本發明專利技術涉及一種實驗用噴口及使用該噴口的滅弧室溫度測量裝置，一種滅弧室溫度測量裝置，包括動端組件、靜端組件和安裝于動端組件上的噴口，動端組件包括動弧觸頭和壓氣缸，靜端組件包括靜弧觸頭和靜弧觸座，噴口包括噴口本體，噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔，滅弧室溫度測量裝置還包括光譜儀及將采光孔中的電弧光引至光譜儀中的光纖，噴口內部的電弧光通過采光孔透出，電弧出現時間很短，通過光纖將電弧光引至光譜儀中，可以精確的測量滅弧室在工作過程中噴口內的電弧的溫度，與現有技術相比，本溫度測量裝置測量偏差較小。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種實驗用噴口及使用該噴口的滅弧室溫度測量裝置。
技術介紹
斷路器包括殼體和設置于殼體內部的滅弧室，滅弧室主要包括動弧觸頭、靜弧觸頭、靜弧觸頭座、壓氣缸和噴口等，動弧觸頭和靜弧觸頭在開斷過程中會出現燃弧放電的現象，產生熱量，如果熱量過高將會導致動、靜弧觸頭發生熔焊，因此，對電弧的溫度進行檢測是十分必要的。目前針對SF6高壓斷路器滅弧室開斷過程中溫度特性測量的研究很少，由于真實的高壓斷路器開斷額定短路電流過程中伴隨高氣壓、強電流和高溫，很難對實際工況下的高壓斷路器內部的溫度進行測量，一般都是采用虛擬樣機技術來測量斷路器模型中電弧溫度來分析斷路器各處的溫度分布，進一步指導對斷路器的設計，但是采用虛擬樣機技術運用的是設計人員的想象與經驗融合在一起設定一些參數，所述對高壓斷路器的溫度測量始終存在著偏差，不能真實的反應高壓斷路器內部的溫度情況。授權公告號為CN202712001的中國技術專利公開了一種開關電弧發生測試裝置，包括動端組件、靜端組件和安裝于動端組件上的噴口，動端組件包括動弧觸頭和壓氣缸，靜端組件包括靜弧觸頭和靜弧觸座，噴口上設置有用于檢測電弧溫度的溫度測量傳感器，但是該溫度測量傳感器通過測試噴口內被電弧加熱的氣體的溫度而不能直接測量電弧的溫度，導致檢測結果偏差較大。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術中存在的問題而提供一種能夠直接對電弧溫度進行測量的測量精度高的實驗用噴口及使用該噴口的滅弧室溫度測量裝置。本專利技術的一種實驗用噴口采用如下技術方案：一種實驗用噴口，包括用于固設于動端組件上的噴口本體，所述噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔。所述噴口本體的外側設置有供光纖安裝的安裝塊，安裝塊上與采光孔對應設置有供光纖由外向內插裝的安裝孔。所述采光孔為沿噴口本體的軸線方向間隔設置的多個。本專利技術的一種滅弧室溫度測量裝置采用如下技術方案：一種滅弧室溫度測量裝置，包括動端組件、靜端組件和安裝于動端組件上的噴口，動端組件包括動弧觸頭和壓氣缸，靜端組件包括靜弧觸頭和靜弧觸座，噴口包括噴口本體，所述噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔，所述滅弧室溫度測量裝置還包括光譜儀及將采光孔中的電弧光引至光譜儀中的光纖。所述噴口本體的外側設置有供光纖安裝的安裝塊，安裝塊上與采光孔對應設置有供光纖由外向內插裝的安裝孔。所述采光孔為沿噴口本體的軸線方向間隔設置的多個。所述靜弧觸頭在分閘時位于噴口內部。所述滅弧室溫度測量裝置還包括用于測量靜弧觸頭座和壓氣缸內部絕緣氣體溫度的氣體溫度測量裝置，氣體溫度測量裝置包括分別安裝于靜弧觸頭座上和壓氣缸上的熱電偶和與熱電偶電連接的示波器，熱電偶的測量頭分別與靜弧觸頭座和壓氣缸內部的氣體相接觸。所述示波器和光譜儀對應設置于噴口的左右兩側。本專利技術的有益效果為：噴口內部的電弧光通過采光孔透出，噴口中動弧觸頭和靜弧觸頭之間的電弧出現時間很短，通過光纖將電弧光引至光譜儀中進行分析與檢測，可以精確的測量滅弧室在工作過程中噴口內的動弧觸頭和靜弧觸頭之間發生燃弧后電弧的溫度，與現有技術相比，本溫度測量裝置測量偏差較小。進一步地，由于瞬間產生的電弧的溫度相當高，如果光纖離電弧太近，則光纖就會被燒壞，通過在噴口本體的外壁上設置安裝塊來拉長光纖與電弧之間的距離以保護光纖。進一步地，電弧產生后會對滅弧室內部的氣體進行加熱，通過氣體溫度測量裝置來檢測靜弧觸座和壓氣缸內部氣體溫度的變化，分析電弧對靜弧觸座和壓氣缸內氣體溫度的影響。