【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
201510952460
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種控制水稻籽粒厚度的基因,?其特征在于:所述控制水稻籽粒厚度的基因與位于第8染色體上控制粒寬的基因GW8等位,分為控制薄粒的等位基因qgt8與控制厚粒的等位基因qGT8。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種控制水稻籽粒厚度的基因,其特征在于:所述控制水稻籽粒厚度的基因與位于
第8染色體上控制粒寬的基因GW8等位,分為控制薄粒的等位基因qgt8與控制厚粒的等位基
因qGT8。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種控制水稻籽粒厚度的基因,其特征在于:在所述qGT8基
因位點(diǎn),控制薄粒的等位基因qgt8與控制厚粒的等位基因qGT8相比,在起始密碼子ATG上游
2kb區(qū)段有7個(gè)差異位點(diǎn),其中在-1102bp和-1103bp之間插入19個(gè)堿基
TAGAGAGAGTACTTGTTTA,在-1339bp和-1340bp之間插入2個(gè)堿基AA;在3個(gè)位點(diǎn)出現(xiàn)單堿基缺
失,即對(duì)應(yīng)于-274bp缺失C,-1000bp缺失T和-1367bp缺失A;2個(gè)位點(diǎn)發(fā)生單堿基替換,即-
256bp位點(diǎn)G替換成T,-684bp位點(diǎn)T替換成C;在CDS有5個(gè)多態(tài)性位點(diǎn),其中2個(gè)為同義突變,
c.36位點(diǎn)T替換為C和c.1116位點(diǎn)G替換為A,分別位于第1和第3外顯子;2個(gè)為錯(cuò)義突變,
c.818位點(diǎn)A替換為C和c.1186位點(diǎn)G替換為A,均位于第3外顯子;1個(gè)為插入突變,c.1006...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:高方遠(yuǎn),任光俊,陸賢軍,曾禮華,任鄄勝,吳賢婷,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:四川省農(nóng)業(yè)科學(xué)院作物研究所,四川師范大學(xué),
類型:發(fā)明
國別省市:四川;51
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