一種屏模組、電子設(shè)備及屏模組的微裂紋檢測方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種屏模組、電子設(shè)備及屏模組的微裂紋檢測方法。本發(fā)明專利技術(shù)中，屏模組包含：玻璃基板、觸摸檢測層、屏驅(qū)動(dòng)芯片，N條檢測線、N個(gè)連接引腳以及N個(gè)檢測單元；觸摸檢測層鋪設(shè)在玻璃基板上；N個(gè)檢測單元設(shè)置于屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)；N個(gè)檢測線與N個(gè)連接引腳均設(shè)置于觸摸檢測層的顯示功能區(qū)外圍；顯示功能區(qū)外圍設(shè)有N個(gè)檢測區(qū)域，各檢測區(qū)域設(shè)有一檢測線；N條檢測線一端接地，另一端對(duì)應(yīng)連接至N個(gè)連接引腳；N個(gè)連接引腳與N個(gè)檢測單元對(duì)應(yīng)連接；N個(gè)檢測單元用于檢測N條檢測線是否導(dǎo)通。通過對(duì)各個(gè)檢測線的導(dǎo)通狀況的檢測，檢測出各個(gè)檢測區(qū)域是否存在微裂紋，有效的檢測出了存在微裂紋的屏模組，以及微裂紋的存在位置。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及電子
，特別涉及一種屏模組、電子設(shè)備及屏模組的微裂紋檢測方法。
技術(shù)介紹
近年來，隨著數(shù)字技術(shù)及電子顯示器件的飛速發(fā)展，顯示技術(shù)正在發(fā)生根本性的變革，越來越多的屏幕被廣泛使用在各種領(lǐng)域。電子設(shè)備中所采用的屏幕大多都是玻璃制程的高精度器件所組成的屏模組，屏模組作為電子設(shè)備的的主要部件之一，其質(zhì)量起著決定性的作用。目前，很多不良的屏模組出廠商由于生產(chǎn)成本壓力的加大，會(huì)把一些有缺陷，但不影響正常功能的屏模組出貨給電子設(shè)備生產(chǎn)商，如屏幕的非顯示功能區(qū)具有微裂紋。然而，電子設(shè)備生產(chǎn)商并不能直接排查出存在問題的屏模組，有些不良屏模組會(huì)在設(shè)備生產(chǎn)過程中暴露問題；而有的不良屏模組則是在到達(dá)消費(fèi)者手中后才暴露問題，從而引起用戶不滿，客退客訴。由此可見，不良的屏模組不僅會(huì)給電子設(shè)備生產(chǎn)商造成經(jīng)濟(jì)損失，而且會(huì)給生產(chǎn)商的品牌聲譽(yù)帶來非常不好的影響。并且，隨著人們對(duì)電子設(shè)備的外觀要求越來越高，使得現(xiàn)今的電子設(shè)備趨向于超薄、無邊框的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。這就造成了電子設(shè)備的整機(jī)對(duì)屏幕的保護(hù)越來越弱，使得屏幕破損成為電子設(shè)備生產(chǎn)過程以及售后維修的一大主要問題，容易給人們?cè)斐奢^大的經(jīng)濟(jì)損失。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于提供一種屏模組、電子設(shè)備及屏模組的微裂紋檢測方法，能夠?qū)ζ聊＝M的顯示功能區(qū)外圍是否存在微裂紋進(jìn)行識(shí)別檢測，并能檢測出顯示功能區(qū)外圍的哪一位置存在微裂紋，有效的降低了不良屏模組給電子設(shè)備生產(chǎn)商帶來的經(jīng)濟(jì)損失。為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)的實(shí)施方式提供了一種屏模組，包含：玻璃基板、觸摸檢測層、屏驅(qū)動(dòng)芯片，其特征在于，還包含：N條檢測線、N個(gè)連接引腳以及N個(gè)檢測單元；其中，N為自然數(shù)；觸摸檢測層鋪設(shè)在玻璃基板上；N個(gè)檢測單元設(shè)置于屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)；N個(gè)檢測線與N個(gè)連接引腳均設(shè)置于觸摸檢測層的顯示功能區(qū)外圍；其中，顯示功能區(qū)外圍設(shè)有N個(gè)檢測區(qū)域，各檢測區(qū)域設(shè)有一檢測線；N條檢測線一端接地，另一端對(duì)應(yīng)連接至N個(gè)連接引腳；N個(gè)連接引腳與N個(gè)檢測單元對(duì)應(yīng)連接；其中，N個(gè)檢測單元用于檢測N條檢測線是否導(dǎo)通。