本實用新型專利技術涉及一種紅木工藝品硬度測量裝置，包括激光器、分光鏡、透鏡、光干涉器、光電二極管、前置放大電路、比較電路和載物臺，激光器的出光口前置有分光鏡，分光鏡的正向水平光路方向設置有透鏡、載物臺、光干涉器和光電二極管，分光鏡的正向垂直光路方向設置有透鏡和光電二極管，光電二極管與前置放大電路或比較電路相連。本實用新型專利技術采用合理的光路設計并配合不同的激光源，可直接對紅木工藝品的硬度進行非接觸式測量，避免了現有測量裝置需要采取按壓、擊打或劃刻等方式進行測量而帶來的可能對紅木工藝品造成的損壞。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種測量裝置，尤其涉及一種紅木工藝品硬度測量裝置。
技術介紹
紅木工藝品由于其稀有性而受到了廣大收藏者的青睞，在鑒定過程中，需要對紅木工藝品的相關參數進行測量，而其中的硬度參數測量，在現有的方法中，普遍需要對紅木工藝品進行按壓、擊打或劃刻，再通過測量相應的按壓力、回彈力或刻痕深度來得到硬度數值，此類接觸式測量方法雖然實現較為簡單，但一方面在測量紅木這種硬質木材時會出現測量結果不夠精確地情況；另一方面，由于部分紅木工藝品較為珍貴，如接觸式測量過程中不慎在該類紅木工藝品上留下永久性的痕跡，則會影響到其整體價值。
技術實現思路
本技術的目的在于根據現有技術的不足，提供一種紅木工藝品硬度測量裝置，該裝置可直接對紅木工藝品進行非接觸式測量，在保證測量精度的同時，避免了現有測量裝置需要采取按壓、擊打或劃刻等方式進行測量而帶來的可能對紅木工藝品造成的損壞。為實現上述目的，本技術采用如下技術方案 ：一種紅木工藝品硬度測量裝置，包括第一Nd:YAG脈沖激光器（1）、第二He-Ne激光器（2）、分光鏡（3）、透鏡（4）、光干涉器（5）、透鏡（6）、光電二極管（7）、前置放大電路（8）、比較電路（9）、光電二極管（10）、透鏡（11）和載物臺（12），第一Nd:YAG脈沖激光器（1）的出光口前置有分光鏡（3），分光鏡（3）的正向水平光路方向依次設置有透鏡（4）、載物臺（12）、光干涉器（5）、透鏡（6）和光電二極管（7），分光鏡（3）的正向垂直光路方向依次設置有透鏡（11）和光電二極管（10），光電二極管（10）連接比較電路（9），光電二極管（7）連接前置放大電路（8），前置放大電路（8）連接比較電路（9），載物臺（12）的斜側面設置有第二He-Ne激光器（2）。所述的光干涉器（5）為法布里-珀羅標準具。所述的比較電路（9）包括第一MOS管（13）、第二MOS管（14）、第三MOS管（15）、第四MOS管（16）、第五MOS管（17）、第六MOS管（18）、第七MOS管（19）、第一電阻（20）、第二電阻（21）、第八MOS管（22）、第九MOS管（23）、第三電阻（24）、運算放大器（25）、電容（26），第一MOS管（13）的柵極與第二MOS管（14）的柵極相連，第三MOS管（15）的柵極與第四MOS管（16）的柵極相連，第五MOS管（17）的柵極與第六MOS管（18）的柵極相連，第一MOS管（13）的漏極與第三MOS管（15）的源極相連，第二MOS管（14）的漏極與第四MOS管（16）的源極相連，第三MOS管（15）的漏極與第五MOS管（17）的漏極和柵極相連，第六MOS管（18）的漏極與第四MOS管（16）的漏極和柵極相連，第五MOS管（17）的源極和第六MOS管（18）的源極接地，第六MOS管（18）的柵極與第七MOS管（19）的柵極相連，第七MOS管（19）的漏極與第一電阻（20）的一端相連，第七MOS管（19）的源極接地，第一電阻（20）的另一端與第二電阻（21）的一端相連同時與運算放大器（25）的同相輸入端相連，第二電阻（21）的另一端與第八MOS管（22）的柵極和漏極相連，第三電阻（24）的一端連接第九MOS管（23）的柵極和漏極，第三電阻（24）的另一端接地同時與運算放大器（25）的反相輸入端相連，運算放大器（25）的輸出端接電容（26）。本技術的有益效果為 ：1、通過合理的光路設計并配合不同的激光源，直接對紅木工藝品的硬度進行非接觸式測量，避免了現有測量裝置需要采取按壓、擊打或劃刻等方式進行測量而帶來的可能對紅木工藝品造成的損壞。2、采用激光非接觸式測量相比于現有測量方式，可以得到更加精確地測量結果。附圖說明圖 1 是本技術的結構圖。圖 2 是本技術比較電路的電路圖。具體實施方式以下結合附圖和實施例對本技術做進一步描述 ：如圖1所示，一種紅木工藝品硬度測量裝置，包括第一Nd:YAG脈沖激光器（1）、第二He-Ne激光器（2）、分光鏡（3）、透鏡（4）、光干涉器（5）、透鏡（6）、光電二極管（7）、前置放大電路（8）、比較電路（9）、光電二極管（10）、透鏡（11）和載物臺（12），第一Nd:YAG脈沖激光器（1）的出光口前置有分光鏡（3），分光鏡（3）的正向水平光路方向依次設置有透鏡（4）、載物臺（12）、光干涉器（5）、透鏡（6）和光電二極管（7），分光鏡（3）的正向垂直光路方向依次設置有透鏡（11）和光電二極管（10），光電二極管（10）連接比較電路（9），光電二極管（7）連接前置放大電路（8），前置放大電路（8）連接比較電路（9），載物臺（12）的斜側面設置有第二He-Ne激光器（2）。