一種平面度檢測方法技術

本發(fā)明專利技術公開了一種平面度檢測方法，本發(fā)明專利技術采用計算機自動檢測產品平面度設備，大大減輕生產管理部門的負荷，測量精度高，生成效率高，使得生產線的生產更加智能化，自動化，并且實現(xiàn)平面度值的數(shù)字化，提高了產品的品質。品管部門對產品的品質管理也更加簡便和準確，無須浪費時間在不良產品的數(shù)據(jù)采集與稽核。同時，平面測量的原始數(shù)值對于工程部門分析產品不良，改善產品模具，提高工程管理，都提供具體準確的數(shù)值參考。進而對生產部門的生產要求更加有依據(jù)，改善措施也更加準確。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

：本專利技術屬于手機外殼平面度測量
，具體是涉及一種平面度檢測方法。
技術介紹
：由于現(xiàn)代電子技術的快速發(fā)展，手機已經(jīng)成為人們生活的必需品。隨著人們對手機的需求量越來越多，對手機質量與工藝的要求也越來越高。早期手機外殼的平面度檢測多采用人工塞尺的方法，后來也產生光電檢測的人工設備，但這些技術設備本身存在很大的誤差，無法得出平面度的真實值；加之人工檢測的效率較低，無法滿足當前的生產需求。隨著工業(yè)自動化的不斷發(fā)展，手機生產自動化已經(jīng)成為一種趨勢。傳統(tǒng)的平面度檢測方法多采用了人工檢測，這種做法極為不便，不僅測量的方法不夠精確，導致產品良率的降低；同時生產效率低下，嚴重制約了生產線的效率、速度以及品質。
技術實現(xiàn)思路
：為此，本專利技術所要解決的技術問題在于現(xiàn)有技術中平面度檢測方法測量精確度低、導致良品率低、生成效率低下，制約了生產線的效率、速度以及品質，從而提出一種平面度檢測方法，主要應用于測量手機外殼的平面度，并根據(jù)軟件設置的平面度值，檢出OK和NG產品。為達到上述目的，本專利技術的技術方案如下：一種平面度檢測方法，包括如下步驟：S1：規(guī)劃產品上多個測量點位的位置分布，建立X-Y二維坐標系，并獲取產品上多個測量點位在所述X-Y二維坐標系下的坐標位置。S2：采用基恩士的LV-7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。S3：將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存，所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。S4：根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法，計算出產品多個區(qū)域的平面度值并保存。S5：設定產品多個區(qū)域的平面度NG值，將步驟S4中的產品多個區(qū)域的平面度值分別和產品多個區(qū)域的平面度NG值進行比較判定，獲取產品是否合格的判斷結果。S6：顯示每個產品的平面度數(shù)據(jù)，所述平面度數(shù)據(jù)包括所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及判斷結果。作為上述技術方案的優(yōu)選，步驟S2中：所述基恩士的LV-7060線鐳射方法中的運動機構采用ACS直線電機，所述ACS直線電機的X軸攜帶鐳射頭。作為上述技術方案的優(yōu)選，步驟S2中，所述基恩士的LV-7060線鐳射方法具體包括如下步驟：S21：將所述ACS直線電機X軸上的鐳射頭安裝成一定角度。S22：所述ACS直線電機按照步驟S1中規(guī)劃的產品上多個測量點位的位置分布進行運動。S23：所述ACS直線電機每到一個測量點位的坐標位置上即停止運動，所述鐳射頭進行鐳射，實時測量并獲取該測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。S24：重復步驟S22-S23，獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。作為上述技術方案的優(yōu)選，步驟S2中：所述多個區(qū)域包括外觀面、點膠面和LCD倉面。作為上述技術方案的優(yōu)選，步驟S5具體包括如下步驟：S51：獲取步驟S4中的外觀面平面度值、點膠面平面度值、LCD倉面平面度值。S52：分別設定外觀面的平面度NG值、點膠面的平面度NG值、LCD倉面的平面度NG值。S53：將外觀面平面度值和外觀面的平面度NG值進行比較，得出第一判斷結果，將點膠面平面度值和點膠面的平面度NG值進行比較，得出第二判斷結果，將LCD倉面平面度值和LCD倉面的平面度NG值進行比較，得出第三判斷結果。S54：對所述第一判斷結果、所述第二判斷結果、第三判斷結果進行分析，若所述第一判斷結果、所述第二判斷結果、所述第三判斷結果均為合格，則判定該產品為合格。本專利技術的有益效果在于：本專利技術采用計算機自動檢測產品平面度設備，大大減輕生產管理部門的負荷，測量精度高，生成效率高，使得生產線的生產更加智能化，自動化，并且實現(xiàn)平面度值的數(shù)字化，提高了產品的品質。品管部門對產品的品質管理也更加簡便和準確，無須浪費時間在不良產品的數(shù)據(jù)采集與稽核。同時，平面測量的原始數(shù)值對于工程部門分析產品不良，改善產品模具，提高工程管理，都提供具體準確的數(shù)值參考。進而對生產部門的生產要求更加有依據(jù)，改善措施也更加準確。附圖說明：以下附圖僅旨在于對本專利技術做示意性說明和解釋，并不限定本專利技術的范圍。其中：圖1為本專利技術一個實施例的一種平面度檢測方法流程圖；圖2為本專利技術一個實施例的整體原理圖；圖3為本專利技術一個實施例的產品平面度的測量點位示意圖；圖4為本專利技術一個實施例的基恩士的LV-7060線鐳射方法示意圖；圖5為本專利技術一個實施例的數(shù)據(jù)保存表格目錄示意圖；圖6為本專利技術一個實施例的保存數(shù)據(jù)結果示意圖；圖7為本專利技術一個實施例的平面度測量的原理示意圖；圖8為本專利技術一個實施例的平面度判斷設置示意圖；圖9為本專利技術一個實施例的結果顯示數(shù)據(jù)示意圖；圖10為本專利技術一個實施例的平面度判斷示意圖；圖11為本專利技術一個實施例的作業(yè)流程圖。圖中符號說明：1-測量點，2-擬合面，3-產品，4-測量點位。具體實施方式：如圖1、圖2所示，本專利技術的一種平面度檢測方法，包括如下步驟：S1：點位規(guī)劃，如圖3所示，規(guī)劃產品3上多個測量點位4的位置分布，建立X-Y二維坐標系，并獲取產品上多個測量點位在所述X-Y二維坐標系下的坐標位置。點位規(guī)劃即產品測量點位的規(guī)劃，也就是鐳射所要測量的每個點的位置分布，以一個點為基準點(原點)，建立一個X-Y二維坐標系，其他各點的位置均表示在該坐標系下。S2：數(shù)據(jù)采集，采用基恩士的LV-7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。如圖4所示，(1)數(shù)據(jù)采集的媒介，本專利技術的平面度檢測方法采用了基恩士的LV-7060線鐳射，精度高，響應快。(2)測量方法，本專利技術的平面度檢測方法，運動機構采用ACS直線電機，具有定位準確、重復精度高等優(yōu)點。所述ACS直線電機的X軸攜帶鐳射頭。由直線電機定位到產品的每個測量點位，鐳射進行測量。所述基恩士的LV-7060線鐳射方法具體包括如下步驟：S21：將所述ACS直線電機X軸上的鐳射頭安裝成一定角度。以便能夠測試產品外觀一周的平面度。同時，由于采用線鐳射，可以測量產品不同區(qū)域的平面度，本專利技術的平面度檢測方法，測量了外觀面、點膠面和LCD倉面這三個面的平面度。S22：所述ACS直線電機按照步驟S1中規(guī)劃的產品上多個測量點位的位置分布進行運動。S23：所述ACS直線電機每到一個測量點位的坐標位置上即停止運動，所述鐳射頭進行鐳射，實時測量并獲取該測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。本實施例中，所述多個區(qū)域包括外觀面、點膠面和LCD倉面。S24：重復步驟S22-S23，獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。S3：數(shù)據(jù)保存，將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存，所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。當鐳射按照點位測量完產品后，上位機程序會將所測的每個點位原始數(shù)據(jù)及計算后的平面度值寫入到Excel表格中，進行保存。這個表格是由程序自動建立在指定的文件夾目錄下，如圖5所示。如圖6所示，該表格記錄了步驟S24中獲取的平面度測量的時間，測量工位，每個點位鐳射測量的原始數(shù)據(jù)以及步驟S4中獲取的平面度值。S4：數(shù)據(jù)處理，根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法，計算出產品多個區(qū)域的平面度值并保存。本實施例中的平面度檢測方法，運用了一種特殊的平面度算法，通過鐳射采集的對每個點位的原始數(shù)據(jù)，計算出平面度的值。如圖7所示，鐳射在每個測量點1位測量本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種平面度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：S1：規(guī)劃產品上多個測量點位的位置分布，建立X?Y二維坐標系，并獲取產品上多個測量點位在所述X?Y二維坐標系下的坐標位置；S2：采用基恩士的LV?7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)；S3：將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存，所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)；S4：根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法，計算出產品多個區(qū)域的平面度值并保存；S5：設定產品多個區(qū)域的平面度NG值，將步驟S4中的產品多個區(qū)域的平面度值分別和產品多個區(qū)域的平面度NG值進行比較判定，獲取產品是否合格的判斷結果；S6：顯示每個產品的平面度數(shù)據(jù)，所述平面度數(shù)據(jù)包括所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及判斷結果。

