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    射頻測試裝置、數據處理方法及設備、射頻測試系統制造方法及圖紙

    技術編號:14271431 閱讀:120 留言:0更新日期:2016-12-23 16:05
    本發明專利技術涉及測試技術領域,公開了一種射頻測試裝置、數據處理方法及設備、射頻測試系統,該射頻測試裝置包括:夾具,用于將放置在夾具內部的待測物與信號接收板夾緊固定;信號接收板,所述信號接收板安裝在所述夾具內,用于接收所述待測物的測試信號并將該測試信號通過傳輸線輸出;以及屏蔽箱,用于將測試環境與外部環境隔離。本發明專利技術使用射頻測試裝置對待測物(例如射頻發射/接收元件)進行測試,減少了人工的干預,提高了測試的可靠性和測試效率,有效地把待測物的信號損耗控制在一個有限的范圍內并且減少了其他外部因素的影響。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及測試
    ,具體地,涉及一種射頻測試裝置、一種數據處理方法、一種數據處理設備、以及一種射頻測試系統。
    技術介紹
    在現有的射頻測試領域中,對于射頻發射/接收元件(例如天線)的測試一般采用的測試方法為:在天線處焊接一根信號傳輸線,再進行常規測試。但是采用這種方法主要存在以下問題:(1)焊接方法與焊點的不同會影響到信號的穩定性,使每一個待測物的信號損耗都不同,缺乏標準化,測試效率低下。(2)在測試完成后,需要取下焊接上的信號傳輸線,使得測試效率低下。因此,需要在測試中盡量把不穩定的因素確定下來,減少外部因素對測試結果的干擾。即現有技術中缺少一種能夠提高對待測物的測試可靠性和測試效率的測試裝置以及相關方法。
    技術實現思路
    針對現有技術中存在的射頻領域中測試可靠性不高和測試效率低下的技術問題,本專利技術提供了一種射頻測試裝置,該裝置包括:夾具,用于將放置在夾具內部的待測物與信號接收板夾緊固定;信號接收板,所述信號接收板安裝在所述夾具內,用于接收所述待測物的測試信號并將該測試信號通過傳輸線輸出;以及屏蔽箱,用于將測試環境與外部環境隔離。優選地,所述夾具包括:第一固定裝置、上頂板、頂針、第一彈性元件、第二彈性元件、第二固定裝置、以及下底板,其中:所述第一固定裝置固定在所述上頂板上,所述頂針安裝在所述上頂板上,所述上頂板的左端部與所述下底板的左端部之間通過所述第一彈性元件連接,所述上頂板的右端部與所述下底板的右端部之間通過所述第二彈性元件連接,以及所述第二固定裝置安裝在所述下底板上,用于將所述待測物和所述信號接收板固定。優選地,所述待測物為射頻發射/接收元件。相應地,本專利技術還提供了一種對本專利技術提供的射頻測試裝置獲得的測試信號進行數據處理的數據處理方法,該方法包括:接收來自射頻測試裝置的針對待測物的測試信號;以及根據所述測試信號和所述待測物的類型對應的校準模型,確定所述待測物的測試結果。優選地,所述校準模型包括:與所述待測物的類型對應的標準測量物在所述射頻測試裝置中測試獲得的標準信號和標準補償值。優選地,所述根據所述測試信號和所述待測物的類型對應的校準模型確定所述待測物的測試結果包括:計算所述測試信號與所述標準信號之間的差值;以及將所述差值與所述標準補償值相加作為所述待測物的測試結果。此外,本專利技術還提供了一種對本專利技術提供的射頻測試裝置獲得的測試信號進行數據處理的數據處理設備,該設備包括:接收器,用于接收來自射頻測試裝置的針對待測物的測試信號;以及處理器,用于根據所述測試信號和所述待測物的類型對應的校準模型確定所述待測物的測試結果。優選地,所述校準模型包括:與所述待測物的類型對應的標準測量物在所述射頻測試裝置中測試獲得的標準信號和標準補償值。優選地,所述處理器用于:計算所述測試信號與所述標準信號之間的差值;以及將所述差值與所述標準補償值相加作為所述待測物的測試結果。另外,本專利技術還提供了一種射頻測試系統,該系統包括:本專利技術提供的射頻測試裝置,用于對待測物進行測試并輸出測試信號;以及本專利技術提供的數據處理設備,所述數據處理設備與所述射頻測試裝置連接,用于對所述測試信號進行數據處理以確定針對所述待測物的測試結果。通過上述技術方案,使用射頻測試裝置對待測物(例如射頻發射/接收元件)進行測試,減少了人工的干預,提高了測試的可靠性和測試效率,有效地把待測物的信號損耗控制在一個有限的范圍內并且減少了其他外部因素的影響。優選地,采用本專利技術提供的數據處理方法和設備可以精確地計算測試結果,進一步保證了測量結果的可靠性。本專利技術的其它特征和優點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。附圖說明附圖是用來提供對本專利技術的進一步理解,并且構成說明書的一部分,與下面的具體實施方式一起用于解釋本專利技術,但并不構成對本專利技術的限制。在附圖中:圖1是根據本專利技術的一種實施方式的示例射頻測試系統的結構示意圖;圖2是根據本專利技術的一種實施方式的示例數據處理設備的結構示意圖;以及圖3是根據本專利技術的一種實施方式的示例數據處理方法的流程圖。具體實施方式以下結合附圖對本專利技術的具體實施方式進行詳細說明。應當理解的是,此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本專利技術,并不用于限制本專利技術。為了更加清楚地說明本專利技術的思想,下面以示例射頻測試系統為例進行詳細地說明。圖1是根據本專利技術的一種實施方式的示例射頻測試系統1000的結構示意圖,如圖1所示,該系統可以包括:本專利技術的射頻測試裝置100,用于對待測物進行測試并輸出測試信號;以及數據處理設備200,所述數據處理設備200與所述射頻測試裝置100連接,用于對所述測試信號進行數據處理以確定針對所述待測物的測試結果。具體地,如圖1所示,該射頻測試裝置100可以包括:夾具,用于將放置在夾具內部的待測物4與信號接收板6夾緊固定。例如,所述夾具可以包括:第一固定裝置1、上頂板2、頂針3、第一彈性元件9、第二彈性元件10、第二固定裝置5、以及下底板8,其中:所述第一固定裝置1固定在所述上頂板2上,所述頂針3安裝在所述上頂板2上,所述上頂板2的左端部與所述下底板8的左端部之間通過第一彈性元件9連接,以及所述上頂板2的右端部與所述下底板8的右端部之間通過第二彈性元件10連接,以及所述第二固定裝置5安裝在所述下底板2上,用于將所述待測物4和所述信號接收板6固定。優選地,所述第一彈性元件9和第二彈性元件10可以為彈簧。所述信號接收板6安裝在所述夾具內,例如安裝在所述下底板8上的任意適當的位置,用于接收所述待測物的測試信號并將該測試信號通過傳輸線7輸出,其中所述信號接收板6和所述待測物4之間可以緊密連接,也可以具有一定的間距;以及屏蔽箱11,用于將測試環境與外部環境隔離,以避免信號干擾。其中,所述第一固定裝置1、上頂板2、第二固定裝置5可以由任何適當的材質制成,例如亞克力板。以及所述頂針3可以由任何適當的材質制成,例如不銹鋼。所述信號接收板可以為任意類型的接收板,例如銅耦合板。在使用該射頻測試裝置100時,如圖1所示,可以先將待測物4(例如射頻發射/接收元件,諸如天線等)的一部分固定在第二固定裝置5處,待測物4的另一部分可以與所述信號接收板6連接或具有一定間距的固定。之后,通過對第一固定裝置1施加力,使得第一彈性元件9和第二彈性元件10向下做功并直到頂針3與所述待測物4和信號接收板6充分接觸,信號接收板6接收待測物4的測試信號并將其通過傳輸線7輸出,例如輸出到數據處理設備200確定測試結果。為了確定測試結果,本專利技術的數據處理設備200需要預先建立校準模型,所述校準模型可以包括:與所述待測物的類型對應的標準測量物在所述射頻測試裝置中測試獲得的標準信號和標準補償值。因此,對于標準信號仍需要使用該射頻測試裝置100測得,如圖1所示,可以先將標準測量物,即與所述待測物的類型對應的標準測量物(例如對應不同類型的射頻發射/接收元件的標準板)的一部分固定在第二固定裝置5處,標準測量物的另一部分可以與所述信號接收板6連接或具有一定間距的固定。之后,通過對第一固定裝置1施加力,使得第一彈性元件9和第二彈性元件10向下做功并直到頂針3與標準測量物和信號接收板6充分接觸,信號接收板6接收標準測量物的測試信號作為標準信號并將其通過傳輸線7輸出,例如輸出到數據處理本文檔來自技高網...
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    【技術保護點】
    一種射頻測試裝置,其特征在于,該裝置包括:夾具,用于將放置在夾具內部的待測物與信號接收板夾緊固定;信號接收板,所述信號接收板安裝在所述夾具內,用于接收所述待測物的測試信號并將該測試信號通過傳輸線輸出;以及屏蔽箱,用于將測試環境與外部環境隔離。

