The invention discloses a device for detecting the appearance of electronic components and a detecting method thereof. The electronic component appearance detection device comprises a conveying mechanism, a sensor, a plurality of image taking modules and a controller. Conveying mechanism for conveying electronic components, a trigger signal sensor to detect the electronic components through the controller, to receive a trigger signal when conveying a plurality of electronic components made from a multiple time needed for the position and timing interval, respectively in a plurality of time intervals after driving to capture image module components like electronic components should be taken. And the image element to generate the detection results of defect detection processing.
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)是有關(guān)于檢測裝置及檢測方法，尤其是電子元件外觀檢測裝置及電子元件外觀檢測方法。
技術(shù)介紹
現(xiàn)有的電子元件外觀檢測裝置分別于多個取像模塊旁設(shè)置對應(yīng)的多個傳感器，當(dāng)一電子元件被輸送至該多個傳感器之一的一感測區(qū)時，該傳感器可觸發(fā)一感測信號。接著，該電子元件外觀檢測裝置的一控制器可依據(jù)該感測信號來驅(qū)動對應(yīng)被觸發(fā)的該傳感器的該取像模塊來擷取該電子元件的一元件影像，并對所擷取的該元件影像進(jìn)行分析，以判斷該電子元件外觀是否有瑕疵。然而，由于該電子元件不斷移動，且現(xiàn)有的電子元件外觀檢測裝置并未考慮該傳感器進(jìn)行感測的一感測時間及該控制器進(jìn)行判斷并驅(qū)動取像模塊的一取像時間之間的一時間差。因此，現(xiàn)有的電子元件外觀檢測裝置常發(fā)生于拍攝時電子元件未完整落于取像范圍中(即該取像模塊未拍攝到完整的該電子元件)的狀況。更進(jìn)一步地，該控制器依據(jù)不完整的該元件影像所產(chǎn)生的檢測結(jié)果將具有較低的精確度。是以，現(xiàn)有技術(shù)的電子元件外觀檢測裝置存在上述缺失，而無法準(zhǔn)確地擷取完整元件影像，而亟待更有效的方案提出。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的主要目的，在于提供一種用于檢測微尺寸電子元件并可實時觸發(fā)影像擷取的電子元件外觀檢測裝置及電子元件外觀檢測方法。本專利技術(shù)提供一種電子元件外觀檢測裝置，包括一基座、一輸送機構(gòu)、一傳感器、多個取像模塊及電性連接該傳感器及該多個取像模塊的一控制器。該輸送機構(gòu)包括設(shè)置于該基座的一馬達(dá)及用以輸送一電子元件的一旋轉(zhuǎn)盤。該傳感器于檢測該電子元件通過時發(fā)出一觸發(fā)信號。該多個取像模塊分別配置于鄰近該旋轉(zhuǎn)盤的多個取像位置，并對該電子元件進(jìn)行影像擷取。該控制器包括一...
