光學瞄準用標定檢測裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術屬于光學瞄準技術領域，特別涉及對光學瞄準系統(tǒng)的標定檢測。一種光學瞄準用標定檢測裝置，包括：光學平臺(1)，高度可調(diào)的五個支撐座(2、5、10、12、14)，四個準直經(jīng)緯儀(3、6、11、13)，棱鏡裝置(16)和小反射鏡(15)，用于架設被測左儀器的固定座(4)，設有導軌(8)和絲杠(9)用以承載被測右儀器的安裝調(diào)整座(7)；采用本發(fā)明專利技術可以實現(xiàn)對方位角測量傳遞裝置中的右儀器、左儀器內(nèi)部的空間夾角進行快速標定檢測，并完成對右儀器的傾斜儀誤差、自準直光管誤差進行標定檢測。可以顯著縮短測量時間，降低測試人員的工作強度，提高工作效率，批量標定檢測情況下尤為顯著。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術屬于光學瞄準
，特別涉及對光學瞄準系統(tǒng)的標定檢測。
技術介紹
在光學瞄準系統(tǒng)中，一般包含有由右儀器與左儀器組成的方位角測量傳遞裝置。其中，右儀器內(nèi)部的自準直光管的朝向與其背面的檢測棱鏡法線方向之間，方位角相差約180度，且不在同一個高度上。左儀器中心的中心棱鏡與外部的基準棱鏡之間，在方位角上彼此相差約90度，且同樣不在同一個水平面內(nèi)。為了保證方位角測量傳遞裝置在長期使用后的精度穩(wěn)定性，需要對右儀器和左儀器內(nèi)的兩個空間夾角進行經(jīng)常性標定檢測。常規(guī)的測量方法是采用一臺準直經(jīng)緯儀，分別對右儀器內(nèi)部的自準直光管和檢測棱鏡法線方位進行測量，并測量同一個平面反射鏡，以實現(xiàn)右儀器內(nèi)兩者之間夾角的測量。然后，采用該準直經(jīng)緯儀，分別對左儀器的中心棱鏡和外部基準棱鏡法線方位進行測量，并測量同一個平面反射鏡，以實現(xiàn)左儀器內(nèi)兩者之間夾角的測量。由于需要在與各個被測目標相對應的四個不同的高度和不同的位置進行四次經(jīng)緯儀的架設固定和整平，并且需要分別對被測對象進行6次瞄準，該項工作是十分繁瑣的。由于準直經(jīng)緯儀的測量屬于精密操作，進行右儀器、左儀器的標定檢測是一項十分費時費力的工作，效率很低，不適用于大批量生產(chǎn)中的標定檢測。
技術實現(xiàn)思路
本專利技術的目的是：提供一種光學瞄準用標定檢測裝置及方法，用于對方位角測量傳遞裝置中的右儀器、左儀器內(nèi)部的空間夾角進行快速標定檢測，以縮短測量時間，降低測試人員的工作強度，提高工作效率。本專利技術的技術方案是：一種光學瞄準用標定檢測裝置，它包括：光學平臺，五個支撐座，四個準直經(jīng)緯儀，棱鏡裝置，小反射鏡，固定座以及安裝調(diào)整座；五個支撐座固定在光學平臺上且高度可調(diào)，其中，第一支撐座上架設有第一準直經(jīng)緯儀，第二支撐座上架設有第二準直經(jīng)緯儀，第三支撐座上架設有第三準直經(jīng)緯儀，第四支撐座上架設有第四準直經(jīng)緯儀，第五支撐座上架設有棱鏡裝置和小反射鏡；固定座固定在光學平臺上，用于架設被測左儀器；安裝調(diào)整座固定在光學平臺上，且位于第二支撐座和第五支撐座之間的位置，其上設有用于調(diào)整被測右儀器位置的導軌和絲杠；安裝調(diào)整座俯仰可調(diào)；第一準直經(jīng)緯儀的光軸方向可調(diào)，或正對被測左儀器的中心棱鏡法線方向，或與第二準直經(jīng)緯儀的光軸對瞄；第二準直經(jīng)緯儀的光軸方向可調(diào)，或正對被測左儀器側(cè)面基準棱鏡法線方向，或正對被測右儀器背部的檢測棱鏡法線方向，或第一準直經(jīng)緯儀的光軸對瞄；第三準直經(jīng)緯儀的光軸正對被測右儀器側(cè)面反光鏡的法線方向；第四準直經(jīng)緯儀的光軸正對在小反射鏡的法線方向；小反射鏡安裝在棱鏡裝置的側(cè)面，棱鏡裝置的方位可調(diào)，通過調(diào)整棱鏡裝置的方位角，得到由第四準直經(jīng)緯儀測得的棱鏡裝置方位角讀數(shù)和被測右儀器內(nèi)部自準直光管測得的失準角讀數(shù)。