【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種對電磁場分布進(jìn)行反演的方法,具體來說是對未知悉物理特征的PCB電路利用偶極矩模型進(jìn)行等效重建,反演PCB電路電磁場近場耦合和遠(yuǎn)場輻射的一種方法。
技術(shù)介紹
隨著電氣工程、電子科學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、控制理論與控制工程等技術(shù)的飛速發(fā)展,PCB電路在各行各業(yè)的應(yīng)用占據(jù)不可或缺的地位。PCB電路工作頻率頻段不斷擴(kuò)展,集成度和復(fù)雜度越來越高,PCB電路中的任何一段走線都有可能成為輻射電磁場的源,不同的PCB電路輻射之間的耦合,是造成系統(tǒng)級電磁兼容問題的主要原因之一。國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布的文件明確指出,任何不符合國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,無線電干擾嚴(yán)重的產(chǎn)品禁止生產(chǎn)和使用。對不同PCB電路的輻射進(jìn)行準(zhǔn)確的測量是電磁兼容設(shè)計(jì)中指標(biāo)量化環(huán)節(jié)有效的考量手段。但是在對PCB電路輻射的電磁場強(qiáng)度進(jìn)行測量時(shí),并不能獲得空間中每一點(diǎn)處的輻射強(qiáng)度,這就有可能在系統(tǒng)組裝完畢后形成預(yù)料外的電磁兼容性問題。同時(shí)另一個(gè)造成電磁兼容設(shè)計(jì)存在缺陷主要原因是PCB電路的具體物理特征受到各種原因有不能被使用者知悉,因此不能通過前期的仿真工作對其輻射進(jìn)行準(zhǔn)確的計(jì)算,在系統(tǒng)整合過程中形成了潛在的電磁干擾。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為了解決PCB電路板產(chǎn)生的電磁場分布難以獲取的問題,本專利技術(shù)提出一種采用偶極矩模型對PCB電路電磁場進(jìn)行反演的方法。該方法通過測量空間中有限點(diǎn)處的近場電場強(qiáng)度和磁場強(qiáng)度形成輻射強(qiáng)度數(shù)值矩陣F,設(shè)置偶極矩陣列與輻射強(qiáng)度數(shù)值矩陣之間的映射矩陣T,求解得到偶極矩矩陣X,繼而對PCB電路的電磁場分布進(jìn)行反演。本專利技術(shù)中由電磁場理論可知,任意的電小源都可以由6個(gè)偶極矩分量等效代替 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種采用偶極矩模型對PCB電路電磁場進(jìn)行反演的方法,其中,任意的電小源都由6個(gè)偶極矩分量等效代替:三個(gè)電偶極矩Px,Py,Pz和三個(gè)磁偶極矩分量Mx,My,Mz;PCB電路的設(shè)計(jì)中走線緊貼電源平面或者參考地平面,用來等效PCB電路的偶極矩在滿足理想導(dǎo)體的邊界條件前提下減少為Mx,My和Pz;垂直電偶極子Pz描述PCB走線與參考地平面之間的電壓分布,水平磁偶極子Mx和My描述PCB走線上的電流分布;用N×N個(gè)偶極子的偶極子陣列來等效PCB電路,每個(gè)偶極子包含三個(gè)偶極矩分量,分別為Pz,Mx,My;在M×M個(gè)采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)的近場采樣平面上,每個(gè)采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)的水平場強(qiáng)分別為Ex,Ey,Hx,Hy;設(shè)定偶極子的位置坐標(biāo)為(x’,y’,d),采樣點(diǎn)的位置坐標(biāo)為(x,y,z),d表示的是偶極子距離參考地平面的高度,z表示采樣點(diǎn)距離參考地平面的高度,其中z>d>0,采樣點(diǎn)(x,y,z)處的切向電場強(qiáng)度和磁場強(qiáng)度由以下公式計(jì)算出來Ex=τE{[(z-d)(x-x′)r12q1(r1)+(z+d)(x-x′)r22q1(r2)]Pz+[ ...
【技術(shù)特征摘要】
1.一種采用偶極矩模型對PCB電路電磁場進(jìn)行反演的方法,其中,任意的電小源都由6個(gè)偶極矩分量等效代替:三個(gè)電偶極矩Px,Py,Pz和三個(gè)磁偶極矩分量Mx,My,Mz;PCB電路的設(shè)計(jì)中走線緊貼電源平面或者參考地平面,用來等效PCB電路的偶極矩在滿足理想導(dǎo)體的邊界條件前提下減少為Mx,My和Pz;垂直電偶極子Pz描述PCB走線與參考地平面之間的電壓分布,水平磁偶極子Mx和My描述PCB走線上的電流分布;用N×N個(gè)偶極子的偶極子陣列來等效PCB電路,每個(gè)偶極子包含三個(gè)偶極矩分量,分別為Pz,Mx,My;在M×M個(gè)采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)的近場采樣平面上,每個(gè)采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)的水平場強(qiáng)分別為Ex,Ey,Hx,Hy;設(shè)定偶極子的位置坐標(biāo)為(x’,y’,d),采樣點(diǎn)的位置坐標(biāo)為(x,y,z),d表示的是偶極子距離參考地平面的高度,z表示采樣點(diǎn)距離參考地平面的高度,其中z>d>0,采樣點(diǎn)(x,y,z)處的切向電場強(qiáng)度和磁場強(qiáng)度由以下公式計(jì)算出來 E x = τ E { [ ( z - d ) ( x - x ′ ) r 1 2 q 1 ( r ...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:閻照文,劉偉,王健偉,蘇東林,
申請(專利權(quán))人:北京航空航天大學(xué),
類型:發(fā)明
國別省市:北京;11
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