本發明專利技術涉及一種窄帶隙的Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法,溶液中含有摩爾比為10:(9?80)的酒石酸銻鉀和硫代硫酸鈉,溶液的pH值介于4?4.5之間,溶液經攪拌超聲后用水熱法在ITO玻璃基底上直接制備出了附著力良好的Sb2S3薄膜,然后在惰性氣氛保護條件下于250oC?550oC下恒溫,得到窄帶隙Sb2S3半導體薄膜。本發明專利技術提供的方法中新型鍍液對環境友好,直接在ITO玻璃基底上制備出來了Sb2S3半導體薄膜,并且其帶隙較窄,適合作為薄膜太陽能電池的吸收層材料。
【技術實現步驟摘要】
一種窄帶隙的Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法
本專利技術屬于光電材料領域,具體涉及可用作薄膜太陽能電池吸收層材料的窄帶隙的Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法。
技術介紹
Sb2S3是一種典型的過渡金屬硫族化合物,它是典型的V-VI族化合物,是一種非常重要的直接帶隙無機半導體。它的帶隙值為1.5eV~2.2eV,同時,Sb2S3在波長小于900nm的范圍內,呈現出較高的光吸收系數(α≈105cm-1)。Sb2S3對太陽光光譜的響應范圍較寬,體現出優異的光敏性能。作為一種很有潛力的半導體材料,Sb2S3因為具有上述的物理特性及半導體屬性,使其成為極具發展潛力的光電材料,這些優異的光電性能和熱電性能,促進了其在影像技術、開關器件、微波器件、熱電器件和光電器件太陽能電池等領域得到了越來越廣泛的應用。作為無機半導體薄膜太陽電池吸收層材料的Sb2S3半導體薄膜成為了近年來的研究熱點之一,將其用作吸收層材料,有利于提高電池的開路電壓、短路電流,從而提高光電轉化效率。目前,已報道的用于制備不同形貌的Sb2S3晶體的方法有很多,包括化學浴法、連續離子層吸附反應法、電沉積法、真空熱蒸發法、噴霧熱解法、溶劑熱法以及水熱法等等。其中,水熱法由于其重復性好、可操作性強等優點而得到了廣泛的應用和關注。但是已報道的水熱法制備Sb2S3材料存在以下缺點:1)制備的Sb2S3材料一般為粉末狀,在組裝太陽能電池的過程中還需要旋涂或者噴涂的方法,使其在基底上成膜;2)溶液體系中常用SbCl3提供Sb3+,但SbCl3很容易水解導致體系不穩定,所以需要額外加入一些以檸檬酸、酒石酸和EDTA等為代表的絡合劑或者以丙酮等為代表的有機溶劑來促進SbCl3的溶解,從而保證體系的穩定性,而這些溶劑對環境造成污染;3)溶液體系中常用硫代乙酰胺、硫脲為硫源,這些有機硫源在反應過程中均散發出刺激性很強的氨,對環境污染很大,造成工作環境惡劣。4)已有的水熱法制備的Sb2S3材料帶隙值高于太陽能電池吸收層的最優帶隙值1.5eV,使其對太陽光的吸收效率降低。雖然已有報道了Sb2S3半導體薄膜的化學浴制備方法,但是存在以下缺點:1)溶液用有機溶劑丙酮來溶解SbCl3,對環境污染大;2)制備出來的薄膜未達到均勻連續,降低了對太陽光的吸收效率;3)制備出來的薄膜帶隙值為2.30eV,大大高于太陽能電池吸收層的最優帶隙值1.5eV,不利于作為太陽能電池的吸收層材料。因此,為了得到高品質的無機半導體薄膜太陽能電池用窄帶隙Sb2S3半導體薄膜,必須研究一種新穎的溶液體系以及能夠直接成膜的方法。
技術實現思路
為了解決現有技術中存在的上述問題,本專利技術提供一種窄帶隙Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法。本專利技術采用如下技術方案,一種窄帶隙Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法,包括以下步驟:(1)配制溶液:在溶液中加入硫源和銻源,其中Sb3+和S2O32-的摩爾比為10:(9-80)的,溶液的pH值介于4-4.5之間;(2)在步驟(1)配制好的溶液經攪拌超聲后,用水熱法在ITO玻璃基底上直接制備Sb2S3半導體薄膜,水熱溫度控制在120-210oC,水熱時間控制在1-12h;(3)將步驟(2)制備出的Sb2S3薄膜,置于惰性氣氛保護條件下,于250-550oC下恒溫退火。在本專利技術的優選的實施方式中,所述的銻源為酒石酸銻鉀(KSbC4H4O7·1/2H2O),所述硫源為硫代硫酸鈉(Na2S2O3·5H2O)。在本專利技術的優選的實施方式中,所述的惰性氣氛為氮氣和/或氬氣氣氛。本專利技術還保護上述水熱制備方法制備得到的Sb2S3半導體薄膜,其帶隙在1.63-1.73eV之間。與現有技術相比較,本專利技術方法具有以下有益效果:1)本專利技術溶液中采用了一種新型的組合方式:用酒石酸銻鉀來取代傳統的SbCl3銻源,用硫代硫酸鈉來取代傳統的硫代乙酰胺、硫脲為硫源。不需要任何添加劑或有機溶劑即可得到均一、環境友好的溶液。通過對水熱制備方法工藝條件的精確控制,利用水熱制備方法制備出了Sb2S3半導體薄膜。2)在ITO玻璃基底上直接制備出了Sb2S3半導體薄膜,且薄膜均勻連續。3)本專利技術中得到的Sb2S3半導體薄膜經退火處理后變成了結晶性好、窄帶隙的Sb2S3半導體薄膜,適于用作無機半導體太陽能電池吸收層材料。