本實用新型專利技術提出了一種直線導軌校直裝置，包括基座、激光發生器和控制平臺，基座上設有兩條相互平行的導軌輸送架，基座一側分別設有激光發生器和控制平臺，導軌輸送架正上方分別設有第一磁懸座和第二磁懸座，第一磁懸座和第二磁懸座一側設有移動塊，第一磁懸座上設有光學鏡組，第二磁懸座上設有反射鏡，激光發生器和光學鏡組相配合。本裝置結構合理，操作簡單，在直線導軌檢測和校直過程中效率高，同時，精度高，保證導軌工作過程中的精密性，穩定性強，減少了人力操作，避免了導軌在檢測過程或校直過程中損傷，具有很高的應用價值。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及直線導軌
，具體涉及一種直線導軌校直裝置。
技術介紹
在現有技術中，滾動直線導軌副通常由導軌、滑塊、返向器、滾動體和保持器等組成，滾動體在滑塊與滑軌之間作無限滾動循環，使得滑塊上的負載平臺能沿著滑軌輕易的以高精度作線性運動。近些年來，滾動直線導軌副由于其優越的行走精度、良好的承載能力以及出色的高速性能，在數控機床行業得到了廣泛應用。作為機床中的重要功能部件和關鍵結合部，滾動直線導軌副的精度直接影響機床的加工精度和性能，其中最重要的參數是:滾動直線導軌副中滑塊上基準面與導軌底基準面的運行平行度;滑塊側基準面與導軌側基準面的運行平行度。直線導軌等線性產品在成形過程中由于殘余應力釋放不完全，可能產生彎曲變形或者扭曲變形。另外，直線導軌在搬運、安裝、使用過程中，也可能產生變形。直線導軌屬于精密的零件，對外形精確度要求較高，因此校正成為必不可少的工序，是直線導軌生產中的一項重要工藝。目前，常用的校直裝置效率低，測量的精度不高，而且還受測量人員的人為因素限制。因此，針對上述問題，本技術提出了一種新的技術方案。
技術實現思路
本技術的目的是提供一種結構合理，效率高，測量精度高的直線導軌校直裝置。本技術是通過以下技術方案來實現的:—種直線導軌校直裝置，包括基座、激光發生器和控制平臺，所述基座上設有兩條相互平行的導軌輸送架，所述基座一側分別設有激光發生器和控制平臺，導軌輸送架正上方分別設有第一磁懸座和第二磁懸座，第一磁懸座和第二磁懸座一側設有移動塊，所述第一磁懸座上設有光學鏡組，所述第二磁懸座上設有反射鏡，所述激光發生器和光學鏡組相配合。進一步地，所述第一磁懸座和第二磁懸座固定安裝在移動塊上。進一步地，所述光學鏡組包括反射鏡和90度折射鏡。進一步地，所述第一磁懸座和第二磁懸座上均設有振動信息傳感器。進一步地，所述激光發生器、光學鏡組、反射鏡和控制平臺相配合。進一步地，所述激光發生器為雙頻激光發生器。本技術的有益效果是:本裝置結構合理，操作簡單，在直線導軌檢測和校直過程中效率高，同時，精度高，保證導軌工作過程中的精密性，穩定性強，減少了人力操作，避免了導軌在檢測過程或校直過程中損傷，具有很高的應用價值。【附圖說明】圖1為本技術的結構示意圖。其中:1、基座，2、激光發生器，3、控制平臺，4、導軌輸送架，5、第二磁懸座，6、第一磁懸座，7、移動塊，8、反射鏡，9、光學鏡組，1、折射鏡，11、振動信息傳感器。【具體實施方式】下面結合【附圖說明】對本技術做進一步地說明。如圖1所示，一種直線導軌校直裝置，包括基座1、激光發生器2和控制平臺3，基座I上設有兩條相互平行的導軌輸送架4，基座I 一側分別設有激光發生器2和控制平臺3，導軌輸送架4正上方分別設有第一磁懸座6和第二磁懸座5，第一磁懸座6和第二磁懸座5—側設有移動塊7，第一磁懸座6上設有光學鏡組9，第二磁懸座5上設有反射鏡8，激光發生器2和光學鏡組9相配合。第一磁懸座6和第二磁懸座5固定安裝在移動塊7上，光學鏡組9包括反射鏡8和90度折射鏡10，第一磁懸座6和第二磁懸座5上均設有振動信息傳感器11，激光發生器2、光學鏡組9、反射鏡8和控制平臺3相配合，激光發生器2為雙頻激光發生器。本裝置結構合理，操作簡單，在直線導軌檢測和校直過程中效率高，同時，精度高，保證導軌工作過程中的精密性，穩定性強，減少了人力操作，避免了導軌在檢測過程或校直過程中損傷，具有很高的應用價值。以上所述僅為本技術的實施例，并非因此限制本技術的專利范圍，凡是利用本技術說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的
，均同理包括在本技術的專利保護范圍內。【主權項】1.一種直線導軌校直裝置，包括基座、激光發生器和控制平臺，其特征在于:所述基座上設有兩條相互平行的導軌輸送架，所述基座一側分別設有激光發生器和控制平臺，導軌輸送架正上方分別設有第一磁懸座和第二磁懸座，第一磁懸座和第二磁懸座一側設有移動塊，所述第一磁懸座上設有光學鏡組，所述第二磁懸座上設有反射鏡，所述激光發生器和光學鏡組相配合。2.根據權利要求1所述一種直線導軌校直裝置，其特征在于:所述第一磁懸座和第二磁懸座固定安裝在移動塊上。3.根據權利要求1所述一種直線導軌校直裝置，其特征在于:所述光學鏡組包括反射鏡和90度折射鏡。4.根據權利要求1或3所述一種直線導軌校直裝置，其特征在于:所述第一磁懸座和第二磁懸座上均設有振動信息傳感器。5.根據權利要求1所述一種直線導軌校直裝置，其特征在于:所述激光發生器、光學鏡組、反射鏡和控制平臺相配合。6.根據權利要求1所述一種直線導軌校直裝置，其特征在于:所述激光發生器為雙頻激光發生器。【專利摘要】本技術提出了一種直線導軌校直裝置，包括基座、激光發生器和控制平臺，基座上設有兩條相互平行的導軌輸送架，基座一側分別設有激光發生器和控制平臺，導軌輸送架正上方分別設有第一磁懸座和第二磁懸座，第一磁懸座和第二磁懸座一側設有移動塊，第一磁懸座上設有光學鏡組，第二磁懸座上設有反射鏡，激光發生器和光學鏡組相配合。本裝置結構合理，操作簡單，在直線導軌檢測和校直過程中效率高，同時，精度高，保證導軌工作過程中的精密性，穩定性強，減少了人力操作，避免了導軌在檢測過程或校直過程中損傷，具有很高的應用價值。【IPC分類】G01B11/27【公開號】CN205352327【申請號】CN201520974586【專利技術人】鄭冬 【申請人】江蘇帝業儀器科技有限公司【公開日】2016年6月29日【申請日】2015年12月1日本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種直線導軌校直裝置，包括基座、激光發生器和控制平臺，其特征在于：所述基座上設有兩條相互平行的導軌輸送架，所述基座一側分別設有激光發生器和控制平臺，導軌輸送架正上方分別設有第一磁懸座和第二磁懸座，第一磁懸座和第二磁懸座一側設有移動塊，所述第一磁懸座上設有光學鏡組，所述第二磁懸座上設有反射鏡，所述激光發生器和光學鏡組相配合。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭冬，
申請(專利權)人：江蘇帝業儀器科技有限公司，
類型：新型
國別省市：江蘇;32
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