【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
201610052986
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種在線測量有機(jī)玻璃疲勞裂紋擴(kuò)展的方法,所述方法采用透射式焦散線光學(xué)測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括激光光源(1)、擴(kuò)束鏡(2)、第一成像透鏡(3)、分劃板(4)、第二成像透鏡(5)、CCD相機(jī)(6)以及計(jì)算機(jī)(7);激光光源(1)發(fā)出的激光透過擴(kuò)束鏡(2)后,經(jīng)第一成像透鏡(3)折射變?yōu)槠叫泄猓┻^承受疲勞載荷(P)作用的含裂紋有機(jī)玻璃試件(8)后再經(jīng)過第二成像透鏡(5)匯聚,由CCD相機(jī)(6)接收成像,最終將采集的圖像傳輸至計(jì)算機(jī)(7);其特征在于所述方法包括如下步驟:1)使激光光源發(fā)出的光依次穿過擴(kuò)束鏡、第一成像透鏡、承受疲勞載荷作用的含裂紋的有機(jī)玻璃試件以及第二成像透鏡,最終由CCD相機(jī)接收光線成像,使CCD相機(jī)所采集的有機(jī)玻璃試件裂紋尖端附近焦散斑圖像的像素豎直方向與裂紋方向一致;2)調(diào)節(jié)透射式焦散線測試系統(tǒng),標(biāo)定圖像空間分辨率:在含裂紋有機(jī)玻璃試件與第二成像透鏡之間放置一分劃板,分劃板與試件表面的距離為z0,調(diào)節(jié)CCD相機(jī)的位置和焦距,使分劃板上的標(biāo)記圖案在CCD相機(jī)視場中間最清晰,然后移除分劃板,對含裂紋有機(jī)玻璃試件拍一幅圖像,作為參考圖像,根據(jù)有機(jī)玻璃試件邊界等標(biāo)識信息與像素的對應(yīng) ...
【技術(shù)特征摘要】
1.一種在線測量有機(jī)玻璃疲勞裂紋擴(kuò)展的方法,所述方法采用透射式焦散線光學(xué)
測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括激光光源(1)、擴(kuò)束鏡(2)、第一成像透鏡(3)、分劃板(4)、
第二成像透鏡(5)、CCD相機(jī)(6)以及計(jì)算機(jī)(7);激光光源(1)發(fā)出的激光透過
擴(kuò)束鏡(2)后,經(jīng)第一成像透鏡(3)折射變?yōu)槠叫泄猓┻^承受疲勞載荷(P)作用
的含裂紋有機(jī)玻璃試件(8)后再經(jīng)過第二成像透鏡(5)匯聚,由CCD相機(jī)(6)接收
成像,最終將采集的圖像傳輸至計(jì)算機(jī)(7);
其特征在于所述方法包括如下步驟:
1)使激光光源發(fā)出的光依次穿過擴(kuò)束鏡、第一成像透鏡、承受疲勞載荷作用的含
裂紋的有機(jī)玻璃試件以及第二成像透鏡,最終由CCD相機(jī)接收光線成像,使CCD相機(jī)
所采集的有機(jī)玻璃試件裂紋尖端附近焦散斑圖像的像素豎直方向與裂紋方向一致;
2)調(diào)節(jié)透射式焦散線測試系統(tǒng),標(biāo)定圖像空間分辨率:在含裂紋有機(jī)玻璃試件與
第二成像透鏡之間放置一分劃板,分劃板與試件表面的距離為z0,調(diào)節(jié)CCD相機(jī)的位
置和焦距,使分劃板上的標(biāo)記圖案在CCD相機(jī)視場中間最清晰,然后移除分劃板,對
含裂紋有機(jī)玻璃試件拍一幅圖像,作為參考圖像,根據(jù)有機(jī)玻璃試件邊界等標(biāo)識信息與
像素的對應(yīng)關(guān)系確定圖像空間分辨率L,同時(shí)確定疲勞裂紋擴(kuò)展過程中裂紋長度及裂尖
附近焦散斑所在像素區(qū)域的范圍,將此區(qū)域定義為圖像處理區(qū)域;
3)設(shè)置CCD相機(jī)的采集頻率與疲勞載荷的頻率相同,疲勞試驗(yàn)開始后,疲勞載荷
第一次達(dá)到最大值時(shí),疲勞循環(huán)周次N等于0,此時(shí)利用CCD相機(jī)開始在線并連續(xù)地
采集不同疲勞循環(huán)周次下含裂紋有機(jī)玻璃試件的裂紋尖端附近焦散斑圖像及裂紋擴(kuò)展
過程,并存儲至計(jì)算機(jī)緩沖區(qū);
4)在線計(jì)算應(yīng)力強(qiáng)度因子范圍ΔK及裂紋長度a:對計(jì)算機(jī)緩存區(qū)中的每幅圖像進(jìn)
行實(shí)時(shí)圖像處理,在步驟2)所確定的圖像處理區(qū)域中,首先對圖像沿像素水平方向從
左至右掃描各像素點(diǎn)灰度值,利用灰度插值的方法得到水平方向的灰度值分布,獲得灰
度值最高的兩點(diǎn)的像素差值di,i表示掃描過程中第i行,確定所有行中像素差值的最大
值dmax,即為焦散斑橫向最大直徑所對應(yīng)的像素,利用圖像空間分辨率L得出橫向最大
直徑D,則應(yīng)力強(qiáng)度因子范圍ΔK表示為:
Δ K = 2 2 π 3 ( 3.17 ) 5 / 2 z 0 c t D 5 / 2 ( 1 - R ...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:姚學(xué)鋒,劉偉,王申,馬寅佶,郝文峰,原亞南,
申請(專利權(quán))人:清華大學(xué),
類型:發(fā)明
國別省市:北京;11
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