表面平整度紅外線量測設備及其方法技術

本發明專利技術提供一種表面平整度紅外線量測設備及其方法，其中該方法通過所述的表面平整度紅外線量測設備達成，其包括以下步驟：a.通過所述坐標匹配單元將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與所述待測服務器的XY軸校正在同一平面上；b.通過所述歸零單元將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器進行Z軸歸零；以及c.通過所述控制單元控制所述上紅外線高度檢測器以及下紅外線高度檢測器根據使用者輸入的量測要求以此量測所述待測服務器的上表面和下表面的平整度。藉此，整個量測過程快速，操作簡單，量測結果準確且穩定，有效避免人為因素對量測結果的影響。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術是一種表面平整度紅外線量測設備及其方法。
技術介紹
目前，為了取得裝置（例如，伺服器主機）的待測服務器表面的平整度（Sag&Bow），通常使用數位式量表量測，在量測前需先將Top/Bottom面在橫縱間距50mm分別取點，使用量表進行量測，然而采取上述數位式量表具有以下缺點：1.量測時間冗長：Top/Bottom面須純手工畫量測點，如要量測3臺就得畫3臺，準備太麻煩，且須人工記錄數據,數值誤差很大，且在移動下一點時，使用拖曳方式移動，如稍碰撞或者是滑出平面，其數值就已跑掉并產生誤差；2.操作不易：由于花崗巖平臺放置支撐塊后設置服務器后，在移動量表時，容易與支撐塊碰撞，同時如果服務器較大時，移動時更加困難；3.人為因素過多：由于量測操作過程皆為人為量測操作，會因為量測手法問題，數值則會有落差。有鑒于此，本專利技術提供一種表面平整度紅外線量測設備及其方法，其可解決現有的數位式量測表所產生的技術問題。
技術實現思路
本專利技術的主要目的在于提供一種表面平整度紅外線量測設備及其方法，其可解決現有的數位式量測表所產生的技術問題。為達上述目的，本一種表面平整度紅外線量測設備，其用于量測一待測服務器的上表面和下表面的平整度，所述待測服務器的上表面和下表面均定義沿著X軸方向和Y軸方向展開，所述待測服務器的高度方向定義為Z軸方向，其包括：一工作臺，其具有一透明桌面以及若干個設置在該透明桌面上的支撐柱用于放置所述待測服務器；一上紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的上方；一下紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的下方；以及一監控電腦，其設置一坐標匹配單元、一歸零單元、以及一控制單元；其中，所述坐標匹配單元與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與待測服務器的XY軸校正在同一平面上，所述歸零單元與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器進行Z軸歸零，所述控制單元控制所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器根據使用者輸入的量測要求作三維空間移動量測所述待測服務器的上表面和下表面的平整度。優選地，所述坐標匹配單元接收所述上紅外線高度檢測器量測的所述待測服務器的上表面的三個角點的坐標值并根據所述三個角點的坐標值將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與待測服務器的XY軸校正在同一平面上。優選地，所述上紅外線高度檢測器通過上驅動機構的驅動作三維空間的移動，所述上驅動機構具有上套筒、上X軸滑軌以及上Y軸滑軌，所述上紅外線高度檢測器沿著Z軸方向伸縮地設置于所述上套筒上使得其可作Z軸方向的移動，且所述上套筒滑動地設置于上X軸滑軌上用于帶動所述上紅外線高度器作X軸方向移動，所述上X軸滑軌滑動地設于上Y軸滑軌上，帶動所述上紅外線高度檢測器沿著所述上Y軸滑軌作Y軸方向移動。優選地，所述下紅外線高度檢測器通過下驅動機構的驅動作三維空間的移動，所述下驅動機構具有下套筒、下X軸滑軌以及下Y軸滑軌，所述下紅外線高度檢測器沿著Z軸方向伸縮地設置于所述下套筒上使得其可作Z軸方向的移動，且所述下套筒滑動地設置于所述下X軸滑軌上用于帶動所述下紅外線高度器作X軸方向移動，所述下X軸滑軌滑動地設于所述上Y軸滑軌上，帶動所述下紅外線高度檢測器沿著所述下Y軸滑軌作Y軸方向移動，借此可實現所述下紅外線高度檢測器作三維空間的移動。本專利技術還提供一種表面平整度紅外線量測方法，其上述表面平整度紅外線量測設備達成，用于量測一待測服務器的上表面和下表面的平整度，所述表面平整度紅外線量測設備包括一工作臺、一上紅外線高度檢測器、一下紅外線高度檢測器、以及一監控電腦，所述監控電腦其設置一坐標匹配單元、一歸零單元、以及一控制單元，所述待測服務器的上表面和下表面均定義沿著X軸方向和Y軸方向展開，所述待測服務器的高度方向定義為Z軸方向，所述表面平整度紅外線量測方法包括以下步驟：a.通過所述坐標匹配單元將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與所述待測服務器的XY軸校正在同一平面上；b.通過所述歸零單元將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器進行Z軸歸零；以及c.通過所述控制單元控制所述上紅外線高度檢測器以及下紅外線高度檢測器根據使用者輸入的量測要求作三維空間移動量測所述待測服務器的上表面和下表面的平整度。與現有技術相比較，本專利技術表面平整度紅外線量測設備及其方法，通過所述上下紅外線高度檢測器與監測電腦的配合可根據使用者的量測要求作三維空間移動自動地量測所述待測服務器上下表面的平整度，由此可見，整個量測過程快速，操作簡單，量測結果準確且穩定，有效避免人為因素對量測結果的影響。【附圖說明】圖1為本專利技術一種表面平整度紅外線量測設備的立體示意圖。圖2為本專利技術一種表面平整度紅外線量測設備的電性連接原理方塊示意圖。圖3為本專利技術表面平整度紅外線量設備量測待測服務器的所采用的網格的示意圖。