一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具制造技術

本實用新型專利技術涉及一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具。測試支座通過三維調整機構連接在測試底座上，壓塊限位塊安裝在測試支座的頂部，壓塊限位塊中間開有槽口，測試壓塊置于壓塊限位塊的槽口內并能上下移動；在測試支座和壓塊限位塊之間安裝有兩根豎向的導向軸，測試壓塊上設有兩個導孔，測試壓塊通過其上的導孔與導向軸構成滑動導向配合；壓縮彈簧設置在測試支座和測試壓塊之間，壓縮彈簧下端連接測試支座，壓縮彈簧上端連接測試壓塊；測試壓塊頂部安裝測試絕緣塊，測試支座前后兩側分別夾緊有一個測試簧片，兩個測試簧片前后對稱。本實用新型專利技術能自動對集成電路進行位置校正，保證集成電路引腳與測試簧片接觸良好，提高測試質量。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種測試夾具，具體的說是一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，屬于集成電路測試分選設備

技術介紹
集成電路測試分選機用于對集成電路進行電性能測試并根據測試結果對集成電路進行分類。測試夾具是測試分選機的一個非常重要的部件。在測試分選機的工作過程中，真空吸筆吸取集成電路移動到測試分選機的測試夾具上方，通過機構控制真空吸筆下壓，把吸附在真空吸筆末端的集成電路的海鷗型引腳壓在測試夾具的測試簧片上，并一一對應，進行電性能測試。測試時要求集成電路的引腳與測試簧片位置對齊，因而集成電路引腳與測試簧片的接觸情況直接影響集成電路的測試結果。以往，由于集成電路體積較大，其引腳間距也較大，測試時對電路引腳與測試簧片接觸的位置精度要求不高，一般情況下不帶定位功能的測試夾具就能滿足測試要求。隨著終端消費電子的便攜化及節省電力等的要求，超小型封裝形式的集成電路數量迅猛增長，目前已經占到了集成電路市場總量的70%以上，其主要特征表現為芯片體積小、引腳多且密集、集成功能強大，因此對測試夾具的要求較高。如果集成電路引腳與測試簧片間的定位不夠精確，可能會造成集成電路引腳與測試簧片接觸不到位，導致測試良率低下，甚至造成集成電路引腳間短路，燒毀集成電路。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術中存在的不足，提供一種用于集成電路測試分選機的測試夾具，具有集成電路自動定位功能，能夠在真空吸筆吸附集成電路下壓的過程中，自動對集成電路進行位置校正，保證集成電路引腳與測試簧片接觸良好，從而提高測試質量。按照本專利技術提供的技術方案：一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，包括測試底座、測試支座、壓塊限位塊、測試壓塊、測試絕緣塊、壓縮彈簧、導向軸和測試簧片；所述測試支座通過三維調整機構連接在測試底座上，壓塊限位塊安裝在測試支座的頂部，壓塊限位塊中間開有槽口；所述測試壓塊置于壓塊限位塊的槽口內并能上下移動，壓塊限位塊限制著測試壓塊向上移動的行程；在測試支座和壓塊限位塊之間安裝有兩根豎向的導向軸，所述測試壓塊上設有兩個導孔，測試壓塊通過其上的導孔與所述導向軸構成滑動導向配合；壓縮彈簧設置在測試支座和測試壓塊之間，壓縮彈簧下端連接測試支座，壓縮彈簧上端連接測試壓塊，測試壓塊可沿導向軸在壓縮彈簧作用下上下往復移動；所述測試壓塊頂部安裝著用于承托集成電路的測試絕緣塊，所述測試支座前后兩側分別用簧片固定組件夾緊有一個用于與集成電路引腳接觸的測試簧片，兩個測試簧片前后對稱。