公開了一種輻射檢測器以及使用輻射檢測器的斷層掃描成像設(shè)備。所述輻射檢測器包括：多個圖像像素，均包括至少一個計數(shù)像素并恢復(fù)圖像。所述至少一個計數(shù)像素包括：輻射吸收層，將入射光子轉(zhuǎn)換為電信號；光子處理器，基于從輻射吸收層傳送的電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)。所述圖像像素的數(shù)量小于所述計數(shù)像素的數(shù)量。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)的一個或多個實施例涉及一種輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備，更具體地講，涉及一種對入射輻射光子進(jìn)行計數(shù)以測量入射輻射的量的輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備。本專利技術(shù)的一個或多個實施例總體上涉及一種輻射檢測器和使用輻射檢測器的放射攝影成像系統(tǒng)(諸如計算機(jī)斷層掃描(CT)設(shè)備、正電子發(fā)射斷層掃描(PET)設(shè)備、乳房造影設(shè)備或單光子發(fā)射計算機(jī)斷層掃描(SPECT)設(shè)備或X射線系統(tǒng)等)，更具體地講，涉及一種對入射輻射光子進(jìn)行計數(shù)以測量入射輻射的量的輻射檢測器和使用輻射檢測器的放射攝影成像系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備是用于將對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)獲得為圖像的設(shè)備。醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備是展示人體的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)、內(nèi)部組織及流體流動的無創(chuàng)檢查設(shè)備。用戶(諸如醫(yī)生)通過使用從醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備中輸出的醫(yī)學(xué)圖像對患者的健康狀態(tài)及疾病進(jìn)行診斷。用于將輻射照射到患者上以拍攝對象的設(shè)備的代表性示例包括計算機(jī)斷層掃描(CT)設(shè)備和X射線設(shè)備。其它類型的設(shè)備和系統(tǒng)也構(gòu)成本專利技術(shù)的使用領(lǐng)域的代表性示例，諸如正電子發(fā)射斷層掃描(PET)設(shè)備、乳房造影設(shè)備和/或單光子發(fā)射計算機(jī)斷層掃描(SPECT)。在醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備之中，僅通過舉例的方式，這里參照CT設(shè)備，原因在于CT設(shè)備提供對象的橫截面圖像并表達(dá)對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)(例如，器官(諸如腎、肺等))以便不相互重疊，不同于一般的X射線設(shè)備。因此，CT設(shè)備被廣泛用于精確地診斷疾病。X射線設(shè)備是通過發(fā)送穿過人體的X射線獲得人體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像的醫(yī)學(xué)成像設(shè)備。X射線設(shè)備可在相比包括MRI設(shè)備和CT設(shè)備的其它醫(yī)學(xué)成像設(shè)備更短的時間內(nèi)簡單地獲得目標(biāo)對象的醫(yī)學(xué)圖像。因此，X射線系統(tǒng)被廣
泛用于簡單的胸腔拍攝、腹部拍攝、骨格拍攝、鼻竇拍攝、頸部軟組織拍攝及胸部拍攝。用于照射輻射以拍攝對象的醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備必然包括檢測穿過對象的輻射的輻射檢測器。此外，當(dāng)足夠快速且足夠精確地檢測穿過對象的輻射時，可基于由輻射檢測器檢測到的輻射在(例如)圖像處理的后續(xù)處理中重構(gòu)精確的醫(yī)學(xué)圖像。然而，為了實現(xiàn)重構(gòu)的圖像的足夠的分辨率，穿過對象的足夠量的輻射撞擊到檢測器上。因此，需要提供一種不僅快速且精確地檢測穿過對象的輻射而且檢測足夠量的輻射以實現(xiàn)對具有適當(dāng)或更高分辨率的圖像的重構(gòu)的輻射檢測器和醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備。過去將這些目標(biāo)整合一直困擾著本專利技術(shù)的