一種光學瞄準用標定檢測方法，它包括以下步驟：a.通過對安裝在光學平臺上的五個支撐座的高度進行調(diào)整，使得四個準直經(jīng)緯儀的光軸中心分別與被測左儀器的中心棱鏡、被測左儀器的基準棱鏡、被測右儀器側(cè)面反射鏡、棱鏡裝置的小反射鏡的中心等高；b.利用第一準直經(jīng)緯儀對被測左儀器內(nèi)部的中心棱鏡進行準直測量，得到角度α1，第二準直經(jīng)緯儀對被測左儀器側(cè)面的基準棱鏡進行準直測量得到角度α2；然后，使第一準直經(jīng)緯儀與第二準直經(jīng)緯儀進行對瞄，第一準直經(jīng)緯儀得到角度α3，第二準直經(jīng)緯儀得到角度α4，利用公式θ1＝180°-(α3-α1)-(α2-α4)，即可得到被測左儀器基準棱鏡法線與中心棱鏡法線之間的夾角θ1，從而完成對被測左儀器的標定儀器常數(shù)的檢測；c.被測右儀器的初始位置位于棱鏡裝置與第二準直經(jīng)緯儀之間，調(diào)整第二準直經(jīng)緯儀的高度，使得其光軸中心與被測右儀器背部的檢測棱鏡中心等高，調(diào)整棱鏡裝置的方位，使得被測右儀器內(nèi)部自準直光管對棱鏡裝置進行準直，并使失準角為零；同時，轉(zhuǎn)動第二準直經(jīng)緯儀，對準被測右儀器背部的檢測棱鏡進行準直測量，得到角度α5；之后，通過轉(zhuǎn)動絲杠將被測右儀器沿著導軌平移，使其從棱鏡裝置與第二準直經(jīng)緯儀之間移開,打通第二準直經(jīng)緯儀前方的光路，第二準直經(jīng)緯儀直接對棱鏡裝置進行準直測量，得到角度α6；利用公式θ2＝α5-α6+180°，即可得到被測右儀器檢測棱鏡與自準直光管光軸之間的夾角θ2，從而完成對被測右儀器的儀器常數(shù)的檢測；d.重新將被測右儀器通過絲杠和導軌平移回初始位置，調(diào)整第三準直經(jīng)緯儀，使其對準被測右儀器側(cè)面的反光鏡，通過對安裝調(diào)整座的調(diào)整，使被測右儀器內(nèi)部傾斜儀在量程范圍內(nèi)側(cè)向產(chǎn)生不同程度的傾斜，第三準直經(jīng)緯儀對不同傾斜下的被測右儀器側(cè)面反光鏡進行準直測量，同時記錄被測右儀器內(nèi)部傾斜儀的讀數(shù)；通過第三準直經(jīng)緯儀的傾角讀數(shù)與被測右儀器內(nèi)部傾斜儀的讀數(shù)進行比較，得到被測右儀器內(nèi)部傾斜儀的誤差，將該誤差最大值與被測右儀器內(nèi)部傾斜儀的精度指標進行比較，判斷其精度是否超差，從而完成對右儀器內(nèi)部傾斜儀的檢定；e.使被測右儀器恢復水平狀態(tài)，使被測右儀器內(nèi)部自準直光管準直棱鏡裝置，第四準直經(jīng)緯儀對棱鏡裝置側(cè)面的小反射鏡進行準直；先調(diào)整棱鏡裝置的方位角，使自準直光管的失準角為零，此時記下第四準直經(jīng)緯儀測得的棱鏡裝置方位角讀數(shù)，作為初始讀數(shù)；再調(diào)整棱鏡裝置的方位角，在自準直光管的失準角測量范圍內(nèi)以一定的失準角間隔值分別進行多次測量，從而得到一系列由第四準直經(jīng)緯儀測得的棱鏡裝置方位角讀數(shù)和自準直光管測得的失準角讀數(shù)，將第四準直經(jīng)緯儀測得的棱鏡裝置的每個方位角讀數(shù)減去初始讀數(shù)后，再與對應的自準直光管測得的失準角讀數(shù)求差，即可獲得右儀器自準直光管的失準角測量誤差；將該誤差最大值與被測右儀器自準直光管的精度指標進行比較，判斷其精度是否超差；從而完成自準直光管的標定檢定。有益效果：采用本光學瞄準用標定檢測裝置可以實現(xiàn)對方位角測量傳遞裝置中的右儀器、左儀器內(nèi)部的空間夾角進行快速標定檢測，并完成對右儀器的傾斜儀誤差、自準直光管誤差進行標定檢測。