本專利技術(shù)的實(shí)施方式還提供了一種電子設(shè)備，包含：處理器以及上述的屏模組；處理器與屏模組電性連接。本專利技術(shù)的實(shí)施方式還提供了一種屏模組的微裂紋檢測方法，應(yīng)用于上述的屏幕組，包含以下步驟：控制屏驅(qū)動(dòng)芯片在各檢測單元上施加檢測電流；獲取各檢測單元中的檢測參數(shù)；根據(jù)各檢測參數(shù)判斷各檢測線的導(dǎo)通與否；根據(jù)各檢測線的導(dǎo)通與否，檢測出屏模組上微裂紋的所在位置。本專利技術(shù)實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，屏模組包含：玻璃基板、觸摸檢
測層、屏驅(qū)動(dòng)芯片，N條檢測線、N個(gè)連接引腳以及N個(gè)檢測單元；其中，N為自然數(shù)；觸摸檢測層鋪設(shè)在玻璃基板上；N個(gè)檢測單元設(shè)置于屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)；N個(gè)檢測線與N個(gè)連接引腳均設(shè)置于觸摸檢測層的顯示功能區(qū)外圍；其中，顯示功能區(qū)外圍設(shè)有N個(gè)檢測區(qū)域，各檢測區(qū)域設(shè)有一檢測線；N條檢測線一端接地，另一端對(duì)應(yīng)連接至N個(gè)連接引腳；N個(gè)連接引腳與N個(gè)檢測單元對(duì)應(yīng)連接；其中，N個(gè)檢測單元用于檢測N條檢測線是否導(dǎo)通。通過這種方式，將屏模組的顯示功能區(qū)的外圍劃分為多個(gè)檢測區(qū)域，每個(gè)檢測區(qū)域都設(shè)有檢測線，通過對(duì)各個(gè)檢測線的導(dǎo)通狀況的檢測，從而對(duì)各個(gè)檢測區(qū)域是否存在微裂紋進(jìn)行檢測，能夠簡單有效的檢測出存在微裂紋的屏模組，以及微裂紋的存在位置，以便于電子設(shè)備制作商提前做處理，避免了不良屏模組流入下一道工序中，有效的降低了不良屏模組給電子設(shè)備生產(chǎn)商帶來的經(jīng)濟(jì)損失，并對(duì)屏模組在運(yùn)輸過程中的保護(hù)措施具有指向性，將各個(gè)屏模組微裂紋的存在位置進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，以便于對(duì)屏模組上容易出現(xiàn)微裂紋的位置進(jìn)行重點(diǎn)保護(hù)。另外，觸摸檢測層由氧化銦錫ITO膜蝕刻而成；N條檢測線以及N個(gè)連接引腳蝕刻于氧化銦錫ITO膜。由于屏模組在制作時(shí)，本就需要在玻璃基板上噴涂氧化銦錫ITO膜，并在噴涂的氧化銦錫ITO膜上蝕刻出細(xì)微的圖形，以形成觸摸層。因此，在本專利技術(shù)中，觸摸檢測層由氧化銦錫ITO膜蝕刻而成，各檢測線以及各連接引腳蝕刻于氧化銦錫ITO膜，相當(dāng)于在觸摸層的制做流程中順便將檢測線以及連接引腳蝕刻出，操作簡單方便。并且，氧化銦錫ITO膜為透明膜，對(duì)屏模組的外觀影響較小。另外，屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)置有一寄存器，用于存儲(chǔ)指示各檢測線的導(dǎo)通與否的標(biāo)識(shí)信號(hào)。通過這種方式，可以實(shí)現(xiàn)預(yù)先對(duì)各檢測單元中的檢測參數(shù)進(jìn)行處理，并分別存儲(chǔ)在寄存器中，以便于檢測裝置或檢測器件能夠直接讀取寄存器中的各標(biāo)識(shí)信號(hào)，從而根據(jù)各標(biāo)識(shí)信號(hào)判斷屏模組的各個(gè)檢測區(qū)域是否存在微裂紋。另外，檢測線至少環(huán)繞相對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域一圈，盡可能的使得檢測區(qū)域內(nèi)的微裂紋都能夠被檢測到。