陣列天線裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術的陣列天線裝置是配置為包括兩種陣列天線元件排列的陣列天線裝置，兩種陣列天線元件排列的天線元件間隔是最小天線元件間隔的整數倍，所述最小天線元件間隔是設定為使得避免在預定的檢測角度范圍內產生柵瓣的天線元件間隔，各整數是互質的2以上的正整數。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及陣列天線裝置。
技術介紹
在用于以-α～α的角度范圍對主瓣進行電子掃描并進行目標檢測的陣列天線中，若將元件天線間距離設為d，將收發電波的波長設為λ，則當d>0.5λ/sinα時，有時柵瓣會出現在主瓣的掃描范圍(-α～α)內。一旦柵瓣出現在主瓣的掃描范圍內，則有可能導致錯誤地檢測目標的方向。因此，希望避免柵瓣產生在主瓣的掃描范圍內。在此，只要使元件天線間距離d相對于波長λ足夠小，則不論主瓣的指向角度如何，都能夠避免柵瓣產生在主瓣的掃描范圍內。然而，波長λ以及元件天線間距離d受其他各種條件的制約，難以脫離這些條件的上限和/或下限而對波長λ以及元件天線間距離d進行設定。于是，以往開發了去除由柵瓣引起的誤檢測的技術。例如，在專利文獻1所記載的陣列天線裝置中，具備將多個元件天線以等間隔配置在一條直線上構成的發送陣列天線以及接收陣列天線，設M、N為互質的整數，接收陣列天線的元件天線根據對整數M乘以波長后除以第1零發生角(nulloccurrenceangle)而得到的商，配置在元件天線的陣元圖中的第1零發生角附近，以使得具有接收陣列天線的陣因子的第M個柵瓣，發送陣列天線的元件天線通過由對整數N乘以接收陣列天線的元件天線的間隔后除以整數M而得到的商所成的間隔來配置，以使得發送陣列天線的陣因子的第N個柵瓣的發生角度與第M個柵瓣的發生角一致。這樣，在專利文獻1所記載的技術中，通過取得兩種陣列天線元件排列的方向圖(指向圖)之積，來抑制柵瓣。但是，僅以此，難以抑制波束掃描的角度范圍內的全部柵瓣，因此，進一步通過使柵瓣的發生角度與形成天線增益在天線元件指向性(陣元因子：elementfactor)上明顯低的零點(nullpoint)的角度一致，對剩余的柵瓣也進行了抑制。現有技術文獻專利文獻1：日本特開2012-120144號公報
技術實現思路
專利技術所要解決的問題然而，在現有的抑制柵瓣的技術(專利文獻1等)中，并沒有以進行波束掃描作為前提，因此，一旦進行波束掃描，則柵瓣所發生的角度也會隨之改變。在這種情況下，柵瓣發生角度與零點形成角度變得不一致。其結果，會出現變得無法在所期望的檢測角度范圍內抑制全部柵瓣的情況。本專利技術是鑒于上述的情況而做出的，其目的在于提供能夠在陣列天線中進行波束掃描的情況下去除由柵瓣引起的誤檢測的陣列天線裝置。用于解決問題的技術方案本專利技術的陣列天線裝置是多個天線元件排列為包含第一天線元件排列和第二天線元件排列而成的陣列天線裝置，所述第一天線元件排列以具有預定的周期性的元件間隔來排列，所述第二天線元件排列以具有與所述第一天線元件排列中的周期性不同的預定的周期性的元件間隔來排列，所述陣列天線裝置的特征在于，具備控制部，所述控制部基于所述第一天線元件排列的陣列天線的檢測結果和所述第二天線元件排列的陣列天線的檢測結果的比較，去除由柵瓣引起的誤檢測，作為所述第一天線元件排列的天線元件間隔的第一元件間隔和作為所述第二天線元件排列的天線元件間隔的第二元件間隔均是作為滿足式1的天線元件間隔而設定的最小天線元件間隔的整數倍的間隔，0<D<(0.5λ/sinα)…(式1)在式1中，D表示最小天線元件間隔，α表示預定的最大檢測角度，λ表示電波的波長，滿足：第一整數和第二整數是互質關系，并且均為2以上的正整數，所述第一整數是使所述第一元件間隔成為所述最小天線元件間隔的整數倍的整數，所述第二整數是使所述第二元件間隔成為所述最小天線元件間隔的整數倍的整數。在上述陣列天線裝置中，優選為，與所述第一天線元件排列以及所述第二天線元件排列分別對應的各天線元件配置成：所述第一天線元件排列的陣列天線和所述第二天線元件排列的陣列天線并行配置。在上述陣列天線裝置中，優選為，與所述第一天線元件排列以及所述第二天線元件排列分別對應的各天線元件配置成：在使所述第一天線元件排列的天線元件的位置和所述第二天線元件排列的天線元件的位置至少有1處位置重疊的狀態下，所述第一天線元件排列以及所述第二天線元件排列組合在一條直線上而成串配置。專利技術效果根據本專利技術涉及的陣列天線裝置，能取得能夠在陣列天線中進行波束掃描的情況下去除由柵瓣引起的誤檢測這一效果。附圖說明圖1是表示實施方式1中的陣列天線裝置的結構的一例的圖。圖2是表示實施方式1中的陣列天線的一例的圖。圖3是表示接收波的相位關系的一例的圖。圖4是表示陣列天線指向性的一例的圖。圖5是表示實施方式1中的方向圖的一例的圖。圖6是表示實施方式1中的處理的一例的流程圖。