附圖說明以下結合附圖對本專利技術作進一步說明:圖1:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在250oC退火前后的X射線衍射圖;圖2:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在250oC退火后的掃描電子顯微鏡照片;圖3:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在250oC退火后的吸收光譜圖;圖4:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在250oC退火后的(αhν)2-(hν)圖;圖5:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在450oC退火后的X射線衍射圖;圖6:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在450oC退火后的掃描電子顯微鏡照片;圖7:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在450oC退火后的吸收光譜圖;圖8:水熱法制備的Sb2S3半導體薄膜在450oC退火后的(αhν)2-(hν)圖。具體實施方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白,以下結合具體實施例,對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅用以解釋本專利技術,而不構成對本專利技術的限制。實施例11)依次稱取0.334gKSbC4H4O7·1/2H2O,0.496gNa2S2O3·5H2O(所用試劑均為分析純,摩爾比為10:20)溶于100mL水溶液中,攪拌均勻后超聲5min。2)將步驟1)中配制的溶液轉移到水熱釜的聚四氟乙烯內膽中,以預處理后的ITO玻璃為基底,將其導電面朝下,斜放在聚四氟乙烯內膽中。把水熱釜和聚四氟乙烯內膽密封后,將水熱釜的溫度控制在150oC,水熱時間控制在8h,得到附著力良好的橙紅色Sb2S3半導體薄膜。圖1的X射線衍射結果表明該薄膜僅有微弱的Sb2S3的衍射峰,表明其結晶性較差的結構。3)在氬氣保護條件下,將上述的Sb2S3半導體薄膜置于管式爐內在250oC下恒溫60min后,將薄膜取出。圖1的X射線衍射結果表明得到的是純凈的正交晶系的Sb2S3薄膜。圖2的掃描電鏡照片表明得到的薄膜是均勻連續的。圖3的吸收光譜結果表明得到的薄膜在可見光區具有良好的吸光性。根據圖4的(αhν)2-(hν)結果可見得到的薄膜帶隙為1.73eV,可較好地滿足太陽能電池對吸收層材料的要求。實施例21)依次稱取0.334gKSbC4H4O7·1/2H2O,0.496gNa2S2O3·5H2O(所用試劑均為分析純,摩爾比為10:20)溶于100mL水溶液中,攪拌均勻后超聲5min。2)將步驟1)中配制的溶液轉移到水熱釜的聚四氟乙烯內膽中,以預處理后的ITO玻璃為基底,將其導電面朝下,斜放在聚四氟乙烯內膽中。把水熱釜和聚四氟乙烯內膽密封后,將水熱釜的溫度控制在150oC,水熱時間控制在8h,得到附著力良好的橙紅色Sb2S3半導體薄膜。3)在氬氣保護條件下,將上述的Sb2S3半導體薄膜置于管式爐內在450oC下恒溫60min后,將薄膜取出。圖5的X射線衍射結果表明得到的是由正交晶系和不常見的Sb2S3未命名相組成的混合相Sb2S3薄膜。圖6的掃描電鏡照片表明得到的薄膜是均勻連續本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種窄帶隙Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法,其特征在于,包括以下步驟:(1)配制溶液:在溶液中加入硫源和銻源,其中Sb3+和S2O32?的摩爾比為10:(9?80)的,溶液的pH值介于4?4.5之間;(2)在步驟(1)配制好的溶液經攪拌超聲后,用水熱法在ITO玻璃基底上直接制備Sb2S3半導體薄膜,水熱溫度控制在120?210?oC,水熱時間控制在1?12?h;(3)將步驟(2)制備出的Sb2S3薄膜,置于惰性氣氛保護條件下,于250?550?oC下恒溫退火。
【技術特征摘要】
1.一種窄帶隙Sb2S3半導體薄膜的水熱制備方法,其特征在于,包括以下步驟:(1)配制溶液:在溶液中加入硫源和銻源,其中Sb3+和S2O32-的摩爾比為10:(9-80)的,溶液的pH值介于4-4.5之間;(2)在步驟(1)配制好的溶液經攪拌超聲后,用水熱法在ITO玻璃基底上直接制備Sb2S3半導體薄膜,水熱溫度控制在120-2...
【專利技術屬性】
技術研發人員:王峰,劉萌,貢永帥,李志林,竇美玲,劉景軍,吉靜,
申請(專利權)人:北京化工大學,
類型:發明
國別省市:北京;11
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