實際工作過程中，第一Nd:YAG脈沖激光器（1）用來激發超聲脈沖，其工作波長為1064nm，脈沖寬度為5ns，頻率為1Hz，單脈沖能量在60mJ內連續可調，能量控制在10-12mJ以下，使其處于熱彈機制狀態下；第二He-Ne激光器（2）其功率為5mW，用來檢測載物臺（12）上的樣品表面待測處的超聲振動；分光鏡（3）的作用是對第一Nd:YAG脈沖激光器（1）產生的脈沖激光進行分束，一路經過透鏡（6）匯聚成直徑為2-4mm的光束照射到樣品表面，激發激光超聲，另一路則經過透鏡（11）匯聚于光電二極管（10）上，給比較電路（9）提供同步信號；光干涉器（5）為法布里-珀羅標準具，用來接收檢測光束的反射光，并把超聲信號分離出來；光電二極管（10）和光電二極管（7）的作用是進行光電轉換，分別給比較電路（9）提供同步信號和接收出射光；前置放大電路（8）采用射極跟隨放大電路，用于接收光電二極管（7）輸出的電信號并對其中的微弱超聲信號進行放大；比較電路（9）用于檢測超聲信號變化，并輸出代表硬度值的電壓。如圖2所示，所述的比較電路（9）包括第一MOS管（13）、第二MOS管（14）、第三MOS管（15）、第四MOS管（16）、第五MOS管（17）、第六MOS管（18）、第七MOS管（19）、第一電阻（20）、第二電阻（21）、第八MOS管（22）、第九MOS管（23）、第三電阻（24）、運算放大器（25）、電容（26），第一MOS管（13）的柵極與第二MOS管（14）的柵極相連，第三MOS管（15）的柵極與第四MOS管（16）的柵極相連，第五MOS管（17）的柵極與第六MOS管（18）的柵極相連，第一MOS管（13）的漏極與第三MOS管（15）的源極相連，第二MOS管（14）的漏極與第四MOS管（16）的源極相連，第三MOS管（15）的漏極與第五MOS管（17）的漏極和柵極相連，第六MOS管（18）的漏極與第四MOS管（16）的漏極和柵極相連，第五MOS管（17）的源極和第六MOS管（18）的源極接地，第六MOS管（18）的柵極與第七MOS管（19）的柵極相連，第七MOS管（19）的漏極與第一電阻（20）的一端相連，第七MOS管（19）的源極接地，第一電阻（20）的另一端與第二電阻（21）的一端相連同時與運算放大器（25）的同相輸入端相連，第二電阻（21）的另一端與第八MOS管（22）的柵極和漏極相連，第三電阻（24）的一端連接第九MOS管（23）的柵極和漏極，第三電阻（24）的另一端本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種紅木工藝品硬度測量裝置，其特征在于：包括第一Nd:YAG脈沖激光器（1）、第二He?Ne激光器（2）、分光鏡（3）、透鏡（4）、光干涉器（5）、透鏡（6）、光電二極管（7）、前置放大電路（8）、比較電路（9）、光電二極管（10）、透鏡（11）和載物臺（12），第一Nd:YAG脈沖激光器（1）的出光口前置有分光鏡（3），分光鏡（3）的正向水平光路方向依次設置有透鏡（4）、載物臺（12）、光干涉器（5）、透鏡（6）和光電二極管（7），分光鏡（3）的正向垂直光路方向依次設置有透鏡（11）和光電二極管（10），光電二極管（10）連接比較電路（9），光電二極管（7）連接前置放大電路（8），前置放大電路（8）連接比較電路（9），載物臺（12）的斜側面設置有第二He?Ne激光器（2）。
【技術特征摘要】
1.一種紅木工藝品硬度測量裝置，其特征在于：包括第一Nd:YAG脈沖激光器（1）、第二He-Ne激光器（2）、分光鏡（3）、透鏡（4）、光干涉器（5）、透鏡（6）、光電二極管（7）、前置放大電路（8）、比較電路（9）、光電二極管（10）、透鏡（11）和載物臺（12），第一Nd:YAG脈沖激光器（1）的出光口前置有分光鏡（3），分光鏡（3）的正向水平光路方向依次設置有透鏡（4）、載物臺（12）、光干涉器（5）、透鏡（6）和光電二極管（7），分光鏡（3）的正向垂直光路方向依次設置有透鏡（11）和光電二極管（10），光電二極管（10）連接比較電路（9），光電二極管（7）連接前置放大電路（8），前置放大電路（8）連接比較電路（9），載物臺（12）的斜側面設置有第二He-Ne激光器（2）。2.根據權利要求1所述的一種紅木工藝品硬度測量裝置，其特征在于：所述的光干涉器（5）為法布里-珀羅標準具。3.根據權利要求1所述的一種紅木工藝品硬度測量裝置，其特征在于：所述的比較電路（9）包括第一MOS管（13）、第二MOS管（14）、第三MOS管（15）、第四MOS管（16）、第五MOS管（17）、第六MOS管（18）、第七MOS管（19）、第一電阻（20）、第二電阻（21...
【專利技術屬性】
技術研發人員：洪月華，
申請(專利權)人：洪月華，
類型：新型
國別省市：廣西;45
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