【技術實現步驟摘要】
本技術涉及半導體
,特別是涉及一種晶圓切割、減薄用保護膜。
技術介紹
目前,在對半導體晶圓進行切割或減薄過程中通常的加工方法有兩種:1、是采用高粘保護膜,于加熱的條件下覆于晶圓表面,切割后再冷凍取下晶片,最后對晶片進行清洗。但是在切割過程中,由于局部溫度比較高,常常造成保護膜的膠粘層脫落在晶片表面,需要大量的溶劑去清洗,而有些溶劑會對晶片帶來損傷,并且帶來環境的污染。2、是使用UV減粘保護膜,初始剝離力高,貼附晶圓進行加工完畢后,經過UV照射,剝離力急劇降低,便于晶圓成品從保護膜上取下。但是由于初始剝離力大,可能會導致保護膜在解卷的過程中由于解卷力過大,導致薄膜拉伸變形,影響后續使用?,F有的UV減粘保護膜普遍基材為PE膜,由于其強度和耐溫性不佳,對于日新月異的工藝配合度不高。隨著對環保要求越來越高,UV減粘保護膜可能會是未來發展的趨勢,而其現在所面臨的缺陷,值得解決。
技術實現思路
針對現有技術存在的不足,本技術目的是提供一種晶圓切割、減薄用保護膜。為了實現上述目的,本技術是通過如下的技術方案來實現:一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,所述基材膜厚度為25~200 μm;基材膜厚薄均勻度±3%,拉伸強度>20 Mpa。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,抗粘層的表面有一定粗糙度,表面霧度為30%~50%,抗粘層厚度為5~50 μm。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,芯層厚度為20~150 μm。前述的晶圓切割、減薄用保護膜,膠層厚度為5~20 μ ...
【技術保護點】
一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。
【技術特征摘要】
1.一種晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,依次由抗粘層、芯層和膠層構成;抗粘層和芯層構成基材膜,且該基材膜由流延聚丙烯構成。2.根據權利要求1所述的晶圓切割、減薄用保護膜,其特征在于,所述基材膜厚度為25~200 μm;基材膜厚薄均勻度±3%,拉伸強度>20 Mpa。3.根據權利要求1所...
【專利技術屬性】
技術研發人員:喻四海,施法寬,楊洋,
申請(專利權)人:昆山博益鑫成高分子材料有限公司,
類型:新型
國別省市:江蘇;32
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。