圖7是表示實施方式2中的陣列天線裝置的結構的一例的圖。圖8是表示實施方式2中的陣列天線的一例的圖。圖9是表示實施方式3中的陣列天線裝置的結構的一例的圖。圖10是表示實施方式3中的天線元件的配置的一例的圖。圖11是表示實施方式3中的可選的天線元件間隔的一例的圖。圖12是表示實施方式3中的各天線元件間隔的方向圖的一例的圖。圖13是表示實施方式3中的處理的一例的流程圖。具體實施方式下面，基于附圖，詳細說明作為雷達裝置的陣列天線裝置的實施方式，所述雷達裝置具備具有本專利技術涉及的陣列天線配置結構的陣列天線。此外，本專利技術不限定于該實施方式。另外，下述的實施方式中的構成要素中包括本領域技術人員能夠容易地想到的要素或者實質上相同的要素。[實施方式1]參照圖1～圖6，對實施方式1進行說明。圖1是表示實施方式1中的陣列天線裝置100的結構的一例的圖。圖2是表示實施方式1中的陣列天線的一例的圖。圖3是表示接收波的相位關系的一例的圖。圖4是表示陣列天線指向性的一例的圖(極坐標顯示)。圖5是表示實施方式1中的方向圖的一例的圖。圖6是表示實施方式1中的處理的一例的流程圖。如圖1所示，實施方式1中的陣列天線裝置100構成為具備第1陣列天線20、第2陣列天線30以及控制部40。在此，參照圖2，對第1陣列天線20以及第2陣列天線30進行說明。如圖2所示，第1陣列天線20是以最小天線元件間隔D的K1倍的間隔將天線元件10配置在一條直線上而成的陣列天線。第2陣列天線30是以最小天線元件間隔D的K2倍的間隔將天線元件10配置在一條直線上而成的陣列天線。K1和K2是互質關系的并且均為2以上的正整數。在此，“互質關系的并且均為2以上的正整數”意味著，兩個整數是成為除1和-1以外不具有公約數的情況下的兩個數的關系即“互質的關系”的正整數中的、除1以外的2以上的正整數。在本實施方式中，有時將“互質關系的并且均為2以上的正整數”稱為“互質的2以上的正整數”。在此，互質的2以上的正整數優選為大于等于3。在本實施方式中，所謂“最小天線元件間隔”，是設定為使得在進行波束掃描的情況下在預定的檢測角度范圍內不產生柵瓣的天線元件間隔。例如，當預定的檢測角度范圍為±α度時，需要將最小天線元件間隔D設定在由以下的式1表示的范圍內。例如在“α＝90度”的情況下，需要將天線元件間隔設為比0.5λ小的值。λ表示收發電波的波長。0<D<(0.5λ/sinα)…(式1)在此，在圖2的基礎上，參照圖3以及圖4，說明要將最小天線元件間隔D設定在由式1表示的范圍內的理由。如圖3所示，當陣列天線的天線元件間隔比較寬時，有時當由于相位的循環性(360度返回到0度這一現象)而接收到從期望方向到達本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種陣列天線裝置，是多個天線元件排列為包含第一天線元件排列和第二天線元件排列而成的陣列天線裝置，所述第一天線元件排列以具有預定的周期性的元件間隔來排列，所述第二天線元件排列以具有與所述第一天線元件排列中的周期性不同的預定的周期性的元件間隔來排列，所述陣列天線裝置的特征在于，具備控制部，所述控制部基于所述第一天線元件排列的陣列天線的檢測結果和所述第二天線元件排列的陣列天線的檢測結果的比較，去除由柵瓣引起的誤檢測，作為所述第一天線元件排列的天線元件間隔的第一元件間隔和作為所述第二天線元件排列的天線元件間隔的第二元件間隔均是作為滿足式1的天線元件間隔而設定的最小天線元件間隔的整數倍的間隔，0<D<(0.5λ/sinα)…(式1)在式1中，D表示最小天線元件間隔，α表示預定的最大檢測角度，λ表示電波的波長，滿足：第一整數和第二整數是互質關系，并且均為2以上的正整數，所述第一整數是使所述第一元件間隔成為所述最小天線元件間隔的整數倍的整數，所述第二整數是使所述第二元件間隔成為所述最小天線元件間隔的整數倍的整數。

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2014.05.29 JP 2014-1117721.一種陣列天線裝置，是多個天線元件排列為包含第一天線元件排列和第二天線元件排列而成的陣列天線裝置，所述第一天線元件排列以具有預定的周期性的元件間隔來排列，所述第二天線元件排列以具有與所述第一天線元件排列中的周期性不同的預定的周期性的元件間隔來排列，所述陣列天線裝置的特征在于，具備控制部，所述控制部基于所述第一天線元件排列的陣列天線的檢測結果和所述第二天線元件排列的陣列天線的檢測結果的比較，去除由柵瓣引起的誤檢測，作為所述第一天線元件排列的天線元件間隔的第一元件間隔和作為所述第二天線元件排列的天線元件間隔的第二元件間隔均是作為滿足式1的天線元件間隔而設定的最小天線元件間隔的整數倍的間隔，0<D<(0.5λ/sinα)…(式1)在式1中，D表示...

【專利技術屬性】
技術研發人員：南義明，小田悠司，
申請(專利權)人：豐田自動車株式會社，
類型：發明
國別省市：日本;JP