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    一種可讀始極片懸垂值的測量架制造技術

    技術編號:13411272 閱讀:113 留言:0更新日期:2016-07-26 02:27
    本實用新型專利技術涉及一種可讀始極片懸垂值的測量架,屬于有色金屬機械技術領域。本實用新型專利技術包括光線接受顯示裝置、下橫梁、底座、加強筋板、刻度滑架、刻度板、光線發射裝置、承載座、上橫梁、調整墊;底座通過下橫梁連接,刻度滑架安裝在底座上,刻度滑架上部通過上橫梁連接,承載座安裝在刻度滑架頂部,刻度板安裝在刻度滑架上,光線接受顯示裝置、光線發射裝置安裝在刻度板上,調整墊安裝在底座下部。本實用新型專利技術能簡單快速的測量始極片的懸垂值,以及時反饋指導始極片加工生產;在地面不平時可調節底座下的調整墊,適用性強;結構簡單,能防止測量架因為始極片的重量而被壓偏導致測量數據誤差大。

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及一種可讀始極片懸垂值的測量架,屬于有色金屬機械

    技術介紹
    在傳統有色金屬電解精煉生產過程中,需要加工制作始極片作為陰極,始極片是由種板、導電棒和吊耳三部分組成。公知的國內大型冶煉廠一般采用始極片加工機組制作始極片,而這些機組并沒有達到在線自動檢測始極片懸垂值的水平,始極片懸垂值是否達標得不到保證。然而始極片懸垂值的好壞會直接影響陰極產品的質量以及電解的各項技術經濟指標。金川集團股份有限公司于2014年申請了技術專利“一種檢測銅始極片懸垂度的裝置”,申請號:CN201420089246.6。該裝置需要人工測量九個測量點的尺寸來計算始極片的懸垂值,測量速度慢,測量精度不易控制,測量點相對固定不可更改,若始極片的尺寸參數發生改變便不再適用。
    技術實現思路
    本技術的目的是提供一種可讀始極片懸垂值的測量架,以保證準備下槽電解的始極片懸垂值達到標準。本技術按以下技術方案實現:一種可讀始極片懸垂值的測量架,包括光線接受顯示裝置1、下橫梁2、底座3、加強筋板4、刻度滑架5、刻度板6、光線發射裝置7、承載座8、上橫梁9、調整墊10;底座3通過下橫梁2連接,刻度滑架5安裝在底座3上,刻度滑架5通過加強筋板4連接下橫梁2、底座3,刻度滑架5上部通過上橫梁9連接,承載座8安裝在刻度滑架5頂部,刻度板6安裝在刻度滑架5上,光線接受顯示裝置1、光線發射裝置7安裝在刻度板6上,調整墊10安裝在底座3下部,調整墊10用于根據不同的地面情況,上下調節底座3以保證測量架處于水平狀態。所述刻度滑架5表面設有刻度。所述刻度板6上設有刻度。—種可讀始極片懸垂值的測量架的工作原理為:將本測量架水平放置,通過調節調整墊10使測量架處于水平位置;先在刻度滑架5上選取三個點作為基準點,滑動刻度板6到達指定基準點;把待測量的始極片放置在承載座8的凹槽里,光線發射裝置7發射光線,部分光線被始極片彎曲的部分擋住,所以光線接受顯示裝置I只接受到沒有被擋住的光線并在其背面顯示出來,測量人員便可在光線接受顯示裝置I表面讀出陰影部分的數值,記錄數值,最大數值與最小數值之間的絕對值便是懸垂值。本技術具有以下有益效果:1、測量架上標有刻度,可直接讀取數據,不需再用尺測量,能簡單快速的測量始極片的懸垂值,以及時反饋指導始極片加工生產;2、可通過滑動刻度板來重新確定測量基準,以滿足各種尺寸參數始極片的測量要求;3、在地面不平時可調節底座下的調整墊,適用性強;4、結構簡單,加強筋板使得測量架剛度高,能防止測量架因為始極片的重量而被壓偏導致測量數據誤差大。【附圖說明】圖1是本技術的結構不意圖;圖2是本技術的左視結構不意圖;圖3是本技術刻度板主視圖;圖4是本技術刻度滑架局部圖。