由于上述裝置各個組成部件的相對位置關系是固定的，更換被檢測的右儀器和左儀器之后，不需要對各個準直經(jīng)緯儀和支撐座重新進行位置調(diào)整和整平，因而可以顯著縮短測量時間，降低測試人員的工作強度，提高工作效率，其優(yōu)越性在需要進行批量標定檢測情況下尤為顯著。附圖說明圖1為光學瞄準用標定檢測裝置結(jié)構示意圖；圖2為準直經(jīng)緯儀在光學平臺上的架設示意圖。具體實施方式下面結(jié)合附圖并舉實施例，對本專利技術進行詳細描述。參見附圖1、2，一種光學瞄準用標定檢測裝置，它包括：光學平臺1，五個支撐座，四個準直經(jīng)緯儀，棱鏡裝置16，小反射鏡15，固定座4以及安裝調(diào)整座7；本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種光學瞄準用標定檢測裝置，其特征是：它包括：光學平臺(1)，五個支撐座，四個準直經(jīng)緯儀，棱鏡裝置(16)，小反射鏡(15)，固定座(4)以及安裝調(diào)整座(7)；所述五個支撐座固定在所述光學平臺(1)上且高度可調(diào)，其中，第一支撐座(2)上架設有第一準直經(jīng)緯儀(3)，第二支撐座(5)上架設有第二準直經(jīng)緯儀(6)，第三支撐座(10)上架設有第三準直經(jīng)緯儀(11)，第四支撐座(12)上架設有第四準直經(jīng)緯儀(13)，第五支撐座(14)上架設有所述棱鏡裝置(16)和所述小反射鏡(15)；所述固定座(4)固定在所述光學平臺(1)上，用于架設被測左儀器；所述安裝調(diào)整座(7)固定在所述光學平臺(1)上，且位于所述第二支撐座(5)和第五支撐座(14)之間的位置，其上設有用于調(diào)整被測右儀器位置的導軌(8)和絲杠(9)；所述安裝調(diào)整座(7)俯仰可調(diào)；所述第一準直經(jīng)緯儀(3)的光軸方向可調(diào)，或正對所述被測左儀器的中心棱鏡法線方向，或與所述第二準直經(jīng)緯儀(6)的光軸對瞄；所述第二準直經(jīng)緯儀(6)的光軸方向可調(diào)，或正對所述被測左儀器側(cè)面基準棱鏡法線方向，或正對被測右儀器背部的檢測棱鏡法線方向，或所述第一準直經(jīng)緯儀(3)的光軸對瞄；所述第三準直經(jīng)緯儀(11)的光軸正對所述被測右儀器側(cè)面反光鏡的法線方向；所述第四準直經(jīng)緯儀(13)的光軸正對在所述小反射鏡(15)的法線方向；所述小反射鏡(15)安裝在所述棱鏡裝置(16)的側(cè)面，所述棱鏡裝置(16)的方位可調(diào)，通過調(diào)整所述棱鏡裝置(16)的方位角，得到由所述第四準直經(jīng)緯儀(13)測得的所述棱鏡裝置(16)方位角讀數(shù)和所述被測右儀器內(nèi)部自準直光管測得的失準角讀數(shù)。...

【技術特征摘要】
1.一種光學瞄準用標定檢測裝置，其特征是：它包括：光學平臺(1)，五個支撐座，四
個準直經(jīng)緯儀，棱鏡裝置(16)，小反射鏡(15)，固定座(4)以及安裝調(diào)整座(7)；
所述五個支撐座固定在所述光學平臺(1)上且高度可調(diào)，其中，第一支撐座(2)上架
設有第一準直經(jīng)緯儀(3)，第二支撐座(5)上架設有第二準直經(jīng)緯儀(6)，第三支撐座(10)
上架設有第三準直經(jīng)緯儀(11)，第四支撐座(12)上架設有第四準直經(jīng)緯儀(13)，第五支
撐座(14)上架設有所述棱鏡裝置(16)和所述小反射鏡(15)；所述固定座(4)固定在所
述光學平臺(1)上，用于架設被測左儀器；
所述安裝調(diào)整座(7)固定在所述光學平臺(1)上，且位于所述第二支撐座(5)和第五
支撐座(14)之間的位置，其上設有用于調(diào)整被測右儀器位置的導軌(8)和絲杠(9)；所...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：惠梅，趙躍進，劉明，董立泉，
申請(專利權)人：北京理工大學，
類型：發(fā)明
國別省市：北京;11