The invention relates to the use of grinding paste and method for dendrite low times test specimen processing and preparation method, solve the existing grinding paste can not meet the different types of dendrite low times billet surface inspection of roughness Ra is less than or equal to 0.1 M technology and high production cost at the same time. With a paste of dendrite low times test specimen processing, from green silicon carbide abrasive powder, lubricant, grinding agent composition, its components with the weight portions of green silicon carbide abrasive powder 35~60 parts, lubricants 25~35, grinding agent 15~35, the lubricant for lithium grease, the help grinding agent for toothpaste. The invention relates to a polishing paste used for the polishing process of the sample with low sample size of continuous casting billets.
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及研磨膏
,特別涉及一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏及其制備方法。
技術介紹
低倍檢驗是判斷連鑄鋼坯質量的主要手段,鋼鐵企業對連鑄鋼坯凝固后內部質量缺陷多采取低倍檢驗法進行檢測,常用的低倍檢驗方法有硫印檢驗、熱酸腐蝕、冷酸腐蝕、電解腐蝕及枝晶檢驗;與其它低倍檢驗方法相比,枝晶檢驗具有能準確地顯示連鑄板坯內部缺陷,清晰顯示連鑄坯的凝固組織,對缺陷可按1:1的比例顯示,不擴大、不縮小缺陷范圍等優點。由于該法操作簡單,能夠及時準確為企業提供質量信息、探求改善連鑄坯質量的途徑和措施創造條件,受到鋼鐵企業的高度重視。不同的低倍檢驗方法對試樣的表面粗糙度要求不同,采用枝晶檢驗的鋼坯試樣表面粗糙度Ra≤0.1μm,硫印檢驗和熱酸腐蝕低倍檢驗的鋼坯試樣表面粗糙度Ra≤1.6μm,冷酸腐蝕低倍檢驗的鋼坯試樣表面粗糙度Ra≤0.8μm,因此制備枝晶檢驗試樣時需要對試樣進行一道拋光加工,且拋光面積大,拋光時需要采用研磨膏,以滿足枝晶低倍檢驗方法對試樣表面粗糙度要求。現有的研磨膏無法同時滿足不同鋼種枝晶低倍檢驗的鋼坯試樣表面粗糙度Ra≤0.1μm的要求,且拋光后鋼坯試樣板面發暗,腐蝕后連鑄坯的凝固組織不清晰,而且生產成本高。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏及其制備方法,解決現有研磨膏無法同時滿足不同鋼種枝晶低倍檢驗的鋼坯試樣表面粗糙度Ra≤0.1μm、生產成本高的技術問題,進而提高連鑄鋼坯缺陷檢驗的準確性。本專利技術采用的技術方案是:一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏,由綠碳化硅研磨粉、潤滑劑、助磨劑組成,其各組份的重量份為綠碳 ...
【技術保護點】
一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏,其特征是:由綠碳化硅研磨粉、潤滑劑、助磨劑組成,其各組份的重量份為綠碳化硅研磨粉35~60份、潤滑劑25~35份、助磨劑15~35份,所述的潤滑劑為鋰基潤滑脂,所述的助磨劑為牙膏。
【技術特征摘要】
1. 一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏,其特征是:由綠碳化硅研磨粉、潤滑劑、助磨劑組成,其各組份的重量份為綠碳化硅研磨粉35~60份、潤滑劑25~35份、助磨劑15~35份,所述的潤滑劑為鋰基潤滑脂,所述的助磨劑為牙膏。2.如權利要求1所述的一種枝晶低倍檢驗試樣加工用研磨膏,其特征是:待檢驗試樣試樣中w[C]≤0.07%時,所述的綠碳化硅研磨粉的粒度為W2.5;待檢驗試樣w[C...
【專利技術屬性】
技術研發人員:林學武,張斌,王長豪,
申請(專利權)人:上海梅山鋼鐵股份有限公司,
類型:發明
國別省市:江蘇;32
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