大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座制造技術(shù)

本實(shí)用新型專利技術(shù)公開了一種大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，涉及大尺寸陶瓷針柵陣列插座技術(shù)領(lǐng)域，在原有陶瓷針柵陣列外殼測試插座基礎(chǔ)上，增大尺寸，增加了固定蓋，固定蓋內(nèi)側(cè)設(shè)有調(diào)節(jié)彈簧，固定蓋和基座通過合頁連接，基座中央?yún)^(qū)域做成凹槽或者空腔，在插座背面增加PCB版，基座和固定蓋遠(yuǎn)離合頁的一側(cè)分別設(shè)置有卡槽和卡扣，通過卡扣扣入卡槽即可將陶瓷針柵陣列外殼壓緊于插座中，該插座可供大尺寸帶散熱片，不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼使用，能夠做到無損插拔、測試，還可以使用該插座做飛針測試。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)涉及大尺寸陶瓷針柵陣列插座

技術(shù)介紹
大尺寸陶瓷針柵陣列（CPGA型）外殼可用于系統(tǒng)級封裝，其具有單面腔體、正反兩面腔體及上下通腔型等多種結(jié)構(gòu)，該類管殼可內(nèi)置LTCC基板，進(jìn)行立體封裝，具有優(yōu)越的承載能力，并且方便集成多種混合集成電路，具有體積小、重量輕，引線排列方式自由多樣等特點(diǎn)，可替代傳統(tǒng)的系統(tǒng)級封裝用金屬外殼，廣泛應(yīng)用于航空、航天等軍事裝備控制系統(tǒng)用封裝外殼。大尺寸CPGA類產(chǎn)品，由于外形尺寸過大超出國際標(biāo)準(zhǔn)插座，現(xiàn)有測試插座已經(jīng)無法滿足要求，隨著陶瓷針柵陣列外殼多樣化，背面增加散熱片凸出的外殼使用現(xiàn)有插座無法牢固的固定在測試插座上，即使固定在插座上，測試過程中也容易對管殼引腳造成損傷。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，通過增大插座尺寸，增加固定蓋，在固定蓋內(nèi)側(cè)設(shè)置調(diào)節(jié)彈簧，將基座中間區(qū)域做成凹槽或者做成空腔，插座背面增加PCB版等多種技術(shù)手段，可供大尺寸帶散熱片，不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼使用，能夠做到無損插拔、測試，還可以使用該插座做飛針測試。為解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)所采取的技術(shù)方案是：大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于，包含基座、固定蓋，所述基座上分布有針柵陣列插孔，基座和固定蓋通過合頁連接，合頁活動(dòng)可使基座和固定蓋打開或者對應(yīng)扣在一起。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的基座和固定蓋遠(yuǎn)離合頁一側(cè)分別設(shè)有卡槽和卡扣，可將陶瓷針柵陣列外殼壓緊于基座和固定蓋之間。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的基座中央?yún)^(qū)域設(shè)有凹槽或者空腔，可用于帶散熱片凸出的陶瓷針柵陣列外殼。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的固定蓋內(nèi)側(cè)設(shè)有調(diào)節(jié)彈簧，調(diào)節(jié)彈簧在對應(yīng)針柵陣列插孔區(qū)域均勻分布，可適應(yīng)不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的基座通過螺栓固定于基板上。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的基板背面設(shè)有與基座針柵陣列插孔連接的PCB版，可實(shí)現(xiàn)飛針測試。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的針柵陣列插孔有2.54mm規(guī)則排列，2.54mm交錯(cuò)排列和1.27mm規(guī)則排列。進(jìn)一步優(yōu)化的技術(shù)方案為所述的固定蓋可設(shè)置為工形板，減輕插座的重量。采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于：解決了現(xiàn)有陶瓷針柵陣列外殼測試插座尺寸小，無法滿足大尺寸陶瓷針柵陣列外殼使用，在現(xiàn)有陶瓷針柵陣列外殼測試插座基礎(chǔ)上增加了固定蓋，有效防止測試時(shí)管殼與插座相互滑動(dòng)甚至脫落，避免測試時(shí)對管殼引腳造成損傷，能夠做到無損插拔、測試，在基座上設(shè)置了凹槽或空腔，可供帶散熱條的陶瓷針柵陣列外殼測試用，在固定蓋內(nèi)側(cè)增加了調(diào)節(jié)彈簧，可以容納不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼，該插座背面增加PCB版，可實(shí)現(xiàn)飛針測試。附圖說明圖1是本技術(shù)第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本技術(shù)第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是卡槽和卡扣結(jié)構(gòu)示意圖。圖中：1、基板；2、基座；3、固定蓋；4、插孔；5、合頁；6、空腔；7、調(diào)節(jié)彈簧；8、卡槽；9、卡扣；10、螺栓；11、凹槽。具體實(shí)施方式下面將結(jié)合本技術(shù)實(shí)施例中的附圖，對本技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本技術(shù)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下在本技術(shù)的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，都屬于本技術(shù)保護(hù)的范圍。