腕帶類阻值的測試工裝制造技術

本實用新型專利技術公開了一種腕帶類阻值的測試工裝包括精密歐姆表和測試平臺，其中測試平臺上分別設有腕帶固定座，觸頭柱、探針、校正棒、觸頭柱驅動部件和探針驅動部件，探針與精密歐姆表電連接，那么由校正棒將兩根觸頭柱短接，探針與觸頭柱相接觸后，精密歐姆表測得接入電阻。根據通過測試腕帶阻值來判斷產品的硬件合格率的原理可知，本實用新型專利技術的腕帶類阻值的測試工裝能夠用于檢測智能腕帶產品的硬件合格率。又因上述觸頭柱可被觸頭柱驅動部件自動驅動移動，探針可被探針驅動部件驅動自動移動。因此本實用新型專利技術的腕帶類阻值的測試工裝接入非常小的外電阻，使其能夠測量智能腕帶類產品的腕帶阻值，從而達到準確檢測產品硬件的目的。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及腕帶類產品硬件性能檢測
，尤其涉及一種腕帶類阻值的測試工裝。
技術介紹
隨著可穿戴消費電子品的流行，智能腕帶已作為一個新的運動消費電子品流行開來。智能腕帶產品雖然千差萬別，但是所有腕帶均可作為感知人體運動狀態的工具。作為感知人體運動狀態的工具的腕帶，需要連接微電路和傳感器等電路。而電路的好壞，直接關系到智能腕帶產品硬件的性能。為了確保智能腕帶類產品出廠前硬件合格，出現了測量上述電路導通性的導通測試裝置。導通測量裝置的工作原理是：根據被測試電路的通斷，來判定電路的導通性能，進而判斷產品的硬件是否合格。但是專利技術人發現導通測量裝置的工作原理，存在一些缺陷。例如：當被測試電路的部分電路發生損壞時，其測量的結果仍然為導通，導致測試結果不能完全準確。針對上述技術問題，本領域技術人員經過認真的研究轉換了思路。具體是：測量腕帶阻值，根據測量的阻值大小，來判斷產品的硬件是否合格。因為倘若產品的部分電路或者傳感器等器件損壞時，其總體阻值必然發生相對較大變化，那么測量該產品的阻值時，能夠得出比測電流來判定電路是否完好更為準確的結果。因此可以通過限定阻值的范圍，來判定智能腕帶類產品是否合格。但是根據反復試驗得知，腕帶阻值在0.5Ω以下才為合格，如此微電阻，需要測量腕帶阻值的裝置所接入的外來電阻更小(至少在電阻方面低一個數量級)，才能使測量更接近真實值。如圖1所示，現有的腕帶4包括腕帶倉41，以及腕帶倉41內側向內凹陷的金屬觸點40。
技術實現思路
本技術提供一種腕帶類阻值的測試工裝，該工裝接入非常小的外電阻，使其能夠測量智能腕帶類產品的腕帶阻值，從而達到準確檢測產品硬件是否合格的目的。為解決上述技術問題，本技術的技術方案是：一種腕帶類阻值的測試工裝包括精密歐姆表和測試平臺，所述測試平臺上分別設有：腕帶固定座，所述腕帶固定座包括凸臺，所述凸臺大小形狀與腕帶倉相適配，所述凸臺的一側設有兩個缺口；兩根平行設置的觸頭柱，每根所述觸頭柱的側壁上均設有觸頭，所述觸頭遠離所述觸頭柱的端部為平面；兩根所述觸頭柱分別設在兩個所述缺口處；若干根探針，每根所述探針的一端均為球頭端，所述球頭端與所述觸頭柱相接觸；所有所述探針的另一端均與所述精密歐姆表電連接；校正棒，所述校正棒將兩根所述觸頭柱短接，用于測量所述精密歐姆表的接入電阻；觸頭柱驅動部件，所述觸頭柱驅動部件驅動兩根所述觸頭柱移動；探針驅動部件，所述探針驅動部件驅動所述探針移動。優選方式為，每根所述觸頭柱與其對應的所述觸頭相接觸處均為弧面。優選方式為，所述觸頭柱驅動部件包括觸頭柱推進氣缸，所述觸頭柱推進氣缸與觸頭柱固定座傳動連接，兩根所述觸頭柱豎直設在所述觸頭柱固定座上，所述觸頭柱固定座設在第一滑動導軌上，所述第一滑動導軌設在所述測試平臺上并與所述觸頭平行設置。