    【技術特征摘要】
    1.一種射頻測試裝置,其特征在于,該裝置包括:夾具,用于將放置在夾具內部的待測物與信號接收板夾緊固定;信號接收板,所述信號接收板安裝在所述夾具內,用于接收所述待測物的測試信號并將該測試信號通過傳輸線輸出;以及屏蔽箱,用于將測試環境與外部環境隔離。2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述夾具包括:第一固定裝置、上頂板、頂針、第一彈性元件、第二彈性元件、第二固定裝置、以及下底板,其中:所述第一固定裝置固定在所述上頂板上,所述頂針安裝在所述上頂板上,所述上頂板的左端部與所述下底板的左端部之間通過所述第一彈性元件連接,所述上頂板的右端部與所述下底板的右端部之間通過所述第二彈性元件連接,以及所述第二固定裝置安裝在所述下底板上,用于將所述待測物和所述信號接收板固定。3.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述待測物為射頻發射/接收元件。4.一種對權利要求1-3中任一項權利要求所述的射頻測試裝置獲得的測試信號進行數據處理的數據處理方法,其特征在于,該方法包括:接收來自射頻測試裝置的針對待測物的測試信號;以及根據所述測試信號和所述待測物的類型對應的校準模型,確定所述待測物的測試結果。5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述校準模型包括:與所述待測物的類型對應的標準測量物在所述射頻測試裝置中測試獲得的標...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:李萬華,鄧兆忠,鄧繼元,
    申請(專利權)人:美的智慧家居科技有限公司,美的集團股份有限公司,
    類型:發明
    國別省市:廣東;44

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