【技術特征摘要】
1.一種平面度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：S1：規(guī)劃產品上多個測量點位的位置分布，建立X-Y二維坐標系，并獲取產品上多個測量點位在所述X-Y二維坐標系下的坐標位置；S2：采用基恩士的LV-7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)；S3：將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存，所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)；S4：根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法，計算出產品多個區(qū)域的平面度值并保存；S5：設定產品多個區(qū)域的平面度NG值，將步驟S4中的產品多個區(qū)域的平面度值分別和產品多個區(qū)域的平面度NG值進行比較判定，獲取產品是否合格的判斷結果；S6：顯示每個產品的平面度數(shù)據(jù)，所述平面度數(shù)據(jù)包括所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及判斷結果。2.根據(jù)權利要求1所述的平面度檢測方法，其特征在于，步驟S2中：所述基恩士的LV-7060線鐳射方法中的運動機構采用ACS直線電機，所述ACS直線電機的X軸攜帶鐳射頭。3.根據(jù)權利要求2所述的平面度檢測方法，其特征在于，步驟S2中，所述基恩士的LV-7060線鐳射方法具體包括如下步驟：S21：將所述ACS直線...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：呂紹林，馬金勇，趙永存，王家亮，夏時雨，胡明春，潘勇，王莽，
申請(專利權)人：蘇州博眾精工科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：江蘇;32