一種光學接觸檢測裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種光學接觸檢測裝置，包括對稱放置在一物體表面兩側的發光管芯（410）和測光管芯（420），所述的發光管芯（410）和測光管芯（420）分別被透光體（502）封閉，該發光管芯（410）的透光體（502）有一個反光斜面（505）把發光管芯（410）所發出的光反射到測光管芯（420）；一個透明體（502）內封閉有多個等距排列的發光管芯（410），且多個等距排列的測光管芯（420）亦被另一個透明體（502）封閉，且對稱設置在物體表面兩側的兩個透明體（502）內的發光管芯（410）和測光管芯（420）一一對應。本發明專利技術通過同時縮小發光管芯之間的間距和測光管芯之間的間距，使得檢測精度得以提高。

【技術實現步驟摘要】


本專利技術涉及接觸的檢測，具體地說是一種通過利用光學原理來檢測接觸來給計算機提供一種輸入設備的光學接觸檢測裝置。

技術介紹

通常計算機顯示器上的光標的移動是通過移動鼠標來實現的。鼠標是一個被人手所控制的裝置，鼠標上有一個或多個按鍵。點擊鼠標的按鍵可以達到從一個清單中選擇文檔、程序或操作。把鼠標懸停在一個特定的區域及圖標上也可以達到選擇文檔、程序或操作。例如，一個文本文件可以被一個筆記本的小照片所代表，當光標落在筆記本小照片范圍內，點擊鼠標的按鍵或使光標懸停在筆記本小照片范圍內就能夠導致該文件被打開。
按鍵式鍵盤能夠測知按鍵但無法檢測在鍵盤上觸而不按。此處“觸”是指與鍵盤表面接觸，無論鍵有沒有被按下。對于普通按鍵式鍵盤，按鍵指鍵被實際按下。對于表面接觸式鍵盤如MicrosoftSurface的TouchCover，在鍵的位置施力即為按鍵。無論哪種鍵盤，只要鍵被按下或受力，就處于按鍵狀態。
一直存在著把鼠標功能集于鍵盤上的意愿。一種途徑是在鍵盤上加接觸檢測裝置來檢測手指在鍵盤上的接觸，并且在鍵盤模式和鼠標模式之間切換。通常接觸檢測裝置采用一排發光管（LED）在鍵盤表面掃描紅外光。當紅外光被遮擋時，就有物體與鍵盤表面接觸。有一個問題是傳統封裝好的LED體積較大，使接觸檢測的精度不高。因此，存在對提高接觸檢測的精度的需求。