【技術(shù)保護(hù)點】
一種電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，包括：一基座；一輸送機構(gòu)，包括設(shè)置于該基座的一馬達(dá)及用以輸送一電子元件的一旋轉(zhuǎn)盤；一傳感器，于檢測該電子元件通過時發(fā)出一觸發(fā)信號；多個取像模塊，分別配置于鄰近該旋轉(zhuǎn)盤的多個取像位置，并對該電子元件進(jìn)行影像擷取；及一控制器，電性連接該傳感器及該多個取像模塊，包括：一時間取得模塊，于收到該觸發(fā)信號時取得輸送該電子元件至各該取像位置分別所需的多個時間區(qū)間；一計時模塊，于計時各該時間區(qū)間經(jīng)過時，分別發(fā)出對應(yīng)的一影像擷取信號；一擷取控制模塊，依據(jù)該多個影像擷取信號分別驅(qū)動該多個取像模塊擷取多個元件影像；及一檢測模塊，依據(jù)該多個元件影像進(jìn)行一瑕疵檢測處理，并產(chǎn)生一檢測結(jié)果。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，包括：一基座；一輸送機構(gòu)，包括設(shè)置于該基座的一馬達(dá)及用以輸送一電子元件的一旋轉(zhuǎn)盤；一傳感器，于檢測該電子元件通過時發(fā)出一觸發(fā)信號；多個取像模塊，分別配置于鄰近該旋轉(zhuǎn)盤的多個取像位置，并對該電子元件進(jìn)行影像擷取；及一控制器，電性連接該傳感器及該多個取像模塊，包括：一時間取得模塊，于收到該觸發(fā)信號時取得輸送該電子元件至各該取像位置分別所需的多個時間區(qū)間；一計時模塊，于計時各該時間區(qū)間經(jīng)過時，分別發(fā)出對應(yīng)的一影像擷取信號；一擷取控制模塊，依據(jù)該多個影像擷取信號分別驅(qū)動該多個取像模塊擷取多個元件影像；及一檢測模塊，依據(jù)該多個元件影像進(jìn)行一瑕疵檢測處理，并產(chǎn)生一檢測結(jié)果。2.如權(quán)利要求1所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，更包括一供料機構(gòu)，包括：一震動盤，設(shè)置于該基座，經(jīng)由震動排列該電子元件，該震動盤延伸有末端延伸至該旋轉(zhuǎn)盤上方并與該傳感器相鄰的一下料軌道，用以輸送該電子元件至該旋轉(zhuǎn)盤并經(jīng)由摩擦使該電子元件帶有電荷；及一儲料桶，容納待檢測的該電子元件，并具有朝向該震動盤內(nèi)配置并用以輸送該電子元件至該震動盤的一供料道。3.如權(quán)利要求2所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該供料機構(gòu)更包括一去靜電風(fēng)扇，該去靜電風(fēng)扇的出風(fēng)方向朝向該震動盤配置，以對該電子元件進(jìn)行一去靜電處理。4.如權(quán)利要求3所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，更包括一靜電刷，設(shè)置在該基座且接觸該旋轉(zhuǎn)盤，以使該旋轉(zhuǎn)盤帶有與該電子元件所帶電
\t荷電性相反的電荷。5.如權(quán)利要求2所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該震動盤內(nèi)形成有一整列軌道，該整列軌道延伸呈單圈環(huán)形且連接該下料軌道，并且該震動盤與該基座之間設(shè)置有一緩沖器。6.如權(quán)利要求1所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該傳感器為一遮斷式光學(xué)傳感器，于所產(chǎn)生的光束被遮斷時發(fā)出該觸發(fā)信號。7.如權(quán)利要求1所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該旋轉(zhuǎn)盤呈水平配置，并且各該取像模塊設(shè)置于該基座上并環(huán)繞該旋轉(zhuǎn)盤配置；該時間取得模塊依據(jù)該電子元件于該旋轉(zhuǎn)盤上的一當(dāng)前位置、該多個取像位置及該旋轉(zhuǎn)盤的一旋轉(zhuǎn)速度來計算該多個時間區(qū)間。8.如權(quán)利要求7所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該輸送機構(gòu)更包括電性連接該馬達(dá)及該控制器的一角度編碼器，該控制器更包括一位置檢測模塊，該位置檢測模塊經(jīng)由該角度編碼器取得該馬達(dá)當(dāng)前的角度值，并取得分別對應(yīng)該多個取像模塊的多個角度值，該時間取得模塊將該馬達(dá)當(dāng)前的角度值作為該當(dāng)前位置，并將對應(yīng)該多個取像模塊的該多個角度值分別做為該多個取像位置。9.如權(quán)利要求1所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，更包括一分料機構(gòu)，包括：多個集料盒，設(shè)置在該基座上；及多個吹嘴，分別朝向?qū)?yīng)的該多個集料盒配置且分別設(shè)置有電性連接該控制器的一電磁閥，其中該旋轉(zhuǎn)盤介于該多個吹嘴與該多個集料盒之間。10.如權(quán)利要求9所述的電子元件外觀檢測裝置，其特征在于，該控制器...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張仁明，陳正鍇，劉子誠，林軒民，楊景欽，
申請(專利權(quán))人：臺達(dá)電子工業(yè)股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：中國臺灣;71
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