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    一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置制造方法及圖紙

    技術編號:13835385 閱讀:97 留言:0更新日期:2016-10-15 15:43
    本發明專利技術公開了一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其包括底座,所述底座上豎直設置有一支架,其中,所述支架的中部設置有用于放置待檢測產品的檢測平臺,所述待檢測產品上設置有套片,所述套片上開設有若干個對應所述待檢測產品上元器件設置的通孔,所述支架上于所述檢測平臺的上方設置有用于將待檢測產品進行放大的放大裝置。上述用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置不僅結構簡單,提高產品的檢驗效率;而且保證了檢測結果可靠準確,同時避免使用昂貴的AOI檢測設備,節約檢測成本。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術屬于SMT檢測
    ,尤其是涉及一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置
    技術介紹
    SMT(表面貼裝技術)行業,對于貼裝完成的產品需要進行外觀檢驗。外觀檢驗的目的主要檢查出電子元器件貼裝是否存在問題,如偏位,少料等。目前外觀檢測的方法主要有兩種,一種是利用光學檢測儀器AOI檢測,加上電腦的程序進行判斷;該方法AOI檢測設備價格非常昂貴,且效率較低,對于一些元器件較少,相對簡單的產品而言非常不適合。第二種方法就是目檢,利用人的眼睛進行觀察和判斷。由于人檢驗的時候沒有固定的規律容易漏檢,人的水平也參差不齊,容易出現各種誤判。
    技術實現思路
    本專利技術的目的在于提供一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其具有檢測成本低、檢測效率高和檢測結果可靠準確的特點,以解決現有技術中SMT貼裝產品外觀檢測過程中存在的上述問題。為達此目的,本專利技術采用以下技術方案:一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其包括底座,所述底座上豎直設置有一支架,其中,所述支架的中部設置有用于放置待檢測產品的檢測平臺,所述待檢測產品上設置有套片,所述套片上開設有若干個對應所述待檢測產品上元器件設置的通孔,所述支架上于所述檢測平臺的上方設置有用于將待檢測產品進行放大的放大裝置。特別地,所述放大裝置采用放大鏡,所述放大鏡的放大倍數為10~20倍。特別地,所述檢測平臺通過調節套可上下移動地設置于所述支架上。特別地,所述放大裝置通過調節套可上下移動地設置于所述支架上。特別地,所述調節套內設置有內螺紋,對應于所述支架上設置有外螺紋,所述調節套通過螺紋進行高度調節。本專利技術的有益效果為,與現有技術相比所述用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置通過將待檢測產品進行放大,提高人的視覺檢查能力,減少誤判顯現,保證了檢測結果可靠準確,提高產品的檢驗效率。同時避免使用昂貴的AOI檢測設備,節約檢測成本。附圖說明圖1是本專利技術具體實施方式1提供的用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置的結構示意圖;圖2是本專利技術具體實施方式1提供的用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置的套片的結構示意圖。具體實施方式下面結合附圖并通過具體實施方式來進一步說明本專利技術的技術方案。請參閱圖1和圖2所示,本實施例中,一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置包括底座1,所述底座1上豎直固定有一支架2,所述支架2的中部設置有用于放置待檢測產品3的檢測平臺4,所述待檢測產品3上設置有套片5,所述套片5上開設有若干個對應所述待檢測產品3上元器件設置的通孔6,即根據PCB焊盤位置或需要貼片的位置,在套片5上進行開孔,讓需要檢查的元器件暴露在套片開孔的地方,將不需要檢查的地方掩蓋,避免干擾項。所有需要檢查的電子元器件都通過對應的通孔6凸顯出來,少料,偏位等問題很容易就暴露
    出來。所述支架2上于所述檢測平臺4的上方設置有用于將待檢測產品3進行放大的放大鏡7,所述放大鏡7的放大倍數控制在10~20倍之間。所述檢測平臺4和放大鏡7均通過調節套8可上下移動地設置于所述支架1上。本實施例中,調節套8采用手動調節的方式,所述調節套8內設置有內螺紋,對應于所述支架1上設置有外螺紋,所述調節套8通過螺紋進行高度調節。當然,所述調節套也可采用自動的調節方式,即驅動電機通過傳動組件帶動調節套8沿支架1上下移動。上述用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置的具體檢測步驟為:1)將待檢測產品3放置在檢測平臺4上,2)調整檢查平臺4的視距至適合通過放大鏡7觀察的距離,3)將套片5放置到待檢測產品3對應的位置上;讓需要檢查的元器件暴露在套片開孔的地方;4)通過放大鏡7觀察套片5對應需要檢測位置上元器件情況;5)完成檢測。以上實施例只是闡述了本專利技術的基本原理和特性,本專利技術不受上述事例限制,在不脫離本專利技術精神和范圍的前提下,本專利技術還有各種變化和改變,這些變化和改變都落入要求保護的本專利技術范圍內。本專利技術要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其包括底座,所述底座上豎直設置有一支架,其特征在于,所述支架的中部設置有用于放置待檢測產品的檢測平臺,所述待檢測產品上設置有套片,所述套片上開設有若干個對應所述待檢測產品上元器件設置的通孔,所述支架上于所述檢測平臺的上方設置有用于將待檢測產品進行放大的放大裝置。

    【技術特征摘要】
    1.一種用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其包括底座,所述底座上豎直設置有一支架,其特征在于,所述支架的中部設置有用于放置待檢測產品的檢測平臺,所述待檢測產品上設置有套片,所述套片上開設有若干個對應所述待檢測產品上元器件設置的通孔,所述支架上于所述檢測平臺的上方設置有用于將待檢測產品進行放大的放大裝置。2.根據權利要求1所述的用于SMT貼裝產品外觀檢測的裝置,其特征在于,所述放大裝置采用放大鏡,所述放大鏡的放大倍數為...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:顧佳佳
    申請(專利權)人:無錫宇寧智能科技有限公司
    類型:發明
    國別省市:江蘇;32

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