本實(shí)用新型專利技術(shù)涉及一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,包括用于放置被測組件的工裝座、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ、可與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ對準(zhǔn)的自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ和二維輔助反射鏡,被測組件包括豎直放置的被測反射鏡和水平放置的激光器,被測組件前依次放置有自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ和二維輔助反射鏡,被測反射鏡的法線對齊自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ的分劃中心,激光器的激光軸與二維輔助反射鏡的法線處于同一直線上。因此,能實(shí)現(xiàn)激光器的激光軸與被測反射鏡法線平行的檢校,特別是能實(shí)現(xiàn)激光器的激光軸與被測反射鏡法線縱向間距較大時二者平行性的檢校;還解決激光不能用通用前置鏡直接接收的問題;另外,該裝置可將二者的平行性精度校正至5角秒,檢校精度高。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及光學(xué)檢校
,尤其是一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,可應(yīng)用于各類飛機(jī)校靶設(shè)備中激光軸引出到反射鏡上。
技術(shù)介紹
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,激光技術(shù)的應(yīng)用在各個行業(yè)、領(lǐng)域都日益廣泛。激光發(fā)射原理及產(chǎn)生過程的特殊性決定了激光具有普通光所不具有的特點(diǎn),即單色性、相干性、方向性、高亮度。而在飛機(jī)校靶設(shè)備中,將飛機(jī)姿態(tài)軸用激光軸表征,利用高亮度適應(yīng)不同亮度環(huán)境。但是激光軸的方向性不能通過儀器設(shè)備直接讀取,則需要將激光軸的指向用反射鏡的法線來代替,以便校靶裝置提取、使用,這就涉及到激光軸和反射鏡法線平行性的檢校裝置。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有的缺陷,提供一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,具有簡單易行、可操作性強(qiáng)、檢校精度高、安全性高的特點(diǎn)。為了解決上述技術(shù)問題,本技術(shù)提供了如下的技術(shù)方案:本技術(shù)一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,包括用于放置被測組件的工裝座、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ、可與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ對準(zhǔn)的自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ和二維輔助反射鏡,被測組件包括豎直放置的被測反射鏡和水平放置的激光器,被測組件前依次放置有自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ和二維輔助反射鏡,被測反射鏡的法線對齊自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ的分劃中心,激光器的激光軸與二維輔助反射鏡的法線處于同一直線上。進(jìn)一步地,工裝座、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ均放置在同一水平高度上,自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ、二維輔助反射鏡均放置在同一水平高度上,工裝座、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ的放置位置與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ、二維輔助反射鏡的放置位置在縱向形成高度差。本技術(shù)的有益效果:1、能夠?qū)崿F(xiàn)激光器的激光軸與被測反射鏡法線縱向間距較大時二者平行性的檢校。2、簡單、易行,通用設(shè)備即可實(shí)現(xiàn),操作性強(qiáng)。3、不用眼睛直接觀察激光,安全性高。4、檢校精度高,可達(dá)5角秒。附圖說明圖1為本技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中:1、工裝座,2、被測組件,21、被測反射鏡,22激光器,3、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ,4、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ,5、二維輔助反射鏡。具體實(shí)施方式本技術(shù)所列舉的實(shí)施例,只是用于幫助理解本技術(shù),不應(yīng)理解為對本技術(shù)保護(hù)范圍的限定,對于本
的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本技術(shù)思想的前提下,還可以對本技術(shù)進(jìn)行改進(jìn)和修飾,這些改進(jìn)和修飾也落入本技術(shù)權(quán)利要求保護(hù)的范圍內(nèi)。本技術(shù)一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置主要包括:工裝座1、被測組件2、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4、二維輔助反射鏡5,如圖1所示,工裝座1上放置被測組件2,被測組件2包括豎直放置的被測反射鏡21和水平放置的激光器22,被測組件2前依次放置有自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4和二維輔助反射鏡5,被測反射鏡21的法線對齊自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3的分劃中心,激光器22的激光軸與二維輔助反射鏡5的法線處于同一直線上,自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4可使自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3正鏡、倒鏡與其對準(zhǔn)。