一種電池組性能檢測裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術提供一種電池組性能檢測裝置，包括第一探針、第二探針、絕緣碳棒、第一測試線和第二測試線，絕緣碳棒包括碳棒本體，第一探針和第二探針貼附在碳棒本體的兩對立面上，第一探針與第一測試線的一端連接，第一測試線另一端連接測量儀器的一個連接端,第二探針與第二測試線的一端連接，第二測試線另一端連接測量儀器另一個連接端，第二探針為L型設置，本發(fā)明專利技術解決了電池組合后電池極柱與電池殼體之間間隙較小無法直接檢測的難題，不需電池組全部拆開來進行檢測，操作步驟不復雜，同時檢測的時間縮短，提高檢測的速度。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術屬于電池檢測
，尤其涉及一種電池組性能檢測裝置。
技術介紹
近些年來科學技術高速發(fā)展，作為能源之一的電池近些年來應用領域非常的廣泛，對高功率大容量電池的需求也日益增大。為提高電池的功率和安全，大部分的電池設計為圓筒式，兩面分別出正、負極柱，而正、負極柱分別與殼體絕緣。由于不同的用戶所需通常將多個單體電池組裝成不同形式的電池組,電池組需要檢測單體電池在組合后的各種狀態(tài)如電壓、內阻、一側(極柱與殼體)的短路否等情況。由于大電池組是由不同數量的小電池組組合而成，小電池組與小電池組之間的間隙小于人手的間隙，進行單體電池的檢測是十分困難的，現(xiàn)有技術需要將電池組拆開來進行檢測，操作步驟復雜并且檢測速度非常慢。
技術實現(xiàn)思路
本專利技術的目的在于提供一種電池組性能檢測裝置，以減少電池檢測過程中必需的操作步驟，提高檢測速度。本專利技術是這樣實現(xiàn)的，一種電池組性能檢測裝置，包括第一探針、第二探針、絕緣碳棒、第一測試線和第二測試線，所述絕緣碳棒包括碳棒本體，所述第一探針和所述第二探針貼附在所述碳棒本體的兩對立面上，所述第一探針與所述第一測試線的一端連接，所述第一測試線另一端連接測量儀器的一個連接端,所述第二探針與所述第二測試線的一端連接，所述第二測試線另一端連接所述測量儀器另一個連接端，所述第二探針為L型設置。作為一種改進的技術方案，所述電池組性能檢測裝置還包括一用于包裹所述第一測試線和第二測試線的絕緣套。作為一種改進的技術方案，所述絕緣套分別從所述第一探針與所述第一測試線的連接點、所述第二探針與所述第二測試線的連接點延伸至所述第一測試線、所述第二測試線的末端。作為一種改進的技術方案，所述絕緣碳棒還包括碳棒延伸段，所述碳棒延伸段從所述碳棒本體端部沿所述第一測試線的延伸方向延伸。作為一種改進的技術方案，所述碳棒延伸段靠近所述碳棒本體的一端設有凸臺；所述第一探針和第二探針的一端抵在所述凸臺上。作為一種改進的技術方案，所述碳棒延伸段與所述絕緣套之間設有容納所述第一測試線和第二測試線的空隙。作為一種改進的技術方案，所述碳棒延伸段的周壁上分別設有用于放置所述第一測試線和第二測試線的放線槽。作為一種改進的技術方案，所述碳棒延伸段內分別設有用于放置所述第一測試線和第二測試線的走線通道。作為一種改進的技術方案，所述第一測試線和第二測試線粘接在所述絕緣套內壁上。作為一種改進的技術方案，所述碳棒本體與所述碳棒延伸段粘接，所述第一探針、所述第二探針分別與所述碳棒本體兩對立面粘接。作為一種改進的技術方案，所述第一測試線和所述第一探針通過一個連接點焊接，所述第二測試線和所述第二探針通過另一個連接點焊接。由于采用以上技術方案，本專利技術具有以下有益效果：電池組性能檢測裝置包括第一探針、第二探針、絕緣碳棒、第一測試線和第二測試線，所述絕緣碳棒包括碳棒本體，所述第一探針和所述第二探針貼附在所述碳棒本體的兩對立面上，基于以上結構，避免所述上探針和所述下探針接觸出現(xiàn)短路問題；所述第一探針與所述第一測試線的一端連接，所述第一測試線另一端連接測量儀器的一個連接端,所述第二探針與所述第二測試線的一端連接，所述第二測試線另一端連接所述測量儀器另一個連接端，所述第二探針為L型設置，檢測時所述第一探針和所述第二探針和被檢測電池的極柱、殼體接觸，得到相應檢測結果，基于以上方案，測試時電池組無需全部拆下檢測，檢測速度快，節(jié)省時間，降低成本，提高可操作性，同時操作簡便，無需專業(yè)人員進行培訓指導。本專利技術中，所述電池組性能檢測裝置還包括一用于包裹所述第一測試線和第二測試線的絕緣套，所述絕緣套分別從所述第一探針與所述第一測試線的連接點、所述第二探針與所述第二測試線的連接點延伸至所述第一測試線、所述第二測試線的末端，基于以上結構，所述第一測試線、所述第二測試線絕緣處理，避免發(fā)生漏電的安全隱患。本專利技術中，所述絕緣碳棒還包括碳棒延伸段，所述碳棒延伸段從所述碳棒本體端部沿所述第一測試線的延伸方向延伸，所述碳棒延伸段靠近所述碳棒本體的一端設有凸臺；所述第一探針和第二探針的一端抵在所述凸臺上，基于以上結構，所述上探針和所述下探針固定方便且牢靠，同時檢測時不會出現(xiàn)短路的安全缺陷。