光學元件的老化裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術實施例提供一種光學元件的老化裝置。本發明專利技術光學元件的老化裝置，包括：光學元件放置架用于設置光學元件；溫度加熱模塊用于對光學元件放置架進行加熱；溫度檢測模塊用于檢測所述光學元件的溫度；溫度加熱模塊還用于根據溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度，控制加熱溫度，使得光學元件的溫度維持在預設值，并控制光源模塊向光學元件提供照射光源，以使所述光學元件在所述光源模塊提供的光源照射下發生老化。從而可以實現在一定溫度條件對光學元件進行老化，能夠更加實際的模擬光學元件在顯示產品中的使用環境，使得獲取的光學元件的衰減特性更為準確。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術實施例涉及激光顯示技術，尤其涉及一種光學元件的老化裝置。
技術介紹
激光顯示技術是繼黑白顯示、標準彩色顯示、數字顯示之后的下一代顯示技術。激光顯示技術具體應用于激光電影機、激光投影機、激光背投電視、激光背投拼接墻等激光顯示產品中。激光顯示產品具體指采用激光作為顯示光源實現畫面顯示的產品，其涉及家庭影院、大屏幕指揮顯示系統、公共信息大屏幕、數碼影院以及水幕成像表演等領域，可呈現更逼真、更絢麗的圖像。光學鏡片在激光顯示產品中具有普遍的應用性，然而激光顯示產品中任何一個光學鏡片的光學透過率的下降，都會影響激光顯示產品的光學效率。比如透鏡，在長期接受激光光束照射后，一方面激光為高能光束，在透鏡表面會產生一些熱效應，另一方面，無論是玻璃材質，還是塑膠材質的透鏡，接收高能光束的照射會產生一些形變。上述兩個方面都會使得透鏡的光學透過率下降，進而對激光顯示產品的成像效果造成影響。其中，激光顯示光源照射光學鏡片，會對不同的光學鏡片產生不同的影響，并且不同的光學鏡片對不同的光譜的透過率衰減情況也不盡相同，有的光學鏡片對某種光譜的透過率衰減很快，有的光學鏡片對全光譜的衰減相對均勻化。因此，需要一種能夠對光學鏡片進行老化處理的設備，進而配合使用光譜儀等光學測量設備獲取光學鏡片在進行老化處理后的光學透過率的衰減情況，以對使用該光學鏡片的激光顯示產品的可靠性進行評估。
技術實現思路
本專利技術實施例提供一種光學元件的老化裝置，實現使用該光學元件的老化裝置對光學元件(例如光學鏡片)在一定溫度條件下進行光照老化，在對光學元件進行光照老化后可以通過配合使用光譜儀等光學測量設備進行測量，獲取光學元件在光照射下的光學透過率的衰減情況。第一方面，本專利技術實施例提供一種光學元件的老化裝置，包括：光源模塊、光學元件放置架、溫度加熱模塊和溫度檢測模塊；所述光學元件放置架用于設置光學元件；所述溫度加熱模塊用于對所述光學元件放置架進行加熱，以提高設置于所述光學元件設置架上的光學元件的溫度；所述溫度檢測模塊用于檢測所述光學元件的溫度；所述溫度加熱模塊還用于根據所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度，控制加熱溫度，使得所述光學元件的溫度維持在預設值，并控制所述光源模塊向所述光學元件提供照射光源，以使所述光學元件在所述光源模塊提供的光源照射下發生老化。結合第一方面，在第一方面的第一種可能的實現方式中，所述裝置還包括功率調整模塊；所述功率調整模塊用于根據所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度和所述光學元件的功率要求調整所述光源模塊的功率。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第二種可能的實現方式中，所述裝置還包括功率檢測模塊，所述功率檢測模塊用于檢測所述光學元件在不同時刻接收到的光源照射的光功率；所述功率檢測模塊還用于判斷所述光學元件在第一時刻接收到的光源照射的光功率和在與所述第一時刻相鄰的第二時刻接收到的光源照射的光功率是否相同，若否，則所述功率檢測模塊將所述第一時刻和所述第二時刻接收到的光源照射的光功率發送給所述功率調整模塊；所述功率調整模塊還用于根據所述第一時刻和所述第二時刻接收到的光源照射的光功率調整所述光源模塊的驅動電流，以使所述光學元件持續在所述第一時刻接收到的光源照射的光功率的光照射下發生老化。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第三種可能的實現方式中，所述功率調整模塊還用于根據第一預設功率值調整所述光源模塊的驅動電流，以使所述光學元件接收到光源照射的光功率為所述第一預設功率值。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第四種可能的實現方式中，所述光源模塊提供的光源的中心與設置于光學元件放置架上的光學元件的中心重合。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第五種可能的實現方式中，所述光學元件設置架可沿所述光學元件的中心軸軸向移動。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第六種可能的實現方式中，所述裝置還包括：光束接收模塊，所述光束接收模塊用于吸收光源透過所述光學元件的光束。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第七種可能的實現方式中，所述溫度加熱模塊與所述光學元件放置架電連接。