一種光學準直測量儀的校正設備,用以校正一光學準直測量儀所投射出之一光學準直線于一準直位置,包含:光電檢測裝置包括第一太陽能板與第二太陽能板,且第一太陽能板與第二太陽能板于基線上的偏移位置之受光面長度之長度差值隨著自基線偏移之偏移幅度而不同,以在光學準直線投射時,而由第一太陽能板與第二太陽能板分別輸出不同的對應電流;分析裝置接收并處理其二對應電流而分析出光學準直線與基線之間的偏移位置信息;以及輸出裝置輸出偏移位置信息,以供校正者調整光學準直線;藉由偏移位置信息之電路分辨率取代影像分辨率,而提高精密度并縮短設備占用之空間。
【技術實現步驟摘要】
本技術關于一種光學準直測量儀,特別是關于一種光學準直測量儀的校正設備。
技術介紹
在工程施作時,因設計或功能的需求常需要測量準直線。目前最常見的是建筑或土木工程工程開始時的放樣及定位,因建筑物的主架構及地面的平整,而需要精確測量水平準直線或垂直準直線。傳統測量準直線的方式則是施作人員使用測量工具分別在不同位置劃線定位而形成一條準直線,但這種方式測量十分費時也時常產生誤差。而今科技日新月異,測量直線的方式隨著發展而替代為使用光學準直測量儀投射出光學準直線,不用多點測量及注記而省下繁復的傳統準直線量測,也較為精準。目前光學準直測量儀的種類有很多,有發射一條或多條光學準直線之光學準直測量儀,如:水平儀(水平光學準直線)、垂線儀(垂直光學準直線)、十字儀(水平光學準直線及垂直光學準直線十字交錯于單面)等,最后發展出結合水平與垂直之功能而能投射在四面且包含多條垂直及水平之光學準直線的墨線儀。目前光學準直測量儀因準直的需求而延伸至各種用途,甚至包括精準設備的設置之用途,故光學準直測量儀的精準度相對也變的非常重要。因此,光學準直測量儀在出廠前必須將光學準直線調校至準直位置,也必須要定期保養檢查及定期校正光學準直測量儀之光學準直線的準直位置。目前光學準直測量儀校正方式為將光學準直線調校于準直位置之基線上,而精密度的標準為20角秒。在習知技術中,使用CCD感光檢測裝置的校正設備,以CCD檢測板體配置于基線上而受光學準直線投射而感光,而直接擷取光學準 直線與CCD檢測板體之基線的位置影像,而以人眼辨識光學準直線與CCD檢測板體之基線的偏移,而調整至光學準直線與CCD檢測板體之基線的位置幾乎無誤差。然而,光學準直線與基線的誤差距離至少要達到0.48mm人眼才能在影像上辨識;而光學準直線與基線在精密度為20角秒的狀況下,誤差距離要達到0.48mm,則CCD檢測板體與光學準直線的距離至少要有5m以上。再者,如果光學準直測量儀投射出多條光學準直線于二維空間或三維空間,則CCD檢測板體必須至少分別設置在25m2或125m3的平面或空間上。若有比標準更高的精密度需求或具有多項配置的光學準直線(如墨線儀),則需要更大的空間來放置校正設備,而造成極大的浪費。但是,如果沒有寬敞的空間設置校正設備,則對于光學準直測量儀之校正的精密度相對也會降低而無法達到標準。
技術實現思路
鑒于以上所述,習知技術中之光學準直測量儀的校正設備,以CCD擷取光學準直線之影像位置,而有占用空間及精密度無法兼顧之缺點,實有改良之必要。緣此,本技術的目的在于提供一種光學準直測量儀的校正設備,能夠兼顧空間之節省與精密度之維持。本技術為解決習知技術之問題所采用之技術手段系提供一種光學準直測量儀的校正設備,用以校正一光學準直測量儀所投射出之一光學準直線于一準直位置,該校正設備包含:一光電檢測裝置,包括一第一太陽能板及一第二太陽能板,該第一太陽能板與該第二太陽能板系依據作為該準直位置的一基線而設置,該基線系為一水平基線及/或一垂直基線,而使該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線上之受光面長度系為相等,以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等,且該第一太 陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同,以在該光學準直線投射于該第一太陽能板與該第二太陽能板時,隨著各受光位置上之受光長度之不同而由該第一太陽能板與該第二太陽能板分別發電輸出對應電流大小的一第一電力及一第二電力;一分析裝置,具有一訊號處理單元及一計算分析單元,該訊號處理單元電連接于該光電檢測裝置,而接收并處理該第一電力及該第二電力而得到關于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發電差信息,該計算分析單元電連接于該訊號處理單元,而根據該發電差信息以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值而計算分析出該光學準直線與該準直位置之間的一偏移位置信息;以及一輸出裝置,訊號連接于該處理單元,而輸出該處理單元之該偏移位置信息,以供校正者調整該光學準直測量儀所投射出之光學準直線。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該第一太陽能板與該第二太陽能板系經設置而隨著自該基線偏移之偏移幅度愈大,該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值之絕對值愈大。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該第一太陽能板與該第二太陽能板系經設置而隨著自該基線偏移之偏移方向之不同,該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值具有相反之正負符號。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該第一太陽能板與該第二太陽能板系為相同大小之直角三角形板體且斜邊相互連接而形成長方形板體之一檢測板體。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體,以及該光電檢測裝置系具有復數個該檢測板體,該復數個檢測板體系依據同一基線而設置,且該復數個檢測板體在該基線上系為相互間隔。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體,以及該光電檢測裝置系具有復數個該檢測板體,該復數個檢測板體系分別依據該水平基線及該垂直基線而設置。