圖4為本專利技術表面平整度紅外線量設備量測待測服務器的表面平整度示意圖。圖5為本專利技術表面平整度紅外線量測方法的流程圖。【具體實施方式】請參閱圖1-2所示，其顯示本專利技術一種表面平整度紅外線量測設備，其用于量測一待測服務器2的上表面21和下表面22的平整度，所述待測服務器2的側邊具有凸部23，其中在本實施例中，所述待測服務器的上表面和下表面均定義沿著X軸方向和Y軸方向展開，所述待測服務器的高度方向定義為Z軸方向。所述平整度紅外線量測設備1包括一工作臺11、一上紅外線高度檢測器12、一下紅外線高度檢測器13以及一監控電腦16。該工作臺11具有一透明桌面110以及若干個設置在所述透明桌面110上的支撐柱111用于支撐所述待測服務器2的凸部23以便定位所述待測服務器2。所述上紅外線高度檢測器12設于所述工作臺11的透明桌面110的上方，用于量測放置于所述支撐柱111的待測服務器2的上表面21的平整度，在本實施例中，所述上紅外線高度檢測器12通過上驅動機構3的驅動作三維空間的移動，所述上驅動機構3具有上套筒30、上X軸滑軌31以及上Y軸滑軌32，所述上紅外線高度檢測器12沿著Z軸方向伸縮地設置于所述上套筒30上使得其可作Z軸方向的移動，且所述上套筒30滑動地設置于上X軸滑軌31上用于帶動所述上紅外線高度器12作X軸方向移動，所述上X軸滑軌31滑動地設于上Y軸滑軌32上，帶動所述上紅外線高度檢測器12沿著所述上Y軸滑軌32作Y軸方向移動，借此可實現所述上紅外線高度檢測器12作三維空間的移動。所述下紅外線高度檢測器13設于所述工作臺11的透明桌面110的下方用于量測放置于所述支撐柱111的待測服務器2的下表面22的平整度。所述下紅外線高度檢測器13通過下驅動機構4的驅動作三維空間的移動，所述下驅動機構4具有下套筒40、下X軸滑軌41以及下Y軸滑軌32，所述下紅外線高度檢測器13沿著Z軸方向伸縮地設置于所述下套筒40上使得其可作Z軸方向的移動，且所述下套筒40滑動地設置于所述下X軸滑軌41上用于帶動所述下紅外線高度器13作X軸方向移動，所述下X軸滑軌41滑動地設于所述上Y軸滑軌42上，帶動所述下紅外線高度檢測器13沿著所述下本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種表面平整度紅外線量測設備，其用于量測一待測服務器的上表面和下表面的平整度，所述待測服務器的上表面和下表面均定義沿著X軸方向和Y軸方向展開，所述待測服務器的高度方向定義為Z軸方向，其特征在于包括：一工作臺，其具有一透明桌面以及若干個設置在該透明桌面上的支撐柱用于放置所述待測服務器；一上紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的上方；一下紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的下方；以及一監控電腦，其設置一坐標匹配單元、一歸零單元、以及一控制單元，其中，所述歸零單元與所述坐標匹配單元以及所述控制單元連接，所述坐標匹配單元進一步與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與待測服務器的XY軸校正在同一平面上，所述歸零單元進一步與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器進行Z軸歸零，所述控制單元在Z軸歸零后控制所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器根據使用者輸入的量測要求作三維空間移動量測所述待測服務器的上表面和下表面的平整度。

【技術特征摘要】
1.一種表面平整度紅外線量測設備，其用于量測一待測服務器的上表面和下表面的平整度，所述待測服務器的上表面和下表面均定義沿著X軸方向和Y軸方向展開，所述待測服務器的高度方向定義為Z軸方向，其特征在于包括：一工作臺，其具有一透明桌面以及若干個設置在該透明桌面上的支撐柱用于放置所述待測服務器；一上紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的上方；一下紅外線高度檢測器設于所述工作臺的透明桌面的下方；以及一監控電腦，其設置一坐標匹配單元、一歸零單元、以及一控制單元，其中，所述歸零單元與所述坐標匹配單元以及所述控制單元連接，所述坐標匹配單元進一步與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與待測服務器的XY軸校正在同一平面上，所述歸零單元進一步與所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器連接用于將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器進行Z軸歸零，所述控制單元在Z軸歸零后控制所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器根據使用者輸入的量測要求作三維空間移動量測所述待測服務器的上表面和下表面的平整度。2.根據權利要求1所述的表面平整度紅外線量測設備，其特征在于，所述坐標匹配單元接收所述上紅外線高度檢測器量測的所述待測服務器的上表面的三個角點的坐標值并根據所述三個角點的坐標值將所述上紅外線高度檢測器以及所述下紅外線高度檢測器的XY軸與待測服務器的XY軸校正在同一平面上。3.根據權利要求1所述的表面平整度紅外線量測設備，其特征在于，所述上紅外線高度檢測器通過上驅動機構的驅動作三維空間的移動，所述上驅動機構具有上套筒、上X軸滑軌以及上Y軸滑軌，所述上紅外線高度檢測器沿著Z軸方向伸縮地設置于所述上套筒上使得其可作Z軸方向的移動，且所述上套筒滑動地設置于上X軸滑軌上用于帶動所述上紅外線高度器作X軸方向移動，所述上X軸滑軌滑動地設于上...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張家維，
申請(專利權)人：昆達電腦科技昆山有限公司，神云科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32