附圖說明圖1為本專利技術的一種滅弧室溫度測量裝置的一個實施例的結構示意圖。具體實施方式一種滅弧室溫度測量裝置，如圖1所示，包括封閉殼體，封閉殼體為待檢測的氣體絕緣金屬封閉式高壓斷路器的斷路器殼體13，斷路器殼體13內部設置有滅弧室，斷路器殼體13內部充有SF6絕緣氣體，滅弧室包括動動端組件、靜端組件和安裝于動端組件上的噴口，動端組件包括動弧觸頭9和壓氣缸8，靜端組件包括靜弧觸頭4和靜弧觸座3。滅弧室溫度測量裝置包括用于測量電弧溫度的電弧溫度測量裝置和用于測量靜弧觸座和壓氣缸內部氣體的氣體溫度測量裝置，噴口7包括軸線沿上下方向延伸的噴口本體，噴口本體為筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有沿軸向方向間隔設置的供電弧光透過的多個采光孔14，電弧溫度測量裝置包括光纖6和與光纖6光連接的光譜儀12，噴口本體的外側設置有供光纖6固定安裝的安裝塊5，安裝塊5上與采光孔14對應設置有供光纖6由外向內插裝的安裝孔15，由于瞬間產生的電弧的溫度相當高，如果光纖離電弧太近，則光纖就會被燒壞，通過在噴口本體的外壁上設置安裝塊來拉長光纖與電弧之間的距離以保護光纖。靜弧觸頭4在分合閘過程中均位于噴口7內部。斷路器殼體13上設置有供光纖6穿過的光纖穿孔，斷路器殼體13上于光纖穿孔處設置有光纖密封接頭11用于密封斷路器殼體13。氣體溫度測量裝置包括分別安裝于靜弧觸頭座3上和壓氣缸8上的熱電偶2和通過導線與熱電偶2電連接的示波器1，熱電偶2的測量頭分別與靜弧觸頭座3和壓氣缸8內部的氣體相接觸，靜弧觸座3和壓氣缸8上均設置有供熱電偶2穿過的熱電偶穿裝孔，斷路器殼體13上設置有供連接熱電偶2和示波器1的導線穿裝的導線穿裝孔，斷路器殼體13上于導線處安裝孔處設置有導線密封接頭10用以密封斷路器殼體13，示波器1和光譜儀12對應設置于斷路器殼體13的左右兩側。本專利技術的一種滅弧室溫度測量裝置，在壓氣缸8和靜弧觸頭座3上安裝快速響應熱電偶2測量滅弧室上下游的氣體溫度，在噴口7上打孔安裝光纖6，將噴口7中電弧發出的光通過光纖6引到光譜儀12中，光譜儀12分析出需要的光譜，并利用相對強度法分析出電弧的溫度，可以精確的測量滅弧室在工作過程中噴口內的動弧觸頭和靜弧觸頭之間發生燃弧后電弧的溫度，與現有技術相比，本溫度測量裝置測量偏差較小。在本專利技術的一種滅弧室溫度測量裝置的其他實施例中，噴口本體的筒壁也可以做的比較厚，此時可以省去安裝塊，直接將光纖插入采光孔中；采光孔的數量可根據實際需要進行調整，也可以只有一個；示波器和光譜儀可以設置于斷路器殼體的一側；封閉殼體也可以不采用斷路器殼體，而單獨設置一個密閉的殼體。一種實驗用噴口的實施例與上述一種滅弧室溫度測量裝置的各實施例中的噴口的實施例相同，此處不再贅述。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種實驗用噴口，包括用于固設于動端組件上的噴口本體，其特征在于：所述噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔。
【技術特征摘要】
1.一種實驗用噴口，包括用于固設于動端組件上的噴口本體，其特征在于：所述噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔。2.根據權利要求1所述的一種實驗用噴口，其特征在于：所述噴口本體的外側設置有供光纖安裝的安裝塊，安裝塊上與采光孔對應設置有供光纖由外向內插裝的安裝孔。3.根據權利要求1所述的一種實驗用噴口，其特征在于：所述采光孔為沿噴口本體的軸線方向間隔設置的多個。4.一種滅弧室溫度測量裝置，包括動端組件、靜端組件和安裝于動端組件上的噴口，動端組件包括動弧觸頭和壓氣缸，靜端組件包括靜弧觸頭和靜弧觸座，噴口包括噴口本體，其特征在于：所述噴口本體為軸線沿上下方向延伸的筒體結構，噴口本體的筒壁上設置有在使用時供電弧光通過的采光孔，所述滅弧室溫度測量裝置還包括光譜儀及將采光孔中的電弧光引至光譜儀中的光纖。5.根...
【專利技術屬性】
技術研發人員：楊志勇，吳軍輝，程鐵漢，唐誠，高樹同，
申請(專利權)人：平高集團有限公司，國家電網公司，
類型：發明
國別省市：河南;41
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