圖中各標號為:1:光線接受顯示裝置、2:下橫梁、3:底座、4:加強筋板、5:刻度滑架、6:刻度板、7:光線發射裝置、8:承載座、9:上橫梁、10:調整墊。【具體實施方式】下面結合附圖和實施例,對本技術作進一步說明,但本技術的內容并不限于所述范圍。實施例1:如圖1-2所示,一種可讀始極片懸垂值的測量架,包括光線接受顯示裝置1、下橫梁2、底座3、加強筋板4、刻度滑架5、刻度板6、光線發射裝置7、承載座8、上橫梁9、調整墊10;底座3通過下橫梁2連接,刻度滑架5安裝在底座3上,刻度滑架5通過加強筋板4連接下橫梁2、底座3,刻度滑架5上部通過上橫梁9連接,承載座8安裝在刻度滑架5頂部,刻度板6安裝在刻度滑架5上,光線接受顯示裝置1、光線發射裝置7安裝在刻度板6上,調整墊10安裝在底座3下部,調整墊10用于根據不同的地面情況,上下調節底座3以保證測量架處于水平狀態。所述刻度滑架5表面設有刻度。所述刻度板6上設有刻度。【主權項】1.一種可讀始極片懸垂值的測量架,其特征在于:包括光線接受顯示裝置(I)、下橫梁(2)、底座(3)、加強筋板(4)、刻度滑架(5)、刻度板(6)、光線發射裝置(7)、承載座(8)、上橫梁(9)、調整墊(10);底座(3)通過下橫梁(2)連接,刻度滑架(5)安裝在底座(3)上,刻度滑架(5)通過加強筋板(4)連接下橫梁(2)、底座(3),刻度滑架(5)上部通過上橫梁(9)連接,承載座(8)安裝在刻度滑架(5)頂部,刻度板(6)安裝在刻度滑架(5)上,光線接受顯示裝置(1)、光線發射裝置(7)安裝在刻度板(6)上,調整墊(10)安裝在底座(3)下部。2.根據權利要求1所述的可讀始極片懸垂值的測量架,其特征在于:所述刻度滑架(5)表面設有刻度。3.根據權利要求1所述的可讀始極片懸垂值的測量架,其特征在于:所述刻度板(6)上設有刻度。【專利摘要】本技術涉及一種可讀始極片懸垂值的測量架,屬于有色金屬機械
    本技術包括光線接受顯示裝置、下橫梁、底座、加強筋板、刻度滑架、刻度板、光線發射裝置、承載座、上橫梁、調整墊;底座通過下橫梁連接,刻度滑架安裝在底座上,刻度滑架上部通過上橫梁連接,承載座安裝在刻度滑架頂部,刻度板安裝在刻度滑架上,光線接受顯示裝置、光線發射裝置安裝在刻度板上,調整墊安裝在底座下部。本技術能簡單快速的測量始極片的懸垂值,以及時反饋指導始極片加工生產;在地面不平時可調節底座下的調整墊,適用性強;結構簡單,能防止測量架因為始極片的重量而被壓偏導致測量數據誤差大。【IPC分類】G01B11/24【公開號】CN205333024【申請號】CN201520830888【專利技術人】董為民, 蔣俊坤, 尹紅 【申請人】昆明理工大學【公開日】2016年6月22日【申請日】2015年10月26日本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種可讀始極片懸垂值的測量架,其特征在于:包括光線接受顯示裝置(1)、下橫梁(2)、底座(3)、加強筋板(4)、刻度滑架(5)、刻度板(6)、光線發射裝置(7)、承載座(8)、上橫梁(9)、調整墊(10);底座(3)通過下橫梁(2)連接,刻度滑架(5)安裝在底座(3)上,刻度滑架(5)通過加強筋板(4)連接下橫梁(2)、底座(3),刻度滑架(5)上部通過上橫梁(9)連接,承載座(8)安裝在刻度滑架(5)頂部,刻度板(6)安裝在刻度滑架(5)上,光線接受顯示裝置(1)、光線發射裝置(7)安裝在刻度板(6)上,調整墊(10)安裝在底座(3)下部。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:董為民蔣俊坤尹紅
    申請(專利權)人:昆明理工大學
    類型:新型
    國別省市:云南;53

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