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    一種晶圓切割、減薄用保護膜制造技術

    技術編號:14074360 閱讀:688 留言:0更新日期:2016-11-29 12:52
    本實用新型專利技術涉及半導體技術領域,公開了一種晶圓切割、減薄用保護膜,依次包括抗粘層、芯層和膠層,抗粘層和芯層即流延聚丙烯(CPP)基材膜是通過流延機共擠流延制備得到,隨后在基材膜上涂布UV減粘膠水即可得到成品保護膜。本實用新型專利技術,使得抗粘層得到一種粗糙的結構表面,從而保護膜在高剝離力的情況下也易于解卷,避免因為解卷力過大,導致薄膜剝開變形;選用CPP作為基材膜,耐溫性和強度都要優越于PE基材膜,可以滿足更高要求的工藝條件;流延工藝制備CPP基材膜的厚薄均勻度高,可以提高晶圓加工的精確度和良品率。

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及半導體
    ,特別是涉及一種晶圓切割、減薄用保護膜。
    技術介紹
    目前,在對半導體晶圓進行切割或減薄過程中通常的加工方法有兩種:1、是采用高粘保護膜,于加熱的條件下覆于晶圓表面,切割后再冷凍取下晶片,最后對晶片進行清洗。但是在切割過程中,由于局部溫度比較高,常常造成保護膜的膠粘層脫落在晶片表面,需要大量的溶劑去清洗,而有些溶劑會對晶片帶來損傷,并且帶來環境的污染。2、是使用UV減粘保護膜,初始剝離力高,貼附晶圓進行加工完畢后,經過UV照射,剝離力急劇降低,便于晶圓成品從保護膜上取下。但是由于初始剝離力大,可能會導致保護膜在解卷的過程中由于解卷力過大,導致薄膜拉伸變形,影響后續使用?,F有的UV減粘保護膜普遍基材為PE膜,由于其強度和耐溫性不佳,對于日新月異的工藝配合度不高。隨著對環保要求越來越高,UV減粘保護膜可能會是未來發展的趨勢,而其現在所面臨的缺陷,值得解決。
    技術實現思路
    針對現有技術存在的不足,本技術目的是提供一種晶圓切割、減薄用保護膜。為了實現上述目的,本技術是通過如下的技術方案來實現:一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,所述基材膜厚度為25~200 μm;基材膜厚薄均勻度±3%,拉伸強度>20 Mpa。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,抗粘層的表面有一定粗糙度,表面霧度為30%~50%,抗粘層厚度為5~50 μm。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,芯層厚度為20~150 μm。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,膠層厚度為5~20 μm。本技術有益效果如下:1.抗粘層有一種粗糙的結構表面,使得保護膜在高粘的情況下易于解卷,避免因為解卷力過大,導致薄膜剝開變形;2. 選用CPP作為基材膜,耐溫性和強度都要優越于PE基材膜,可以滿足更高要求的工藝條件;3. 流延工藝制備CPP基材膜的厚薄均勻度高,可以提高晶圓加工的精確度和良品率。附圖說明圖1為本技術的晶圓切割、減薄用保護膜結構示意圖;圖中各標號:抗粘層1、芯層2、膠層3。具體實施方式為使本技術實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解,下面結合具體實施方式,進一步闡述本技術。晶圓切割、減薄用保護膜,由基材膜和膠層構成;上述基材膜為CPP基材膜,通過流延機共擠流延制備得到,厚度為25~200 μm。上述基材膜由抗粘層和芯層構成,抗粘層厚度5~50 μm,芯層厚度20~150 μm;上述抗粘層,設有具有一定粗糙度的表面,霧度為30%~50%。上述CPP基材膜厚薄均勻度±3%,拉伸強度>20 Mpa,在120℃下正常使用;上述膠層優選為UV照射失粘壓敏膠(也可以是其它壓敏膠),厚度為5~20 μm。實施例1:參見圖1,晶圓切割、減薄用保護膜依次包括抗粘層1、芯層2、膠層3。通過共擠流延制備得到霧度為30%,厚度為40 um的CPP基材膜。選取昆山梓瀾電子材料有限公司的晶圓切割膜UV-260產品配方膠水用狹縫式涂布于CPP基材上,干膠涂布厚度為5 um。成品收卷后即可進入倉庫,要注意遮光包裝和存儲。實施例2:通過共擠流延制備得到霧度為40%,厚度為80 um的CPP基材膜。將UV失粘膠水用狹縫式涂布于CPP基材上,干膠涂布厚度為10 um。成品收卷后即可進入倉庫,要注意遮光包裝和存儲。實施例3:通過共擠流延制備得到霧度為50%,厚度為120 um的CPP基材膜。將UV失粘膠水用狹縫式涂布于CPP基材上,干膠涂布厚度為20 um。成品收卷后即可進入倉庫,要注意遮光包裝和存儲。以上顯示和描述了本技術的基本原理和主要特征和本技術的優點。本行業的技術人員應該了解,本技術不受上述實施例的限制,上述實施例和說明書中描述的只是說明本技術的原理,在不脫離本技術精神和范圍的前提下,本技術還會有各種變化和改進,這些變化和改進都落入要求保護的本技術范圍內。本技術要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。本文檔來自技高網...
    一種晶圓切割、減薄用保護膜

    【技術保護點】
    一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。

    【技術特征摘要】
    1.一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。2.根據權利要求1所述的晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,所述基材膜厚度為25~200 μm;基材膜厚薄均勻度±3%,拉伸強度>20 Mpa。3.根據權利要求1所...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:喻四海施法寬,楊洋,
    申請(專利權)人:昆山博益鑫成高分子材料有限公司,
    類型:新型
    國別省市:江蘇;32

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