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    商品庫存的校驗方法及校驗系統技術方案

    技術編號:13944974 閱讀:77 留言:0更新日期:2016-10-30 01:58
    本發明專利技術涉及信息處理技術領域,公開了一種商品庫存的校驗方法及校驗系統。本發明專利技術中,商品庫存的校驗方法,包括:上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻;若判斷出接收到本次校驗請求,獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻;對所述商品的庫存進行校驗。本發明專利技術還提供了一種商品庫存的校驗系統。本發明專利技術提供的技術方案,使得商品庫存的校驗更加快速,且減輕了處理負擔;避免由于商品種類的不斷增多而導致的處理速度減慢與處理負擔增加的問題。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及信息處理
    ,特別涉及一種商品庫存的校驗方法及校驗系統
    技術介紹
    電子商城中的各商品的信息,離不開強大的后臺處理系統的支持。商品庫存作為重要的商品信息,后臺處理系統需要定時校驗各商品的庫存是否不足,當庫存不足時則要及時提醒商家補貨等。由于電子商城中商品的銷量存在實時變化,目前,對商品庫存的校驗基本是每天一次;且每次校驗,均要對各商品的庫存分別進行校驗。隨著電子商務這種銷售模式的逐漸普遍,人們越來越喜歡足不出戶就能“逛商城購物”,為了使得消費者隨意選購到自己需要的商品,電子商城中的商品種類的不斷增加,已基本擁有與現實商場的商品種類規模相當的商品。在實現本專利技術過程中,專利技術人發現現有技術中至少存在如下問題:如此巨大的商品種類數量,使得商品的庫存校驗變得越來越耗時,且占用了處理器的較多資源。
    技術實現思路
    本專利技術的目的在于提供一種商品庫存的校驗方法及校驗系統,使得商品庫存的校驗更加快速,且減輕了處理負擔;避免由于商品種類的不斷增多而導致的處理速度減慢與處理負擔增加的問題。為解決上述技術問題,本專利技術的實施方式提供了一種商品庫存的校驗方法,包括:上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻;若判斷出接收到本次校驗請求,獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻;對所述商品的庫存進行校驗。本專利技術的實施方式還提供了一種商品庫存的校驗系統,包括:商品存儲單元、校驗時刻記錄單元、商品獲取單元以及校驗單元;所述商品存儲單元用于存儲各商品、各商品的庫存及各商品的庫存更新時刻;所述校驗時刻記錄單元用于在上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻;所述商品獲取單元用于判斷是否接收到本次校驗請求;若接收到所述本次校驗請求,所述商品獲取單元還用于獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻;所述校驗單元用于對所述商品的庫存進行校驗。本專利技術實施方式相對于現有技術而言,在每次庫存校驗時,僅對庫存更新時刻晚于上次校驗時刻的商品進行校驗。即,商品的庫存更新時會自動保存庫存更新時刻;當商品的庫存更新時刻晚于上次校驗時刻,說明在上次校驗之后,該商品的庫存發生變化;反正,則沒有發生變化;因此,每次校驗時,僅對庫存更新時刻晚于上次校驗時刻的商品進行校驗,可以使得商品庫存的校驗更加快速,且減輕了處理負擔;避免由于商品種類的不斷增多而導致的處理速度減慢與處理負擔增加的問題。另外,在判斷出接收到本次校驗請求之前,還包括:將滿足所述預設條件的所述商品復制到預設的校驗暫存區;在獲取滿足預設條件的至少一商品中,從所述校驗暫存區獲取所述商品。即,將滿足預設條件的商品放在一個預設的存儲區域(校驗暫存區),從而便于后續直接從該預設的存儲區域(校驗暫存區)獲取本次待校驗的商品;避免需要對各商品的庫存更新時刻逐個比對才能獲取滿足預設條件的各商品;從而進一步加快了庫存校驗。另外,在對所述商品的庫存進行校驗之前或之后,還包括:清除所述校驗暫存區中的所述商品。當本次校驗完畢后,即時清除校驗暫存區中商品,以使得校驗暫存區能夠暫存下次需要校驗的商品。即,該校驗暫存區僅儲存接下來需要校驗的商品,從而可以使得校驗暫存區占用較小的存儲空間,并重復使用。另外,在將所述商品復制到預設的校驗暫存區中,具體包括:將所述商品的庫存綁定于所述商品一同復制到所述校驗暫存區。從而,可以直接從該校驗暫存區獲取各商品及各商品的庫存;而無需從校驗暫存區獲取的各商品后,再從主存儲區獲取各商品的庫存,從而進一步加快了庫存校驗。附圖說明圖1是根據本專利技術第一實施方式的商品庫存的校驗方法的流程圖;圖2是根據本專利技術第二實施方式的商品庫存的校驗方法的流程圖;圖3是根據本專利技術第三實施方式的商品庫存的校驗系統的方框圖;圖4是根據本專利技術第四實施方式的商品庫存的校驗系統的方框圖;圖5是根據本專利技術第五實施方式的商品庫存的校驗系統的方框圖。具體實施方式為使本專利技術的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合附圖對本專利技術的各實施方式進行詳細的闡述。然而,本領域的普通技術人員可以理解,在本專利技術各實施方式中,為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術細節。但是,即使沒有這些技術細節和基于以下各實施方式的種種變化和修改,也可以實現本申請各權利要求所要求保護的技術方案。本專利技術的第一實施方式涉及一種商品庫存的校驗方法,應用于商品庫存的校驗系統。本實施方式中的商品庫存的校驗系統內儲存有各商品的庫存,并且,系統可以根據消費者的下單、退單等操作及時更新各商品的庫存。商品庫存的校驗系統需要定時校驗各商品的庫存,判斷是否存在庫存不足的商品,并及時提醒商家補貨;庫存校驗例如每天校驗一次。如圖1所示,是根據本專利技術第一實施方式的商品庫存的校驗方法的流程圖,具體步驟說明如下。步驟101:上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻。具體而言,商品庫存的校驗系統可以定時從外部接收校驗請求,或者自己內部定時產生校驗請求;從而定時對其內部儲存的各商品的庫存進行校驗,以判斷是否庫存不足;定時周期例如為1天。當一次校驗完畢后,會記錄該次校驗時刻,即本步驟中所述的,當上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻。步驟102:判斷是否接收到本次校驗請求。若是,進入步驟103;若否,返回步驟102。即,上次校驗完畢后,商品庫存的校驗系統會判斷是否接收到外部傳輸進來的或者是自己內部產生的本次校驗請求。步驟103:獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻。具體而言,商品庫存的校驗系統會根據用戶訂單、退單等操作信息對各商品的庫存進行及時更新,并記錄庫存更新時刻。當判斷出接收到本次校驗請求時,會將各商品的庫存更新時刻與記錄的上次校驗時刻進行比較,并獲取庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻的商品,即獲取滿足預設條件的商品。其中,商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻,可以理解為,在上次校驗完畢后到本次校驗開始時的一個定時周期內,由于消費者的下單、退單或者商家的補貨等操作導致該商品的庫存發生改變。相反的,若商品的庫存更新時刻早于所述上次校驗時刻的商品,表示該商品在上次庫存校驗時已經被校驗過,且上次校驗完畢后,該商品的庫存沒有發生過變化。步驟104:對所述商品的庫存進行校驗。具體而言,商品庫存的校驗系統內預設有庫存閾值,并將獲取的各商品的庫存與庫存閾值進行比較;若某個商品的庫存小于庫存閾值,則表示該商品的庫存不足;從而可以產生提示信息,以通知相關人員及時補貨。因此,在本次校驗中,僅對庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻的商品進行校驗,可以避免上次校驗完畢后沒有發生庫存變化的商品被重復校驗;從而,使得商品庫存的校驗更加快速,且減輕了處理負擔;避免由于商品種類的不斷增多而導致的處理速度減慢與處理負擔增加的問題。本專利技術的第二實施方式涉及一種商品庫存的校驗方法。第二實施方式是在第一實施方式基礎上的改進,主要改進之處在于:在本專利技術第二實施方式中,將滿足預設條件的商品暫存在校驗暫存區,從而便于后續直接從該預設的存儲區域(校驗暫存區)獲取本次待校驗的商品;避免需要對各商品的庫存更新時刻逐個比對才能獲取滿足預設條件的各商品;從而進一步加快了庫存校驗。進一步的,在本次校驗完畢后,本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種商品庫存的校驗方法,其特征在于,包括:上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻;若判斷出接收到本次校驗請求,獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻;對所述商品的庫存進行校驗。

