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    抗蝕劑剝離劑組合物制造技術(shù)

    技術(shù)編號:13464408 閱讀:167 留言:0更新日期:2016-08-04 18:34
    本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種抗蝕劑剝離劑組合物,該抗蝕劑剝離劑組合物能使剝離過程中金屬線的腐蝕最小化,顯示出優(yōu)異的抗蝕劑去除性能,并且提高了能處理的基板數(shù)。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
    【專利摘要】本專利技術(shù)公開了一種抗蝕劑剝離劑組合物,該抗蝕劑剝離劑組合物能使剝離過程中金屬線的腐蝕最小化,顯示出優(yōu)異的抗蝕劑去除性能,并且提高了能處理的基板數(shù)?!緦@f明】抗蝕劑剝離劑組合物
    本專利技術(shù)設(shè)及一種抗蝕劑剝離劑組合物,并且更具體地設(shè)及一種在抗蝕劑剝離過程 中能表現(xiàn)出優(yōu)異的剝離能力同時(shí)使金屬線的腐蝕最小化的抗蝕劑剝離劑組合物。
    技術(shù)介紹
    抗蝕劑(光致抗蝕劑)基本上用于光刻工藝。運(yùn)種光刻工藝通常用于制造:半導(dǎo) 體器件,諸如集成電路(1C)、大規(guī)模集成化SI)、超大規(guī)模集成(VLSI)等;和圖像顯示器,諸 如液晶顯示器化CD)和平板顯示器(例如,等離子體顯示器(PDP))。 隨著近來對表現(xiàn)出高的分辨率和高的線上信號速度的LCD的需求,其處理?xiàng)l件已 經(jīng)變得更加嚴(yán)格。因此,在去除抗蝕劑的剝離過程中使用的剝離劑必須表現(xiàn)出改進(jìn)的性能。 在光刻處理之后,在高溫下使用剝離液去除抗蝕劑。當(dāng)W運(yùn)種方式在高溫下去除 抗蝕劑時(shí),下層金屬膜會由于剝離液而不利地快速腐蝕。因此,為了在蝕刻過程之后去除蝕 刻殘留物并且抑制金屬線的腐蝕,需要相當(dāng)高的剝離能力。特別是,需要同時(shí)對A1和化的 耐腐蝕性,并且也存在盈利需求(包括提高能處理的基板數(shù))W保證價(jià)格競爭力。 為了去除抗蝕劑,通常有用的是:水溶性有機(jī)胺,諸如單乙醇胺或單異丙醇胺;有 機(jī)溶劑,諸如丫-下內(nèi)醋和DMS0。而且,為了抑制由胺造成的金屬腐蝕,可W應(yīng)用任何類型 的腐蝕抑制劑,諸如兒茶酪、間苯二酪或苯并立挫,并且設(shè)計(jì)出包含上述腐蝕抑制劑的光致 抗蝕劑剝離劑組合物。 然而,已知傳統(tǒng)的光致抗蝕劑剝離劑組合物在耐腐蝕性、能處理的基板數(shù)W及處 理穩(wěn)定性和儲存穩(wěn)定性方面有問題。例如,公布號為10-2006-0117666的韓國專利申請公 開了必需使用兩種或更多種腐蝕抑制劑來防止金屬線腐蝕。因此,在剝離過程之后剝離劑 留在線上的可能性可能會增加,并且,在長期儲存時(shí),剝離劑可能會稱色,并且剝離時(shí)間可 能會增加,從而不利地使剝離劑的性能變差。 (專利文獻(xiàn)1)韓國專利申請公布號10-2006-0117666
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    因此,考慮到相關(guān)技術(shù)中遇到的問題作出了本專利技術(shù),并且本專利技術(shù)的一個(gè)目的是提 供一種抗蝕劑剝離劑組合物,該抗蝕劑剝離劑組合物在抗蝕劑剝離過程中可表現(xiàn)出對包括 A1、化等的金屬線突出的耐腐蝕性,并且還具有高的抗蝕劑去除性能。 本專利技術(shù)的另一個(gè)目的是提供一種抗蝕劑剝離劑組合物,該抗蝕劑剝離劑組合物能 夠處理大量基板,并且在沖洗過程中具有優(yōu)異的沖洗能力。 為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本專利技術(shù)提供一種抗蝕劑剝離劑組合物,包含:(A)N-乙基甲酯 胺;和度)由下面化學(xué)式1表示的胺化合物:[001引[化學(xué)式^[001引在化學(xué)式1中,R郝Rz各自獨(dú)立地為Cl~巧烷基、Cl~巧徑烷基或Cl~巧氨 烷基,并且Ri和R 2能連接W形成進(jìn)一步含有N或0的環(huán)。 根據(jù)本專利技術(shù),抗蝕劑剝離劑組合物在去除抗蝕劑時(shí)非常有效,從而有利于去除抗 蝕劑殘留物。此外,包含A1和/或化的金屬線在剝離過程中不被破壞,并且腐蝕能被最小 化。并且,能處理大量基板,從而顯著有助于降低成本。【具體實(shí)施方式】 在下文中,將給出本專利技術(shù)的詳細(xì)描述。[001引本專利技術(shù)設(shè)及一種抗蝕劑剝離劑組合物,包含:(A)N-乙基甲酯胺;和度)由下面化 學(xué)式1表示的胺化合物:[001引[化學(xué)式^ 在化學(xué)式1中,Ri和Rz各自獨(dú)立地為C1~巧烷基、C1~巧徑烷基或C1~巧氨 烷基,并且Ri和R 2能連接W形成進(jìn)一步含有N或0的環(huán)。 下面是各個(gè)成分的描述。