另外，在屏模組的微裂紋檢測方法中，在根據(jù)檢測參數(shù)判斷檢測線的導(dǎo)通與否的步驟后，還包含以下步驟：根據(jù)各檢測參數(shù)設(shè)置相對(duì)應(yīng)的各標(biāo)志位的值；其中，標(biāo)志位的值用于指示檢測線是否導(dǎo)通；在根據(jù)各檢測線的導(dǎo)通與否，檢測出屏模組上微裂紋的所在位置的步驟中，包含以下子步驟：根據(jù)各設(shè)置的標(biāo)志位的值，判斷各檢測線對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域是否存在微裂紋；其中，如果標(biāo)志位的值指示檢測線導(dǎo)通，則判定檢測線對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域不存在微裂紋；如果設(shè)置的標(biāo)志位的值指示檢測線不導(dǎo)通，則判定檢測線對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域存在微裂紋；根據(jù)各檢測線所對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域是否存在微裂紋，獲取屏模組上微裂紋的所在位置。利用標(biāo)志位的值來指示檢測線的導(dǎo)通與否，能直截了當(dāng)?shù)姆磻?yīng)出檢測線的導(dǎo)通狀態(tài)，以便于檢測裝置或檢測器件通過讀取到的各標(biāo)志位的值判斷各檢測區(qū)域是否存在微裂紋。另外，在屏模組的微裂紋檢測方法中，根據(jù)各檢測參數(shù)設(shè)置相對(duì)應(yīng)的各標(biāo)志位的值的步驟中，由屏驅(qū)動(dòng)芯片設(shè)置各標(biāo)志位的值；在根據(jù)各設(shè)置的標(biāo)志位的值，判斷各檢測線所對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域是否存在微裂紋的步驟中，包含以下子步驟：電子設(shè)備的處理器讀取各設(shè)置的標(biāo)志位的值；其中，處理器與屏驅(qū)動(dòng)芯片通過軟性電路板電性連接；處理器根據(jù)讀取到的各標(biāo)志位的值，判斷各檢測線所對(duì)應(yīng)的檢測區(qū)域是否存在微裂紋。這樣，由屏驅(qū)動(dòng)芯片來設(shè)置各標(biāo)志位的值，為減輕電子設(shè)備處理器的處理負(fù)擔(dān)提供了可能。附圖說明圖1是根據(jù)本專利技術(shù)第一實(shí)施方式中的屏模組的剖面圖；圖2是根據(jù)本專利技術(shù)第一實(shí)施方式中的屏模組的正面示意圖；圖3是根據(jù)本專利技術(shù)第一實(shí)施方式中的檢測區(qū)域內(nèi)的電路圖；圖4是根據(jù)本專利技術(shù)第二實(shí)施方式中的屏模組的正面示意圖；圖5是根據(jù)本專利技術(shù)第四實(shí)施方式中的屏模組的微裂紋檢測方法的流程圖。具體實(shí)施方式為使本專利技術(shù)的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本專利技術(shù)的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本專利技術(shù)各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。本專利技術(shù)的第一實(shí)施方式涉及一種屏模組，參照如圖1至圖2所示。本實(shí)施方式在電子設(shè)備的基礎(chǔ)上進(jìn)行實(shí)施，電子設(shè)備可以是手機(jī)、平板電腦、電腦、智能電視等終端設(shè)備。本實(shí)施方式中的屏模組包含：玻璃基板1、觸摸檢測層2、屏驅(qū)動(dòng)芯片3、N條檢測線4、N個(gè)連接引腳5以及N個(gè)檢測單元6，其中，N為自然數(shù)。本實(shí)施方式中，屏模組的具體結(jié)構(gòu)為：觸摸檢測層2鋪設(shè)在玻璃基板1上，N個(gè)檢測單元6設(shè)置在屏驅(qū)動(dòng)芯片3內(nèi)，N條檢測線4以及N個(gè)連接引腳5均設(shè)置于觸摸檢測層2的顯示功能區(qū)外圍。