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該水平基線系為水平環繞360度之基線,該垂直基線系為垂直環繞360度之基線,該復數個檢測板體系分別設置在該水平基線及該垂直基線的不同環繞角度位置。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,其中該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體,該檢測板體更包括一濾光板,該濾光板覆蓋于該第一太陽能板與該第二太陽能板之一受光表面,用以過濾向該第一太陽能板與該第二太陽能板投射的該光學準直線。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該訊號處理單元包括一訊號放大單元、一差值放大單元及一模擬數字轉換單元;該訊號放大單元電連接于該光電檢測裝置,而接收該第一電力及該第二電力,而轉換電力為電壓且放大輸出一第一電壓放大訊號及一第二電壓放大訊號;該差值放大單元訊號連接于該訊號放大單元,用以計算差值而放大,而得到一電壓差訊號;該模擬數字轉換單元訊號連接于該差值放大單元,用以將模擬訊號轉換至數字訊號,而根據該電壓差訊號而得到關于該第一太陽能板與該第二太陽 能板之發電差信息而傳輸于該處理單元。在本技術的一實施例中系提供一種光學準直測量儀的校正設備,該輸出裝置系為一無線訊號輸出裝置。本技術的目的在于提供一種光學準直測量儀的校正設備,能夠以光電檢測裝置之第一太陽能板與第二太陽能板在不同受光位置,而產生的發電差信息,而計算分析出光學準直線之偏移位置信息,藉由第一太陽能板與第二太陽能板之發電差信息及分析設備之偏移位置信息取代影像信息,即為以電路分辨率取代需要以距離提高精密度之影像分辨率,而達成空間之節省與精密度之維持。附圖說明圖1為顯示根據本技術的一實施例的光學準直測量儀的校正設備的立體圖。圖2為顯示根據本實用本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種光學準直測量儀的校正設備,用以校正一光學準直測量儀所投射出之一光學準直線于一準直位置,該校正設備包含:一光電檢測裝置,包括一第一太陽能板及一第二太陽能板,該第一太陽能板與該第二太陽能板系依據作為該準直位置的一基線而設置,該基線系為一水平基線及/或一垂直基線,而使該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線上之受光面長度系為相等,以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等,且該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同,以在該光學準直線投射于該第一太陽能板與該第二太陽能板時,隨著各受光位置上之受光長度之不同而由該第一太陽能板與該第二太陽能板分別發電輸出對應電流大小的一第一電力及一第二電力;一分析裝置,具有一訊號處理單元及一計算分析單元,該訊號處理單元電連接于該光電檢測裝置,而接收并處理該第一電力及該第二電力而得到關于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發電差信息,該計算分析單元電連接于該訊號處理單元,而根據該發電差信息以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值而計算分析出該光學準直線與該準直位置之間的一偏移位置信息;以及一輸出裝置,訊號連接于該計算分析單元,而輸出該計算分析單元之該偏移位置信息,以供校正者調整該光學準直測量儀所投射出之光學準直線。...
【技術特征摘要】
1.一種光學準直測量儀的校正設備,用以校正一光學準直測量儀所投射出之一光學準直線于一準直位置,該校正設備包含:一光電檢測裝置,包括一第一太陽能板及一第二太陽能板,該第一太陽能板與該第二太陽能板系依據作為該準直位置的一基線而設置,該基線系為一水平基線及/或一垂直基線,而使該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線上之受光面長度系為相等,以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等,且該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同,以在該光學準直線投射于該第一太陽能板與該第二太陽能板時,隨著各受光位置上之受光長度之不同而由該第一太陽能板與該第二太陽能板分別發電輸出對應電流大小的一第一電力及一第二電力;一分析裝置,具有一訊號處理單元及一計算分析單元,該訊號處理單元電連接于該光電檢測裝置,而接收并處理該第一電力及該第二電力而得到關于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發電差信息,該計算分析單元電連接于該訊號處理單元,而根據該發電差信息以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值而計算分析出該光學準直線與該準直位置之間的一偏移位置信息;以及一輸出裝置,訊號連接于該計算分析單元,而輸出該計算分析單元之該偏移位置信息,以供校正者調整該光學準直測量儀所投射出之光學準直線。2.如權利要求1所述的光學準直測量儀的校正設備,其中該第一太陽能板與該第二太陽能板系經設置而隨著自該基線偏移之偏移幅度愈大,該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值之絕對值愈大。3.如權利要求1所述的光學準直測量儀的校正設備,其中該第一太陽能板與該第二太陽能板系經設置而隨著自該基線偏移之偏移方向之不同,該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值具有相反之正負符號。4.如權利要求1...
【專利技術屬性】
技術研發人員:吳有勝,簡戴鎮,
申請(專利權)人:上輝精密儀器有限公司,
類型:新型
國別省市:中國臺灣;71
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