一種光學分析設備制造技術

本發明專利技術涉及一種光學分析設備，包括能夠射入待檢測流體中的光源(2)，位于所述光源光路上的光路切換機構，所述光路切換機構包括，橫軸(1)，所述橫軸(1)上設置有多組獨立設置的轉盤(4)，所述轉盤(4)其中心可圍繞所述橫軸(1)轉動，所述轉盤(4)上設置有用于安裝濾片的安裝部(42)；所述光路切換機構上還設置有對準預警裝置，用于檢測轉盤(4)的位置是否正確。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種應用光學的分析設備。
技術介紹
流體加工過程中，通常需要對流體的物理指標，如種類、濃度、溫度、折射率、固體顆粒物等進行檢測。在多數情況下，檢測的流體對應一種光學分析裝置，對于不同的流體，需要不同的分析裝置來分析，而分析裝置多為多個光學鏡片組成，通過改變光學鏡片的組成，能夠實現對多種流體進行檢測，這是現有的技術不能達到的。有鑒于上述的缺陷，本設計人，積極加以研究創新，以期創設一種新型結構的光學分析裝置，使其更具有產業上的利用價值。
技術實現思路
為解決上述技術問題，本專利技術的目的是提供一種能夠安裝多種濾片對流體進行檢測分析的裝置。本專利技術的技術方案如下：一種光學分析設備，包括能夠射入待檢測流體中的光源(2)，位于所述光源光路上的光路切換機構，其特征在于：所述光路切換機構包括，橫軸(1)，所述橫軸(1)上設置有多組獨立設置的轉盤(4)，所述轉盤(4)其中心可圍繞所述橫軸(1)轉動，所述轉盤(4)上設置有用于安裝濾片的安裝部(42)；所述光路切換機構上還設置有對準預警裝置，所述對準預警裝置包括設置在所述橫軸(1)相對所述光源的一端設置有紅外傳感器(7)，設置在所述轉盤(4)上的紅外發射點(43)，以及外部的計算機(3)；所述紅外發射點(43)和所述紅外傳感器(7)均連接外部的計算機(3)，所述計算機(3)用于設定所述紅外傳感器(7)接收不同轉盤(4)上的紅外發射點(43)發射的紅外信號，當所述紅外傳感器(7)接收到的信號與設定的信號不同時，設置在所述橫軸(1)下方且連接所述計算機(3)的報警裝置(8)發出報警信號。進一步的，所述轉盤(4)為半圓形，其中心設置有圓環形的連接部，所述連接部內部設置有內齒輪(41)。進一步的，還包括用于驅動所述轉盤(4)的動力裝置，所述動力裝置為電機(5)，所述動力裝置設置在所述橫軸(1)內部，所述動力裝置連接有驅動齒輪(6)，所述驅動齒輪(6)驅動所述內齒輪(41)。進一步的，所述光源(1)為He-Ne光源。借由上述方案，本專利技術至少具有以下優點：本專利技術通過在多個轉盤上放置不同的濾片，根據實際檢測的需求，通過計算機控制電機的運行，使得需要用到的轉盤轉到合適的位置，對流體進行分析。通過簡單方案能夠實現對不同的流體進行檢測。通過轉盤上設置的紅外發射點以及設置在轉軸上的紅外傳感器，能夠對預設定的相應轉盤作出檢測，若有轉盤的位置不正確，則紅外傳感器接收不到洗好，報警裝置報警，能夠預防濾片檢測的位置是否正確。上述說明僅是本專利技術技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本專利技術的技術手段，并可依照說明書的內容予以實施，以下以本專利技術的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。附圖說明圖1是本專利技術的結構示意圖；圖2是本專利技術的轉盤的結構示意圖；圖中：1-橫軸；2-光源；3-計算機；4-轉盤；41-內齒輪；42-安裝部；43-紅外發射點；5-電機；6-驅動齒輪；7-紅外傳感器；8-報警裝置。具體實施方式下面結合附圖和實施例，對本專利技術的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本專利技術，但不用來限制本專利技術的范圍。