技術實現思路

本專利技術的目的是針對現有技術存在的問題，提供一種提高接觸檢測精度的光學接觸檢測裝置。
本專利技術的目的是通過以下技術方案解決的：
一種光學接觸檢測裝置，包括對稱放置在一物體表面兩側的發光管芯和測光管芯，其特征在于：所述的發光管芯被一透光體封閉，該發光管芯的透光體有一個反光斜面把發光管芯所發出的光反射到測光管芯；該測光管芯被另一透光體所封閉，該測光管芯的透光體也有一個反光斜面把發光管芯發出的光反射到測光管芯上，從發光管芯發出的光線到測光管芯接收的光線中有一段與該物體表面相平行的中間光線；一個透明體內封閉有多個等距排列的發光管芯，且多個等距排列的測光管芯亦被另一個透明體封閉，且對稱設置在物體表面兩側的兩個透明體內的發光管芯和測光管芯一一對應。
所述的發光管芯直接發出的出射光線與該物體表面相垂直，且用于封閉的透光體的反光斜面則與該物體表面成45°角。
所述測光管芯的透光體的反光斜面亦與該物體表面成45°角。
所述透明體中的相鄰發光管芯的陽極錯位設置以擴大外部接線端子的間距；透明體中的相鄰測光管芯的陽極錯位設置以擴大外部接線端子的間距。
多個等距排列的發光管芯被固定在同一塊基板上，發光管芯底部的陰極通過陰極引線與外部端子相連接，發光管芯上部的陽極通過導線與陽極引腳相連接，然后該基板被一個帶有反光斜面的透光體所封閉，則基板、多個等距排列的發光管芯以及透光體構成了發光組件。
多個等距排列的測光管芯被固定在同一塊基板上，測光管芯底部的陰極通過陰極引線與外部端子相連接，測光管芯上部的陽極通過導線與陽極引腳相連接，然后該基板被一個帶有反光斜面的透光體所封閉，則基板、多個等距排列的測光管芯以及透光體構成了測光組件。
該物體表面是計算機鍵盤的表面，在物體表面的縱向上對稱設置有發光管芯和測光管芯且在物體表面的橫向上亦對稱設置有發光管芯和測光管芯。
所述的發光管芯和測光管芯采用LED。
所述的透光體上設有保護附件。
本專利技術相比現有技術有如下優點：
本專利技術通過把一排發光管芯封閉在一個透明體在，使發光管芯之間的間距較小，同時將一排測光管芯也封閉在一個透明體內，亦使測光管芯的間距也較小，使得檢測精度得以提高。
附圖說明
附圖1是一個筆記本計算機及其鍵盤的立體圖；
附圖2體現本專利技術的一個紅外光接觸檢測系統用于檢測物體與鍵盤表面的接觸；
附圖3體現一個基于LED的接觸坐標的檢測系統；
附圖4是體現本專利技術的把一排多個發光管芯封裝在同一基板的示意圖；
附圖5是體現本專利技術的一個發光管芯封裝的截面圖；
附圖6是體現采用本專利技術的接觸檢測方式的鍵盤的截面圖。
其中：100—筆記本計算機；102—主機體；105—按鍵式鍵盤；115—顯示板；123—左手；124—右手；118—鉸鏈；202—紅外光發射器；208—紅外光接收器；302—接觸檢測區域；312—縱排發光組件；322—橫排發光組件；315—縱排測光組件；325—橫排測光組件；402—基板；410—發光管芯；415—陽極；420—測光管芯；500—發光或測光組件；502—透光體；505—反光斜面；512—陰極引腳；515—陽極引腳；525—導線；530—出射光線；532—折射光線；602—發光線路板；604—測光線路板；620—鍵盤外殼；623—發光開口；625—測光開口；630—中間光線；642—保護附件。
具體實施方式
下面結合附圖與實施例對本專利技術作進一步的說明。
如圖4-6所示：一種光學接觸檢測裝置，包括對稱放置在一物體表面兩側的發光管芯410和測光管芯420，其特征在于：所述的發光管芯410被一透光體502封閉，該發光管芯410的透光體502有一個反光斜面505把發光管芯410所發出的光反射到測光管芯420；該測光管芯420被另一透光體502所封閉，該測光管芯420的透光體502也有一個反光斜面505把發光管芯410發出的光反射到測光管芯420上，從發光管芯410發出的光線到測光管芯420接收的光線中有一段與該物體表面相平行的中間光線630，發光管芯410直接發出的出射光線530與該物體表面相垂直，且用于封閉的透光體502的反光斜面505則與該物體表面成45°角，同時測光管芯420的透光體502的反光斜面505亦與該物體表面成45°角；一個透明體502內封閉有多個等距排列的發光管芯410，且多個等距排列的測光管芯420亦被另一個透明體502封閉，且對稱設置在物體表面兩側的兩個透明體502內的發光管芯410和測光管芯420一一對應。
在上述結構中，所述的發光管芯410和測光管芯420采用LED，且在透光體502上設有保護附件642。透明體502中的相鄰發光管芯410的陽極415錯位設置以擴大外部接線端子的間距；透明體502中的相鄰測光管芯420的陽極415錯位設置以擴大外部接線端子的間距。多個等距排列的發光管芯410被固定在同一塊基板402上，發光管芯410底部的陰極通過陰極引線512與外部端子相連接，發光管芯410上部的陽極415通過導線525與陽極引腳515相連接，然后該基板402被一個帶有反光斜面505的透光體502所封閉，則基板402、多個等距排列的發光管芯410以及透光體502構成了發光組件；多個等距排列的測光管芯420被固定在同一塊基板402上，測光管芯420底部的陰極通過陰極引線512與外部端子相連接，測光管芯420上部的陽極415通過導線525與陽極引腳515相連接，然后該基板402被一個帶有反光斜面505的透光體502所封閉，則基板402、多個等距排列的測光管芯420以及透光體502構成了測光組件。發光組件和測光組件由于結構相同，因此在本專利技術中被命名為發光或測光組件500。另外由于本專利技術是基于計算機所研發，故該物體表面是計算機鍵盤的表面，在物體表面的縱向上對稱設置有發光管芯本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光學接觸檢測裝置，包括對稱放置在一物體表面兩側的發光管芯（410）和測光管芯（420），其特征在于：所述的發光管芯（410）被一透光體（502）封閉，該發光管芯（410）的透光體（502）有一個反光斜面（505）把發光管芯（410）所發出的光反射到測光管芯（420）；該測光管芯（420）被另一透光體（502）所封閉，該測光管芯（420）的透光體（502）也有一個反光斜面（505）把發光管芯（410）發出的光反射到測光管芯（420）上，從發光管芯（410）發出的光線到測光管芯（420）接收的光線中有一段與該物體表面相平行的中間光線（630）；一個透明體（502）內封閉有多個等距排列的發光管芯（410），且多個等距排列的測光管芯（420）亦被另一個透明體（502）封閉，且對稱設置在物體表面兩側的兩個透明體（502）內的發光管芯（410）和測光管芯（420）一一對應。

【技術特征摘要】
2015.03.07 US 14/641,3731.一種光學接觸檢測裝置，包括對稱放置在一物體表面兩側的發光管芯（410）和測光管芯（420），其特征在于：所述的發光管芯（410）被一透光體（502）封閉，該發光管芯（410）的透光體（502）有一個反光斜面（505）把發光管芯（410）所發出的光反射到測光管芯（420）；該測光管芯（420）被另一透光體（502）所封閉，該測光管芯（420）的透光體（502）也有一個反光斜面（505）把發光管芯（410）發出的光反射到測光管芯（420）上，從發光管芯（410）發出的光線到測光管芯（420）接收的光線中有一段與該物體表面相平行的中間光線（630）；一個透明體（502）內封閉有多個等距排列的發光管芯（410），且多個等距排列的測光管芯（420）亦被另一個透明體（502）封閉，且對稱設置在物體表面兩側的兩個透明體（502）內的發光管芯（410）和測光管芯（420）一一對應。
2.根據權利要求1所述的光學接觸檢測裝置，其特征在于：所述的發光管芯（410）直接發出的出射光線（530）與該物體表面相垂直，且用于封閉的透光體（502）的反光斜面（505）則與該物體表面成45°角。
3.根據權利要求1或2所述的光學接觸檢測裝置，其特征在于：所述測光管芯（420）的透光體（502）的反光斜面（505）亦與該物體表面成45°角。
4.根據權利要求1所述的光學接觸檢測裝置，其特征在于：所述透明體（502）中的相鄰發光管芯（410）的陽極（415）錯位設置以擴大外部接線端子的間距；透明體（502）中的相鄰測...

【專利技術屬性】
技術研發人員：江培根，
申請(專利權)人：江培根，
類型：發明
國別省市：美國;US