本發明專利技術涉及一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法,其步驟為:⑴外觀及附件檢查;⑵工作正常性的檢查;⑶校準點的選??;⑷波形失真度測量;⑸直流分量含量;⑹變異系數測量;⑺絕緣電阻測量;⑻接地電阻測量;⑼溫升測量。本發明專利技術提供的開關動作特性試驗臺的校準方法適用性好,針對輸出電流有效值、電流導通時間測量具有較為合理和準確的測量方式,對于絕緣電阻測量、接地電阻測量以及溫升測量均提出了優化的測量方法。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于電器檢測設備領域,尤其是一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法。
技術介紹
低壓斷路器開關特性試驗臺主要用于對斷路器等元件進行脫扣特性試驗,通過升流輸出大電流,對脫扣特性試驗提供一定時長的交流電流。目前,開關動作特性試驗臺可分為開關動作特性瞬時臺、開關動作特性延時臺和開關動作特性綜合臺等類型,試驗臺由控制系統、電流源、測量系統、試品夾持裝置、文件制作系統等部分組成,其結構通常如說明書附圖圖1所示。低壓斷路器開關特性試驗臺的使用比較廣泛,但校準缺乏一定的規范和操作標準化、統一化的步驟,對在實際校準過程中操作員造成了很大的障礙,不僅影響了工作效率,還導致很多試驗臺較差誤差大,甚至造成試驗臺的損壞。因此,亟待解決的問題就是尋求一種具有較好適用性的低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術的不足之處,提供一種適用于新制造、新購置、使用中和修理后的開關動作特性瞬時臺、開關動作特性延時臺、開關動作特性綜合臺,也適用于交流大電流恒流源的低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法。本專利技術解決其技術問題是采取以下技術方案實現的:一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法,其步驟為:⑴外觀及附件檢查;⑵工作正常性的檢查;⑶校準點的選取:①選擇基本量程的70%、80%、90%、100%作為測試點進行校準,②對非基本量程,選取100%量程點進行校準;⑷波形失真度測量:對延時測試臺,測量在最大輸出電流下的波形失真度。測量方法為:試驗臺電流輸出穩定后,測量輸出電流的波形及失真度,測量5組數值,取5組數據中數據最大值,要求最大值在5%以內;⑸直流分量含量:測量對瞬時測試臺,由試驗臺給定一個預期短路電流(0.2s),測量第一個輸出波形的直流分量含量。測量公式如下:式中:%dc—直流分量含量P上—上峰值P下—下峰值⑹變異系數測量:根據試驗臺的輸出能力,分別測量試驗臺在額定輸出下的最大和最小輸出電流的穩定度,測量方法為:每30s測量一次試驗臺的電流有效值,測量周期為10min,共得到20個數據,分別記為x1~x20,求s2及C·V。s2=120[(x1-x‾)2+(x2-x‾)2+...+(x20-x‾)2]]]>C·V=sx‾×100%]]>式中:—平均數s2—方差s—標準差C·V—變異系數求得在最大和最小電流下的變異系數C·V<80%。⑺絕緣電阻測量:測量每條電路與裸露導電部件之間、電路與地之間的絕緣電阻,該電阻≥500kΩ;⑻接地電阻測量:測量每個外露可導電部分與地之間的接地電阻,該電阻≤0.1Ω;⑼溫升測量:①對于進行延時測試的試驗臺,在通導了按照制造商在說明書標明的延時電流和通導時間后,其測試電流所流過的母排和導電回路的任一接點,②對于瞬動測試的試驗臺,在通導了按照制造商在說明書標明的瞬時電流和200ms時間的通導,且兩次測試的時間間隔不小于制造商提供的許可值,其測試電流所流過的母排和導電回路的任一接點。而且,測試步驟中還包括測量輸出電流有效值的方法,按照分流器法對試驗臺輸出電流有效值進行測量,具體步驟為:分流器串入試驗臺電流輸出回路,分流器輸出端接示波器,設定輸出電流,當電流通過時,調節示波器的時間刻度及觸發設置,得到分流器兩端的電壓變化波形。根據歐姆定律I=U/R,得出試驗臺的輸出電流有效值,輸出電流有效值相對誤差用下式表示:γI=I-I1I1×100%=I-U/RU/R×100%]]>上式中:γI—輸出電流有效值的相對誤差I—試驗臺顯示輸出電流有效值U—示波器測得電壓有效值R—分流器電阻值。而且,測試步驟中還包括測量電流導通時間準確度的方法,按照上述分流器法,示波器上直觀顯示了加載在分流器上輸出端的電壓波形,用示波器光標功能讀出電流持續時間,輸出電流導通時間的誤差用下式表示:γT=T-T1式中:γT—輸出電流導通時間的誤差T—試驗臺顯示輸出電流導通時間T1—實測試驗臺輸出電流導通時間。本專利技術的優點和積極效果是:本專利技術提供的低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法適用性好,針對輸出電流有效值、電流導通時間測量具有較為合理和準確的測量方式,對于絕緣電阻測量、接地電阻測量以及溫升測量均提出了優化的測量方法。附圖說明圖1為開關動作特性試驗臺的接線結構框圖;圖2為采用分流器法測量輸出電流有效值和測量電流導通時間準確度的接線結構框圖,圖3為采用電流傳感器法測量輸出電流有效值和測量電流導通時間準確度的接線結構框圖。