一種數(shù)據(jù)序列的異常檢測方法和裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種數(shù)據(jù)序列的異常檢測方法及裝置，所述數(shù)據(jù)序列包括至少一個數(shù)據(jù)子序列，所述數(shù)據(jù)子序列包含至少一個數(shù)據(jù)，該方法包括：針對每個數(shù)據(jù)子序列，生成概率狀態(tài)圖模型，所述概率狀態(tài)圖模型中包括至少一個節(jié)點(diǎn)和至少一條有向邊，每個節(jié)點(diǎn)表示對應(yīng)的數(shù)據(jù)的狀態(tài)，所述有向邊表示所述有向邊連接的數(shù)據(jù)之間的跳轉(zhuǎn)關(guān)系；根據(jù)所述概率狀態(tài)圖模型，計算所述數(shù)據(jù)子序列中各數(shù)據(jù)的狀態(tài)轉(zhuǎn)換概率；若所述數(shù)據(jù)子序列中存在至少一個狀態(tài)轉(zhuǎn)換概率小于第一預(yù)設(shè)閾值的數(shù)據(jù)，則所述數(shù)據(jù)所屬的數(shù)據(jù)子序列存在異常。該異常檢測方法能夠在缺乏先驗(yàn)知識的情況下檢測出數(shù)據(jù)流中的多種異常情況，能夠細(xì)粒度的對多個維度的數(shù)據(jù)序列的多種異常進(jìn)行實(shí)時檢測。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種數(shù)據(jù)序列的異常檢測方法，所述數(shù)據(jù)序列包括至少一個數(shù)據(jù)子序列，所述數(shù)據(jù)子序列包含至少一個數(shù)據(jù)，其特征在于，包括：針對每個數(shù)據(jù)子序列，生成概率狀態(tài)圖模型，所述概率狀態(tài)圖模型中包括至少一個節(jié)點(diǎn)和至少一條有向邊，每個節(jié)點(diǎn)表示對應(yīng)的數(shù)據(jù)的狀態(tài)，所述有向邊表示所述有向邊連接的數(shù)據(jù)之間的跳轉(zhuǎn)關(guān)系；根據(jù)所述概率狀態(tài)圖模型，計算所述數(shù)據(jù)子序列中各數(shù)據(jù)的狀態(tài)轉(zhuǎn)換概率；若所述數(shù)據(jù)子序列中存在至少一個狀態(tài)轉(zhuǎn)換概率小于第一預(yù)設(shè)閾值的數(shù)據(jù)，則所述數(shù)據(jù)所屬的數(shù)據(jù)子序列存在異常。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：沃天宇，張明明，林學(xué)練，宋亞勇，
申請(專利權(quán))人：北京航空航天大學(xué)，
類型：發(fā)明
國別省市：北京;11