[002引 (A)N-乙基甲酯胺 根據(jù)本專利技術(shù),抗蝕劑剝離劑組合物包含N-乙基甲酯胺(A)。N-乙基甲酯胺的功能 是溶解由化學(xué)式1表示的胺化合物度)凝膠化的抗蝕劑聚合物。而且,N-乙基甲酯胺是水 溶性的,有利于在沖洗過程中使用去離子水值IW)去除抗蝕劑剝離劑,并且使剝離劑和已 溶解的抗蝕劑的再吸附和再附著最小化。N-乙基甲酯胺能夠溶解過量的抗蝕劑,從而提高 能處理的基板數(shù)。此外,N-乙基甲酯胺具有200°C或更高的沸點(diǎn),其特征在于揮發(fā)度低,因 而在長期處理中減少剝離劑的損失,從而產(chǎn)生經(jīng)濟(jì)效益。[002引在N-乙基甲酯胺(A)與除根據(jù)本專利技術(shù)的由化學(xué)式1表示的胺化合物做之外的 胺化合物混合的情況下,抗蝕劑剝離能力可能會隨時(shí)間推移而變差。然而,當(dāng)N-乙基甲酯 胺(A)與根據(jù)本專利技術(shù)的由化學(xué)式1表示的胺化合物一起使用時(shí),剝離能力不會隨時(shí)間推移 而變差。即使當(dāng)使用少量的運(yùn)種成分時(shí),也可W確??焖賱冸x能力。[002引 N-乙基甲酯胺(A)的量沒有特別限制,但基于抗蝕劑剝離劑組合物的總重量,優(yōu) 選設(shè)置為10~99. 9wt %,并更優(yōu)選為50~99wt %。如果其量少于lOwt %,則抗蝕劑溶解 度可能會降低,使得難W提高能處理的基板數(shù)。相反,如果其量超過99. 9wt %,則其它成分 的相對含量可能會降低,使得不能保證剝離性能。 度)由化學(xué)式1表示的胺化合物 根據(jù)本專利技術(shù),抗蝕劑剝離劑組合物包括由下面化學(xué)式1表示的胺化合物度)。 在化學(xué)式1中,Ri和Rz各自獨(dú)立地為C1~巧烷基、C1~巧徑烷基或C1~巧氨 烷基,并且Ri和R 2能連接W形成進(jìn)一步含有N或0的環(huán)。[003引由化學(xué)式1表示的胺化合物做可W很容易地滲入抗蝕劑的聚合物基體中,該聚 合物基體在干蝕刻、濕蝕刻、灰化或離子注入的工藝條件下降解或交聯(lián),從而破壞分子內(nèi)鍵 或分子間鍵。另外,殘留在基板上的抗蝕劑的結(jié)構(gòu)上弱的部分中形成空位(empty space), 由此抗蝕劑可被轉(zhuǎn)變成無定形聚合物凝膠塊,因而可被容易地去除掉。[003引與當(dāng)僅使用伯胺化合物時(shí)相比,當(dāng)由化學(xué)式1表示的胺化合物做與N-乙基甲酯 胺(A) -起使用時(shí),剝離能力沒有降低。因此,可W提供具有高剝離能力的抗蝕劑剝離劑。 由化學(xué)式1表示的胺化合物的具體實(shí)例可W包括,但不限于:選自N,N-二甲胺、 N,N-二乙胺、N,N-二丙胺、二亞乙基Ξ胺、2-(徑甲基)氨基乙醇、2-(甲氨基)乙醇、2-(乙 氨基)乙醇、N,N-二乙醇胺、贓晚、贓嗦、N-(2-氨乙基)甲醇胺、N-(2-氨乙基)乙醇胺、 N-(2-氨乙基)丙醇胺、N-(2-氨乙基)下醇胺和N-(3-氨丙基)乙醇胺中的至少一種。 基于抗蝕劑剝離劑組合物的總重量,由化學(xué)式1表示的胺化合物度)的使用量優(yōu) 選為0. 1~lOwt %,更優(yōu)選為0.3~5wt %。如果由化學(xué)式1表示的胺化合物的量低于 0.1 wt %,則抗蝕劑剝離劑的剝離能力可能會降低,使得難W確??焖賱冸x性能。相反,如果 其量超過lOwt%,則金屬線可能會被腐蝕。 根據(jù)本專利技術(shù),除上面的成分之外,抗蝕劑剝離劑組合物還可W包含選自(C)腐蝕 抑制劑、(D)極性溶劑和巧)去離子水中的至少一種。 將腐蝕抑制劑似添加到抗蝕劑剝離劑組合物,因此可W增強(qiáng)防止包括A1和/或 化的金屬線腐蝕的能力。而且,在沖洗過程中防止抗蝕劑殘留物的再吸附,從而提高沖洗能 力。雖然腐蝕抑制劑沒有特別限制,但優(yōu)選有用的是由下面化學(xué)式2表示的叔胺腐蝕抑制 劑:[003引[化學(xué)式引 在化學(xué)式2中,R3~R5各自獨(dú)立地為徑基、C1~巧烷基或C1~巧徑烷基。 在化學(xué)式2中,R3~Rs中的至少一個(gè)優(yōu)選為徑基或徑烷基。運(yùn)樣,抗蝕劑剝離劑 本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種抗蝕劑剝離劑組合物,包含:(A)N?乙基甲酰胺;和(B)由下面化學(xué)式1表示的胺化合物:在化學(xué)式1中,R1和R2各自獨(dú)立地為C1~C5烷基、C1~C5羥烷基或C1~C5氨烷基,并且R1和R2能連接以形成進(jìn)一步含有N或O的環(huán)。

    【技術(shù)特征摘要】
    ...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:金正鉉,金圣植,李喻珍,
    申請(專利權(quán))人:東友精細(xì)化工有限公司,
    類型:發(fā)明
    國別省市:韓國;KR

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