如圖1所示，為大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座的第一個(gè)實(shí)施例，該實(shí)施例尺寸比國際標(biāo)準(zhǔn)插座尺寸大，可供大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試用，包含基座2和固定蓋3，固定蓋3能夠有效防止測試時(shí)管殼與插座相互滑動(dòng)甚至脫落，避免測試時(shí)對管殼引腳造成損傷，能夠做到無損插拔、測試，基座2和固定蓋3通過三個(gè)合頁5連接，合頁5可實(shí)現(xiàn)開合動(dòng)作，基座2上兩端分布針柵陣列插孔4，中間區(qū)域?yàn)榘疾?1，用來放置背面有散熱片凸出的陶瓷針柵陣列外殼，同時(shí)也能減輕測試插座的重量，在固定蓋3內(nèi)側(cè)有六個(gè)調(diào)節(jié)彈簧7，調(diào)節(jié)彈簧7均勻位于針柵陣列插孔4正上方區(qū)域，通過調(diào)節(jié)彈簧7可以使基座2和固定蓋3之間容納不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼，基座2和固定蓋3遠(yuǎn)離合頁5的一側(cè)分別設(shè)置有卡槽8和卡扣9，通過卡扣9扣入卡槽8即可將陶瓷針柵陣列外殼壓緊于插座中，整個(gè)插座通過四個(gè)螺栓10固定在基板1上。如圖2所示，為大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座的第二個(gè)實(shí)施例，該實(shí)施例尺寸比國際標(biāo)準(zhǔn)插座尺寸大，可供大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試用，包含基座2和固定蓋3，固定蓋3能夠有效防止測試時(shí)管殼與插座相互滑動(dòng)甚至脫落，避免測試時(shí)對管殼引腳造成損傷，能夠做到無損插拔、測試，固定蓋3設(shè)計(jì)為工形板，可減小插座重量，基座2和固定蓋3通過合頁5連接，合頁5可實(shí)現(xiàn)開合動(dòng)作，基座2上兩端分布針柵陣列插孔4，中間區(qū)域?yàn)榭涨?，用來放置背面有散熱片凸出的陶瓷針柵陣列外殼，同時(shí)也能減輕測試插座的重量，在固定蓋3內(nèi)側(cè)有六個(gè)調(diào)節(jié)彈簧7，調(diào)節(jié)彈簧7均勻位于針柵陣列插孔4正上方區(qū)域，通過調(diào)節(jié)彈簧7可以使基座2和固定蓋3之間容納不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼，基座2和固定蓋3遠(yuǎn)離合頁5的一側(cè)分別設(shè)置有卡槽8和卡扣9，通過卡扣9扣入卡槽8即可將陶瓷針柵陣列外殼壓緊于插座中，整個(gè)插座通過六個(gè)螺栓10固定在基板1上。如圖3所示，卡槽8連接在基座2上，卡扣9連接在固定蓋3上。將固定蓋3蓋到基座2上，卡扣9的斜面順著卡槽8的斜面移動(dòng)，帶動(dòng)卡扣9滑到卡槽8下面即可將柵陣列外殼緊緊固定在基座2和固定蓋3之間，輕輕向外側(cè)移動(dòng)卡扣9即可將固定蓋3與基座2分離，方便取出柵陣列外殼。基板1外側(cè)設(shè)有與基座2針柵陣列插孔4連接的PCB版，可以實(shí)現(xiàn)飛針測試。柵陣列插孔4節(jié)距有2.54mm規(guī)則排列，2.54mm交錯(cuò)排列和1.27mm規(guī)則排列，基座2尺寸為145mm×145mm，可供小于該尺寸的陶瓷針柵陣列外殼測試用，由于插座在厚度方向具有調(diào)節(jié)彈簧7，可根據(jù)具體產(chǎn)品厚度調(diào)節(jié)，故厚度方向尺寸不限。另外該插座可根據(jù)管殼的具體結(jié)構(gòu)、引腳的排列方式及尺寸對插座進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整更改，定制符合使用要求的測試插座。采用上述技術(shù)方案，解決了現(xiàn)有陶瓷針柵陣列外殼測試插座尺寸小，無法滿足大尺寸陶瓷針柵陣列外殼使用，在現(xiàn)有陶瓷針柵陣列外殼測試插座基礎(chǔ)上增加了固定蓋，有效防止測試時(shí)管殼與插座相互滑動(dòng)甚至脫落，避免測試時(shí)對管殼引腳造成損傷，能夠做到無損插拔、測試，在基座上設(shè)置了凹槽或空腔，可供帶散熱條的陶瓷針柵陣列外殼測試用，在固定蓋內(nèi)側(cè)增加了調(diào)節(jié)彈簧，可以容納不同厚度的陶瓷針柵陣列外殼，該插座背面增加PCB版，可實(shí)現(xiàn)飛針測試。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于：包含基座（2）、固定蓋（3），所述基座（2）上分布有針柵陣列插孔（4），基座（2）和固定蓋（3）通過合頁（5）連接，合頁（5）活動(dòng)可使基座（2）和固定蓋（3）打開或者對應(yīng)扣在一起。

【技術(shù)特征摘要】
1.大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于：包含基座（2）、固定蓋（3），所述基座（2）上分布有針柵陣列插孔（4），基座（2）和固定蓋（3）通過合頁（5）連接，合頁（5）活動(dòng)可使基座（2）和固定蓋（3）打開或者對應(yīng)扣在一起。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于所述基座（2）和固定蓋（3）遠(yuǎn)離合頁（5）的一側(cè)分別設(shè)有卡槽（8）和卡扣（9），可將陶瓷針柵陣列外殼壓緊于基座（2）和固定蓋（3）之間。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于所述基座（2）中央?yún)^(qū)域設(shè)有凹槽（11）或者空腔（6），可用于帶散熱片凸出的陶瓷針柵陣列外殼。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大尺寸陶瓷針柵陣列外殼測試插座，其特征在于所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：楊振濤，彭博，
申請(專利權(quán))人：中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所，
類型：新型
國別省市：河北;13