【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種測試轉接工裝，具體涉及一種分立器件的測試轉接裝置。
技術介紹
在制得半導體分立器件成品后，需要對分立器件進行電性能測試，即在分立器件測試過程中，需要將測試設備的測試線通過測試轉接頭與物料分選設備的測試座相連接，然后對測試座上的分立器件進行電性能測試；所述測試轉接頭包括公母接頭，母接頭與物料分選設備的測試座固定連接，公接頭與測試設備的測試線是焊接連接的，這樣，當機臺變更或產品變更需要調整測試線與公接頭的焊接位置，就必須先將已有的測試線與公接頭的焊接處熔融后再按照新的技術要求，調整兩者之間的焊接位置并將兩者焊接連接，這樣，不僅浪費了測試人員的時間，使得測試效率低，而且長時間這樣重復焊接會影響公接頭的使用壽命。
技術實現思路
本技術的目的是：提供一種不僅省時省力、無需焊接連接，而且測試效率高的分立器件的測試轉接裝置，以克服現有技術的不足。為了達到上述目的，本技術的技術方案是：一種分立器件的測試轉接裝置，包括轉接座、第一測試片副、第二測試片副、第一緊固螺釘和第二緊固螺釘；而：所述轉接座具有第一連接凹腔和第二連接凹腔，且轉接座內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針，第二排為第二測試插針，在第一連接凹腔內有由與第一測試插針連接的第一動測試片，和與轉接座連接的第一定測試片有間距相對布置所組成的第一測試片副，在第二連接凹腔內有由與第二測試插針連接的第二動測試片，和與轉接座連接的第二定測試片有間距相對布置所組成的第二測試片副；所述第一緊固螺釘穿過第一動測試片并指向第一定測試片，所述第...
【技術保護點】
一種分立器件的測試轉接裝置，其特征在于：包括轉接座（1）、第一測試片副（2）、第二測試片副（3）、第一緊固螺釘（4）和第二緊固螺釘（5）；而：所述轉接座（1）具有第一連接凹腔（1?1）和第二連接凹腔（1?2），且轉接座（1）內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針（6?1），第二排為第二測試插針（6?2），在第一連接凹腔（1?1）內有由與第一測試插針（6?1）連接的第一動測試片（2?1），和與轉接座（1）連接的第一定測試片（2?2）有間距相對布置所組成的第一測試片副（2），在第二連接凹腔（1?2）內有由與第二測試插針（6?2）連接的第二動測試片（3?1），和與轉接座（1）連接的第二定測試片（3?2）有間距相對布置所組成的第二測試片副（3）；所述第一緊固螺釘（4）穿過第一動測試片（2?1）并指向第一定測試片（2?2），所述第二緊固螺釘（5）穿過第二動測試片（3?1）并指向第二定測試片（3?2）。
【技術特征摘要】
1.一種分立器件的測試轉接裝置，其特征在于：包括轉接座（1）、第一測試片副（2）、第二測試片副（3）、第一緊固螺釘（4）和第二緊固螺釘（5）；而：
所述轉接座（1）具有第一連接凹腔（1-1）和第二連接凹腔（1-2），且轉接座（1）內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針（6-1），第二排為第二測試插針（6-2），在第一連接凹腔（1-1）內有由與第一測試插針（6-1）連接的第一動測試片（2-1），和與轉接座（1）連接的第一定測試片（2-2）有間距相對布置所組成的第一測試片副（2），在第二連接凹腔（1-2）內有由與第二測試插針（6-2）連接的第二動測試片（3-1），和與轉接座（1）連接的第二定測試片（3-2）有間距相對布置所組成的第二測試片副（3）；
所述第一緊固螺釘（4）穿過第...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王雙，
申請(專利權)人：常州銀河世紀微電子有限公司，
類型：新型
國別省市：江蘇;32
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