工裝座1、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3均放置在同一水平高度上,自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4、二維輔助反射鏡5均放置在同一水平高度上,工裝座1、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3的放置位置與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4、二維輔助反射鏡5的放置位置在縱向形成高度差,當(dāng)激光器22的激光軸與被測反射鏡21的法線在縱向間距較大時,也能夠?qū)崿F(xiàn)二者平行性的檢校。本技術(shù)可采用如下方法將被測組件2中的被測反射鏡21與激光器22的激光軸的平行性檢校一致,步驟如下:(1)取下自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3和自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4,使被測組件2上的激光器22的激光束指示到二維輔助反射鏡5的中心,激光束被反射回到被測組件2,調(diào)整二維輔助反射鏡5的俯仰和方位,使反射激光束光斑與被測組件2出射激光束光斑重合,這時二維輔助反射鏡5的法線即代表激光器22的激光軸。(2)將自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4調(diào)水平,用其對二維輔助反射鏡5正鏡自準(zhǔn),記錄方位、俯仰讀數(shù)X1、Y1,然后倒鏡對二維輔助反射鏡5自準(zhǔn),記錄方位、俯仰讀數(shù)X2、Y2,得出讀數(shù)X=1/2(X1+X2)、Y=1/2(Y1+Y2);將自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4方位轉(zhuǎn)至讀數(shù)X,然后使用正鏡和倒鏡方法分別在方位方向轉(zhuǎn)180°,記錄讀數(shù)X3、X4,得出讀數(shù)XⅡ=1/2(X3+X4),把自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4方位轉(zhuǎn)至讀數(shù)XⅡ,再將自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4方位轉(zhuǎn)180°,俯仰不限。(3)把自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3放置在如圖1位置所示,自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4的俯仰根據(jù)自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3來調(diào)整,使自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3正鏡對準(zhǔn)自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4。將自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3方位轉(zhuǎn)180°,俯仰調(diào)整值為180°-Y。從自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3里看被測組件2上被測反射鏡21的自準(zhǔn)直像,如果自準(zhǔn)直像與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3分劃重合,則說明被測反射鏡21法線與被測激光光束平行,即被測反射鏡21的法線與激光器22的激光軸平行,否則不平行。然后使自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3倒鏡對準(zhǔn)自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ4,按上述方法再次測量,如果自準(zhǔn)直像與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ3分劃重合,則說明被測反射鏡21法線與被測激光光束平行,即被測反射鏡21的法線與激光器22的激光軸平行,否則不平行,需要對被測反射鏡21調(diào)校,直至重合或到合理范圍內(nèi)。本技術(shù)是利用一種光學(xué)裝置,可以非常便捷的實(shí)現(xiàn)激光器22的激光軸與被測反射鏡21的法線平行的檢校。特別是能夠解決當(dāng)激光器22的激光軸與被測反射鏡21的法線在縱向間距較大時,二者不能同時被同一口徑的儀器設(shè)備所接收,導(dǎo)致無法確定平行性關(guān)系的問題;還解決激光不能用通用前置鏡直接接收的問題。另外,該方法可將二者的平行性精度校正至5角秒,檢校精度高。本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,其特征在于:包括用于放置被測組件(2)的工裝座(1)、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)、可與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)對準(zhǔn)的自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ(4)和二維輔助反射鏡(5),所述被測組件(2)包括豎直放置的被測反射鏡(21)和水平放置的激光器(22),被測組件(2)前依次放置有自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ(4)和二維輔助反射鏡(5),被測反射鏡(21)的法線對齊自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)的分劃中心,激光器(22)的激光軸與二維輔助反射鏡(5)的法線處于同一直線上。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種激光軸與反射鏡法線平行的檢校裝置,其特征在于:包括用于放置被測組件(2)的工裝座(1)、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)、可與自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)對準(zhǔn)的自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ(4)和二維輔助反射鏡(5),所述被測組件(2)包括豎直放置的被測反射鏡(21)和水平放置的激光器(22),被測組件(2)前依次放置有自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅰ(3)、自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀Ⅱ(4)和二維輔助反射鏡(5),被測反射鏡(21)的法線對齊自準(zhǔn)直經(jīng)緯...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:郝芳,張平,劉效東,王瑤,楊海金,蔡珂珺,殷彤,顧平平,
申請(專利權(quán))人:江蘇北方湖光光電有限公司,
類型:新型
國別省市:江蘇;32
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