優選方式為，所述觸頭柱驅動部件還包括絕緣座，所述絕緣座設在所述觸頭柱固定座和所述第一滑動導軌之間。優選方式為，所述測試平臺上還設有限位塊，所述限位塊朝向所述絕緣座的面與所述凸臺設有所述缺口的側面對齊設置。優選方式為，所述探針驅動部件包括探針推進氣缸，所述探針推進氣缸與探針固定座傳動連接，所述探針固定座跨設在第二滑動導軌上，所述第二滑動導軌設在所述測試平臺上；每根所述探針均固定在所述探針固定座上。優選方式為，每根所述探針的另一端均與所述第二滑動導軌平行設置。優選方式為，所述第二滑動導軌為所述第一滑動導軌，所述觸頭柱推進氣缸和所述探針推進氣缸分設在所述第一滑動導軌的兩側。優選方式為，所述腕帶固定座還包括設在所述測試平臺上的支架，所述凸臺設在所述支架的上面。優選方式為，所述第一滑動導軌從所述支架的下面穿過。采用上述技術方案后，本技術的有益效果是：由于本技術的腕帶類阻值的測試工裝包括精密歐姆表和測試平臺，其中測試平臺上分別設有腕帶固定座，觸頭柱、探針、校正棒、觸頭柱驅動部件和探針驅動部件，探針與精密歐姆表電連接。因設有精密歐姆表，使本技術能夠測量腕帶的電阻值。因校正棒將兩根觸頭柱短接，探針與觸頭柱相接觸后，精密歐姆表測得接入電阻，進一步確保了本技術測得腕帶的電阻的準確性。根據通過測試腕帶阻值來判斷產品的硬件合格率的原理可知，本技術的腕帶類阻值的測試工裝，能夠用于檢測智能腕帶產品的硬件合格率。又因上述觸頭柱可被觸頭柱驅動部件驅動移動，探針可被探針驅動部件驅動移動，使本技術操作方便測試效率高。因此本技術的腕帶類阻值的測試工裝，接入非常小的外電阻，使其能夠測量智能腕帶類產品的腕帶阻值，從而達到準確檢測產品硬件是否合格的目的。由于每根觸頭柱與其對應的觸頭相接觸處均為弧面；該結構使探針與觸頭柱相接觸時為弧面對弧面，使觸頭柱和探針能夠自我導正保持良好接觸，從而減小了接入的電阻。由于觸頭柱驅動部件包括觸頭柱推進氣缸，觸頭柱推進氣缸與觸頭柱固定座傳動連接，兩根觸頭柱豎直設在觸頭柱固定座上，觸頭柱固定座設在第一滑動導軌上，第一滑動導軌設在測試平臺上并與觸頭平行設置；該結構使觸頭柱在觸頭柱推進氣缸的推動下，自動發生移動。由于測試平臺上還設有限位塊，該限位塊朝向絕緣座的面與凸臺設有缺口的側面對齊設置；該結構使絕緣座的移動受到限制，保證了觸頭柱驅動部件運行的可靠性。由于探針驅動部件包括探針推進氣缸，探針推進氣缸與探針固定座傳動連接，該探針固定座跨設在第二滑動導軌上，該第二滑動軌道設在測試平臺上；每根探針的另一端均固定在探針固定座上；該結構使探針能夠在探針推進氣缸的推動下，自動發生移動。由于每根探針均與第二滑動導軌平行設置；該結構使探針與觸頭柱為相互垂直接觸，讓相互接觸更加穩定，讓測試結果更準確。綜上所述，本技術的腕帶類阻值的測試工裝，解決了現有技術中利用測試電路通斷的方式，來判斷智能腕帶類產品是否合格時，判斷不準確的技術問題。本技術的腕帶類阻值的測試工裝接入非常小的外電阻，使智能腕帶類產品可通過測量腕帶的微電阻，來準確檢測智能腕帶類產品是否合格，間接的提高了生產效率。附圖說明圖1是現有技術中腕帶的結構示意圖；圖2是本技術腕帶類阻值的測試工裝的結構示意圖；圖3是本技術的測試平臺的放大結構示意圖；圖4是本技術測試平臺去掉腕帶固定座時的放大結構示意圖；圖中：1—測試平臺、2—殼體、3—精密歐姆表、4—腕帶、40—金屬觸點、41—腕帶倉、5本文檔來自技高網...

