（1）、會聚電極（2）和后屏蔽電極（3）、孔電極（4）撞擊到離子探測器（5）后產生電流信號；前屏蔽電極（1）和后屏蔽電極（3）分別施加電壓相同的電位V1；會聚電極（2）上施加V2電位；V1和V2電位構成透鏡的會聚電...
【專利技術屬性】
技術研發人員：陳平，李海洋，謝園園，花磊，蔣吉春，劉巍，
申請(專利權)人：中國科學院大連化學物理研究所，
類型：發明
國別省市：遼寧;21
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