【技術實現步驟摘要】
本技術屬于光電子成像
,具體涉及一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置。
技術介紹
粒子速度成像技術(包括光碎片成像、光電子成像、分子反應產物成像)是分子反應動力學研究的一種重要手段,其最重要的特點是可以在一幅影像中同時得到散射粒子的全三維的速度大小和方向分布,即可以同時獲得粒子的能譜信息和角分布信息。
目前,光電子成像技術主要采用的是Eppink和Parker等提出的成像裝置,即采用雙場加速代替傳統成像系統的單場加速,用中間開孔的電極片代替柵網電極片,其電場形成了離子透鏡效果,使得激光——分子相互作用區中不同位置具有相同速度的離子聚焦在探測器面上的同一點上。
開展粒子速度成像實驗時,首先要求對母體粒子(包括反應物粒子、負離子)進行時間分辨探測,這往往要求同時應用到飛行時間質譜技術。傳統的實驗裝置是將飛行時間質譜探測器和粒子成像裝置串聯式放置在粒子的飛行路徑上。這就有兩種常見的布局,一種是質譜探測器置于粒子成像裝置前端,如圖1所示;另一種是質譜探測器置于粒子成像探測器的后端,如圖2所示。串聯式設計1采用的比較少,當進行飛行時間質譜探測時,首先要通過直線導入器牽引,將質譜探測器置于粒子飛行路徑上;當進行粒子成像探測時,首先要通過直線導入器索引,將質譜探測器移出粒子飛行路徑,并撤去質譜探測器上的電壓。目前采用比較多的方式是串聯式設計2,當進行飛行時間質譜探測時,撤去粒子成像透鏡上的電壓,讓粒子穿過成像透鏡到達質譜探測器,當進行粒子成像探測時,只需給成像透鏡加載上電壓即可。
然而,無論是質譜 ...
【技術保護點】
一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,其特征在于:飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置固定在一個可滑動的滑塊上;飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端處于同一平面上。
【技術特征摘要】
1.一種可切換的并聯式粒子飛行時間質譜/粒子成像裝置,其特征在
于:飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置并排式放置,再將這兩個裝置
固定在一個可滑動的滑塊上;
飛行時間質譜探測裝置和粒子成像裝置的離子束入口端均面向滑塊的
一側,且飛行時間質譜探測裝置和粒子...
【專利技術屬性】
技術研發人員:唐紫超,劉志凌,謝華,張世宇,
申請(專利權)人:中國科學院大連化學物理研究所,
類型:新型
國別省市:遼寧;21
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