的技術(shù)人員。這里，作為與本公開所提議的新穎特征相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)，參考了基于像素的子像素劃分的US-2010/282972，其中，子像素屬于具有不同橫截面面積以提供可檢測的通量密度的動態(tài)范圍的單個像素，其中，該出版物的公開限于基于間接檢測方法的檢測器。這里參考的其它現(xiàn)有技術(shù)出版物有US-7829860、US-7473902、WO-2008/020379及US-2005/285043。
技術(shù)實現(xiàn)思路
技術(shù)問題因此，需要提供一種不僅快速且精確地檢測穿過對象的輻射而且檢測足夠量的輻射以實現(xiàn)對具有適當(dāng)或更高分辨率的圖像的重構(gòu)的輻射檢測器和醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備。過去將這些目標(biāo)整合一直困擾著本專利技術(shù)的
的技術(shù)人員。技術(shù)方案本專利技術(shù)的一個或多個實施例包括一種快速且精確地檢測穿過對象的輻射的輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備。本專利技術(shù)的一個或多個實施例包括一種對穿過對象的輻射光子快速計數(shù)以精確地檢測輻射的量的輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備。有益效果本專利技術(shù)的示例性實施例可快速且精確地檢測穿過對象的輻射。附圖說明從以下結(jié)合附圖的所述實施例的描述中，這些和/或其它方面將變得清楚并且更容易理解，其中：圖1A的一般CT系統(tǒng)的示意圖；圖1B是示出根據(jù)本專利技術(shù)的實施例的CT系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的示圖；圖2是示出通信單元的配置的示圖；圖3A是示出X射線系統(tǒng)的配置的示圖；圖3B是示出固定型X射線設(shè)備的示圖；圖3C是示出移動X射線設(shè)備的示圖；圖4是示出根據(jù)本專利技術(shù)的實施例的輻射檢測器的示圖；圖5是用于描述圖4的多個像素的示圖；圖6是用于描述圖4的計數(shù)像素的示圖；圖7A是用于描述圖4的計數(shù)像素的另一示圖；圖7B是用于描述圖4的計數(shù)像素的另一示圖；圖8是用于描述圖4的計數(shù)像素的另一示圖；圖9是示出根據(jù)本專利技術(shù)的實施例的計算機(jī)斷層掃描設(shè)備的示圖。最佳實施方式本專利技術(shù)的一個或多個實施例包括一種快速且精確地檢測穿過對象的輻射的輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備。本專利技術(shù)一個或多個實施例包括一種對穿過對象的輻射光子快速計數(shù)以精確地檢測輻射的量的輻射檢測器、使用輻射檢測器的斷層掃描設(shè)備以及使用輻射檢測器的X射線成像設(shè)備。附加的方面部分地將在隨后的描述中被闡述，部分地將從描述中變得清楚，或者可通過所呈現(xiàn)的實施例的實踐而被獲知。根據(jù)本專利技術(shù)的一個或多個實施例，一種用于感測輻射的輻射檢測器，包括均包括至少一個計數(shù)像素并恢復(fù)圖像的多個圖像像素，其中，所述至少一個計數(shù)像素包括：輻射吸收層，將入射光子轉(zhuǎn)換為電信號；光子處理器，基
于從輻射吸收層傳送的電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)，并且所述圖像像素的數(shù)量小于所述計數(shù)像素的數(shù)量。所述至少一個計數(shù)像素可對比入射到相應(yīng)圖像像素上的光子的數(shù)量小的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)。所述光子處理器可根據(jù)將入射光子直接轉(zhuǎn)換為電荷以檢測光子的直接方法基于所述電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)。所述多個圖像像素均可與構(gòu)成所述圖像的一個像素值相應(yīng)。所述多個圖像像素均可包括多個所述計數(shù)像素。所述多個圖像像素均可以是用于基于由所述多個計數(shù)像素計數(shù)的光子的數(shù)量計算在所述圖像中包括的一個像素值的像素。所述光子處理器可包括對比在特定時間內(nèi)入射到相應(yīng)圖像像素上的光子的數(shù)量小的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)并存儲的計數(shù)存儲器。所述光子處理器可包括：比較器，將所述電信號與參考值進(jìn)行比較以確定所述電信號是否超過所述參考值；計數(shù)存儲器，基于比較器的比較結(jié)果對超過所述參考值的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)并存儲。所述至少一個計數(shù)像素可包括：計數(shù)存儲器，對比在特定時間內(nèi)入射到相應(yīng)圖像像素上的光子的數(shù)量小的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)并存儲。