一種照度檢測設備制造技術

本實用新型專利技術涉及一種照度檢測設備，包括采光鏡、導光柱、殼體、傳感器和電路板，所述殼體頂部設有安裝導光柱的通孔，所述采光鏡與導光柱固定連接，所述電路板固定在殼體底部，所述傳感器固定在電路板上，其位置與導光柱對應，用于檢測經導光柱進入的光，所述導光柱的底面為斜面，所述殼體內壁為黑色吸光面。本實用新型專利技術可以測量所有太陽光的強度，光衰減一致性好，結構簡單，且成本低。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及照度檢測領域，具體地涉及一種照度檢測設備。
技術介紹
市面上的大多數照度傳感器，其測量范圍有限（如1-65535lx），而地面上晴天照度會超出測量范圍（如最高可達到107780lx以上），為了能夠測量晴朗的日照，必須將照度傳感器的測量區間提高；為了將傳感器的測量區間提高，可以將太陽光進行固定比例的衰減后（比如50%），再通過照度傳感器進行照度采集，這樣照度傳感器的測量范圍提高2倍（即測量范圍為2-131070lx），由于實際自然環境中，當光照低于2lx，肉眼會感覺非常暗我們可以處理成0，即等效于測量范圍為0-131070lx，這樣通過照度傳感器就能夠測量所有太陽光的照度。將太陽光進行固定比例的衰減，很多廠家采用半透明材料，但很多半透明材料的生產工藝，都是通過在透明材料里加“擴光粉”來實現的，由此生產出的光衰減器件，其衰減率一致性非常差，使用前還需對其進行測試分選，降低了生產效率，加大了生產成本。
技術實現思路
本技術的目的在于為解決上述問題而提供一種光衰減一致性好，結構簡單，成本低的照度檢測設備。為此，本技術公開了一種照度檢測設備，包括采光鏡、導光柱、殼體、傳感器和電路板，所述殼體頂部設有安裝導光柱的通孔，所述采光鏡與導光柱固定連接，所述電路板固定在外殼底部，所述傳感器固定在電路板上，其位置與導光柱對應，用于檢測經導光柱進入的光，所述導光柱的底面為斜面。進一步的，所述殼體內壁為黑色吸光面。進一步的，所述采光鏡與導光柱為一體成型件，所述采光鏡為半球形，半球面為采光面。進一步的，所述殼體上設有安裝盤。進一步的，所述導光柱和傳感器之間設有整光鏡，導光柱的底面與整光鏡的頂面相互平行，且構成一個氣隙。本技術的有益技術效果：本技術通過調整導光柱底部斜面的斜度，可以精確控制太陽光的衰減率，實現測量所有太陽光的強度，且衰減率一致性好，本技術結構簡單，制造方便，成本低。附圖說明圖1為本技術實施例一的結構分解示意圖；圖2為本技術實施例二的剖面示意圖。具體實施方式現結合附圖和具體實施方式對本技術進一步說明。實施例一：如圖1所示，一種照度檢測設備，包括采光鏡1、導光柱11、殼體3（本實施例中，殼體3內壁優選為黑色吸光面，以更好吸收反射光）、傳感器4和電路板5，所述采光鏡1為半球型，半球面為采光面，這樣可以最大限度接受太陽光，采光鏡1與導光柱11固定連接（本實施例中采光鏡1與導光柱11為一體成型件，這樣制造方便，成本低廉），制造材料一般要求耐候性好，如采用聚碳酸酯和亞克力，因為設備主要是檢測太陽光照度，受太陽光直曬時間長，溫度較高。殼體3的頂部設有安裝導光柱11的通孔31，采光鏡1緊密固定（如采用光學膠粘合）于通孔31上（在其它實施例中，采光鏡與通孔可以不用緊密固定，但它們之間的縫隙須進行遮光處理，防止光從其中進入導光柱，影響測量精度），電路板5直接鎖在殼體3底部（在其它實施例中，也可以是焊接或粘結等方式固定于殼體底部），以方便后續維修，并通過遮光處理，確保傳感器4采集的光，只能從導光柱11輸入，傳感器4焊接在電路板5上（其它實施例中也可以是粘接等其它方式固定），其位置與導光柱11對應，用于檢測經導光柱11進入的光，導光柱11的底面為斜面，太陽光經過時，會反射出去一部分，反射光被殼體的黑色吸光面吸收，剩余的一部分直接折射到傳感器4，所以，通過調整導光柱11底部斜面的斜度，可以精確控制太陽光的衰減率，且衰減率一致性好。此外，本優選實施例中，殼體3外部還固定有安裝盤32（本實施例中為一體成型件，方便制造，價格低廉），安裝盤32上設有螺絲孔，檢測設備通過螺絲孔直接鎖在與檢測設備配套的設備頂部的對應位置。本實施例照度檢測原理：太陽光通過采光鏡1采集后，由導光柱11導向傳感器4，太陽光經過導光柱11的底部斜面時，一部分光被斜面反射出去，這些反射光被通孔的黑色吸光面吸收，剩余的一部分直接折射到傳感器4，傳感器4將對這部分光進行強度檢測，檢測到的傳感信號通過電路板5的引線傳輸到對應的設備上進行處理顯示。通過調整導光柱11底部斜面的斜度，可以精確控制太陽光的衰減率，實現對所有太陽光強度的檢測。實施例二：如圖2所示，本實施例除了包含實施例一的所有部件結構外，在導光柱11與傳感器4之間還設有整光鏡2，導光柱11的底面與整光鏡2的頂面相互平行，并構成一個氣隙。照度檢測原理：太陽光通過采光鏡1采集后，由導光柱11導向整光鏡2，太陽光經過氣隙要經過兩次反射，這些反射光被殼體的黑色吸光面吸收，剩余的一部分通過整光鏡2折射傳導給傳感器4，傳感器4將對這部分光進行強度檢測，檢測到的傳感信號通過電路板5的引線傳輸到對應的設備上進行處理顯示。通過調整氣隙的角度，可以精確控制太陽光的衰減率，實現對所有太陽光強度的檢測。盡管結合優選實施方案具體展示和介紹了本技術，但所屬領域的技術人員應該明白，在不脫離所附權利要求書所限定的本技術的精神和范圍內，在形式上和細節上可以對本技術做出各種變化，均為本技術的保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種照度檢測設備，包括采光鏡、導光柱、殼體、傳感器和電路板，所述殼體頂部設有安裝導光柱的通孔，所述采光鏡與導光柱固定連接，所述電路板固定在殼體底部，所述傳感器固定在電路板上，其位置與導光柱對應，用于檢測經導光柱進入的光，其特征在于：所述導光柱的底面為斜面。

【技術特征摘要】
1.一種照度檢測設備，包括采光鏡、導光柱、殼體、傳感器和電路板，所述殼體頂部設有安裝導光柱的通孔，所述采光鏡與導光柱固定連接，所述電路板固定在殼體底部，所述傳感器固定在電路板上，其位置與導光柱對應，用于檢測經導光柱進入的光，其特征在于：所述導光柱的底面為斜面。2.根據權利要求1所述的一種照度檢測設備，其特征在于：所述殼體內壁為黑色吸光面。3....

【專利技術屬性】
技術研發人員：馮啟源，馬建偉，蘇曉丹，
申請(專利權)人：中科同德廈門物聯網科技有限公司，
類型：新型
國別省市：福建;35