一種光學分析設備，包括能夠射入待檢測流體中的光源2，位于所述光源光路上的光路切換機構，其特征在于：所述光路切換機構包括，橫軸1，所述橫軸1上設置有多組獨立設置的轉盤4，所述轉盤4其中心可圍繞所述橫軸1轉動，所述轉盤4上設置有用于安裝濾片的安裝部42；所述光路切換機構上還設置有對準預警裝置，所述對準預警裝置包括設置在所述橫軸1相對所述光源的一端設置有紅外傳感器7，設置在所述多組轉盤4中的每一個上的紅外發射點43，以及外部的計算機3；所述紅外發射點43和所述紅外傳感器7均連接外部的計算機3，所述計算機3用于設定所述紅外傳感器7接收不同轉盤4上的紅外發射點43發射的紅外信號，當所述紅外傳感器7接收到的信號與設定的信號不同時，設置在所述橫軸1下方且連接所述計算機3的報警裝置8發出報警信號。進一步的，所述轉盤4為半圓形，其中心設置有圓環形的連接部，所述連接部內部設置有內齒輪41。進一步的，還包括用于驅動所述轉盤4的動力裝置，所述動力裝置為電機5，所述動力裝置設置在所述橫軸1內部，所述動力裝置連接有驅動齒輪6，所述驅動齒輪6驅動所述內齒輪41。本專利技術的工作原理如下：轉盤4上設置有不同的濾片，對于不同的流體，檢測過程中需要不同的濾片進行組合，在實際檢測過程中，通過控制轉盤4的位置，從而使得濾片可以組成多種組合，以適應不同的流體。轉盤4上設置的紅外發射點和紅外傳感器配合使用，對于某種流體的檢測，計算機設定相應的轉盤4進行檢測，則需要形影的轉盤4轉到轉軸的上方，通過轉軸上的紅外發射點發射信號給紅外傳感器，用于識別相應的轉盤4是否處于正確的位置。本專利技術至少具有以下優點：本專利技術通過在多個轉盤上放置不同的濾片，根據實際檢測的需求，通過計算機控制電機的運行，使得需要用到的轉盤轉到合適的位置，對流體進行分析。通過簡單方案能夠實現對不同的流體進行檢測。通過轉盤上設置的紅外發射點以及設置在轉軸上的紅外傳感器，能夠對預設定的相應轉盤作出檢測，若有轉盤的位置不正確，則紅外傳感器接收不到洗好，報警裝置報警，能夠預防濾片檢測的位置是否正確。以上所述僅是本專利技術的優選實施方式，并不用于限制本專利技術，應當指出，對于本
的普通技術人員來說，在不脫離本專利技術技術原理的前提下，還可以做出若干改進和變型，這些改進和變型也應視為本專利技術的保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光學分析設備，包括能夠射入待檢測流體中的光源(2)，位于所述光源光路上的光路切換機構，其特征在于：所述光路切換機構包括，橫軸(1)，所述橫軸(1)上設置有多組獨立設置的轉盤(4)，所述轉盤(4)其中心可圍繞所述橫軸(1)轉動，所述轉盤(4)上設置有用于安裝濾片的安裝部(42)；所述光路切換機構上還設置有對準預警裝置，所述對準預警裝置包括設置在所述橫軸(1)相對所述光源的一端設置的紅外傳感器(7)，設置在所述轉盤(4)上的紅外發射點(43)，以及外部的計算機(3)；所述紅外發射點(43)和所述紅外傳感器(7)均連接外部的計算機(3)，所述計算機(3)用于設定所述紅外傳感器(7)接收不同轉盤(4)上的紅外發射點(43)發射的紅外信號，當所述紅外傳感器(7)接收到的信號與設定的信號不同時，設置在所述橫軸(1)下方且連接所述計算機(3)的報警裝置(8)發出報警信號。

【技術特征摘要】
1.一種光學分析設備，包括能夠射入待檢測流體中的光源(2)，位于所述光源光路上的光路切換機構，其特征在于：所述光路切換機構包括，橫軸(1)，所述橫軸(1)上設置有多組獨立設置的轉盤(4)，所述轉盤(4)其中心可圍繞所述橫軸(1)轉動，所述轉盤(4)上設置有用于安裝濾片的安裝部(42)；所述光路切換機構上還設置有對準預警裝置，所述對準預警裝置包括設置在所述橫軸(1)相對所述光源的一端設置的紅外傳感器(7)，設置在所述轉盤(4)上的紅外發射點(43)，以及外部的計算機(3)；所述紅外發射點(43)和所述紅外傳感器(7)均連接外部的計算機(3)，所述計算機(3)用于設定所述紅外傳感器(7)接收不同轉盤(4)上的紅外發射點(43...

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭鋼，于浩，于濤，劉耀光，秦緒陽，
申請(專利權)人：蘇州優譜德精密儀器科技有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32