【技術保護點】
腕帶類阻值的測試工裝，其特征在于，包括精密歐姆表和測試平臺，所述測試平臺上分別設有：腕帶固定座，所述腕帶固定座包括凸臺，所述凸臺大小形狀與腕帶倉相適配，所述凸臺的一側設有兩個缺口；兩根平行設置的觸頭柱，兩根所述觸頭柱分別設在兩個所述缺口處；每根所述觸頭柱的側壁上均設有觸頭，所述觸頭遠離所述觸頭柱的端部為平面；若干根探針，每根所述探針的一端均為球頭端，所述球頭端與所述觸頭柱相接觸；所有所述探針的另一端均與所述精密歐姆表電連接；校正棒，所述校正棒將兩根所述觸頭柱短接，用于測量所述精密歐姆表的接入電阻；觸頭柱驅動部件，所述觸頭柱驅動部件驅動兩根所述觸頭柱移動；探針驅動部件，所述探針驅動部件驅動所述探針移動。

【技術特征摘要】
1.腕帶類阻值的測試工裝，其特征在于，包括精密歐姆表和測試平臺，所述測試平臺上分別設有：
腕帶固定座，所述腕帶固定座包括凸臺，所述凸臺大小形狀與腕帶倉相適配，所述凸臺的一側設有兩個缺口；
兩根平行設置的觸頭柱，兩根所述觸頭柱分別設在兩個所述缺口處；每根所述觸頭柱的側壁上均設有觸頭，所述觸頭遠離所述觸頭柱的端部為平面；
若干根探針，每根所述探針的一端均為球頭端，所述球頭端與所述觸頭柱相接觸；所有所述探針的另一端均與所述精密歐姆表電連接；
校正棒，所述校正棒將兩根所述觸頭柱短接，用于測量所述精密歐姆表的接入電阻；
觸頭柱驅動部件，所述觸頭柱驅動部件驅動兩根所述觸頭柱移動；
探針驅動部件，所述探針驅動部件驅動所述探針移動。
2.根據權利要求1所述的腕帶類阻值的測試工裝，其特征在于，每根所述觸頭柱與其對應的所述觸頭相接觸處均為弧面。
3.根據權利要求1所述的腕帶類阻值的測試工裝，其特征在于，所述觸頭柱驅動部件包括觸頭柱推進氣缸，所述觸頭柱推進氣缸與觸頭柱固定座傳動連接，兩根所述觸頭柱豎直設在所述觸頭柱固定座上，所述觸頭柱固定座設在第一滑動導軌上，所述第一滑動導軌設在所述測試平臺上并與所述觸頭平行設置。
4.根據權利要求3所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：夏江喬，鄧世超，張華貞，王春明，劉佳，穆永周，
申請(專利權)人：歌爾聲學股份有限公司，
類型：新型
國別省市：山東;37