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    一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置制造方法及圖紙

    技術編號:13355642 閱讀:80 留言:0更新日期:2016-07-17 00:33
    一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,在傳統的粒子飛行時間及速度成像裝置的基礎上,我們將飛行時間質譜探測裝置和速度成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上?;瑝K外連上直線導入器就可以實現質譜探測和成像探測模式的切換。由于質譜探測器平面與粒子——激光作用點共面,飛行時間質譜上探測到的粒子飛行時間即等于粒子到達激光作用點的時間。這就不需要時間換算了,可以直接獲到粒子到達激光作用點的時間,有利于成像實驗的時序控制。

    【技術實現步驟摘要】


    本技術屬于光電子成像
    ,具體涉及一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置。

    技術介紹

    粒子速度成像技術(包括光碎片成像、光電子成像、分子反應產物成像)是分子反應動力學研究的一種重要手段,其最重要的特點是可以在一幅影像中同時得到散射粒子的全三維的速度大小和方向分布,即可以同時獲得粒子的能譜信息和角分布信息。
    目前,光電子成像技術主要采用的是Eppink和Parker等提出的成像裝置,即采用雙場加速代替傳統成像系統的單場加速,用中間開孔的電極片代替柵網電極片,其電場形成了離子透鏡效果,使得激光——分子相互作用區中不同位置具有相同速度的離子聚焦在探測器面上的同一點上。
    開展粒子速度成像實驗時,首先要求對母體粒子(包括反應物粒子、負離子)進行時間分辨探測,這往往要求同時應用到飛行時間質譜技術。傳統的實驗裝置是將飛行時間質譜探測器和粒子成像裝置串聯式放置在粒子的飛行路徑上。這就有兩種常見的布局,一種是質譜探測器置于粒子成像裝置前端,如圖1所示;另一種是質譜探測器置于粒子成像探測器的后端,如圖2所示。串聯式設計1采用的比較少,當進行飛行時間質譜探測時,首先要通過直線導入器牽引,將質譜探測器置于粒子飛行路徑上;當進行粒子成像探測時,首先要通過直線導入器索引,將質譜探測器移出粒子飛行路徑,并撤去質譜探測器上的電壓。目前采用比較多的方式是串聯式設計2,當進行飛行時間質譜探測時,撤去粒子成像透鏡上的電壓,讓粒子穿過成像透鏡到達質譜探測器,當進行粒子成像探測時,只需給成像透鏡加載上電壓即可。
    然而,無論是質譜探測器放置在粒子成像裝置的前端還是后端,串聯式設計中飛行時間質譜上探測到粒子飛行時間不等同于粒子到達粒子——激光作用區的飛行時間,這就要求利用質譜中檢測到的粒子的飛行時間,通過時間換算來反推出粒子到達粒子——激光作用點的時間,這就影響到精確把握粒子到激光作用區的時間,不利于實驗時的時序控制。
    本技術是可切換的并聯式粒子飛行時間質譜——速度成像裝置。在傳統的粒子飛行時間及速度成像裝置的基礎上,我們將飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上?;瑝K外連上直線導入器就可以實現質譜探測和成像探測模式的切換。由于質譜探測器平面與粒子——激光作用點共面,飛行時間質譜上探測到的粒子飛行時間即等于粒子到達激光作用點的時間。這就不需要時間換算了,可以直接獲到粒子到達激光作用點的時間,有利于成像實驗的時序控制。

    技術實現思路

    為了克服現有技術存在的缺陷,本技術的目的是設計一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上;
    飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端處于同一平面上。
    滑塊置于一滑道上,滑塊與一電機傳動連接,滑塊可于滑道上沿直線方向往復運動,就可以實現質譜探測和成像探測模式的切換。
    由于質譜探測器平面與粒子——激光作用點共面,飛行時間質譜上探測到的粒子飛行時間即等于粒子到達激光作用點的時間。這就不需要時間換算了,可以直接獲到粒子到達激光作用點的時間,有利于成像實驗的時序控制。
    附圖說明
    圖1.傳統的粒子飛行時間及速度成像裝置串聯式設計1。星號代表粒子——激光作用區。
    圖2.傳統的粒子飛行時間及速度成像串聯式設計1。星號代表粒子——激光作用區。
    圖3是本技術的可切換的并聯式粒子飛行時間質譜——速度成像裝置結構示意圖。3a為粒子成像工作模式圖;3b為飛行時間質譜探測模式圖。
    具體實施方式
    一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜——粒子成像裝置,飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上;
    飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端處于同一平面上。
    滑塊置于一滑道上,滑塊與一電機傳動連接,滑塊可于滑道上沿直線方向往復運動,就可以實現質譜探測和成像探測模式的切換。
    本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,其特征在于:飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上;飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端處于同一平面上。

    【技術特征摘要】
    1.一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,其特征在
    于:飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置
    固定在一個可滑動的滑塊上;
    飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的
    一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:唐紫超,劉志凌謝華,張世宇,
    申請(專利權)人:中國科學院大連化學物理研究所,
    類型:新型
    國別省市:遼寧;21

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