軸承內外圈倒角尺寸校驗儀制造技術

本實用新型專利技術涉及一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀，該校驗儀包括握手部，以及沿握手部兩端軸向凸起設置的左測量部、右測量部，左測量部包括軸向倒角上公差參考尺、軸向倒角下公差參考尺；左測量部與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角上公差參考尺槽和徑向倒角下公差參考尺槽；右測量部端部形成兩個圓角，分別為圓角A、圓角B。利用軸向倒角上公差參考尺、軸向倒角下公差參考尺比對待檢軸承套圈的寬度尺寸，利用校驗儀的徑向倒角上公差參考尺槽、徑向倒角下公差參考尺槽比對待檢軸承套圈的徑向倒角尺寸，最后利用校驗儀的圓角A、圓角B比對待檢軸承套圈的圓角半徑，當所有比對合格時，則待檢軸承套圈倒角尺寸合格。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及軸承內外圈測量領域，是一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀。
技術介紹
滾動軸承的外圈外緣和內圈孔徑的徑向倒角及軸向倒角尺寸按國家標準GB/T274-2000有嚴格的規定，用戶根據使用的情況也會提出嚴格要求。在滾動軸承生產中檢驗中，軸承內外套圈軸向和徑向倒角尺寸一般通過目視或游標卡尺測量，較為繁瑣，準確率和效率較低。為此，有待對現有的軸承內外套圈檢測的方式和工具進行改進。
技術實現思路
為克服上述不足，本技術的目的是向本領域提供一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀，使其解決現有軸承內外套圈倒角合格檢驗操作繁瑣，檢驗效率較低的技術問題。其目的是通過如下技術方案實現的。一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀，其結構要點在于該校驗儀包括握手部，以及沿握手部兩端軸向凸起設置的左測量部、右測量部，所述左測量部包括軸向倒角上公差參考尺、軸向倒角下公差參考尺，軸向倒角上公差參考尺端部與軸向倒角下公差參考尺的端部之間形成一個軸向公差位，所述軸向倒角上公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的下差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的上差值，所述軸向倒角下公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的上差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的下差值；所述軸向倒角上公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角下公差參考尺槽，所述軸向倒角下公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角上公差參考尺槽，所述徑向倒角上公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的上差值，所述徑向倒角下公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的下差值；所述右測量部端部形成兩個圓角，分別為圓角A、圓角B，圓角A的半徑尺寸等于所述合格軸承套圈的圓角半徑尺寸的上差值，圓角B的半徑尺寸等于所述合格軸承套圈的圓角半徑尺寸的下差值。上述結構，是以合格軸承套圈的尺寸為模板，而設計了一種用于軸承內外圈倒角檢驗的專用工具，通過該工具可快速檢驗待檢軸承套圈的倒角尺寸是否合格，不僅檢驗操作簡單，且提高了檢驗準確性和效率，保證產品的合格率。所述握手部為直尺，方便一般的測量操作。該軸承內外圈倒角尺寸校驗儀的使用方法為：利用該校驗儀的軸向倒角上公差參考尺、軸向倒角下公差參考尺比對待檢軸承套圈的寬度尺寸，檢驗待檢軸承套圈的軸向倒角尺寸；利用校驗儀的徑向倒角上公差參考尺槽、徑向倒角下公差參考尺槽比對待檢軸承套圈的徑向倒角尺寸，檢驗待檢軸承套圈的徑向倒角尺寸；最后利用校驗儀的圓角A、圓角B比對待檢軸承套圈的圓角半徑，檢驗待檢軸承套圈的圓角半徑尺寸，當所有檢驗合格時，則待檢軸承套圈倒角尺寸合格，當有其中一項檢驗不合格時，則待檢軸承套圈倒角不合格。本技術結構較為簡單，軸承內外圈倒角尺寸檢驗較為方便、快捷，提高了檢驗準確性和效率，保證產品合格率，適合作為各類軸承套圈倒角尺寸檢驗工具使用，或同類檢驗產品的結構改進。附圖說明圖1是本技術的結構示意圖。圖2是本技術實施例的合格軸承套圈的尺寸結構示意圖。圖3是本技術使用時的軸承套圈倒角尺寸校驗結構示意圖。圖中序號及名稱為：1、握手部，2、左測量部，201、軸向倒角上公差參考尺，202、軸向倒角下公差參考尺，203、軸向公差位，204、徑向倒角上公差參考尺槽，205、徑向倒角下公差參考尺槽，3、右測量部，301、圓角A，302、圓角B，4、合格軸承套圈，401、寬度尺寸，402、徑向倒角尺寸，403、軸向倒角尺寸，404、圓角半徑尺寸。具體實施方式如圖1-3所示，本技術是以合格軸承套圈的倒角尺寸作為基準而設計制作，現以圖2所示的合格軸承套圈為實施例，對本技術做如下描述。如圖2所示，合格軸承套圈的寬度尺寸的上差值為7.10mm，下差值為7.07mm，合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的上差值為0.95mm，下差值為0.85mm，合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的上差值為0.60mm，下差值為0.50mm，合格軸承套圈的圓角半徑尺寸的上差值為0.6mm，下差值為0.5mm。