一種懸式絕緣子的爬電距離測量裝置制造方法及圖紙
【技術實現步驟摘要】
主要運用在懸式絕緣子的爬電距離的測量上，即測量懸式絕緣子瓷件部位的外表面曲線長度。
技術介紹
在選擇懸式絕緣子型號及數量時，其爬電距離為一個重要依據。然而目前多用膠帶沿復合絕緣子的表面自上至下“走”一次,然后測量帶子的長度。顯然,測量精度取決于檢查人員的“手藝”和他使用的量具。當復合絕緣子的額定電壓較高時,這種測量方法就顯得很麻煩。若檢查人員手藝好,則測量精度會高些；若檢查人員手藝差,則測量精度就很低。事實上,檢查人員的手藝再好,測量精度也難保證，往往偏大,因帶子具有伸縮性。針對這一現狀，本專利技術所用的測量裝置及方法將會大大地減少其誤差，保證其測量精度，同時也可適用于其他類型的絕緣子的爬電距離的測量。
技術實現思路
為了解決現有測量方法誤差大，精度低的缺點，本裝置利用激光測距儀及數學分析在電腦中還原模擬出懸式絕緣子的爬電曲線，進而得出其長度，大大地減小了其誤差。對于懸式絕緣子而言，其爬電距離為懸式絕緣子傘蓋(表面)的總長度，也即本申請所述的爬電曲線的長度。本技術技術方案為一種懸式絕緣子的爬電距離測量裝置，該裝置包括：裝置支架、絕緣子支架、上導軌、下導軌、激光測距儀A、激光測距儀B、計算機；所述裝置支架用于固定支撐水平設置的上、下導軌；上、下導軌同一側末端設置絕緣子支架，絕緣子支架用于豎直安放懸式絕緣子；激光測距儀A設置于上導軌上，且能在上導軌上自由滑動，激光測距儀B設置于下導軌上，且能在下導軌上自由滑動，且兩激光探測儀探測方向在同一豎直平面內，從懸式絕緣子中心往外探測；探測數據輸入計算機，計算探測的懸式絕緣子豎截面外表面的長度即為爬電距離。本技術一種懸式絕...
【技術保護點】
一種懸式絕緣子的爬電距離測量裝置，該裝置包括：裝置支架、絕緣子支架、上導軌、下導軌、激光測距儀A、激光測距儀B、計算機；所述裝置支架用于固定支撐水平設置的上、下導軌；上、下導軌同一側末端設置絕緣子支架，絕緣子支架用于豎直安放懸式絕緣子；激光測距儀A設置于上導軌上，且能在上導軌上自由滑動，激光測距儀B設置于下導軌上，且能在下導軌上自由滑動，且兩激光探測儀探測方向在同一豎直平面內，從懸式絕緣子中心往外探測；探測數據輸入計算機，計算探測的懸式絕緣子豎截面外表面的長度即為爬電距離。
【技術特征摘要】
1.一種懸式絕緣子的爬電距離測量裝置，該裝置包括：裝置支架、絕緣子支架、上導軌、下導軌、激光測距儀A、激光測距儀B、計算機；所述裝置支架用于固定支撐水平設置的上、下導軌；上、下導軌同一側末端設置絕緣子支架，絕緣子支架用于豎直安放懸式絕緣子；...
【專利技術屬性】
技術研發人員：孫銳，向強，李海慶，樊帥，
申請(專利權)人：電子科技大學，
類型：新型
國別省市：四川;51
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