具體實施方式下面結合附圖并通過具體實施例對本專利技術作進一步詳述,以下實施例只是描述性的,不是限定性的,不能以此限定本專利技術的保護范圍。一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法,見圖1,其步驟為:⑴外觀及附件檢查;⑵工作正常性的檢查;⑶校準點的選取:①選擇基本量程的70%、80%、90%、100%作為測試點進行校準,②對非基本量程,選取100%量程點進行校準;⑷波形失真度測量:對延時測試臺,測量在最大輸出電流下的波形失真度。測量方法為:試驗臺電流輸出穩定后,測量輸出電流的波形及失真度,測量5組數值,取5組數據中數據最大值,要求最大值在5%以內;⑸直流分量含量:測量對瞬時測試臺,由試驗臺給定一個預期短路電流(0.2s),測量第一個輸出波形的直流分量含量。測量公式如下:式中:%dc—直流分量含量P上—上峰值P下—下峰值⑹變異系數測量:根據試驗臺的輸出能力,分別測量試驗臺在額定輸出下的最大和最小輸出電流的穩定度,測量方法為:每30s測量一次試驗臺的電流有效值,測量周期為10min,共得到20個數據,分別記為x1~x20,求s2及C·V。s2=120[(x1-x‾)2+(x2-x‾)2+...+(x20-x‾)2]]]>C·V=sx‾×100%]]>式中:—平均數s2—方差s—標準差C·V—變異系數求得在最大和最小電流下的變異系數C·V<80%。⑺絕緣電阻測量:測量每條電路與裸露導電部件之間、電路與地之間的絕緣電阻,該電阻≥500kΩ;
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【技術保護點】
一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法,其特征在于:其步驟為:⑴外觀及附件檢查;⑵工作正常性的檢查;⑶校準點的選取:①選擇基本量程的70%、80%、90%、100%作為測試點進行校準,②對非基本量程,選取100%量程點進行校準;⑷波形失真度測量:對延時測試臺,測量在最大輸出電流下的波形失真度。測量方法為:試驗臺電流輸出穩定后,測量輸出電流的波形及失真度,測量5組數值,取5組數據中數據最大值,要求最大值在5%以內;⑸直流分量含量:測量對瞬時測試臺,由試驗臺給定一個預期短路電流(0.2s),測量第一個輸出波形的直流分量含量。測量公式如下:式中:%dc—直流分量含量P上—上峰值P下—下峰值⑹變異系數測量:根據試驗臺的輸出能力,分別測量試驗臺在額定輸出下的最大和最小輸出電流的穩定度,測量方法為:每30s測量一次試驗臺的電流有效值,測量周期為10min,共得到20個數據,分別記為x1~x20,求s2及C·V。s2=120[(x1-x‾)2+(x2-x‾)2+...+(x20-x‾)2]]]>C·V=sx‾×100%]]>式中:—平均數s2—方差s—標準差C·V—變異系數求得在最大和最小電流下的變異系數C·V<80%。⑺絕緣電阻測量:測量每條電路與裸露導電部件之間、電路與地之間的絕緣電阻,該電阻≥500kΩ;⑻接地電阻測量:測量每個外露可導電部分與地之間的接地電阻,該電阻≤0.1Ω;⑼溫升測量:①對于進行延時測試的試驗臺,在通導了按照制造商在說明書標明的延時電流和通導時間后,其測試電流所流過的母排和導電回路的任一接點,②對于瞬動測試的試驗臺,在通導了按照制造商在說明書標明的瞬時電流和200ms時間的通導,且兩次測試的時間間隔不小于制造商提供的許可值,其測試電流所流過的母排和導電回路的任一接點。...
【技術特征摘要】
1.一種低壓斷路器動作特性試驗臺校準方法,其特征在于:其步驟為:
⑴外觀及附件檢查;
⑵工作正常性的檢查;
⑶校準點的選取:
①選擇基本量程的70%、80%、90%、100%作為測試點進行校準,
②對非基本量程,選取100%量程點進行校準;
⑷波形失真度測量:對延時測試臺,測量在最大輸出電流下的波形失真度。測量方法為:
試驗臺電流輸出穩定后,測量輸出電流的波形及失真度,測量5組數值,取5組數據中數據
最大值,要求最大值在5%以內;
⑸直流分量含量:測量對瞬時測試臺,由試驗臺給定一個預期短路電流(0.2s),測量第
一個輸出波形的直流分量含量。測量公式如下:
式中:%dc—直流分量含量
P上—上峰值
P下—下峰值
⑹變異系數測量:
根據試驗臺的輸出能力,分別測量試驗臺在額定輸出下的最大和最小輸出電流的穩定度,
測量方法為:每30s測量一次試驗臺的電流有效值,測量周期為10min,共得到20個數據,
分別記為x1~x20,求s2及C·V。
s2=120[(x1-x‾)2+(x2-x‾)2+...+(x20-x‾)2]]]>C·V=sx‾×100%]]>式中:—平均數
s2—方差
s—標準差
C·V—變異系數
求得在最大和最小電流下的變異系數C·V<80%。
⑺絕緣電阻測量:
測量每條電路與裸露導電部件之間、電路與地之間的絕緣電阻,該電阻≥500kΩ;
⑻接地電阻測量:
測量每個外露可導電部分與地之間的接地電阻,該電阻≤...
【專利技術屬性】
技術研發人員:耿麗愷,孫寧,李潔平,李昕,李穎,國亞磊,穆生樂,李強光,
申請(專利權)人:天津電氣科學研究院有限公司,天津天傳電控設備檢測有限公司,
類型:發明
國別省市:天津;12
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