作為本專利技術的進一步改進，所述三維調整機構包括水平調節塊、下豎直調節塊和上豎直調節塊；所述水平調節塊放置在測試底座上并通過橫向調整組件和縱向調整組件與之連接；所述橫向調整組件安裝在測試底座右端，橫向調整組件包括橫向調節螺栓、橫向調節墊片、橫向調節滑塊和橫向定位銷，所述測試底座右端中部設有橫向滑槽，所述橫向調節滑塊置于橫向滑槽內，所述橫向調節墊片固定在測試底座右端面上，所述橫向調節螺栓螺紋連接在橫向調節墊片上，橫向調節螺栓內端與橫向調節滑塊螺紋連接，橫向調節螺栓旋轉時帶動橫向調節滑塊在橫向滑槽內左右滑動；所述橫向定位銷下端固定在橫向調節滑塊上，橫向定位銷上端活動插接在水平調節塊上的銷孔內；所述橫向調節滑塊通過橫向定位銷與水平調節塊連接；所述縱向調整組件安裝在測試底座側邊，縱向調整組件包括縱向調節螺栓、縱向調節墊片、縱向調節滑塊和縱向定位銷，所述測試底座內設有縱向滑槽，所述縱向調節滑塊置于縱向滑槽內，所述縱向調節墊片固定在測試底座側邊上，所述縱向調節螺栓螺紋連接在縱向調節墊片上，縱向調節螺栓內端與縱向調節滑塊螺紋連接，縱向調節螺栓旋轉時帶動縱向調節滑塊在縱向滑槽內前后滑動；所述縱向定位銷下端固定在縱向調節滑塊上，縱向定位銷上端活動插接在水平調節塊上的橫向腰形孔內；所述下豎直調節塊通過第一螺栓連接在水平調節塊上，所述上豎直調節塊通過第二螺栓連接在下豎直調節塊上，所述下豎直調節塊上用于安裝第二螺栓的孔為豎向腰形孔；所述測試支座連接在上豎直調節塊上。作為本專利技術的進一步改進，所述簧片固定組件包括簧片固定橫塊和簧片C型固定塊，所述簧片固定橫塊和簧片C型固定塊分別固定連接在測試支座側面，所述測試簧片夾緊在簧片固定橫塊、簧片C型固定塊與測試支座之間。作為本專利技術的進一步改進，所述簧片固定橫塊上加工有長槽，所述簧片C型固定塊的橫框上安裝有兩件能夠左右移動調整的簧片卡塊，兩件簧片卡塊卡在測試簧片兩側，通過左右橫移調整簧片卡塊就可以微調測試簧片的位置。作為本專利技術的進一步改進，所述壓塊限位塊的槽口上方設有斜坡面且左右對稱。作為本專利技術的進一步改進，所述測試絕緣塊的上表面設有凹槽，所述凹槽的前后邊內壁面均為斜坡面且相互對稱。作為本專利技術的進一步改進，所述凹槽的前后邊內壁面均為弧形斜坡面。作為本專利技術的進一步改進，所述測試壓塊與測試絕緣塊之間通過外輪廓卡緊固定。作為本專利技術的進一步改進，所述測試壓塊為非導電金屬材料，所述測試絕緣塊為硬質塑料類非金屬材料。本專利技術與已有技術相比，具有以下優點：本專利技術結構簡單、緊湊、合理，具有集成電路定位功能，能夠在真空吸筆末端吸附集成電路下壓過程中，對集成電路進行位置調整和定位，提高了集成電路的引腳和測試簧片的接觸精度，進而提高了測試的質量。附圖說明圖1為本專利技術實施例的立體結構示意圖。圖2為圖1中A部放大圖。圖3為本專利技術實施例的結構剖視圖。圖4為圖3中的局部放大圖。附圖標記說明：1-測試底座、2-水平調節塊、3-下豎直調節塊、4-上豎直調節塊、5-測試支座、6-壓塊限位塊、7-測試壓塊、8-測試絕緣塊、9-壓縮彈簧、10-導向軸、11-簧片固定橫塊、12-簧片C型固定塊、13-簧片卡塊、14-測試簧片、15-真空吸筆、16-集成電路、17.1-橫向調節螺栓、18.1-橫向調節墊片、19.1-橫向調節滑塊、20.1-橫向定位銷、17.2-縱向調節螺栓、18.2-縱向調節墊片、19.2-縱向調節滑塊、20.2-縱向定位銷、21-第一螺栓、22-第二螺栓。具體實施方式下面結合具體附圖和實施例對本專利技術作進一步說明。如圖所示：實施例是一種具有定位功能的用于集成電路16測試分選機的測試夾具，其主要由測試底座1、水平調節塊2、下豎直調節塊3、上豎直調節塊4、測試支座5、壓塊限位塊6、測試壓塊7、測試絕緣塊8、壓縮彈簧9、導向軸10、簧片固定橫塊11、簧片C型固定塊12、簧片卡塊13、測試簧片14、橫向調節螺栓17.1、橫向調節墊片18.1、橫向調節滑塊19.1、橫向定位銷20.1、縱向調節螺栓17.2、縱向調節墊片18.2、縱向調節滑塊19.2、縱向定位銷20.2、第一螺栓21和第二螺栓22等組成。