當(dāng)所述多個圖像像素均與輻射檢測器的像素相應(yīng)時，在所述像素中包括的所述至少一個計數(shù)像素可被劃分為至少一個計數(shù)像素群組，并且由所述至少一個計數(shù)像素群組計數(shù)的光子的數(shù)量可與在所述圖像中的一個圖像像素值相應(yīng)。所述計數(shù)像素群組的數(shù)量可等于或多于所述像素的數(shù)量。所述至少一個計數(shù)像素群組的尺寸可等于或小于所述像素的尺寸。當(dāng)所述多個圖像像素均與輻射檢測器的像素相應(yīng)時，在多個相鄰像素中包括的多個計數(shù)像素可被劃分為至少一個計數(shù)像素群組，并且由所述多個計數(shù)像素群組中的每個計數(shù)的光子的數(shù)量可與在所述圖像中的一個圖像像素值相應(yīng)。所述輻射檢測器可以是用于產(chǎn)生斷層掃描圖像的輻射檢測器。所述輻射檢測器可感測從附接到臺架并旋轉(zhuǎn)的X射線源發(fā)射并穿過對象的輻射。所述輻射檢測器可以是用于產(chǎn)生X射線圖像的輻射檢測器。所述輻射檢測器可感測從附接到移動設(shè)備并被調(diào)整位置的X射線源發(fā)射并穿過對象的輻射。所述輻射吸收層可由碲化鎘(CdTe)形成。根據(jù)本專利技術(shù)的一個或多個實施例，一種輻射檢測器包括感測輻射的本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點】
一種用于感測輻射的輻射檢測器，所述檢測器包括均包含有至少一個計數(shù)像素并恢復(fù)圖像的多個圖像像素，其中，所述至少一個計數(shù)像素包括：輻射吸收層，將入射光子轉(zhuǎn)換為電信號；以及光子處理器，基于從輻射吸收層傳送的電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)，并且所述圖像像素的數(shù)量小于所述計數(shù)像素的數(shù)量。
【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】2013.11.12 KR 10-2013-0137118;2014.11.05 KR 10-2011.一種用于感測輻射的輻射檢測器，所述檢測器包括均包含有至少一個計數(shù)像素并恢復(fù)圖像的多個圖像像素，其中，所述至少一個計數(shù)像素包括：輻射吸收層，將入射光子轉(zhuǎn)換為電信號；以及光子處理器，基于從輻射吸收層傳送的電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)，并且所述圖像像素的數(shù)量小于所述計數(shù)像素的數(shù)量。2.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，所述至少一個計數(shù)像素對比入射到相應(yīng)圖像像素上的光子的數(shù)量小的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)。3.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，光子處理器根據(jù)將入射光子直接轉(zhuǎn)換為電荷以檢測光子的直接方法基于所述電信號對光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)。4.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，所述多個圖像像素均與構(gòu)成所述圖像的一個像素值相應(yīng)。5.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，所述多個圖像像素均包括多個計數(shù)像素，其中，所述多個圖像像素均是用于基于由所述多個計數(shù)像素計數(shù)的光子的數(shù)量來計算在所述圖像中包括的一個像素值的像素。6.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，光子處理器包括：計數(shù)存儲器，對比在特定時間內(nèi)入射到相應(yīng)圖像像素上的光子的數(shù)量小的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)并存儲。7.如權(quán)利要求1所述的輻射檢測器，其中，光子處理器包括：比較器，將所述電信號與參考值進(jìn)行比較以確定所述電信號是否超過所述參考值；以及計數(shù)存儲器，基于比較器的比較結(jié)果對超過所述參考值的光子的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)并...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：趙敏局，
申請(專利權(quán))人：三星電子株式會社，
類型：發(fā)明
國別省市：韓國;KR
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