一種測試設備制造技術

本發明專利技術涉及一種測試設備，包括交流電源電路、相位產生電路、交流漏電調節電路和時間檢測電路；其特征在于：相位產生電路包括可控硅電流控制電路；所述可控硅電流控制電路包括：根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極管BG18、由三極管BG18驅動的光耦芯片IC4，由光耦芯片IC4控制通斷的雙向可控硅BG19，雙向可控硅BG19的A、K極串聯在外接模擬漏電回路中。本發明專利技術通過改進可控硅電流控制電路，使其結構較為合理，能夠有效滿足特殊漏電斷路器的測試需求。

【技術實現步驟摘要】
201610466422

【技術保護點】
一種測試設備，包括交流電源電路、直流供電電路、相位產生電路、交流漏電調節電路、相位顯示電路、指示燈電路和時間檢測電路；其特征在于：交流電源電路具有用于構成負載回路的第一火線端和用于構成模擬漏電回路的第二火線端，第一火線端和第二火線端用于與被測設備的火線輸入端相連，所述負載回路的零線端用于與被測設備的零線端相連；所述被測設備是A型漏電斷路器；相位產生電路用于與被測設備的火線輸出端L2相連；相位產生電路包括控制按鈕電路、電流滯后電壓0o的第一半波整流電路、電流滯后電壓90o的第二半波整流電路、電流滯后電壓135o的第三半波整流電路、6mA直流生成電路以及可控硅電流控制電路，可控硅電流控制電路根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號在所述模擬漏電回路中分別生成電流滯后電壓0o的半波整流電流、電流滯后電壓90o的半波整流電流、電流滯后電壓135o的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯后電壓0o的半波整流電流；控制按鈕電路用于控制相位產生電路在所述模擬漏電回路中分別生成電流滯后電壓0o的半波整流電流、電流滯后電壓90o的半波整流電流、電流滯后電壓135o的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯后電壓0o的半波整流電流；所述電流滯后電壓135o的第三半波整流電路包括：正弦波整形電路、充電電路、與門、電阻R9、電阻R10、運算放大器IC1B、電阻R11、電位器WR1、三極管BG3、電阻R12、R13、按鈕開關SB1、電阻R58、三極管BG18、光耦芯片IC4、電阻R59、雙向可控硅BG19、電阻R60和電阻R61；充電電路由電阻R8和電容C5構成，電阻R8和電容C5依次與運算放大器IC1A的輸出端相連；與門由二極管D6和D7構成，二極管D6的負極接電阻R8，二極管D6的正極接運算放大器IC1B的正極；二極管D7的負極接運算放大器IC1A的輸出端，電阻R9和電阻R10各自的輸入端接二極管D7的正極，電阻R9和電阻R10用于設定相對于電流滯后電壓135o的整定電壓；電阻R11的輸入端接電阻R9的輸出端，電阻R11的輸出端接運算放大器IC1B的反向輸入端；電位器WR1的一端接運算放大器IC1B的反向輸入端；電阻R11和電位器WR1用來調節運算放大器IC1B的反向輸入端的相對于電流滯后電壓135o的比較電壓；三極管BG3的基極通過電阻R12接運算放大器IC1B的輸出端，三極管BG3的發射極接電阻R13的輸入端和按鈕開關SB1，三極管BG3的集電極接電阻R11的輸入端，三極管BG3與電阻R13構成射極跟隨器；電位器WR1的調節端和電阻R10的輸出端均與電阻R13的輸出端相連；電阻R12用作三極管BG3基極的限流電阻；運算放大器IC1B的輸出端用于輸出電流滯后電壓135o的控制信號；電阻R13上的電流滯后電壓135o的控制信號通過按鈕開關SB1、電阻R58送給三極管BG18，三極管BG18驅動光耦芯片IC4，電阻R59是對光耦芯片IC4進行限流的限流電阻，保證光耦芯片IC4有效工作；光耦芯片IC4用以隔離交流220V與相位產生電路直流部分，控制雙向可控硅BG19的導通和關斷，電阻R60和電阻R61用于控制雙向可控硅BG19的G極輸入電流，使輸入信號足夠觸發雙向可控硅BG19導通；雙向可控硅BG19的A、K二極串聯在負載與交流電源之間，流過負載的電流就是滯后于電壓135o的半波整流電流；控制雙向可控硅BG19即可控制線路中通過規定的剩余脈動電流，調節電位器WR3、WR4和WR5控制漏電流大小；當按鈕開關SB10閉合時，按鈕開關SB10的兩個中間觸點用于相位產生電路輸出波形的檢測；所述可控硅電流控制電路包括：根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極管BG18、由三極管BG18驅動的光耦芯片IC4，由光耦芯片IC4控制通斷的雙向可控硅BG19，雙向可控硅BG19的A、K極串聯在所述模擬漏電回路中；所述時間檢測電路包括：單片機IC6、與單片機IC6的漏電檢測端相連的用于檢測所述模擬漏電回路是否導通的漏電信號檢測電路、以及與單片機IC6的時間信息輸出端相連的用于顯示時間的數碼管；單片機IC6根據漏電信號檢測電路輸出的漏電信號測量從所述模擬漏電回路導通至A型漏電斷路器脫扣所需的時間并通過所述數碼管顯示該時間；電阻R73、電阻R77為光耦芯片IC5的限流電阻，電阻R78為單片機IC6的1腳的限流電阻，電容C15、電阻R79組成微分電路，電阻R80?電阻R87為數碼管LED11各管腳的限流電阻，電阻R88?電阻R91為三極管BG23?三極管BG26的b極的限流電阻；按鈕開關SB17為測試按鈕，按鈕開關SB18為復位按鈕。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：胡小青，
申請(專利權)人：胡小青，
類型：發明
國別省市：浙江;33