根據上述尺寸，本技術的具體結構為：包括一塊直尺狀的握手部，以及凸起設置于握手部兩端的左測量部、右測量部，左測量部由兩個連體設置的軸向倒角上公差參考尺和軸向倒角下公差參考尺構成，且軸向倒角上公差參考尺軸向端部與軸向倒角下公差參考尺軸向端部形成一個軸向公差位，該軸向公差位尺寸即軸向倒角上公差參考尺尺寸與軸向倒角下公差參考尺尺寸的差。其中軸向倒角上公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的下差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的上差值7.07-0.95=6.12mm（即為軸向倒角上公差0.95mm）；軸向倒角下公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的上差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的下差值7.10-0.85=6.25mm（即為軸向倒角下公差0.85mm）。上述軸向倒角上公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角下公差參考尺槽，軸向倒角下公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角上公差參考尺槽，徑向倒角上公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的上差值，即0.60mm；徑向倒角下公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的下差值，即0.50mm。右測量部端部形成兩個圓角，分別為圓角A、圓角B，圓角A的半徑尺寸等于合格軸承套圈的圓角半徑上差值，即R0.6mm；圓角B的半徑尺寸等于合格軸承套圈的圓角半徑尺寸的下差值，即R0.5mm。本技術的具體使用方法參考圖3所示，利用該校驗儀的軸向倒角上公差參考尺、軸向倒角下公差參考尺比對待檢軸承套圈的寬度尺寸，從而檢驗待檢軸承套圈的軸向倒角尺寸；利用校驗儀的徑向倒角上公差參考尺槽、徑向倒角下公差參考尺槽比對待檢軸承套圈的徑向倒角尺寸，從而檢驗待檢軸承套圈的徑向倒角尺寸；最后利用校驗儀的圓角A、圓角B比對待檢軸承套圈的圓角半徑，從而檢驗待檢軸承套圈的圓角半徑尺寸，當所有檢驗合格時，則待檢軸承套圈倒角尺寸合格，當有其中一項檢驗不合格時，則待檢軸承套圈倒角不合格。以上內容旨在說明本技術的技術手段，并非限制本技術的技術范圍。本領域技術人員結合現有公知常識對本技術做顯而易見的改進，亦落入本技術權利要求的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀，其特征在于該校驗儀包括握手部（1），以及沿握手部兩端軸向凸起設置的左測量部（2）、右測量部（3），所述左測量部包括軸向倒角上公差參考尺（201）、軸向倒角下公差參考尺（202），軸向倒角上公差參考尺端部與軸向倒角下公差參考尺的端部之間形成一個軸向公差位（203），所述軸向倒角上公差參考尺的長度等于合格軸承套圈（4）的寬度尺寸（401）的下差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸（403）的上差值，所述軸向倒角下公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的上差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的下差值；所述軸向倒角上公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角下公差參考尺槽（205），所述軸向倒角下公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部徑向設置的徑向倒角上公差參考尺槽（204），所述徑向倒角上公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸（402）的上差值，所述徑向倒角下公差參考尺槽的徑向槽寬等于合格軸承套圈的徑向倒角尺寸的下差值；所述右測量部端部形成兩個圓角，分別為圓角A（301）、圓角B（302），圓角A的半徑尺寸等于所述合格軸承套圈的圓角半徑尺寸（404）的上差值，圓角B的半徑尺寸等于所述合格軸承套圈的圓角半徑尺寸的下差值。...

【技術特征摘要】
1. 一種軸承內外圈倒角尺寸校驗儀，其特征在于該校驗儀包括握手部（1），以及沿握手部兩端軸向凸起設置的左測量部（2）、右測量部（3），所述左測量部包括軸向倒角上公差參考尺（201）、軸向倒角下公差參考尺（202），軸向倒角上公差參考尺端部與軸向倒角下公差參考尺的端部之間形成一個軸向公差位（203），所述軸向倒角上公差參考尺的長度等于合格軸承套圈（4）的寬度尺寸（401）的下差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸（403）的上差值，所述軸向倒角下公差參考尺的長度等于合格軸承套圈的寬度尺寸的上差值減去合格軸承套圈的軸向倒角尺寸的下差值；所述軸向倒角上公差參考尺與握手部相連的根部設有沿握手部...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李芝根，樓志偉，
申請(專利權)人：寧波達爾機械科技有限公司，
類型：新型
國別省市：浙江;33