其中，本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種屏模組，其特征在于，包含玻璃基板、觸摸檢測層、屏驅(qū)動(dòng)芯片，其特征在于，還包含：N條檢測線、N個(gè)連接引腳以及N個(gè)檢測單元；其中，N為自然數(shù)；所述觸摸檢測層鋪設(shè)在所述玻璃基板上；所述N個(gè)檢測單元設(shè)置于所述屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)；所述N個(gè)檢測線與所述N個(gè)連接引腳均設(shè)置于所述觸摸檢測層的顯示功能區(qū)外圍；其中，所述顯示功能區(qū)外圍設(shè)有N個(gè)檢測區(qū)域，各所述檢測區(qū)域設(shè)有一所述檢測線；所述N條檢測線一端接地，另一端對(duì)應(yīng)連接至所述N個(gè)連接引腳；所述N個(gè)連接引腳與所述N個(gè)檢測單元對(duì)應(yīng)連接；其中，所述N個(gè)檢測單元用于檢測所述N條檢測線是否導(dǎo)通。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種屏模組，其特征在于，包含玻璃基板、觸摸檢測層、屏驅(qū)動(dòng)芯片，其特征在于，還包含：N條檢測線、N個(gè)連接引腳以及N個(gè)檢測單元；其中，N為自然數(shù)；所述觸摸檢測層鋪設(shè)在所述玻璃基板上；所述N個(gè)檢測單元設(shè)置于所述屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)；所述N個(gè)檢測線與所述N個(gè)連接引腳均設(shè)置于所述觸摸檢測層的顯示功能區(qū)外圍；其中，所述顯示功能區(qū)外圍設(shè)有N個(gè)檢測區(qū)域，各所述檢測區(qū)域設(shè)有一所述檢測線；所述N條檢測線一端接地，另一端對(duì)應(yīng)連接至所述N個(gè)連接引腳；所述N個(gè)連接引腳與所述N個(gè)檢測單元對(duì)應(yīng)連接；其中，所述N個(gè)檢測單元用于檢測所述N條檢測線是否導(dǎo)通。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏模組，其特征在于，所述觸摸檢測層由氧化銦錫ITO膜蝕刻而成；所述N條檢測線以及所述N個(gè)連接引腳蝕刻于所述氧化銦錫ITO膜。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏模組，其特征在于，各所述檢測單元包含：檢測引腳以及第一電阻；所述第一電阻一端與所述檢測引腳連接，另一端接地；其中，各所述檢測引腳用于與各所述連接引腳對(duì)應(yīng)連接。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏模組，其特征在于，所述屏驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)置有一寄存器，用于存儲(chǔ)指示各所述檢測線的導(dǎo)通與否的標(biāo)識(shí)信號(hào)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏模組，其特征在于，所述檢測線至少環(huán)繞相對(duì)應(yīng)的所述檢測區(qū)域一圈。6.一種電子設(shè)備，其特征在于，包含：處理器以及如權(quán)利要求1至權(quán)利要求5中任意一項(xiàng)所述的屏模組；所述處理器與所述屏模組電性連接。7.一種屏模組的微裂紋檢測方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的屏模組；所述屏模組的微裂紋檢測方法包含以下步驟：控制所述屏驅(qū)動(dòng)芯片在各所述檢測單元上施加...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：楊朝蓉，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：上海與德科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：上海;31