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第八種可能的實現方式中，所述功率檢測模塊設置于所述光源模塊和所述光學元件放置架之間，且所述功率檢測模塊與所述光學元件放置架平行。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第九種可能的實現方式中，所述光源為激光光源和熒光光源中至少一項或其組合，所述激光光源包括單色激光光源或者多色激光光源。結合第一方面的上述任一種可能的實現方式，在第一方面的第十種可能的實現方式中，所述光源模塊包括多個激光器、選擇開關和殼體；所述多個激光器可提供不同波長的激光；所述選擇開關用于根據需求使得相應激光器導通向所述光學元件提供照射光源；所述殼體上設置有出光孔，所述出光孔的中心與所述光學元件的中心重合。本專利技術實施例光學元件的老化裝置，通過溫度加熱模塊和溫度檢測模塊實現在一定溫度條件下對光學元件進行老化，在對光學元件進行光照老化后可以通過配合使用光譜儀等光學測量設備進行測量，獲取光學元件的衰減特性。由于光學元件應用于顯示產品時，其通常處于有一定溫度的環境中，本實施例的光學元件的老化裝置能夠更加實際的模擬光學元件在顯示產品中的使用環境，進而使得獲取的光學元件的衰減特性更為準確。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為激光投影設備的激光光源光學結構示意圖；圖2為本專利技術光學元件的老化裝置實施例一的結構示意圖；圖3為本專利技術光學元件的老化裝置實施例二的結構示意圖；圖4為本專利技術光學元件的老化裝置實施例三的結構示意圖；圖5為本專利技術光學元件的老化裝置實施例四的結構示意圖。具體實施方式為使本專利技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。激光顯示技術是采用激光作為顯示光源，配合掃描技術或者投影顯示技術，實現畫面顯示的一種手段。激光顯示具有色域空間大、色彩豐富、光源壽命長、維護費用和使用成本低等優點，使得激光顯示得到了快速發展，具體的，激光顯示產品包括激光投影設備、激光背投電視、激光背投拼接墻等，激光顯示產品在采用激光作為顯示光源過程中，由激光器產生激光，激光經過光學鏡片進行光束整形、反射、放大等處理(不同需求可以設置不同的光學鏡片)之后，為激光顯示產品提供光源。具體的，以激光投影設備作為舉例說明，圖1為激光投影設備的激光光源光學結構示意圖，如圖1所示，該激光光源可以包括激光器11、望遠鏡系統12、二向色鏡13、熒光輪14、凸透鏡15、以及濾色輪16，由此可見，激光投影設備可以包括很多光學鏡片。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光學元件的老化裝置，其特征在于，包括：光源模塊、光學元件放置架、溫度加熱模塊和溫度檢測模塊；所述光學元件放置架用于設置光學元件；所述溫度加熱模塊用于對所述光學元件放置架進行加熱，以提高設置于所述光學元件設置架上的光學元件的溫度；所述溫度檢測模塊用于檢測所述光學元件的溫度；所述溫度加熱模塊還用于根據所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度，控制加熱溫度，使得所述光學元件的溫度維持在預設值，并控制所述光源模塊向所述光學元件提供照射光源，以使所述光學元件在所述光源模塊提供的光源照射下發生老化。

【技術特征摘要】
1.一種光學元件的老化裝置，其特征在于，包括：光源模塊、光學元件放置架、溫度加熱模塊和溫度檢測模塊；所述光學元件放置架用于設置光學元件；所述溫度加熱模塊用于對所述光學元件放置架進行加熱，以提高設置于所述光學元件設置架上的光學元件的溫度；所述溫度檢測模塊用于檢測所述光學元件的溫度；所述溫度加熱模塊還用于根據所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度，控制加熱溫度，使得所述光學元件的溫度維持在預設值，并控制所述光源模塊向所述光學元件提供照射光源，以使所述光學元件在所述光源模塊提供的光源照射下發生老化。2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述溫度加熱模還用于獲取所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度，當所述光學元件的溫度達到預設值時，控制加熱溫度，使得所述光學元件的溫度維持在所述預設值，并控制所述光源模塊向所述光學元件提供照射光源。3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括功率調整模塊；所述功率調整模塊用于根據所述溫度檢測模塊檢測到的所述光學元件的溫度和所述光學元件的功率要求調整所述光源模塊的功率。4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括功率檢測模塊，所述功率檢測模塊用于檢測所述光學元件在不同時刻接收到的光源照射的光功率；所述功率檢測模塊還用于判斷所述光學元件在第一時刻接收到的光源照射的光功率和在與所述第一時刻相鄰的第二時刻接收到的光源照射的光功率是否相同，若否，則所述功率檢測模塊將所述第一時刻和所述第二時刻接收到的光源照射的光功率發送給所述功率調整模塊；所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉顯榮，李巍，
申請(專利權)人：海信集團有限公司，
類型：發明
國別省市：山東;37