本實用新型專利技術公開了一種無源鏈路的TRL校準測試板及測試裝置，所述的無源鏈路的TRL校準測試板包括2個SMA連接器、高精密負載以及PCB走線，所述的高精密負載與其中任意一個SMA連接器連接，所述2個SMA連接通過PCB走線連接。所述無源鏈路的TRL校準測試裝置，其包括上述的無源鏈路的TRL校準測試板和網絡分析儀，所述無源鏈路的TRL校準測試板通過SMA連接器與網絡分析儀連接。在SMA上擰上高精密負載作為一個Load校準件，不需要焊接、非常方便，阻抗連續性好，從而使得本實用新型專利技術對無源鏈路的測試更加精準，且適用于更高頻率。本實用新型專利技術作為一種無源鏈路的TRL校準測試板及裝置，廣泛適用于集成電路測試領域。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及集成電路測試領域,尤其涉及一種無源鏈路的TRL校準測試板及測試裝置。
技術介紹
矢量網絡分析儀中，TRL校準方法使用的最為普通，因為TRL校準極為精確。能夠修正網絡儀的全部的12項誤差。不管是材料測試板，芯片測試板，還是其他無源鏈路的測試，都可以用到TRL校準，TRL中的Load是相當的重要的一環。一般Load是通過兩個100歐姆電阻并聯到地組成，它的等效也是為50歐姆的Load,這種情況相對于單個的50歐姆電阻要精確，缺點為，需要焊接，會造成比較大的阻抗不連續，很重要的缺點，普通電阻的帶寬不夠高。不能用于更高的頻率，更高精度測試中。在高的頻率電阻等效后與50歐姆偏離大。
技術實現思路
為了解決上述技術問題，本技術的目的是提供一種可以適用更高的頻率、測試更加精準的無源鏈路的TRL校準測試板及測試裝置。本技術所采用的技術方案是：一種無源鏈路的TRL校準測試板，其包括2個SMA連接器、高精密負載以及PCB走線，所述的高精密負載與其中任意一個SMA連接器連接，所述2個SMA連接通過PCB走線連接。進一步，所述測試板還設置有一根Thru線、多根line線和一根Open線，或其中的部分線。進一步，所述高精密負載的阻值在一個寬頻范圍0到2GHZ內要求為50歐姆。本技術還提供了一種無源鏈路的測試裝置，其包括上述的無源鏈路的TRL校準測試板和網絡分析儀，所述無源鏈路的TRL校準測試板通過SMA連接器與網絡分析儀連接。本技術的有益效果是：本技術在SMA上擰上高精密負載作為一個Load校準件，不需要焊接、阻抗連續性好，加上高精密負載是一個寬頻帶的負載，所以它可以支持一個相當寬的頻率范圍，負載都極為接近50歐姆，從而使得本技術對無源鏈路的測試的校準更加精準，且適用于更高頻率。附圖說明下面結合附圖對本技術的具體實施方式作進一步說明：圖1是一種無源鏈路的TRL校準測試板一具體實施例的結構示意圖；圖2是一種無源鏈路的TRL校準測試裝置的結構示意圖；圖3是普通的TRL測試的一具體實施例的史密斯原圖；圖4是本技術的一具體實施例的史密斯原圖。具體實施方式需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。如圖1所示，一種無源鏈路的TRL校準測試板，其包括2個SMA連接器、高精密負載以及PCB走線，所述的高精密負載與其中任意一個SMA連接器連接，所述2個SMA連接通過PCB走線連接。在SMA連接器上擰上高精密負載作為一個Load校準件，不需要焊接、非常方便，阻抗連續性好，從而使得本技術對無源鏈路的測試更加精準，且適用于更高頻率。進一步作為優選的實施方式，所述測試板還設置通常有一根Thru線、多根line線和一根Open線，或者其中的部分線。TRL校準的過程中會設置這幾個校準件的數據，Thru、Reflect和Match和line。Thru就是Thru線的數據，Reflect指的是open線的數據，Match指的是load，line指的是line1、line2和line3線的數據，或其中部分。load針對的是低頻段的校驗，校準過程參考常用方法。進一步，所述高精密負載的阻值在一個寬頻范圍0到2GHZ內要求為50歐姆。如圖2所示，一種無源鏈路的TRL校準測試裝置，其包括上述的無源鏈路的TRL校準測試板和網絡分析儀，所述無源鏈路的TRL校準測試板通過SMA連接器與網絡分析儀連接，用于做TRL校準。通過設置TRL標準件使得所述無源鏈路的TRL校準測試板可以與網絡分析儀連接進行TRL校準，然后測試，得到無源鏈路的電氣性能參數。為使得本技術的技術方案能夠更加清楚地表述，下面以一具體的測試來進行對比，本領域技術人員應當知曉，以下舉例僅作為本專利技術的一種具體的實施方式以進一步闡述本專利技術的技術方案，并不作為限定本技術的保護范圍的說明。改進前的測試用矢量網絡分析儀測試，smith圓圖如圖3所示：在頻率帶寬內越靠中心，在各個頻率范圍內精度越高，但改進前比較分散，如圖3中列舉了三個頻率點對應的Load值，1Ghz，為50.84歐姆，3Ghz，為48.09歐姆，5Ghz，為54.66歐姆。本技術的測試用矢量網絡分析儀測試，smith圓圖如圖4所示：Load在全頻率帶寬內，它的值更靠近中心值50歐姆，更靠近中心，更要精準。在頻率為1Ghz，為49.67歐姆，3Ghz，為50.59歐姆，5Ghz，為53.61歐姆。在3Ghz內精度偏差非常小。相比于改進前，它更方便而且精度高。本技術的有益效果是：本技術在SMA上擰上高精密負載作為一個Load校準件，不需要焊接、阻抗連續性好，從而使得本技術對無源鏈路的測試更加精準，且適用于更高頻率。以上是對本技術的較佳實施進行了具體說明，但本專利技術創造并不限于所述實施例，熟悉本領域的技術人員在不違背本技術精神的前提下還可做作出種種的等同變形或替換，這些等同的變形或替換均包含在本申請權利要求所限定的范圍內。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種無源鏈路的TRL校準測試板，其特征在于：其包括2個SMA連接器、高精密負載以及PCB走線，所述的高精密負載與其中任意一個SMA連接器連接，所述2個SMA連接通過PCB走線連接。
【技術特征摘要】
1.一種無源鏈路的TRL校準測試板，其特征在于：其包括2個SMA連接器、高精密負載以及PCB走線，所述的高精密負載與其中任意一個SMA連接器連接，所述2個SMA連接通過PCB走線連接。2.根據權利要求1所述的無源鏈路的TRL校準測試板，其特征在于：所述測試板還設置有一根Thru線、多根line線和一根Open線，或其...
【專利技術屬性】
技術研發人員：談炯堯，蔣學東，羊楊，
申請(專利權)人：深圳市興森快捷電路科技股份有限公司，廣州興森快捷電路科技有限公司，宜興硅谷電子科技有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44
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