本專利技術中，所述碳棒延伸段與所述絕緣套之間設有容納所述第一測試線和第二測試線的空隙，該空隙對第一測試線和第二測試線起到固定約束的作用。本專利技術中，所述碳棒延伸段的周壁上分別設有用于放置所述第一測試線和第二測試線的放線槽，第一測試線和第二測試線放置到該放線槽內時，不會出現(xiàn)松動或者串線的現(xiàn)象，避免發(fā)生短路，燒壞測試儀器。本專利技術中，所述碳棒延伸段內分別設有用于放置所述第一測試線和第二測試線的走線通道，基于以上結構，所述第一測試線和第二測試線放置時不雜亂且規(guī)范；操作時避免發(fā)生漏電、觸電類危險。本專利技術中，所述碳棒本體與所述碳棒延伸段粘接，所述第一探針、所述第二探針分別與所述碳棒本體兩對立面粘接，基于以上方案，所述第一探針、所述第二探針分別與所述碳棒本體連接牢靠，穩(wěn)固性強，所述碳棒本體與所述碳棒延伸段連接牢固。本專利技術中，所述第一測試線和第二測試線粘接在所述絕緣套內壁上，所述第一測試線和所述第一探針通過一個連接點焊接，所述第二測試線和所述第二探針通過另一個連接點焊接，焊接方式牢固且導電良好。綜上所述，本專利技術解決了電池組合后電池極柱與電池殼體之間間隙較小無法直接檢測的難題，不需電池組全部拆開來進行檢測，操作步驟不復雜，同時檢測的時間縮短，提高檢測的速度。附圖說明圖1和圖2分別是本專利技術提供的電池組性能檢測裝置的剖面結構示意圖；其中：1、第一探針，2、第二探針，3、絕緣碳棒，31、碳棒本體，32、碳棒延伸段，4、放線槽，5、第一測試線，6、第二測試線，7、絕緣套，8、連接點。具體實施方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。如圖1和圖2所示，本專利技術提供的一種電池組性能檢測裝置，包括第一探針1、第二探針2、絕緣碳棒3、第一測試線5和第二測試線6，絕緣碳棒3包括碳棒本體31，絕緣碳棒還包括碳棒延伸段32，碳棒延伸段32從碳棒本體31端部沿第一測試線5的延伸方向延伸，碳棒延伸段32靠近碳棒本體31的一端設有凸臺；第一探針1和第二探針2的一端抵在凸臺上，第一探針1和第二探針2貼附在碳棒本體31的兩對立面上，第一探針1與第一測試線5的一端連接，第一測試線5另一端連接測量儀器的一個連接端,第二探針2與第二測試線6的一端連接，第二測試線6另一端連接測量儀器另一個連接端，第二探針2為L型設置；第一探針1和第二探針2材質為良好的金屬導體，絕緣探棒3材質為良好的絕緣體，絕緣探棒3的接觸面積大于第一探針1接觸面積和第二探針2接觸面積，檢測時第一探針1、第二探針2之間絕緣，起到了安全可靠的專用檢測功能。在上述實施例中，電池組性能檢測裝置還包括一用于包裹第一測試線5和第二測試線6的絕緣套，絕緣套6分別從第一探針1與第一測試線5的連接點、第二探針2與第二測試線6的連接點延伸至第一測試線5、第二測試線6的末端,基于以上結構，整個測試回路安全性高，不易發(fā)生漏電。在上述實施例中，為了將第一測試線5和第二測試線6進行分離或者避免產生短路本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電池組性能檢測裝置，其特征在于，所述電池組性能檢測裝置包括第一探針、第二探針、絕緣碳棒、第一測試線和第二測試線，所述絕緣碳棒包括碳棒本體，所述第一探針和所述第二探針貼附在所述碳棒本體的兩對立面上，所述第一探針與所述第一測試線的一端連接，所述第一測試線另一端連接測量儀器的一個連接端,所述第二探針與所述第二測試線的一端連接，所述第二測試線另一端連接所述測量儀器另一個連接端，所述第二探針為L型設置。

【技術特征摘要】
1.一種電池組性能檢測裝置，其特征在于，所述電池組性能檢測裝置包括第一探針、第二探針、絕緣碳棒、第一測試線和第二測試線，所述絕緣碳棒包括碳棒本體，所述第一探針和所述第二探針貼附在所述碳棒本體的兩對立面上，所述第一探針與所述第一測試線的一端連接，所述第一測試線另一端連接測量儀器的一個連接端,所述第二探針與所述第二測試線的一端連接，所述第二測試線另一端連接所述測量儀器另一個連接端，所述第二探針為L型設置。2.根據權利要求1所述的電池組性能檢測裝置，其特征在于，所述電池組性能檢測裝置還包括一用于包裹所述第一測試線和第二測試線的絕緣套。3.根據權利要求2所述的電池組性能檢測裝置，其特征在于，所述絕緣套分別從所述第一探針與所述第一測試線的連接點、第二探針與所述第二測試線的連接點延伸至所述第一測試線的末端。4.根據權利要求3所述的電池組性能檢測裝置，其特征在于，所述絕緣碳棒還包括碳棒延伸段，所述碳棒延伸段從所述碳棒本體端...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：李佩武，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第十八研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：天津;12