如圖1~圖4所示，所述測試支座5通過三維調整機構連接在測試底座1上，壓塊限位塊6安裝在測試支座5的頂部，壓塊限位塊6中間開有槽口，所述測試壓塊置7于壓塊限位塊6的槽口內并能上下移動，壓塊限位塊6限制著測試壓塊7向上移動的行程；在測試支座5和壓塊限位塊6之間安裝有兩根豎向的導向軸10，所述測試壓塊7上設有兩個導孔，測試壓塊7通過其上的導孔與所述導向軸10構成滑動導向配合；壓縮彈簧9設置在測試支座5和測試壓塊7之間，壓縮彈簧9下端連接測試支座5，壓縮彈簧9上端連接測試壓塊7，本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，包括測試底座（1）、測試支座（5）、壓塊限位塊（6）、測試壓塊（7）、測試絕緣塊（8）、壓縮彈簧（9）、導向軸（10）和測試簧片（14）；所述測試支座（5）通過三維調整機構連接在測試底座（1）上，壓塊限位塊（6）安裝在測試支座（5）的頂部，壓塊限位塊（6）中間開有槽口，所述測試壓塊（7）置于壓塊限位塊（6）的槽口內并能上下移動，壓塊限位塊（6）限制著測試壓塊（7）向上移動的行程；在測試支座（5）和壓塊限位塊（6）之間安裝有兩根豎向的導向軸（10），所述測試壓塊（7）上設有兩個導孔，測試壓塊（7）通過其上的導孔與所述導向軸（10）構成滑動導向配合；壓縮彈簧（9）設置在測試支座（5）和測試壓塊（7）之間，壓縮彈簧（9）下端連接測試支座（5），壓縮彈簧（9）上端連接測試壓塊（7），測試壓塊（7）可沿導向軸（10）在壓縮彈簧（9）作用下上下往復移動；所述測試壓塊（7）頂部安裝著用于承托集成電路（16）的測試絕緣塊（8），所述測試支座（5）前后兩側分別用簧片固定組件夾緊有一個用于與集成電路（16）引腳接觸的測試簧片（14），兩個測試簧片（14）前后對稱。...

【技術特征摘要】
1.一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，包括測試底座（1）、測試支座（5）、壓塊限位塊（6）、測試壓塊（7）、測試絕緣塊（8）、壓縮彈簧（9）、導向軸（10）和測試簧片（14）；所述測試支座（5）通過三維調整機構連接在測試底座（1）上，壓塊限位塊（6）安裝在測試支座（5）的頂部，壓塊限位塊（6）中間開有槽口，所述測試壓塊（7）置于壓塊限位塊（6）的槽口內并能上下移動，壓塊限位塊（6）限制著測試壓塊（7）向上移動的行程；在測試支座（5）和壓塊限位塊（6）之間安裝有兩根豎向的導向軸（10），所述測試壓塊（7）上設有兩個導孔，測試壓塊（7）通過其上的導孔與所述導向軸（10）構成滑動導向配合；壓縮彈簧（9）設置在測試支座（5）和測試壓塊（7）之間，壓縮彈簧（9）下端連接測試支座（5），壓縮彈簧（9）上端連接測試壓塊（7），測試壓塊（7）可沿導向軸（10）在壓縮彈簧（9）作用下上下往復移動；所述測試壓塊（7）頂部安裝著用于承托集成電路（16）的測試絕緣塊（8），所述測試支座（5）前后兩側分別用簧片固定組件夾緊有一個用于與集成電路（16）引腳接觸的測試簧片（14），兩個測試簧片（14）前后對稱。2.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于：所述三維調整機構包括水平調節塊（2）、下豎直調節塊（3）和上豎直調節塊（4）；所述水平調節塊（2）放置在測試底座（1）上并通過橫向調整組件和縱向調整組件與之連接；所述橫向調整組件安裝在測試底座（1）右端，橫向調整組件包括橫向調節螺栓（17.1）、橫向調節墊片（18.1）、橫向調節滑塊（19.1）和橫向定位銷（20.1），所述測試底座（1）右端中部設有橫向滑槽，所述橫向調節滑塊（19.1）置于橫向滑槽內，所述橫向調節墊片（18.1）固定在測試底座（1）右端面上，所述橫向調節螺栓（17.1）螺紋連接在橫向調節墊片（18.1）上，橫向調節螺栓（17.1）內端與橫向調節滑塊（19.1）螺紋連接，橫向調節螺栓（17.1）旋轉時帶動橫向調節滑塊（19.1）在橫向滑槽內左右滑動；所述橫向定位銷（20.1）下端固定在橫向調節滑塊（19.1）上，橫向定位銷（20.1）上端活動插接在水平調節塊（2）上的銷孔內；所述橫向調節滑塊（19.1）通過橫向定位銷（20.1）與水平調節塊（2）連接；所述縱向調整組件安裝在測試底座（1）側邊，縱向調整組件包括縱向調節螺栓（17.2）、縱向調節墊片（18.2）、縱向調節滑塊（19.2）和縱向定...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張佳佳，張亞軍，李丹，張海清，
申請(專利權)人：中科芯集成電路股份有限公司，
類型：新型
國別省市：江蘇;32