    【技術特征摘要】
    1.一種商品庫存的校驗方法,其特征在于,包括:上次校驗完畢后,記錄上次校驗時刻;若判斷出接收到本次校驗請求,獲取滿足預設條件的至少一商品;其中,所述預設條件包括:所述商品的庫存更新時刻晚于所述上次校驗時刻;對所述商品的庫存進行校驗。2.根據權利要求1所述的商品庫存的校驗方法,其特征在于,在判斷出接收到本次校驗請求之前,還包括將滿足所述預設條件的所述商品復制到預設的校驗暫存區;在獲取滿足預設條件的至少一商品中,從所述校驗暫存區獲取所述商品。3.根據權利要求2所述的商品庫存的校驗方法,其特征在于,在對所述商品的庫存進行校驗之前或之后,還包括:清除所述校驗暫存區中的所述商品。4.根據權利要求2所述的商品庫存的校驗方法,其特征在于,在將所述商品復制到預設的校驗暫存區中,具體包括:將所述商品的庫存綁定于所述商品一同復制到所述校驗暫存區。5.一種商品庫存的校驗系統,其特征在于,包括:商品存儲單元、校驗時刻記錄單元、商品獲取單元以及校驗單元;所述商品存儲單元用于存儲各商品、各商品的庫存及各商品的庫存更新時刻...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:李書磊聶宏
    申請(專利權)人:樂視控股北京有限公司,樂視電子商務北京有限公司,
    類型:發明
    國別省市:北京;11

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